面密度测量仪的标定方法技术

本发明专利技术公开了一种面密度测量仪的标定方法。该面密度测量仪的标定方法包括：(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，所述标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；(2)将所述标准极片置于所述射线源下方，以便使所述标准极片完全覆盖所述光斑；(3)利用所述待标定面密度测量仪测量所述标准极片的面密度，获得所述标准极片的面密度机测值；(4)根据所述面密度机测值与所述已知面密度值对所述待标定面密度测量仪进行标定。该标定方法可简便高效地对面密度测量仪进行标定，且具有准确性高、成本损耗低的优点。

Calibration Method of Surface Density Measuring Instrument

【技术实现步骤摘要】
面密度测量仪的标定方法
本专利技术涉及锂电池生产工艺领域，具体而言，本专利技术涉及面密度测量仪的标定方法。
技术介绍
锂离子电池涂布工段为保证涂膜准确性和一致性，需要使用面密度测量仪来测量极片表面涂膜的面密度。面密度测量仪可利用高压射线管产生射线穿透物质时的吸收、反散射效应实现无损非接触式测量薄膜类材料的面密度。该设备可放置于涂布机放卷后、涂布头前，测量待涂布基材的面密度；也可以放在烘箱外、收卷前，测量已烘干的极片面密度。面密度测量仪在使用前需要进行准确性标定，传统方法是在涂布机上连续生产可以包含工厂所有面密度范围的极片，人为制造面密度梯度，极片连续走带至面密度测量仪放射源探头正下方后停止，启动面密度测量仪扫描得到一系列面密度机测值，然后在放射源探头扫描的极片同一位置上冲孔取样使用高精度电子称称量面密度得到实测值，从而在设备测量面密度值与实际测量面密度值之间得到一个线性关系：y＝kx+b(x为机测面密度值，y为实测面密度值)，通过k、b值来补偿机测与实测面密度值之间的差异，实现测量的准确性。并且电池厂会定期对面密度测量仪的准确性会进行校验，方法与上述相似。传统面密度测量仪校准方式优点在于同一张极片上多次冲孔测量面密度取平均值，准确性高，但是缺点是操作复杂，进行一次标定/校验需要4h以上，并报废10～20kg极片，而电池厂会针对不同面密度测量设备、不同浆料体系及单双面极片进行多次标定/校验，甚至会针对不同种类的集流体进行标定/校验，且由于射线放射源的衰减、老化，对于检测设备的标定/校验需要重复进行，一般周期为1～2年，由此产生的复杂交互作用导致大量产品报废，耗费人力、物力和时间成本，目前市场正极活性材料价格持续走高，企业更需要从每一个细节降低成本，减轻负担。因而，现有的面密度测量仪标定方法仍有待改进。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出面密度测量仪的标定方法。该标定方法可简便高效地对面密度测量仪进行标定，且具有准确性高、成本损耗低的优点。在本专利技术的一个方面，本专利技术提出了一种面密度测量仪的标定方法。根据本专利技术的实施例，该标定方法包括：(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，所述标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；(2)将所述标准极片置于所述射线源下方，以便使所述标准极片完全覆盖所述光斑；(3)利用所述待标定面密度测量仪测量所述标准极片的面密度，获得所述标准极片的面密度机测值；(4)根据所述面密度机测值与所述已知面密度值对所述待标定面密度测量仪进行标定。根据本专利技术实施例的面密度测量仪的标定方法，通过将标准极片置于待标定面密度测量仪射线源光斑下方，可以实现极片面密度的静态检测，直接从面密度测量仪上读取得到标准极片的机测面密度值，从而获得机测面密度值与极片面密度实测值(即“已知面密度值”)之间的关系，完成对面密度测量仪的标定。相对于传统面密度测量仪标定方法，本专利技术提出的方法可以极大地减少面密度测量仪标定所需时间和人工成本，单次标定可控制在10min内完成，并只需一个工位。同时，该标定方法可在设备正常运行的情况下进行操作，对设备稼动率无影响。另外，本专利技术的标定方法无需对标准极片进行冲孔取样，不会造成标准极片报废，成本损耗大大降低，且重复使用标准极片还可以避免人工取样误差，不受操作人员熟练度影响，标定准确显著提高。另外，根据本专利技术上述实施例的面密度测量仪的标定方法还可以具有如下附加的技术特征：在本专利技术的一些实施例中，所述已知面密度值为20～50mg/cm2。在本专利技术的一些实施例中，所述已知面密度值通过称量所述标准极片的重量获得。在本专利技术的一些实施例中，所述标准极片包括多个，多个所述标准极片表面上所形成涂层的面密度值不同。在本专利技术的一些实施例中，不同所述标准极片上所述涂层的面密度值呈梯度分布。在本专利技术的一些实施例中，所述射线源发出的射线包括X射线和β射线中的至少之一。在本专利技术的一些实施例中，所述光斑的直径为15～25mm。在本专利技术的一些实施例中，所述标准极片的直径为30～50mm。在本专利技术的一些实施例中，在步骤(3)之前，预先对所述标准极片所处位置进行温度修正。在本专利技术的一些实施例中，步骤(4)中，通过将所述面密度机测值与所述已知面密度值进行线性拟合，从而完成所述标定。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是根据本专利技术一个实施例的面密度测量仪的标定方法操作示意图；图2是实施例1中对面密度测量仪的标定结果图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。在本专利技术的一个方面，本专利技术提出了一种面密度测量仪的标定方法。根据本专利技术的实施例，该标定方法包括：(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；(2)将标准极片置于射线源下方，以便使标准极片完全覆盖光斑；(3)利用待标定面密度测量仪测量标准极片的面密度，获得标准极片的面密度机测值；(4)根据面密度机测值与已知面密度值对待标定面密度测量仪进行标定。根据本专利技术实施例的面密度测量仪的标定方法，通过将标准极片置于待标定面密度测量仪射线源光斑下方，可以实现极片面密度的静态检测，直接从面密度测量仪上读取得到标准极片的机测面密度值，从而获得机测面密度值与极片面密度实测值(即“已知面密度值”)之间的关系，完成对面密度测量仪的标定。相对于传统面密度测量仪标定方法，本专利技术提出的方法可以极大地减少面密度测量仪标定所需时间和人工成本，单次标定可控制在10min内完成，并只需一个工位。同时，该标定方法可在设备正常运行的情况下进行操作，对设备稼动率无影响。另外，本专利技术的标定方法无需对标准极片进行冲孔取样，不会造成标准极片报废，成本损耗大大降低，且重复使用标准极片还可以避免人工取样误差，不受操作人员熟练度影响，标定准确显著提高。参考图1，常见的用于测定锂电池极片面密度测量仪包括射线源10本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面密度测量仪的标定方法，其特征在于，包括：(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，所述标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；(2)将所述标准极片置于所述射线源下方，以便使所述标准极片完全覆盖所述光斑；(3)利用所述待标定面密度测量仪测量所述标准极片的面密度，获得所述标准极片的面密度机测值；(4)根据所述面密度机测值与所述已知面密度值对所述待标定面密度测量仪进行标定。

【技术特征摘要】
1.一种面密度测量仪的标定方法，其特征在于，包括：(1)制作标准极片，所述标准极片表面上形成有已知面密度值的涂层，所述标准极片的直径大于待标定面密度测量仪射线源发出的射线所形成光斑的直径；(2)将所述标准极片置于所述射线源下方，以便使所述标准极片完全覆盖所述光斑；(3)利用所述待标定面密度测量仪测量所述标准极片的面密度，获得所述标准极片的面密度机测值；(4)根据所述面密度机测值与所述已知面密度值对所述待标定面密度测量仪进行标定。2.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述已知面密度值为20～50mg/cm2。3.根据权利要求1所述的标定方法，其特征在于，所述已知面密度值通过称量所述标准极片的重量获得。4.根据权利要求2所述的标定方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：文云超，李奎，
申请(专利权)人：深圳鸿鹏新能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44