测试装置制造方法及图纸

技术编号:20844412 阅读:23 留言:0更新日期:2019-04-13 08:56
本实用新型专利技术公开一种测试装置,该测试装置用于连接显示屏的电路板上的测试点以向显示屏输入测试信号,测试装置包括:外壳和探针,外壳内开设有底部呈敞口设置的容置腔,容置腔的内壁上设有第一触点和第二触点,第一触点连接测试信号,第二触点接地;探针设于容置腔内,并可沿第一方向在第一位置和第二位置间移动,探针包括导电部,探针位于第一位置时,导电部连接第一触点和测试点,以将测试信号导向测试点;探针位于第二位置时,导电部连接第二触点以释放探针上积累的电荷。本申请提出的测试装置能够释放探针累积的电荷,如此,能够有效地降低静电放电发生的可能性,提高产线良率。

【技术实现步骤摘要】
测试装置
本技术涉及显示
,特别涉及一种测试装置。
技术介绍
TFT-LCD(ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay,薄膜晶体管液晶显示器)是当前平板显示的主要品种之一,已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。TFT-LCD的驱动原理是系统主板将R/G/B压缩信号、控制信号及电源信号通过线材与PCB板(PrintedCircuitBoard,印制电路板,简称电路板)上的connector(连接器)相连接,信号经过电路板上的TCON-IC(TimingControllerIC,时序控制器集成电路)处理后,经电路板通过S-COF(Source-ChiponFilm,柔性线路板的源极)和G-COF(Gate-ChiponFilm,柔性线路板的栅极)与显示区连接,从而使得LCD获得所需的信号。为了避免人工插拔对连接器造成的损坏,工厂产线配置有用于连接电路板的自动测试装置,如此,原本通过连接器输入电路板的信号可通过自动测试装置的金属探针直接输入至电路板上的测试点。通过金属探针与PCB上的测试点相接触以向系统主板提供电源、信号可以避免人工插拔信号线材的方式对电路板造成的损坏。然而,这种方法的问题在于金属探针长时间使用后,金属探针上累积了大量电荷,如此,会造成ESD(Electro-StaticDischarge,静电放电),损伤元件。
技术实现思路
本技术的主要目的是提出一种测试装置,旨在释放金属探针上累积的电荷,避免损伤电路板上的元件。为实现上述目的,本技术提出的测试装置,用于连接显示屏的电路板的测试点以向所述显示屏输入测试信号,所述测试装置包括:外壳,所述外壳内开设有底部呈敞口设置的容置腔,所述容置腔的内壁上设有第一触点和第二触点,所述第一触点连接所述测试信号,所述第二触点接地;探针,设于所述容置腔内,并可沿第一方向在第一位置和第二位置间移动,所述探针包括导电部,所述探针位于所述第一位置时,所述导电部连接所述第一触点和所述测试点,以将所述测试信号导向所述测试点;所述探针位于所述第二位置时,所述导电部连接所述第二触点以释放所述探针上积累的电荷。优选地,所述测试装置还包括弹性件,所述弹性件设于所述容置腔内,且所述弹性件抵接在所述探针和所述容置腔远离所述外壳的敞口的腔壁之间。优选地,所述探针还包括绝缘部,当所述探针位于所述第一位置时,所述绝缘部连接与所述第二触点相接触,当所述探针位于所述第二位置时,所述绝缘部连接与所述第一触点相接触。优选地,所述导电部呈柱状设置,所述导电部靠近所述第二触点的外壁面上开设有嵌槽;所述绝缘部包括填充在所述嵌槽内的第一绝缘体。优选地,所述绝缘部还包括靠近所述第一触点设置的第二绝缘体,所述第二绝缘体固设于所述导电部远离所述外壳的敞口的一端。优选地,所述导电部包括对应所述嵌槽设置的第一导电体,连接在所述第一导电体一端的第二导电体和连接在所述第一导电体另一端的第三导电体;所述第二导电体的长度为所述第一触点和所述第二触点的间距与所述第一触点或所述第二触点沿所述第一方向的高度之和。优选地,所述第一导电体,所述第二导电体和所述第三导电体一体成型,且所述第一导电体,所述第二导电体和所述第三导电体呈同轴设置。优选地,所述第三导电体远离所述第一导电体的表面形成与所述测试点接触的测试面,所述测试面呈平面设置。优选地,所述第一触点与所述第二触点在所述第一方向上间隔设置;且所述第一触点和所述第二触点均凸出于所述容置腔的内壁。优选地,所述第一触点在所述容置腔的内侧壁上均匀间隔设有多个,所述第二触点在所述容置腔的内侧壁上均匀间隔设有多个。本技术提出的测试装置用于连接显示屏的电路板上的测试点以向所述显示屏输入测试信号,所述测试装置包括:外壳和探针,所述外壳内开设有底部呈敞口设置的容置腔,所述容置腔的内壁上设有第一触点和第二触点,所述第一触点连接所述测试信号,所述第二触点接地;所述探针设于所述容置腔内,并可沿第一方向在第一位置和第二位置间移动,所述探针包括导电部,所述探针位于所述第一位置时,所述导电部连接所述第一触点和所述测试点,以将所述测试信号导向所述测试点;所述探针位于所述第二位置时,所述导电部连接所述第二触点以释放所述探针上积累的电荷。当探针位于第一位置时,所述探针的导电部抵接在所述电路板上的测试点上,且所述导电部与第一触点连接,如此,导电部能够连接第一触点和所述测试点,如此,测试信号自第一触点输入后,可流向电路板上的测试点,所述测试信号包括显示屏所需的电源信号、控制信号及R/G/B压缩信号等,如此,能够方便地对显示屏的性能进行测试,而且能够避免人工插拔信号线所导致的对电路板的损坏;当探针位于第二位置时,所述探针的导电部与所述电路板上的测试点上相分离,所述导电部与第二触点连接,且第二触点接地,如此,所述探针所累积的电荷可以通过第二触点导向大地,从而能够释放所述探针累积的电荷,如此,能够有效地降低静电放电发生的可能性,提高产线良率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本技术测试装置处于第一位置时的结构示意图;图2为本技术测试装置处于第二位置时的结构示意图;图3为沿图2中III-III方向的剖视图;图4为本技术测试装置另一实施例沿图2中III-III方向的剖视图。附图标号说明:本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。需要说明,若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……),则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。另外,若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本技术要求的保护范围之内。本技术提出一种测试装置,该测试装置能够有效释放探针与电路板上的测试点因长时间工作接触而累积的电荷,从而能够有效降低静电放电发生的可能性。在本技术一实施例中,如图1和图2所示,图1中,探针位于第一位置,图2中,探针位于第二位置,该测试装置用于连接显示屏的电路板400上的测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置,用于连接显示屏的电路板的测试点以向所述显示屏输入测试信号,其特征在于,所述测试装置包括:外壳,所述外壳内设有底部呈敞口设置的容置腔,所述容置腔的内壁上设置第一触点和第二触点,所述第一触点连接所述测试信号,所述第二触点接地;探针,设于所述容置腔内,并可沿第一方向在第一位置和第二位置间移动,所述探针包括导电部,所述探针位于所述第一位置时,所述导电部连接所述第一触点和所述测试点,以将所述测试信号导向所述测试点;所述探针位于所述第二位置时,所述导电部连接所述第二触点以释放所述探针上积累的电荷。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置,用于连接显示屏的电路板的测试点以向所述显示屏输入测试信号,其特征在于,所述测试装置包括:外壳,所述外壳内设有底部呈敞口设置的容置腔,所述容置腔的内壁上设置第一触点和第二触点,所述第一触点连接所述测试信号,所述第二触点接地;探针,设于所述容置腔内,并可沿第一方向在第一位置和第二位置间移动,所述探针包括导电部,所述探针位于所述第一位置时,所述导电部连接所述第一触点和所述测试点,以将所述测试信号导向所述测试点;所述探针位于所述第二位置时,所述导电部连接所述第二触点以释放所述探针上积累的电荷。2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括弹性件,所述弹性件设于所述容置腔内,且所述弹性件抵接在所述探针和所述容置腔远离所述外壳的敞口的腔壁之间。3.如权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述探针还包括绝缘部,当所述探针位于所述第一位置时,所述绝缘部与所述第二触点相接触,当所述探针位于所述第二位置时,所述绝缘部与所述第一触点相接触。4.如权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述导电部呈柱状设置,所述导电部靠近所述第二触点的外壁面上设有嵌槽;所述绝缘部包括填充...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄笑宇
申请(专利权)人:惠科股份有限公司重庆惠科金渝光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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