倍频组件调试装置及激光器制造方法及图纸

本发明专利技术涉及固体激光器技术领域，尤其是涉及一种倍频组件调试装置及激光器。倍频组件调试装置包括连接座和调节件；连接座与倍频晶体座的连接部相连接，倍频晶体座用于放置倍频晶体并转动连接于倍频大底座上；调节件包括固定端和伸缩端，调节件固定设置于连接件的侧部，通过调节件的伸缩端的伸长或缩短，能够施力于连接座，以推动或拉动连接座和倍频晶体座发生偏转，从而带动倍频晶体座上的倍频晶体发生偏转，改变倍频晶体的俯仰角，并通过精确调节伸缩端伸长或缩短的长度，能够精确调节连接座和倍频晶体偏转的角度。同时，通过调节件的伸缩端也能够对倍频晶体座进行定位，保证倍频晶体在工作过程中不会发生偏转而影响倍频组件的正常工作。

Frequency Doubling Module Debugging Device and Laser

【技术实现步骤摘要】
倍频组件调试装置及激光器
本专利技术涉及固体激光器
，尤其是涉及一种倍频组件调试装置及激光器。
技术介绍
现有的倍频应用技术，通常采用调节倍频晶体的俯仰角和改变倍频晶体的温度优化输出的光功率。现有固体激光器制造商大部分通过使用工具或者夹具进行摆动倍频晶体的俯仰角来调试输出功率，由于基本是依靠手法去进行调试，无法将倍频晶体非常精密的优化到最佳俯仰角。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种倍频组件调试装置及激光器，以在一定程度上解决现有技术中倍频晶体的俯仰角调节精度差的技术问题。本专利技术提供了一种倍频组件调试装置，包括连接座和调节件；所述连接座与倍频晶体座的连接部相连接；所述调节件设置于所述连接座的侧部，且所述调节件的一端为固定端，另一端为伸缩端；所述伸缩端能够施力于所述连接座，以推动或拉动所述连接座和所述倍频晶体座发生偏转。进一步地，所述连接座的两侧均设置有所述调节件，且两侧的所述调节件的施力方向不同。进一步地，所述倍频晶体座的数量为两个，所述连接座的数量也为两个，两个所述连接座分别与两个所述倍频晶体座的连接部相对应连接；两个所述连接座的侧部均设置有所述调节件。进一步地，还包括固定架；所述固定架设置于所述倍频晶体座的侧部，且所述固定架上开设有安装通孔，所述调节件的固定端能够穿过所述安装通孔并与所述固定架相连接。进一步地，所述调节件为微分头。进一步地，每个所述连接座两侧的所述调节件一个为长微分头，另一个为短微分头。进一步地，两个所述连接座上均设置有避让部，每个所述避让部上方对应形成避让空间，其中一个所述连接座的所述调节件的伸缩端能够穿过另一个所述连接座的避让空间，以施力于对应的所述连接座。进一步地，所述连接部朝向所述连接座的一端的端面上开设有连接孔，所述连接座朝向所述连接部的一端的端面上设置有连接件；所述连接件能够伸入到所述连接孔内，以固定所述连接部和所述连接座。进一步地，所述连接座朝向所述连接部的一端端面上设置有限位块，用于防止所述连接座与所述连接部绕着所述连接件的轴向方向发生旋转。本专利技术还提供了一种激光器，包括上述任一项所述的倍频组件调试装置。与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：本专利技术提供的倍频组件调试装置包括连接座和调节件；倍频晶体座用于放置倍频晶体，倍频晶体座通过其连接部转动连接于倍频组件的倍频大底座上，当倍频晶体座受到外力时能够发生偏转；连接座与倍频晶体座的连接部相连接，从而当连接座受到外力发生偏转时能够带动倍频晶体座和倍频晶体随之发生偏转；调节件包括固定端和伸缩端，调节件通过固定端固定设置于连接件的侧部，调节件能够精确地调节其伸缩端伸长或缩短的长度；调节件的伸缩端能够作用于连接座的侧壁上，通过调节其伸缩端的伸缩长度，伸缩端能够向连接座施加一个推动或拉动的作用力，在这个作用力的作用下，能够使连接座和与之相连接倍频晶体座向作用力的方向发生偏转，从而带动倍频晶体座上的倍频晶体发生偏转，改变倍频晶体的俯仰角，并通过精确调节其伸缩端伸长或缩短的长度，能够精确地调节连接座及倍频晶体发生偏转的角度。同时，通过调节件的伸缩端也能够对倍频晶体座进行定位，从而保证倍频晶体在工作过程中不会发生偏转导致俯仰角发生变化而影响倍频组件的正常工作。本专利技术还提供了一种激光器，包括所述的倍频组件调试装置，因而所述激光器也具有倍频组件调试装置的有益效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的倍频组件调试装置第一视角下的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的倍频组件调试装置的连接座第一视角下的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的倍频组件调试装置的连接座第三视角下的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的倍频组件调试装置的连接座和调节件第一视角下的结构示意图。附图标记：1-连接座，11-避让部，12-连接件，13-限位块，2-调节件，21-固定端，22-伸缩端，3-倍频晶体座，31-连接部，32-连接孔，4-倍频大底座，5-固定架。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和显示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面参照图1至图4描述根据本申请一些实施例所述的倍频组件调试装置及激光器。本申请提供了一种倍频组件调试装置，如图1至图4所示，包括连接座1和调节件2；连接座1与倍频晶体座3的连接部31相连接；调节件2设置于连接座1的侧部，调节件2的一端为固定端21，另一端为伸缩端22；伸缩端22能够施力于连接座1，以推动或拉动连接座1和倍频晶体座3发生偏转。本申请提供的倍频组件调试装置包括连接座1和调节件2；倍频晶体座3用于放置倍频晶体，倍频晶体座3通过其连接部31转动连接于倍频组件的倍频大底座4上，当倍频晶体座3受到外力时能够发生偏转；连接座1与倍频晶体座3的连接部31相连接，从而当连接座1受到外力发生偏转时能够带动倍频晶体座3和倍频晶体随之发生偏转。调节件2包括固定端21和伸缩端22，调节件2通过固定端21固定设置于连接件12的侧部，调节件2能够精确地调节其伸缩端22伸长或缩短的长度；调节件2的伸缩端22能够作用于连接座1的侧壁上，通过调节其伸缩端22的伸缩长度，伸缩端22能够向连接座1施加一个推动或拉动的作用力，在这个作用力的作用下，能够使连接座1和与之相连接的倍频晶体座3向作用力的方向发生偏转，从而带动倍频晶体座3上的倍频晶体发生偏转，改变倍频晶体的俯仰角，并通过精确调节其伸缩端22伸长或缩短的长度，能够精确地调节连接座1及倍频晶体发生偏转的角度。当连接座1的一侧设置有调节件2时，调节件2的伸缩端22与连接座1的侧壁相连接，当调节件2的伸缩端22伸长时，伸缩端22的端部能够作用于连接座1的侧壁上，并向本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种倍频组件调试装置，其特征在于，包括连接座和调节件；所述连接座与倍频晶体座的连接部相连接；所述调节件设置于所述连接座的侧部，且所述调节件的一端为固定端，另一端为伸缩端；所述伸缩端能够施力于所述连接座，以推动或拉动所述连接座和所述倍频晶体座发生偏转。

【技术特征摘要】
1.一种倍频组件调试装置，其特征在于，包括连接座和调节件；所述连接座与倍频晶体座的连接部相连接；所述调节件设置于所述连接座的侧部，且所述调节件的一端为固定端，另一端为伸缩端；所述伸缩端能够施力于所述连接座，以推动或拉动所述连接座和所述倍频晶体座发生偏转。2.根据权利要求1所述的倍频组件调试装置，其特征在于，所述连接座的两侧均设置有所述调节件，且两侧的所述调节件的施力方向不同。3.根据权利要求1所述的倍频组件调试装置，其特征在于，所述倍频晶体座的数量为两个，所述连接座的数量也为两个，两个所述连接座分别与两个所述倍频晶体座的连接部相对应连接；两个所述连接座的侧部均设置有所述调节件。4.根据权利要求1所述的倍频组件调试装置，其特征在于，还包括固定架；所述固定架设置于所述倍频晶体座的侧部，且所述固定架上开设有安装通孔，所述调节件的固定端能够穿过所述安装通孔并与所述固定架相连接。5.根据权利要求2所述的倍频组件调试装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄杰生，任戬，
申请(专利权)人：深圳市杰普特光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44