【技术实现步骤摘要】
单斜率比较装置及包括其的模数转换装置和CMOS图像传感器
本专利文献所公开的技术和实现方式涉及模数转换装置和互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器。
技术介绍
高速读出和低功耗是设计CMOS图像传感器时要考虑的重要参数。然而,高速读出与低功耗之间存在权衡。对具有越来越多像素的CMOS图像传感器的需求导致读出电路的带宽增加,以便在短时间帧内读出增加数量的像素。因此,为了方便大像素阵列的高速读出而无需消耗太多功率,可使用列并行架构。在CMOS图像传感器的列并行模数转换器(ADC)架构中,常常使用单斜率ADC,因为其可使用非常简单的列电路来实现并且需要远小于其它类型的ADC的芯片面积。最近,已提出了多采样技术以通过对输入信号多次采样并进行模数转换并且通过对采样的输入信号取平均来改进CMOS图像传感器中的噪声消除性能。然而,单斜率ADC装置常常伴随着时钟数量的增加以对输入信号多次采样并对采样的输入信号进行模数转换。例如,10位模数转换需要1024个时钟,因此10位多采样模数转换可能需要至少2048个时钟。用于处理的时钟周期的这种增加降低了成像装置的图像处理速度,因此是不可取的。作为上面所讨论的多采样技术的替代方案,可通过在1024个时钟期间将斜坡信号的斜率增加多倍(例如,从×1至×16)来执行多采样操作,以执行10位模数转换。然而,随着斜坡信号的斜率增加,正确地处理斜坡信号变得更困难。由于噪声性能是在低照度下维持令人满意的成像性能的重要因素,所以ADC转换器常常使用不同类型的斜坡信号发生装置,包括用于低照度的斜坡信号发生装置以及用于高照度的另一斜坡信号发生装置 ...
【技术保护点】
1.一种比较装置,该比较装置包括:偏移发生电路,该偏移发生电路包括接收偏移控制信号的输入端口并被构造为基于所接收的偏移控制信号来生成偏移;比较电路,该比较电路包括联接到所述偏移发生电路以接收第一输入信号的第一输入端口以及被联接以接收偏移了由所述偏移发生电路生成的所述偏移的第二输入信号的第二输入端口,并且能够操作以对所述第一输入信号与所述第二输入信号进行比较来生成比较信号;以及控制电路,该控制电路联接到所述比较电路以接收所述比较信号并且能够操作以根据所述比较信号来检测所述第一输入信号和所述第二输入信号的交叉并向所述偏移发生电路输出所述偏移控制信号。
【技术特征摘要】
2017.10.20 KR 10-2017-01364661.一种比较装置,该比较装置包括:偏移发生电路,该偏移发生电路包括接收偏移控制信号的输入端口并被构造为基于所接收的偏移控制信号来生成偏移;比较电路,该比较电路包括联接到所述偏移发生电路以接收第一输入信号的第一输入端口以及被联接以接收偏移了由所述偏移发生电路生成的所述偏移的第二输入信号的第二输入端口,并且能够操作以对所述第一输入信号与所述第二输入信号进行比较来生成比较信号;以及控制电路,该控制电路联接到所述比较电路以接收所述比较信号并且能够操作以根据所述比较信号来检测所述第一输入信号和所述第二输入信号的交叉并向所述偏移发生电路输出所述偏移控制信号。2.根据权利要求1所述的比较装置,其中,所述比较电路在模数转换期间重复地执行比较处理多次,在初始时间,所述比较处理比较所述第一输入信号与第三输入信号并输出所述比较信号,在所述初始时间之后,所述比较处理比较所述第一输入信号与应用了所述偏移的所述第二输入信号并输出所述比较信号。3.根据权利要求2所述的比较装置,其中,通过将所述第三输入信号减小或增大从所述偏移发生电路输出的所述偏移来生成所述第二输入信号。4.根据权利要求1所述的比较装置,其中,所述控制电路包括:交叉检测器,该交叉检测器被构造为根据所述比较电路的所述比较信号来检测所述第一输入信号和所述第二输入信号的交叉以生成指示所述交叉的检测结果的输出并向所述偏移发生电路输出所述偏移控制信号;以及偏移大小控制器,该偏移大小控制器联接到所述交叉检测器以接收该交叉检测器的输出并且能够操作以根据从所述交叉检测器输出的交叉检测结果向所述偏移发生电路输出偏移大小控制信号,其中,所述偏移发生电路在生成所述偏移时还对所述偏移大小控制信号做出响应。5.根据权利要求4所述的比较装置,其中,所述偏移发生电路包括:偏移大小调节器,该偏移大小调节器联接到所述控制电路以接收所述偏移大小控制信号并响应于所述偏移大小控制信号来调节所述偏移的偏移大小;偏移控制器,该偏移控制器联接到所述控制电路以接收所述偏移发生控制信号和所述偏移大小控制信号并且能够操作以根据所述偏移发生控制信号来控制所述偏移的生成;以及偏移发生器,该偏移发生器联接到所述偏移大小调节器和所述偏移控制器并且能够操作以根据所述偏移控制器的控制来生成大小由所述偏移大小调节器调节的偏移。6.根据权利要求1所述的比较装置,其中,所述第一输入信号是斜坡信号并且所述第二输入信号是像素信号。7.根据权利要求1所述的比较装置,其中,所述第一输入信号是像素信号并且所述第二输入信号是斜坡信号。8.一种模数转换装置,该模数转换装置包括:偏移发生电路,该偏移发生电路被设置为根据偏移控制信号生成偏移;比较电路,该比较电路被设置为比较第一输入信号与应用了所述偏移的第二输入信号并输出比较信号;控制电路,该控制电路被设置为根据从所述比较电路输出的所述比较信号来检测所述第一输入信号和所述第二输入信号的交叉并向所述偏移发生电路输出所述偏移控制信号;以及计数器,该计数器被设置为基于从所述比较电路输出的所述比较信号来执行计数操作。9.根据权利要求8所述的模数转换装置,其中,所述比较电路在行模数转换期间重复地执行比较处理多次,在初始时间,所述比较处理比较所述第一输入信号与第三输入信号并输出所述比较信号,在所述初始时间之后,所述比较处理比较所述第一输入信号与应用了所述偏移的所述第二输入信号并输出所述比较信号。10.根据权利要求9所述的模数转换装置,其中,通过将所述第三输入信号减小或增大从所述偏移发生电路输出的所述偏移来生成所述第二输入信号。11.根据权利要求8所述的模数转换装置,其中,所述控制电路包括:交叉检测器,该交叉检测器被设置为根据所述比较电路的所述比较信号来检测所述第一输入信号和所述第二输入信号的交叉并向所述偏移发生电路输出偏移发生控制信号;以及偏移大小控制器,该偏移大小控制器被设置为根据从所述交叉检测器输出的交叉检测结果向所述偏移发生电路输出偏移大小控制信号。12.根据权利要求11所述的模数转换装置,其中,所述偏移发生电路包括:偏移大小调节器,该偏移大小调节器被设置为根据从所述控制电路输出的所述偏移大小控制信号来调节偏移大小;偏移控制器,该偏移控制器被设置为根据从所述控制电路输出的所述偏移发生控制信号来控制所述偏移的生...
【专利技术属性】
技术研发人员:金贤俊,金珉圭,
申请(专利权)人:爱思开海力士有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国,KR
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。