射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质技术

本发明专利技术公开的射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质，基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器的测试条件参数的值进行设置，测试仪器基于这种设置对待测电子标签进行盘点，记录盘点过程中待测电子标签产生的防碰撞参数值，建立防碰撞参数值与测试条件参数取值组合的映射关系，对待测电子标签进行多次盘点，从而得到每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种，直至按照上述过程遍历测试条件参数的所有取值组合，这样就可以得到各测试条件参数取值组合与防碰撞参数相关的值的映射关系，然后基于该映射关系对待测电子标签的防碰撞性能进行评估，从而可以得到更全面、可重现、更加准确的测试结果。

Test methods, instruments and storage media for anti-collision performance of radio frequency identification

【技术实现步骤摘要】
射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质
本专利技术涉及射频识别
，更具体地说，涉及一种射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质。
技术介绍
射频识别通信过程中需要解决在同一个系统中多个设备之间同时通信的碰撞问题，尤其是单个读写器与多个标签通信的碰撞问题。限于成本和功耗的因素，标签只能够提供有限的功能用于实现防碰撞机制，目前多标签的防碰撞算法主要分为基于时隙的随机性算法(Aloha)和基于二叉树的确定性算法(BinaryTree)两大类。现有射频识别防碰撞性能测试方法，通常是将若干个被测标签排列为二维阵列，或者将若干个被测标签和若干个基准标签混合排列为二维阵列，使用基准读写器对上述标签阵列进行盘点，通过记录基准读写器从开始盘点到盘点结束所用的时间，以及记录基准读写器盘点到的标签数量，作为防碰撞性能的测试结果。但这类测试方法受限于基准读写器能够提供的功能，往往导致测试结果不全面，其次这类测试方法无法对防碰撞性能得出定量的测试结果，在发生盘点时间长，以及盘点数量低时，无法找到导致问题发生的根本原因，从而无法指导读写器和标签如何改进以提高防碰撞性能。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供一种射频识别防碰撞性能测试方法及测试仪器。为实现上述目的，本专利技术所采用的具体技术方案如下：一种射频识别防碰撞性能测试方法，包括：S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对所述测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置；S12：所述测试仪器对待测电子标签进行一次盘点；S13：记录每次盘点过程中所述待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立所述防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系，所述防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种；S14：针对所述测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12；S15：分别对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种；S16：判断是否遍历所述测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11；S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的所述待测电子标签的防碰撞性能进行评估。进一步地，所述测试条件参数包括前向链路基准时间、反向链路链接频率、反向链路编码方式、标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数中的至少一种。进一步地，所述待测电子标签的数量为多个，所述S13包括：针对每一所述待测电子标签，分别记录每次盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立该待测电子标签产生的防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系。进一步地，所述待测电子标签的数量为1个。进一步地，在步骤S14之前，还包括:S131：记录每次盘点过程中所述测试仪器产生的命令次数、所述待测电子标签产生的有效响应次数和碰撞次数中的至少一种。S132：建立所述命令次数、所述有效响应次数和所述碰撞次数中的至少一种和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系；在步骤S15之后，且在步骤S16之前还包括：S151：对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的所述命令次数、所述有效响应次数和所述碰撞次数中的至少一种进行累计，得到命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种，然后转至S152；S152：计算所述命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种与预设的盘点次数总和的比值关系。进一步地，当得到所述命令次数累计值、所述有效响应次数累计值和所述碰撞次数累计值时，所述方法还包括：计算所述命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中至少两种累计值之间的比值关系。进一步地，本专利技术还提供一种射频识别防碰撞性能测试仪器，包括：处理器、存储器及通信总线；所述通信总线用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信；所述处理器用于执行所述存储器中存储的一个或多个程序，以实现上述任意一种射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。进一步地，本专利技术还提供一种存储介质，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现上述任意一种射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。通过本专利技术提供的射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质，可以基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置，然后测试仪器基于这种设置对待测电子标签进行盘点，记录盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立产生的防碰撞参数值与测试条件参数当前的取值组合的映射关系，在当前的测试条件参数设置下对待测电子标签进行多次盘点，并记录每次盘点过程中建立的映射关系，从而得到每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种，然后对测试仪器的测试条件参数的值进行重新设置，直至按照上述过程遍历测试条件参数的所有取值组合，这样就可以得到各测试条件参数取值组合与对应的防碰撞参数相关的值的映射关系，然后基于该映射关系对待测电子标签的防碰撞性能进行评估，从而可以得到更全面、可重现、更加准确的测试结果。附图说明下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：图1为本专利技术实施例提供的一种射频识别防碰撞性能测试方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的另一种射频识别防碰撞性能测试方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例提供的射频识别防碰撞性能测试仪器的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述，应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本实施例提供一种射频识别防碰撞性能测试方法，请参见图1所示，包括：S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置。步骤S11中的测试条件参数包括前向链路基准时间、反向链路链接频率、反向链路编码方式、标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数中的至少一种。比如，测试条件参数可以为标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数，此时这两种测试条件参数都应有其对应的测试值集合，假设标签接入数目控制参数对应的测试值集合为(A1，A2，A3)，接入帧时隙总数对应的测试值集合为(B1，B2)，则该测试仪器具有6种测试条件参数设置方式，该测试仪器的测试条件参数的所有取值组合为(A1,B1),(A1,B2),(A2,B1),(A2,B2),(A3,B1),(A3,B2)。S12：测试仪器对待测电子标签进行一次盘点。本实施例中的盘点也即是通信，步骤S12表示使测试仪器与待测电子标签进行一次通信。S13：记录每次盘点过程中待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立防碰撞参数值和测试条件参数当前的取值组合的映射关系，防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种。S14：针对测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12。本实施例中预设的盘点次数总和可以由开发人员任意设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，包括：S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对所述测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置；S12：所述测试仪器对待测电子标签进行一次盘点；S13：记录每次盘点过程中所述待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立所述防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系，所述防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种；S14：针对所述测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12；S15：分别对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种；S16：判断是否遍历所述测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11；S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的所述待测电子标签的防碰撞性能进行评估。

【技术特征摘要】
1.一种射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，包括：S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对所述测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置；S12：所述测试仪器对待测电子标签进行一次盘点；S13：记录每次盘点过程中所述待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立所述防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系，所述防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种；S14：针对所述测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12；S15：分别对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种；S16：判断是否遍历所述测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11；S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的所述待测电子标签的防碰撞性能进行评估。2.如权利要求1所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，所述测试条件参数包括前向链路基准时间、反向链路链接频率、反向链路编码方式、标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数中的至少一种。3.如权利要求1所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，所述待测电子标签的数量为多个，所述S13包括：针对每一所述待测电子标签，分别记录每次盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立该待测电子标签产生的防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系。4.如权利要求1所述的射频识别...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈柯，刘子军，
申请(专利权)人：重庆唯申科技有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆,50