本发明专利技术提供一种硬盘延迟测试方法、装置、终端及存储介质,包括:采集所有待测试硬盘的盘符;根据所述盘符执行数据写入操作并抓取相应的延迟数据;对延迟数据进行过高延迟筛选并将筛选出的存在过高延迟的硬盘盘符输出;计算延迟数据的纵向偏差和横向偏差并根据纵向偏差和横向偏差表征硬盘稳定性。本发明专利技术通过对延迟数据的大小和稳定性进行分析,能够全面地分析硬盘性能,且通过多个硬盘延迟数据的横向比较,能够更加准确地表征硬盘性能。
【技术实现步骤摘要】
一种硬盘延迟测试方法、装置、终端及存储介质
本专利技术属于服务器测试
,具体涉及一种硬盘延迟测试方法、装置、终端及存储介质。
技术介绍
在云计算时代,海量数据传输需要使用极大的IOPS(I/OPerSecond每秒读写次数),而SSD(固态硬盘)则扮演重要的角色严重影响了云计算数据中心的性能。硬盘技术在服务器领域的应用中,针对高负载的I/O请求处理能力越来越强,能够稳定并且高效的处理高并发的数据I/O请求。但是在实际应用当中,除了这种高并发的需求外,还有一种就是I/O请求随机,且I/O请求的也比较小的情况,在面对这种应用时,硬盘将频繁的从节能状态,活跃状态和空闲状态中转换,每一次状态的转换硬盘内部都将消耗一定的响应时间,这种硬盘内部处理自身状态转换的效率高低,能够反应硬盘随机I/O的处理能力。因此,对硬盘进行延迟测试就变得十分必要。现有技术对硬盘进行延迟测试通常是对稳态硬盘进行写操作,然后获取延迟数据,然后人工对获取的延迟数据进行分析,只要在所有延迟数据在正常范围内,就判定硬盘性能合格。但是这种方法没有考虑延迟数据的稳定性。在一些对硬盘性能要求较高的领域,要求任何涉及到硬盘存储动作时,每个硬盘的延迟都应该趋于稳定。不能忽高忽低,否则会影响硬盘的性能和稳定,从而影响到整个机器的性能和稳定。基于此,急需一种能够评价硬盘延迟稳定性的测试方法。
技术实现思路
针对现有技术无法直观评价硬盘延迟的稳定性,本专利技术提供一种硬盘延迟测试方法、装置、终端及存储介质,以解决上述技术问题。第一方面,本专利技术提供一种硬盘延迟测试方法,包括:采集所有待测试硬盘的盘符。根据所述盘符执行数据写入操作并抓取相应的延迟数据。对延迟数据进行过高延迟筛选并将筛选出的存在过高延迟的硬盘盘符输出,包括:设置延迟阈值;判断延迟数据是否高于延迟阈值:是,则将所述延迟数据判定为过高延迟并输出所述过高延迟所属硬盘的盘符;否,则判定延迟正常。计算延迟数据的纵向偏差和横向偏差并根据纵向偏差和横向偏差表征硬盘稳定性,包括:计算属于同一盘符的所有延迟数据的方差作为纵向偏差;计算延迟数据与相同测试次数的所有延迟数据的平均值的差值作为横向偏差;设置纵向偏差阈值和横向偏差阈值;判断待测试硬盘的延迟数据是否满足纵向偏差不超过纵向偏差阈值且横向偏差不超过横向偏差阈值:是,则判定所述待测试硬盘稳定;否,则判定所述待测试硬盘稳定性异常且输出所述待测试硬盘盘符。第二方面,本专利技术提供一种硬盘延迟测试装置,包括:盘符采集单元,配置用于采集所有待测试硬盘的盘符。延迟抓取单元,配置用于根据所述盘符执行数据写入操作并抓取相应的延迟数据。过高筛选单元,包括:阈值设置模块,配置用于设置延迟阈值;数据筛选模块,配置用于判断延迟数据是否高于延迟阈值;硬盘输出模块,配置用于将所述延迟数据判定为过高延迟并输出所述过高延迟所属硬盘的盘符;正常判定模块,配置用于判定延迟正常。偏差表征单元,包括:纵向计算模块,配置用于计算属于同一盘符的所有延迟数据的方差作为纵向偏差;横向计算模块,配置用于计算延迟数据与相同测试次数的所有延迟数据的平均值的差值作为横向偏差;偏差设置模块,配置用于设置纵向偏差阈值和横向偏差阈值;条件判断模块,配置用于判断待测试硬盘的延迟数据是否满足纵向偏差不超过纵向偏差阈值且横向偏差不超过横向偏差阈值;稳定判定模块,配置用于判定所述待测试硬盘稳定;盘符输出模块,配置用于判定所述待测试硬盘稳定性异常且输出所述待测试硬盘盘符。第三方面,提供一种终端,包括:处理器、存储器,其中,该存储器用于存储计算机程序,该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序,使得终端执行上述的终端的方法。第四方面,提供了一种计算机存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述各方面所述的方法。本专利技术的有益效果在于,本专利技术提供的硬盘延迟测试方法、装置、终端及存储介质,通过采集所有待测试硬盘的盘符,轮询采集所有待测试硬盘的延迟数据;首先对得到的所有延迟数据进行过高延迟筛选,将筛选出的过高延迟对应的硬盘盘符输出,完成延迟数据的初步筛选;然后计算延迟数据的纵向偏差和横向偏差并根据纵向偏差和横向偏差表征硬盘稳定性。本专利技术通过对延迟数据的大小和稳定性进行分析,能够全面地分析硬盘性能,且通过多个硬盘延迟数据的横向比较,能够更加准确地表征硬盘性能。此外,本专利技术设计原理可靠,结构简单,具有非常广泛的应用前景。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一个实施例的方法的示意性流程图。图2是本专利技术一个实施例的装置的示意性框图。图3为本专利技术实施例提供的一种终端的结构示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术中的技术方案,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本专利技术保护的范围。下面对本专利技术中出现的关键术语进行解释。图1是本专利技术一个实施例的方法的示意性流程图。其中,图1执行主体可以为一种硬盘延迟测试装置。如图1所示,该方法100包括:步骤110,采集所有待测试硬盘的盘符;步骤120,根据所述盘符执行数据写入操作并抓取相应的延迟数据;步骤130,对延迟数据进行过高延迟筛选并将筛选出的存在过高延迟的硬盘盘符输出;步骤140,计算延迟数据的纵向偏差和横向偏差并根据纵向偏差和横向偏差表征硬盘稳定性。可选地,作为本专利技术一个实施例,所述对延迟数据进行过高延迟筛选包括:设置延迟阈值;判断延迟数据是否高于延迟阈值:是,则将所述延迟数据判定为过高延迟并输出所述过高延迟所属硬盘的盘符;否,则判定延迟正常。可选地,作为本专利技术一个实施例,所述计算延迟数据的纵向偏差和横向偏差并根据纵向偏差和横向偏差表征硬盘稳定性包括:计算属于同一盘符的所有延迟数据的方差作为纵向偏差;计算延迟数据与相同测试次数的所有延迟数据的平均值的差值作为横向偏差;设置纵向偏差阈值和横向偏差阈值;判断待测试硬盘的延迟数据是否满足纵向偏差不超过纵向偏差阈值且横向偏差不超过横向偏差阈值:是,则判定所述待测试硬盘稳定;否,则判定所述待测试硬盘稳定性异常且输出所述待测试硬盘盘符。为了便于对本专利技术的理解,下面以本专利技术硬盘延迟测试方法的原理,结合实施例中对硬盘进行延迟测试的过程,对本专利技术提供的硬盘延迟测试方法做进一步的描述。具体的,所述硬盘延迟测试方法包括:S1、采集所有待测试硬盘的盘符。通过系统自带功能查看所述待测试硬盘的盘符,并将所有盘符拷贝到测试盘符列表中。S2、根据所述盘符执行数据写入操作并抓取相应的延迟数据。FIO是一种磁盘压力及性能指针测试工具,是一个非常灵活的I/O测试工具,支持多线程或进程模拟等I/O操作来进行压力测试。支持13种不同的I/O引擎,包括:sync,mmap,libaio,posixaio,SGv3,splice,null,ne本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种硬盘延迟测试方法,其特征在于,包括:采集所有待测试硬盘的盘符;根据所述盘符执行数据写入操作并抓取相应的延迟数据;对延迟数据进行过高延迟筛选并将筛选出的存在过高延迟的硬盘盘符输出;计算延迟数据的纵向偏差和横向偏差并根据纵向偏差和横向偏差表征硬盘稳定性。
【技术特征摘要】
1.一种硬盘延迟测试方法,其特征在于,包括:采集所有待测试硬盘的盘符;根据所述盘符执行数据写入操作并抓取相应的延迟数据;对延迟数据进行过高延迟筛选并将筛选出的存在过高延迟的硬盘盘符输出;计算延迟数据的纵向偏差和横向偏差并根据纵向偏差和横向偏差表征硬盘稳定性。2.根据权利要求1所述的硬盘延迟测试方法,其特征在于,所述对延迟数据进行过高延迟筛选包括:设置延迟阈值;判断延迟数据是否高于延迟阈值:是,则将所述延迟数据判定为过高延迟并输出所述过高延迟所属硬盘的盘符;否,则判定延迟正常。3.根据权利要求1所述的硬盘延迟测试方法,其特征在于,所述计算延迟数据的纵向偏差和横向偏差并根据纵向偏差和横向偏差表征硬盘稳定性包括:计算属于同一盘符的所有延迟数据的方差作为纵向偏差;计算延迟数据与相同测试次数的所有延迟数据的平均值的差值作为横向偏差;设置纵向偏差阈值和横向偏差阈值;判断待测试硬盘的延迟数据是否满足纵向偏差不超过纵向偏差阈值且横向偏差不超过横向偏差阈值:是,则判定所述待测试硬盘稳定;否,则判定所述待测试硬盘稳定性异常且输出所述待测试硬盘盘符。4.一种硬盘延迟测试装置,其特征在于,包括:盘符采集单元,配置用于采集所有待测试硬盘的盘符;延迟抓取单元,配置用于根据所述盘符执行数据写入操作并抓取相应的延迟数据;过高筛选单元,配置用于对延迟数据进行过高延迟筛选并将筛选出的存在过高...
【专利技术属性】
技术研发人员:王旭林,张行武,
申请(专利权)人:苏州浪潮智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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