基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器制造技术

本发明专利技术公开了一种基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器，包括具有非周期性光栅化源极及其各种不同图案形式的金属栅MOSFET、低噪声前置放大器和电压反馈回路；金属栅MOSFET栅极经一号偏置电阻连接一号偏置电压源，金属栅MOSFET源极用于接收太赫兹信号，金属栅MOSFET漏极和低噪声前置放大器正向输入端之间连接一号隔直电容；低噪声前置放大器正向输入端经二号偏置电阻连接二号偏置电压源；电压反馈回路包括反馈电阻、接地电阻、二号隔直电容和三号隔直电容。本发明专利技术通过调节源极的光栅化结构参数(光栅的宽度、长度、区域面积和图案形式)来实现THz响应波段范围的调节，从而提高探测器的探测灵敏度。

【技术实现步骤摘要】
基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器
本专利技术涉及太赫兹探测器
，更具体的说，是涉及一种基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器。
技术介绍
太赫兹波是电磁波谱上介于微波与红外光之间的电磁波，其频率在0.1～10THz左右，波长对应3mm～30μm。太赫兹技术是目前信息科学技术研究的前沿与热点领域之一，近几年来，受到世界各国研究机构的广泛关注。美、日、欧等发达国家先后将太赫兹技术评定为“改变未来世界的十大技术”和“国家支柱技术十大重点战略目标”，投入巨资来夯实在太赫兹领域的国际地位。太赫兹具备广泛的应用前景，在天体物理学、材料科学、生物医学、环境科学、光谱与成像技术、信息科学技术等领域有着广泛的技术应用。太赫兹技术能够显著提升我国在航空航天、空间通信、生物医疗、甚至是食品检测等方面的实力。而作为太赫兹应用基础的太赫兹探测器是太赫兹安防、检测的关键部件。在太赫兹频段由于任何导体引线都会带来极其严重的寄生效应，使得绝大多数基于III-V/II-VI族工艺的探测器性能难以控制，甚至出现不工作的情况，从而制约了这类太赫兹探测器的实用化。发展基于CMOS兼容工艺的室温太赫兹探测器是太赫兹探测和阵列成像实现低成本、大规模推广的基础。而目前现有的基于CMOS兼容工艺的探测器普遍存在响应速度慢、灵敏度低、价格昂贵、通常需要在低温下工作等诸多缺点,这在很大程度上限制了太赫兹技术的集成应用和发展。因此发展具有高响应度、高灵敏度、价格低廉的CMOS兼容的室温太赫兹探测器成为了太赫兹技术集成应用和发展进程中迫切需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器，通过调节源极的光栅化结构参数(光栅的宽度、长度、区域面积和图案形式)来实现THz响应波段范围的调节，从而提高探测器的探测灵敏度；通过光刻、纳米压印和人工微结构材料的调控引入非周期性且具有各种不同图案形式的光栅结构替代原有金属栅MOSFET的源极，实现由CMOS兼容的低维半导体材料(如纳米线)制备的源极光栅化，使源极与太赫兹波产生共振，增强等离子体谐振效应，从而提高探测器的响应速度。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的。本专利技术基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器，包括具有非周期性光栅化源极及其各种不同图案形式的金属栅MOSFET、低噪声前置放大器和电压反馈回路；所述金属栅MOSFET的栅极经一号偏置电阻连接一号偏置电压源，所述金属栅MOSFET的源极用于接收太赫兹信号，所述金属栅MOSFET的漏极和低噪声前置放大器的正向输入端之间连接有一号隔直电容；所述低噪声前置放大器的正向输入端经二号偏置电阻连接二号偏置电压源；所述电压反馈回路包括反馈电阻、接地电阻、二号隔直电容和三号隔直电容，所述反馈电阻连接于低噪声前置放大器的输出端和反向输入端之间，所述接地电阻一端连接低噪声前置放大器的反向输入端，另一端经二号隔直电容接地，所述三号隔直电容一端连接低噪声前置放大器的输出端，另一端接地。所述一号偏置电压源和一号偏置电阻用于给金属栅MOSFET提供直流供电，通过调节金属栅MOSFET源极的光栅化结构参数(光栅的宽度、长度、区域面积和图案形式)来实现THz响应波段范围的调节。与现有技术相比，本专利技术的技术方案所带来的有益效果是：(1)本专利技术基于硅基CMOS工艺，便于与后端电路集成，易于实现大规模量产，进而缩减探测器成本。(2)本专利技术可通过调节光栅结构参数实现THz响应波段可调。(3)本专利技术采用光栅化金属栅MOSFET源极的方法可降低空间中微弱的太赫兹信号与源区金属结构激发出来的等离子体在传播过程中的扩散和损耗问题。(4)本专利技术无须使用天线，可有效避免片上天线损耗大、增益和辐射效率低、通过DRC设计规则验证难度大等问题；芯片面积大大减小，极大地降低了生产成本.(5)本专利技术可利用光栅对光的谐振原理等调控作用，使光栅化的源极与太赫兹波产生共振，从而提高光电转换效率。附图说明图1是一种具有非周期性光栅化源极结构及不同光栅图案形式的金属栅MOSFET示意图；图2是基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器电路图。附图标记：Vb1一号偏置电压源，Vb2二号偏置电压源，Rb1一号偏置电阻，Rb2二号偏置电阻，C1一号隔直电容，C2二号隔直电容，C3三号隔直电容，Q1金属栅MOSFET，Q2低噪声前置放大器，Rf反馈电阻，Rg接地电阻，GND地。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步的描述。本专利技术基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器，如图1和图2所示，包括具有非周期性光栅化源极及其各种不同图案形式的金属栅MOSFETQ1、低噪声前置放大器Q2和电压反馈回路。所述金属栅MOSFETQ1的栅极Gate经一号偏置电阻Rb1连接加载有一号偏置电压源Vb1，所述金属栅MOSFETQ1的源极Grating-S用于接收太赫兹信号。所述一号偏置电压源Vb1和一号偏置电阻Rb1用于给金属栅MOSFETQ1提供直流供电，可以通过调节金属栅MOSFETQ1源极Grating-S的光栅化结构参数(光栅的宽度、长度、区域面积和图案形式)来实现THz响应波段范围的调节，从而提高探测器的探测灵敏度。其中，一号偏置电压源Vb1为固定直流偏置电压源。所述金属栅MOSFETQ1的漏极D和低噪声前置放大器Q2的正向输入端之间连接有一号隔直电容C1。所述低噪声前置放大器Q2的正向输入端经二号偏置电阻Rb2连接二号偏置电压源Vb2。其中，二号偏置电阻Rb2和二号偏置电压源Vb2用于给低噪声前置放大器Q2供电；二号偏置电压源Vb2为固定直流偏置电压源。所述电压反馈回路主要由反馈电阻Rf、接地电阻Rg、二号隔直电容C2和三号隔直电容C3组成。所述反馈电阻Rf连接于低噪声前置放大器Q2的输出端和反向输入端之间，所述接地电阻Rg一端连接低噪声前置放大器Q2的反向输入端，另一端经二号隔直电容C2接地GND，所述三号隔直电容C3一端连接低噪声前置放大器Q2的输出端，另一端接地GND。其中，通过改变反馈电阻Rf和接地电阻Rg的阻值可以实现低噪声前置放大器Q2增益的调节。本专利技术基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器的输出电压信号为直流电压信号，该直流电压信号的大小与太赫兹信号的辐射强度成正比，根据本专利技术太赫兹探测器输出电压信号的大小可以得到入射太赫兹信号的强度信息，从而实现太赫兹探测。尽管上面结合附图对本专利技术的功能及工作过程进行了描述，但本专利技术并不局限于上述的具体功能和工作过程，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本专利技术的启示下，在不脱离本专利技术宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可以做出很多形式，这些均属于本专利技术的保护之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器，其特征在于，包括具有非周期性光栅化源极及其各种不同图案形式的金属栅MOSFET(Q1)、低噪声前置放大器(Q2)和电压反馈回路；所述金属栅MOSFET(Q1)的栅极经一号偏置电阻(Rb1)连接一号偏置电压源(Vb1)，所述金属栅MOSFET(Q1)的源极用于接收太赫兹信号，所述金属栅MOSFET(Q1)的漏极和低噪声前置放大器(Q2)的正向输入端之间连接有一号隔直电容(C1)；所述低噪声前置放大器(Q2)的正向输入端经二号偏置电阻(Rb2)连接二号偏置电压源(Vb2)；所述电压反馈回路包括反馈电阻(Rf)、接地电阻(Rg)、二号隔直电容(C2)和三号隔直电容(C3)，所述反馈电阻(Rf)连接于低噪声前置放大器(Q2)的输出端和反向输入端之间，所述接地电阻(Rg)一端连接低噪声前置放大器(Q2)的反向输入端，另一端经二号隔直电容(C2)接地(GND)，所述三号隔直电容(C3)一端连接低噪声前置放大器(Q2)的输出端，另一端接地(GND)。

【技术特征摘要】
1.一种基于非周期光栅化源极金属栅MOSFET太赫兹探测器，其特征在于，包括具有非周期性光栅化源极及其各种不同图案形式的金属栅MOSFET(Q1)、低噪声前置放大器(Q2)和电压反馈回路；所述金属栅MOSFET(Q1)的栅极经一号偏置电阻(Rb1)连接一号偏置电压源(Vb1)，所述金属栅MOSFET(Q1)的源极用于接收太赫兹信号，所述金属栅MOSFET(Q1)的漏极和低噪声前置放大器(Q2)的正向输入端之间连接有一号隔直电容(C1)；所述低噪声前置放大器(Q2)的正向输入端经二号偏置电阻(Rb2)连接二号偏置电压源(Vb2)；所述电压反馈回路包括反馈电阻(Rf)、接地电阻(Rg)、二号隔直电容(C2)...

【专利技术属性】
技术研发人员：马建国，周绍华，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：天津,12