一种微量分光光度计制造技术

本实用新型专利技术公开了一种微量分光光度计，包括外壳、一端安装在外壳的转轴上的上测量平台、固定在外壳内的下测量平台；上测量平台与下测量平台分别设有相对的投射光纤与接收光纤，接收光纤一端连接检测分析模块；所述上测量平台向下固定安装有连接柱与上限位柱，下测量平台开有通孔，通孔内安装有与连接柱下端抵触的下限位柱；下限位柱下端通过安装弹性体连接安装于外壳内的直线电机，且下限位柱下端或弹性体直径大于通孔；所述下测量平台还开有正对上限位柱的定位槽；还包括上测量平台与下测量平台正对时，用于紧固连接柱与下限位柱的连接机构。

【技术实现步骤摘要】
一种微量分光光度计
本技术涉及分光光度计领域，尤其涉及一种微量分光光度计。
技术介绍
微量分光光度计是利用微量液体的张力牵引形成光通路；现有的微量分光光度计主要通过控制电磁铁的电通断来调节微量分光光度计的光程长度，如专利CN201955299U公开的一种用于微量分光光度计的取样测量装置，电磁铁磁缸通或断时，造成升降座下降或上升、弹簧收缩与复位，使得上测量平台下调或上调，期间通过第一顶丝与升降座接触，第二顶丝与下测量平台接触，实现上、下限位。但是通过电磁控制的方式，升降的过程不稳定，而且控制精度不高，同时电磁铁磁缸的通断，会造成升降座会有瞬间的冲击，长时间会导致设备的损坏与控制不精确。另外，为了实现对所述上测量平台和所述下测量平台的锁定，在二者相对表面设置一对磁铁，但电磁铁磁缸断开时，会增大向上的瞬间冲击力。综上，我们设计了一种微量分光光度计。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供了一种微量分光光度计，旨在解决现有电磁控制的微量分光光度计光程长度控制精确，升降不稳定，有瞬间的冲击容易造成设备损坏与控制精度的失准。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种微量分光光度计，包括外壳、一端安装在外壳的转轴上的上测量平台、固定在外壳内的下测量平台；上测量平台与下测量平台分别设有相对的投射光纤与接收光纤，接收光纤一端连接检测分析模块；所述上测量平台向下固定安装有连接柱与上限位柱，下测量平台开有通孔，通孔内安装有与连接柱下端抵触的下限位柱；下限位柱下端通过安装弹性体连接安装于外壳内的直线电机，且下限位柱下端或弹性体直径大于通孔；所述下测量平台还开有正对上限位柱的定位槽；还包括上测量平台与下测量平台正对时，用于紧固连接柱与下限位柱的连接机构。优选的，所述连接机构为磁钢，且连接柱为磁钢柱，磁钢安装于连接柱上并与下限位柱吸合；通过磁性固定连接连接柱与下限位柱，使得上测量平台打开方便。优选的，所述连接机构为螺栓，连接柱通过螺栓与下限位柱连接；松开螺栓在下限位柱上的连接即可打开上测量平台。优选的，所述投射光纤由光源光纤与过滤光纤构成，过滤光纤一端与接收光纤一端相对。为了优化内部空间，减小仪器体积，所述过滤光纤安装于上测量平台，接收光纤安装于下测量平台上，过滤光纤一端与接收光纤一端相对，所述光源光纤安装在下测量平台上，过滤光纤另一端与光源光纤输出端相对。作为一种上盖的安装方式，所述外壳上端通过支撑板安装有转轴，上测量平台一端安装在转轴上，还包括上盖，上盖一端同样安装在转轴上。作为一种显示数据的方式，所述检测分析模块设置在外壳内，外壳表面安装有与检测分析模块连接的显示单元。为了限制直线电机的行程，同时在直线电机出现错误时，方便使其回到初始位置，所述直线电机下方的外壳内设有限位开关。如，将直线电机初级固定，次级做上下直线运动，限位开关位于次级正下方。作为优选，所述限位开关为光电开关。本技术的有益效果：通过直线电机带动到位，使用灵活、升降稳定，长时间使用不会造成设备损坏与精度的缺失，使用寿命长；且通过弹性体补偿误差，到位控制准确。附图说明图1为本技术的结构示意图。其中，1、外壳；2、转轴；3、上测量平台；4、下测量平台；5、投射光纤；51、光源光纤；52、过滤光纤；6、接收光纤；7、检测分析模块；8、连接柱；9、上限位柱；10、下限位柱；11、弹性体；12、直线电机；13、定位槽；14、连接机构；15、支撑板；16、显示单元；17、上盖；18、限位开关。具体实施方式实施例1如图1所示，一种微量分光光度计，包括外壳1、一端安装在外壳1的转轴2上的上测量平台3、固定在外壳1内的下测量平台4；上测量平台3与下测量平台4分别设有相对的投射光纤5与接收光纤6，接收光纤6一端连接检测分析模块7；所述上测量平台3向下固定安装有连接柱8与上限位柱9，下测量平台4开有通孔，通孔内安装有与连接柱8下端抵触的下限位柱10；下限位柱10下端通过安装弹性体11连接安装于外壳1内的直线电机12，且下限位柱10下端或弹性体11直径大于通孔；所述下测量平台4还开有正对上限位柱9的定位槽13；还包括上测量平台3与下测量平台4正对时，用于紧固连接柱8与下限位柱10的连接机构14。所述连接机构14为磁钢，且连接柱8为磁钢柱，磁钢安装于连接柱8上并与下限位柱10吸合。所述外壳1上端通过支撑板15安装有转轴2，上测量平台3一端安装在转轴2上，还包括上盖17，上盖17一端同样安装在转轴2上。所述检测分析模块7设置在外壳1内，外壳1表面安装有与检测分析模块7连接的显示单元16。本技术在需要加液检测时，绕转轴翻转上盖17与上测量平台3，将待检测液体滴在接收光纤6上，合并上测量平台3正对下测量平台4使得投射光纤5与接收光纤6正对，而连接柱8通过磁钢与下限位柱10吸合。调大光程长度时，通过直线电机12带动下限位柱10在通孔移动带动连接柱8上移进而扩大上测量平台3正对下测量平台4的间距；通过直线电机12带动下限位柱10在通孔内进行移动，上下运行稳定，且没有突然的冲击；下限位柱10下端或弹性体11直径大于通孔，运行到位后下限位柱10下端或弹性体11受到下测量平台4限位，通过设置弹性体11，使得直线电机能够精准带动上测量平台3移动到位，超出的微小误差由弹性体11挤压补偿。调小光程长度时，通过直线电机12带动下限位柱10在通孔移动向下吸动连接柱8，通过上限位柱9与定位槽13抵触实现限位，同理通过设置弹性体11，使得直线电机能够精准带动上测量平台3移动到位，超出的微小误差由弹性体11拉伸补偿。而所述检测分析模块7通过其光电转换模块与接收光纤6通过光栅相连接，进行数据的分析计算后(此处为现有技术，不做表述)，输出至显示单元16。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微量分光光度计，包括外壳(1)、一端安装在外壳(1)的转轴(2)上的上测量平台(3)、固定在外壳(1)内的下测量平台(4)；上测量平台(3)与下测量平台(4)分别设有相对的投射光纤(5)与接收光纤(6)，接收光纤(6)一端连接检测分析模块(7)；其特征在于，所述上测量平台(3)向下固定安装有连接柱(8)与上限位柱(9)，下测量平台(4)开有通孔，通孔内安装有与连接柱(8)下端抵触的下限位柱(10)；下限位柱(10)下端通过安装弹性体(11)连接安装于外壳(1)内的直线电机(12)，且下限位柱(10)下端或弹性体(11)直径大于通孔；所述下测量平台(4)还开有正对上限位柱(9)的定位槽(13)；还包括上测量平台(3)与下测量平台(4)正对时，用于紧固连接柱(8)与下限位柱(10)的连接机构(14)。

【技术特征摘要】
1.一种微量分光光度计，包括外壳(1)、一端安装在外壳(1)的转轴(2)上的上测量平台(3)、固定在外壳(1)内的下测量平台(4)；上测量平台(3)与下测量平台(4)分别设有相对的投射光纤(5)与接收光纤(6)，接收光纤(6)一端连接检测分析模块(7)；其特征在于，所述上测量平台(3)向下固定安装有连接柱(8)与上限位柱(9)，下测量平台(4)开有通孔，通孔内安装有与连接柱(8)下端抵触的下限位柱(10)；下限位柱(10)下端通过安装弹性体(11)连接安装于外壳(1)内的直线电机(12)，且下限位柱(10)下端或弹性体(11)直径大于通孔；所述下测量平台(4)还开有正对上限位柱(9)的定位槽(13)；还包括上测量平台(3)与下测量平台(4)正对时，用于紧固连接柱(8)与下限位柱(10)的连接机构(14)。2.根据权利要求1所述一种微量分光光度计，其特征在于，所述连接机构(14)为磁钢，且连接柱(8)为磁钢柱，磁钢安装于连接柱(8)上并与下限位柱(10)吸合。3.根据权利要求1所述一种微量分光光度计，其特征在于，所述连接机构(14)为螺栓，连接柱(8)通过螺栓与下限位柱(10)连接。4.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱敏敏，邵传家，
申请(专利权)人：杭州佑宁仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33