一种机内测试设计方法及系统技术方案

本申请实施例公开了一种机内测试设计方法及系统；上述机内测试设计方法，包括：对待测的混合电路系统进行区块划分，得到纯数字子电路和混合子电路；对混合子电路进行区块划分，得到一个或多个子电路块组合；针对任一子电路块组合，选定子电路块组合中两个子电路块之间的撕裂节点以及每个子电路块内的诊断用测试节点，并获取撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值；后续在BIT过程中，给撕裂节点施加电压值为该撕裂节点的电压仿真计算值的激励电压，采集诊断用测试节点的测试电压值，并根据诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值之间的比较结果来判断子电路块是否存在故障。

An in-machine test design method and system

The embodiment of this application discloses an in-machine test design method and system. The in-machine test design method includes: dividing the tested hybrid circuit system into blocks to obtain pure digital sub-circuits and hybrid sub-circuits; dividing the mixed sub-circuits into blocks to obtain one or more sub-circuit block combinations; and selecting sub-circuit block combinations for any sub-circuit block combinations. The tearing node between two sub-circuit blocks and the diagnostic test node in each sub-circuit block are obtained, and the voltage simulation calculation values of the tearing node and the diagnostic test node are obtained. In the subsequent BIT process, the tearing node is given the excitation voltage of the voltage simulation calculation value of the tearing node, and the test voltage values of the diagnostic test node are collected, and measured according to the diagnostic test node. The comparison results between the simulated and measured voltage values of the test node can be used to judge whether the sub-circuit block is faulty or not.

【技术实现步骤摘要】
一种机内测试设计方法及系统
本申请涉及但不限于测试
，尤指一种机内测试(BIT，Built-inTest)设计方法及系统。
技术介绍
目前，在航空、航天、军工领域，装备的集成度、复杂度越来越高，对装备的自测试、自诊断能力要求也越来越高，这就要求此类装备具备先进的机内测试(BIT，Built-inTest)系统。然而，目前的BIT系统多数针对的是纯数字信号系统(尤其是计算机应用系统)设计的，对于含有模拟信号或者模拟和数字混合信号的电路，由于缺乏先进的故障诊断方法支撑，没有有效的BIT设计方法。
技术实现思路
本申请实施例提供一种机内测试(BIT)设计方法及系统，可以实现对混合电路系统快速定位故障区域。一方面，本申请实施例提供一种机内测试设计方法，包括：对待测的混合电路系统进行区块划分，得到纯数字子电路和混合子电路；对所述混合子电路进行区块划分，得到一个或多个子电路块组合，其中，每个子电路块组合中包括两个子电路块；针对任一子电路块组合，确定所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点、所述每个子电路块内的诊断用测试节点；通过电路仿真分析，获取所述纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点的电压仿真计算值、所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点的电压仿真计算值、以及所述子电路块内的所述诊断用测试节点的电压仿真计算值；在BIT过程中，给所述纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点、所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点施加激励电压，采集所述每个子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值，并根据所述子电路块组合中任一子电路块内的所述诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定所述子电路块是否存在故障；其中，所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。另一方面，本申请实施例提供一种机内测试设计系统，包括：第一划分模块，适于对待测的混合电路系统进行区块划分，得到纯数字子电路和混合子电路；第二划分模块，适于对所述混合子电路进行区块划分，得到一个或多个子电路块组合，其中，每个子电路块组合中包括两个子电路块；并针对任一子电路块组合，确定所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点、所述每个子电路块内的诊断用测试节点；仿真分析模块，适于通过电路仿真分析，获取纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点的电压仿真计算值、所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点的电压仿真计算值、以及所述子电路块内的所述诊断用测试节点的电压仿真计算值；BIT设计模块，适于在BIT过程中，给所述纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点、所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点施加激励电压，采集所述每个子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值，并根据所述子电路块组合中任一子电路块内的所述诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定所述子电路块是否存在故障；其中，所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。另一方面，本申请实施例提供一种计算机可读介质，存储有机内测试设计程序，所述机内测试设计程序被执行时实现上述机内测试设计方法的步骤。本申请实施例中，对待测的混合电路系统进行区块划分，得到纯数字子电路和混合子电路；对混合子电路进行区块划分，得到一个或多个子电路块组合，其中，每个子电路块组合中包括两个子电路块；针对任一子电路块组合，选定子电路块组合中两个子电路块之间的撕裂节点以及每个子电路块内的诊断用测试节点，并获取撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值；后续在BIT过程中，给撕裂节点施加电压值为该撕裂节点的电压仿真计算值的激励电压，采集诊断用测试节点的测试电压值，并根据诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值之间的比较结果来判断子电路块是否存在故障。通过本申请实施例可以实现对混合电路系统的故障区域的快速定位。本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本申请技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。图1为本申请实施例提供的机内测试设计方法的流程图；图2为本申请实施例提供的机内测试设计方法的原理示意图；图3为本申请实施例提供的机内测试设计方法的一种示例性流程图；图4为本申请实施例提供的机内测试设计方法的另一种示例性流程图；图5为本申请实施例提供的机内测试设计系统的示意图。具体实施方式下面将结合附图对本申请的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。图1为本申请实施例提供的机内测试(BIT)设计方法的流程图。如图1所示，本实施例提供的机内测试设计方法，包括以下步骤：步骤101、对待测的混合电路系统进行区块划分，得到纯数字子电路和混合子电路；步骤102、对混合子电路进行区块划分，得到一个或多个子电路块组合，其中，每个子电路块组合中包括两个子电路块；步骤103、针对任一子电路块组合，确定该子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点、每个子电路块内的诊断用测试节点；步骤104、通过电路仿真分析，获取撕裂节点的电压仿真计算值和诊断用测试节点的电压仿真计算值；其中，撕裂节点可以包括纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点、子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点；步骤105、在BIT过程中，给纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点、子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点施加激励电压，采集该子电路块组合中的每个子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值，并根据该子电路块组合中任一子电路块内的诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定该子电路块是否存在故障；其中，撕裂节点上施加的激励电压的电压值为该撕裂节点的电压仿真计算值。其中，纯数字子电路可以采用传统数字系统BIT方法进行测试，混合子电路可以按照步骤102至步骤105的设计进行BIT测试。在一示例性实施例中，可以按照以下规则划分混合电路系统：纯数字子电路和混合子电路之间除了撕裂节点之外没有耦合，且没有分离的控制源和受控对象，撕裂节点为可及节点；混合子电路包括除时序逻辑数字电路元器件之外的模拟电路元器件和组合逻辑数字电路元器件；混合子电路中含有满足以下条件的可及节点：节点电压值相对于混合子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。其中，由于混合子电路包括除时序逻辑数字电路元器件之外的模拟电路元器件和组合逻辑数字电路元器件，因此，纯数字子电路块和子混合子电路块之间的撕裂节点可以包括模拟信号节点或组合逻辑数字信号节点，不能为时序逻辑数字信号节点。在一示例性实施例中，混合子电路的区块划分方式可以根据用户对故障区域的定位需求来确定。比如，可以根据用户对故障区域的定位需求，将混合子电路划分为两个子电路块(即得到一个子电路块组合)；或本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机内测试BIT设计方法，其特征在于，包括：对待测的混合电路系统进行区块划分，得到纯数字子电路和混合子电路；对所述混合子电路进行区块划分，得到一个或多个子电路块组合，其中，每个子电路块组合中包括两个子电路块；针对任一子电路块组合，确定所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点、所述每个子电路块内的诊断用测试节点；通过电路仿真分析，获取所述纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点的电压仿真计算值、所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点的电压仿真计算值、以及所述子电路块内的所述诊断用测试节点的电压仿真计算值；在BIT过程中，给所述纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点、所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点施加激励电压，采集所述每个子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值，并根据所述子电路块组合中任一子电路块内的所述诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定所述子电路块是否存在故障；其中，所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。

【技术特征摘要】
1.一种机内测试BIT设计方法，其特征在于，包括：对待测的混合电路系统进行区块划分，得到纯数字子电路和混合子电路；对所述混合子电路进行区块划分，得到一个或多个子电路块组合，其中，每个子电路块组合中包括两个子电路块；针对任一子电路块组合，确定所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点、所述每个子电路块内的诊断用测试节点；通过电路仿真分析，获取所述纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点的电压仿真计算值、所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点的电压仿真计算值、以及所述子电路块内的所述诊断用测试节点的电压仿真计算值；在BIT过程中，给所述纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点、所述子电路块组合中的两个子电路块之间的撕裂节点施加激励电压，采集所述每个子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值，并根据所述子电路块组合中任一子电路块内的所述诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定所述子电路块是否存在故障；其中，所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述纯数字子电路和所述混合子电路之间除了撕裂节点之外没有耦合，且没有分离的控制源和受控对象，所述撕裂节点为可及节点；所述混合子电路包括除时序逻辑数字电路元器件之外的模拟电路元器件和组合逻辑数字电路元器件；所述混合子电路中含有满足以下条件的可及节点：节点电压值相对于所述混合子电路内所有元器件参数的灵敏度不为零。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述纯数字子电路和所述混合子电路之间的撕裂节点包括模拟信号节点或组合逻辑数字信号节点。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个子电路块组合包括第一级子电路块组合至第i级子电路块组合，所述第一级子电路块组合包括对所述混合子电路划分得到的两个子电路块，所述第i级子电路块组合包括对第i-1级子电路块组合内的任一子电路块划分得到的两个子电路块；其中，i为大于1的整数；所述方法还包括：在BIT过程中，当所述第i-1级子电路块组合内的任一子电路块被检测到存在故障，则给所述纯数字子电路和混合子电路之间的撕裂节点、所述第一级子电路块组合至所述第i级子电路块组合中的撕裂节点施加激励电压，采集所述第i级子电路块组合中每个子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值，并根据所述第i级子电路块组合中任一子电路块内的诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定所述第i级子电路块组合中所述子电路块是否存在故障；其中，所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。5.根据权利要求1所述的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈圣俭，宋钱骞，
申请(专利权)人：北京旋极信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11