用于测试芯片的方法、测试平台和测试系统技术方案

用于测试芯片的方法、测试平台和测试系统。该测试平台(100)包括：核心板(120)和多种底板(110)，其中，该多种底板(110)中不同种底板(110)对应不同芯片，该多种底板(110)中的第一底板(110)包括用于连接待测芯片的测试接口，该待测芯片为与该第一底板(110)对应的芯片；该核心板(120)用于通过该第一底板(110)对该待测芯片进行测试。该用于测试芯片的方法、测试平台和测试系统，针对不同的芯片，选择不同的底板(110)，而该核心板(120)部分可以重用，通过测试平台(100)连接的终端设备保证核心板(120)的固件以及底板(110)与待测芯片之间相匹配，使用者不需要考虑驱动、固件以及软件等之间的配合问题，简化了使用过程，便于使用者操作。

The Method, Platform and System for Testing Chips

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请，说明书已公开。

【技术保护点】
PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请，...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘金涛，曹岚健，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44