The embodiment of the utility model discloses a detection fixture for fast detecting the deformation of the iron ring. The detection and treatment device of the utility model comprises a treatment body, a support mechanism and a base. The main body of the fixture includes: the first side plate and the second side plate. The first side plate is provided with a channel groove. The channel groove forms an inlet and outlet on one side of the first side plate, and an outlet on the other side. The second side plate and the channel groove form a feeding channel. The height of the channel groove is larger than the outer diameter of the ring to be measured, and the depth of the channel groove is equal to the sum of the standard thickness of the ring to be measured and the maximum allowable deformation of the ring to be measured. The main body of the fixture is tilted on the base through the supporting mechanism, so that the inlet of the feeding channel is higher than the outlet of the feeding channel. The detection and treatment device of the utility model is that the iron ring is put into the feeding channel from the entrance of the feeding channel, and the deformation of the iron ring can be determined by observing whether the iron ring can roll out from the outlet of the feeding channel, which is convenient and fast, and the detection efficiency is improved.
【技术实现步骤摘要】
用于快速检测铁圈变形量的检测治具
本技术实施例涉及机械工装领域,具体涉及一种用于快速检测铁圈变形量的检测治具。
技术介绍
半导体封装是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程。封装过程为:来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后被切割为小的晶片(Die),然后将切割好的晶片用导电银胶贴装到相应的基板架(引线框架)的小岛上,再利用超细的金属(金银铜铝)导线或者导电性树脂将晶片的接合焊盘(BondPad)连接到基板的相应引脚(Lead),并构成所要求的电路。生产过程中在晶圆的圆周外侧设有圆环型的铁圈,用于保护晶圆。铁圈在使用一个生产循环后,需对铁圈的平面变形量进行检测,变形超标的铁圈不能再继续使用。检测时将铁圈平放在平台上,通过游标卡尺检测铁圈的最高点至平台的高度,检测的数据减去铁圈的标准厚度,即为铁圈的变形量。本申请的专利技术人发现,现有技术中检测铁圈变形量的方法,耗费的时间长,检测效率低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于快速检测铁圈变形量的检测治具,可快速检测铁圈的变形量。本技术实施例提供一种用于快速检测铁圈变形量的检测治具,包括:治具本体、支撑机构和底座;所述治具本体包括:第一侧板和第二侧板;所述第一侧板的内侧面设有横向设置的第一通道槽,所述第一通道槽在所述第一侧板的一侧面形成第一入料口,在所述第一侧板的另一侧面形成第一出料口;所述第一侧板和所述第二侧板固定连接,使所述第二侧板与所述第一通道槽形成第一送料通道,且与所述第一入料口形成第一送料通道入口,与所述第一出料口形成第一送料通道出口;所述第一通道槽的高度大于待测铁圈的外径,所述第 ...
【技术保护点】
1.一种用于快速检测铁圈变形量的检测治具,其特征在于,包括:治具本体、支撑机构和底座;所述治具本体包括:第一侧板和第二侧板;所述第一侧板的内侧面设有横向设置的第一通道槽,所述第一通道槽在所述第一侧板的一侧面形成第一入料口,在所述第一侧板的另一侧面形成第一出料口;所述第一侧板和所述第二侧板固定连接,使所述第二侧板与所述第一通道槽形成第一送料通道,且与所述第一入料口形成第一送料通道入口,与所述第一出料口形成第一送料通道出口;所述第一通道槽的高度大于待测铁圈的外径,所述第一通道槽的深度等于待测铁圈的标准厚度与待测铁圈允许的最大变形量之和;所述支撑机构固定设置在所述底座上;所述治具本体通过所述支撑机构倾斜的设置在所述底座上,用于使所述第一送料通道入口高于所述第一送料通道出口。
【技术特征摘要】
1.一种用于快速检测铁圈变形量的检测治具,其特征在于,包括:治具本体、支撑机构和底座;所述治具本体包括:第一侧板和第二侧板;所述第一侧板的内侧面设有横向设置的第一通道槽,所述第一通道槽在所述第一侧板的一侧面形成第一入料口,在所述第一侧板的另一侧面形成第一出料口;所述第一侧板和所述第二侧板固定连接,使所述第二侧板与所述第一通道槽形成第一送料通道,且与所述第一入料口形成第一送料通道入口,与所述第一出料口形成第一送料通道出口;所述第一通道槽的高度大于待测铁圈的外径,所述第一通道槽的深度等于待测铁圈的标准厚度与待测铁圈允许的最大变形量之和;所述支撑机构固定设置在所述底座上;所述治具本体通过所述支撑机构倾斜的设置在所述底座上,用于使所述第一送料通道入口高于所述第一送料通道出口。2.根据权利要求1所述的用于快速检测铁圈变形量的检测治具,其特征在于,所述支撑机构包括:第一支撑架、第二支撑架和第三支撑架;所述第一支撑架、所述第二支撑架和所述第三支撑架依次设置,且所述第一支撑架、所述第二支撑架和所述第三支撑架的高度依次增加;所述第一支撑架包括第一左支撑板、第一右支撑板和第一螺栓,所述第一螺栓穿过所述第一左支撑板、所述第一侧板、所述第二侧板和所述第一右支撑板,使所述第一侧板和所述第二侧板的底部固定在所述第一支撑架上;所述第二支撑架包括第二左支撑板、第二右支撑板和第二螺栓,所述第二螺栓穿过所述第二左支撑板、所述第一侧板、所述第二侧板和所述第二右支撑板,使所述第一侧板和所述第二侧板的底部固定在所述第二支撑架上;所述第三支撑架包括第三左支撑板、第三右支撑板和第三螺栓,所述第三螺栓穿过所述第三左支撑板、所述第一侧板、所述第二侧板和所述第三右支撑板,使所述第一侧板和所述第二侧板的底部固定在所述第三支撑架上。3.根据权利要求1所述的用于快速检测铁圈变形量的检测治具,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:戴刘成,施文展,
申请(专利权)人:紫光宏茂微电子上海有限公司,
类型:新型
国别省市:上海,31
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