The invention discloses a method and device for improving the protection efficiency of probes on the test probe platform. The base of the grinding needle unit is designed as a drawer-type cylinder. The outer ring of the drawer-type cylinder is fixed on three sides except the front side, which is perpendicular to the base, and the middle area is separated by a separator in the middle of the iron plate for placing the grinding needle unit on the base. A revolving iron bar is used to fix all the needle grinding units on the probe table; a method and device for improving the protection efficiency of the probe on the test probe table are provided in the present invention. Through the modification of the base structure of the cleaning unit placed on the probe table, a drawer column is made to achieve the purpose of storing multiple cleaning units, and different sands can be placed on multiple cleaning units. Paper type, easy to replace at any time for experimental comparison.
【技术实现步骤摘要】
一种提高在测试探针台上对探针保护效率的方法及装置
本专利技术涉及集成电路在晶圆测试
,尤其涉及一种提高在测试探针台上对探针保护效率的方法及装置。
技术介绍
集成电路在晶圆测试阶段,必需要用到探针台和探针卡来进行测试,探针卡在不断的测试过程中,会沾上铝屑或是一些其他的垃圾,此时需要磨针处理,去掉针尖上的杂物,使针卡针尖保持稳定状态。在一片晶园测试过程中,磨针是比较频繁的动作,因此消耗砂纸也是比较快的,经常4~5天就可能需要更换砂纸,更换砂纸要求精度较高,需要找设备相关人员进行更换。现有技术一:一个cleaningunit只能放置一张砂纸;目前cleaningunit上只能放置一张砂纸,如果砂纸用完后,需要将砂纸撕下,重新粘贴一张新的砂纸,粘贴新的砂纸非常费时,需要慢慢的将砂纸贴平。现有技术二:更换需要专业人士进行操作;因为探针卡需要的精度非常高,整个平面要保持一致,要确保更换的砂纸不会导致探针卡损坏,所以更换砂纸的动作需要专业的设备人员进行更换,节假日期间无法第一时间更换,影响生产效率。本专利技术通过改造探针台里的放置cleaningunit的构造,使得更换砂纸更方便,并且能存放不同类型的砂纸进行实验,降低了操作难度,无需专业人士也能更换。砂纸:用于打磨探针卡针尖的设备。探针卡:晶圆测试中被测芯片和测试机之间的接口。探针台:晶圆测试中完成自动移动晶圆的设备,并和测试机、工作站相连组成一套测试系统。Cleaningunit:放置在探针台里的磨针单元,表面粘贴砂纸。
技术实现思路
本专利技术为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种提高在测试探针台上对探针保 ...
【技术保护点】
1.一种提高在测试探针台上对探针保护效率的方法,其特征在于:将放置磨针单元的底座设计成抽屉式柱状体,抽屉式柱状体最外圈除了正前方那面,其余三面用铁板固定起来,垂直于底座,在铁板中间用隔板将中间区域等分出来,用于放置磨针单元,在底座上用一个可旋转的铁棒来固定所有磨针单元,当要更换磨针单元时,将铁棒转到下方,这样就可以抽出磨针单元,将最上方的磨针单元替换掉,然后再将铁棒转到上方固定所有磨针单元,更换完成后,用探针台自带的校验功能重新调整整个磨针单元的高度,即可继续测试。
【技术特征摘要】
1.一种提高在测试探针台上对探针保护效率的方法,其特征在于:将放置磨针单元的底座设计成抽屉式柱状体,抽屉式柱状体最外圈除了正前方那面,其余三面用铁板固定起来,垂直于底座,在铁板中间用隔板将中间区域等分出来,用于放置磨针单元,在底座上用一个可旋转的铁棒来固定所有磨针单元,当要更换磨针单元时,将铁棒转到下方,这样就可以抽出磨针单元,将最上方的磨针单元替换掉,然后再将铁棒转到上方固定所有磨针单元,更换完成后,用探针台自带的校验功能重新调整整个磨针单元的高度,即可继续测试。2.如权利要求1所述的一种提高在测试探针台上对探针保护效率的方法,其特征在于:当需要更换磨针单元时,将旋转固定棒转到下方,此时就可以通过磨针单元上的把手将磨针单元抽出,替换最上层的磨针单元,将原来的磨针单元交给设备人员,等待重新...
【专利技术属性】
技术研发人员:王玉龙,王华,凌俭波,马健,王锦,叶建明,
申请(专利权)人:上海华岭集成电路技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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