红外测温电磁灶制造技术

本实用新型专利技术提供了一种红外测温电磁灶，涉及电磁灶技术领域，包括透光面板，透光面板下方设置有红外测温组件，红外测温组件与控制系统相连；其中，红外测温组件的光谱响应波段范围与透光面板的主要透光波段范围重叠，适于感知锅底发出的红外信号。本实用新型专利技术通过采用透光面板并匹配合适的红外测温组件，红外测温组件的光谱响应范围与透光面板的主要透光范围重叠，可以缓解接触式测温方案在电磁灶上的应用局限性，提升测温、控温的精度。

【技术实现步骤摘要】
红外测温电磁灶
本技术涉及电磁灶
，尤其是涉及红外测温电磁灶。
技术介绍
现有电磁灶，主要采用热敏电阻测温，热敏电阻设置在透光面板下表面，由于是非直接接触式测温，存在以下问题：由于透光面板的阻隔，热敏电阻测试到的并不是锅底实时温度，特别是干烧时，测试到的温度和实际温度有较大差距；由于锅具表面的不平整，热敏探头所对应的位置，锅具和透光面板可能接触不好，从而导致偏差很大。为了规避热敏电阻测温的局限性，有些专利披露了红外测温技术，例如：CN200420045814、CN201120341922等。但这些专利，仅仅从原理上解释了红外测温的可行性。由于微晶玻璃的光学特性，普通红外测温探头并不能满足实际要求。这些专利都没有披露这方面的问题。通常，使用热电堆传感器作为红外测温探头，但热电堆能探测的红外线波长为2.5um以上，而透光面板主要透光区在2.5um以下(3～4um红外线也能部分穿透)。因此，仍然无法满足电磁灶测温需求。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供红外测温电磁灶，以缓解接触式测温方案(如热敏电阻测温、热电偶测温)在电磁灶上的应用局限性；根据微晶玻璃特性，匹配合适的红外探头，提升测温、控温的精度。第一方面，本技术实施例提供了一种红外测温电磁灶，其中，包括透光面板，所述透光面板下方设置有红外测温组件，所述红外测温组件与控制系统相连；其中，所述红外测温组件的光谱响应波段范围与所述透光面板的主要透光波段范围重叠，适于感知锅底发出的红外信号。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述红外测温组件包括用于检测锅具底部并透过所述透光面板的红外信号的铟镓砷传感器，所述铟镓砷传感器的光谱响应范围为0.8um～2.6um；所述透光面板的主要透光波段范围为小于或等于2.7um。结合第一方面的第一种可能的实施方式，本技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述红外测温组件包括与所述铟镓砷传感器相连的信号处理电路；所述铟镓砷传感器将检测到的所述红外信号转换为温度监测电信号，由所述信号处理电路将所述温度监测电信号进行放大降噪处理，输出温度反馈电信号。结合第一方面的第二种可能的实施方式，本技术实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述控制系统接收所述信号处理电路发送的所述温度反馈电信号，并根据所述温度反馈电信号对线圈盘的输出功率和风机的风量进行控制。结合第一方面的第三种可能的实施方式，本技术实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述控制系统包括设置于所述线圈盘下方的主控板和设置于所述透光面板上的操控面板。结合第一方面的第二种可能的实施方式，本技术实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，所述红外测温组件还包括用于检测所述红外信号的热电堆传感器；所述铟镓砷传感器与所述热电堆传感器的光谱响应波段范围覆盖所述透光面板的透光波段范围。结合第一方面的第五种可能的实施方式，本技术实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，所述热电堆传感器的光谱响应范围为大于或等于2.5um。结合第一方面的第二种或第五种可能的实施方式，本技术实施例提供了第一方面的第七种可能的实施方式，其中，所述红外测温组件固定于线圈盘各加热区域的间隙内。结合第一方面的第四种可能的实施方式，本技术实施例提供了第一方面的第八种可能的实施方式，其中，包括底座，所述底座上固定有所述风机、所述主控板和所述线圈盘。结合第一方面，本技术实施例提供了第一方面的第九种可能的实施方式，其中，所述透光面板上与锅具相匹配的位置处设置有测温透视区。本技术实施例带来了以下有益效果：本技术提供的一种红外测温电磁灶，包括透光面板，透光面板下方设置有红外测温组件，红外测温组件与控制系统相连；其中，红外测温组件的光谱响应波段范围与透光面板的主要透光波段范围重叠，适于感知锅底发出的红外信号。本技术通过采用透光面板并匹配合适的红外测温组件，红外测温组件的光谱响应范围与透光面板的主要透光范围重叠，可以缓解接触式测温方案在电磁灶上的应用局限性，提升测温、控温的精度。本技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的透光面板的结构示意图；图2为本技术实施例提供的操控面板的结构示意图；图3为本技术实施例提供的线圈盘的结构示意图；图4为本技术实施例提供的主控板的结构示意图；图5为本技术实施例提供的风机的结构示意图；图6为本技术实施例提供的底座的结构示意图。图标：1-透光面板；2-测温透视区；3-操控面板；4-线圈盘；5-红外测温组件；6-主控板；7-风机；8-底座。具体实施方式为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。现有电磁灶，主要采用热敏电阻测温，热敏电阻设置在透光面板下表面，由于是非直接接触式测温，因此存在以下问题：由于透光面板的阻隔，热敏电阻测试到的并不是锅底实时温度，特别是干烧时，测试到的温度和实际温度有较大差距；由于锅具表面的不平整，热敏探头所对应的位置，锅具和透光面板可能接触不好，从而导致偏差很大。为了规避热敏电阻测温的局限性，现有的一些专利仅仅从原理上解释了红外测温的可行性。由于微晶玻璃的光学特性，普通红外测温探头并不能满足实际要求。这些专利都没有披露这方面的问题。通常，使用热电堆传感器作为红外测温探头，但热电堆能探测的红外线波长为2.5um以上，而透光面板主要透光区在2.5um以下(3～4um红外线也能部分穿透)。因此，仍然无法满足电磁灶测温需求。基于此，本技术实施例提供的一种红外测温电磁灶，可以缓解接触式测温方案(如热敏电阻测温、热电偶测温)在电磁灶上的应用局限性；根据微晶玻璃特性，匹配合适的红外测温组件，提升测温、控温的精度。为便于对本实施例进行理解，首先对本技术实施例所公开的一种红外测温电磁灶进行详细介绍。实施例：本技术实施例通过图1至图6对红外测温电磁灶进行描述。红外测温电磁灶包括透光面板1、红外测温组件5、线圈盘4、风机7、底座8和控制系统；其中，控制系统包括设置于透光面板1上的操控面板3和设置于线圈盘4下方的主控板6。底座8上由下到上依次固定有风机7、主控板6和线圈盘4，线圈盘4上固定有红本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种红外测温电磁灶，其特征在于，包括透光面板，所述透光面板下方设置有红外测温组件，所述红外测温组件与控制系统相连；其中，所述红外测温组件的光谱响应波段范围与所述透光面板的主要透光波段范围重叠，适于感知锅底发出的红外信号。

【技术特征摘要】
1.一种红外测温电磁灶，其特征在于，包括透光面板，所述透光面板下方设置有红外测温组件，所述红外测温组件与控制系统相连；其中，所述红外测温组件的光谱响应波段范围与所述透光面板的主要透光波段范围重叠，适于感知锅底发出的红外信号。2.根据权利要求1所述的红外测温电磁灶，其特征在于，所述红外测温组件包括用于检测锅具底部并透过所述透光面板的红外信号的铟镓砷传感器，所述铟镓砷传感器的光谱响应范围为0.8um～2.6um；所述透光面板的主要透光波段范围为小于或等于2.7um。3.根据权利要求2所述的红外测温电磁灶，其特征在于，所述红外测温组件包括与所述铟镓砷传感器相连的信号处理电路；所述铟镓砷传感器将检测到的所述红外信号转换为温度监测电信号，由所述信号处理电路将所述温度监测电信号进行放大降噪处理，输出温度反馈电信号。4.根据权利要求3所述的红外测温电磁灶，其特征在于，所述控制系统接收所述信号处理电路发送的所述温度反馈电信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：任富佳，管兴勇，李敬，沈海兵，
申请(专利权)人：杭州老板电器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33