一种I/O板检测系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种I/O板检测系统，其特征在于：所述I/O板检测系统包括：待测I/O板、通用测试板以及显示板，所述待测I/O板的输入端与所述通用测试板上的端口对应连接，所述显示板与所述待测I/O板的I/O端口连接，用于显示所述待测I/O板是否正常。本实用新型专利技术提供的I/O板检测系统设置有通用测试板，所述通用测试板连接有JTAG接口，通过所述JTAG接口向所述通用测试板下载测试程序，对I/O板检测系统设置各种测试参数，需要检测I/O板的时候，将待测I/O板的输入端与所述通用测试板上的端口对应连接，所述通用测试板中设有各种测试参数，可以实现对待测I/O板功能的检测。

【技术实现步骤摘要】
一种I/O板检测系统
本技术涉及交通数据采集
，具体涉及一种车辆数据转换I/O板检测系统。
技术介绍
交通数据采集系统一般包括数据采集中心以及与所述数据采集中心连接的多个数据转换器，数据转换器的I/O板检测过程一般需要将待检测的数据转换器的I/O板与数据采集中心连接组装完成后，通过整个交通数据采集系统的工作状态来判断数据转换器的好坏。而数据转换器与数据采集中心的连接组装工作本身就是一个非常复杂的过程，如果一旦发现某一个数据转换器不能工作，还需要将不能工作的数据转换器拆卸下来，重新安装另外一个数据转换器，这种检测数据转换器的I/O板的方法十分复杂，检测效率低。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供一种I/O板检测系统，通过I/O板检测系统来判断车辆数据转换器的I/O板的好坏，简化了车辆数据转换器的I/O板的检测过程。本技术提供一种I/O板检测系统，其特征在于：所述I/O板检测系统包括：待测I/O板、通用测试板以及显示板，所述待测I/O板的输入端与所述通用测试板上的端口对应连接，所述显示板与所述待测I/O板的I/O端口连接，用于显示所述待测I/O板是否正常。优选地，所述I/O板检测系统还包括电源模块，所述电源模块包括直流供电单元以及DC-DC电压转换单元。优选地，所述电源模块采用5V供电，所述DC-DC电压转换单元采用ASM1117芯片，所述ASM1117芯片将5V电压转换成3.3V电压。优选地，所述待测I/O板为芯片PCA9575，所述通用测试板通过I2C总线接口与所述待测I/O板的SDA端和SCL端连接。优选地，所述芯片PCA9575包括2组端口，每组端口有8个I/O口；每个I/O口均通过光继电器连接到显示板。优选地，每个I/O口均通过第一电阻、反相器以及第二电阻连接到所述光继电器。优选地，所述通用测试板采用单片机C8051F930；所述单片机C8051F930的SDA端和SCL端通过I2C总线接口与所述待测I/O板连接；所述单片机C8051F930的RST/C2CK端和P2.7/C2D端连接所述JTAG接口；所述单片机C8051F930的RST/C2CK端和所述电源模块之间还连接有上拉电阻，使所述RST/C2CK端处于高电平。本技术具有的优点和积极效果是：本技术提供的I/O板检测系统设置有通用测试板，所述通用测试板连接有JTAG接口，通过所述JTAG接口向所述通用测试板下载测试程序，对I/O板检测系统设置各种测试参数，需要检测I/O板的时候，将待测I/O板的输入端与所述通用测试板上的端口对应连接，所述通用测试板中设有各种测试参数，可以实现对待测I/O板功能的检测。附图说明图1是本技术的I/O板检测系统的结构示意图；图2是本技术的通用检测板的电路原理图；图3是本技术的待测I/O板以及显示板的电路原理图；图4是本技术的电源模块的电路原理图。具体实施方式为了更好的理解本技术，下面结合具体实施例和附图对本技术进行进一步的描述。如图1所示，本技术提供一种I/O板检测系统，所述I/O板检测系统包括：待测I/O板1、通用测试板2以及显示板3；所述待测I/O板的输入端与所述通用测试板上的端口对应连接，所述显示板与所述待测I/O板的I/O端口连接，用于显示所述待测I/O板是否正常。进一步地，所述通用测试板连接有JTAG接口，用于向所述通用测试板下载测试程序。交通数据采集系统一般包括数据采集中心以及与所述数据采集中心连接的多个数据转换器，数据转换器的I/O板检测过程一般需要将待检测的数据转换器的I/O板与数据采集中心连接组装完成后，通过整个交通数据采集系统的工作状态来判断数据转换器的好坏。而数据转换器与数据采集中心的连接组装工作本身就是一个非常复杂的过程。本技术提供的I/O板检测系统设置有通用测试板，所述通用测试板连接有JTAG接口，通过所述JTAG接口向所述通用测试板下载测试程序，对I/O板检测系统设置各种测试参数，需要检测I/O板的时候，将待测I/O板的输入端与所述通用测试板上的端口对应连接，所述通用测试板中设有各种测试参数，可以实现对待测I/O板功能的检测。如图2所示，在本技术的一个实施例中，所述通用测试板采用单片机C8051F930；单片机C8051F930是真正能独立工作的片上系统，所述单片机C8051F930包括调试/编程硬件以及与之连接的FLASH存储器，具有在线重新编程的能力，所述调试/编程硬件连接RST/C2CK端，所述RST/C2CK端连接所述JTAG接口，用于向所述单片机C8051F930下载测试程序。进一步地，所述单片机C8051F930的RST/C2CK端和所述电源模块之间还连接有上拉电阻，使所述RST/C2CK端处于高电平。进一步地，所述单片机C8051F930的SDA端和SCL端通过I2C总线接口与所述待测I/O板连接；通过SDA和SCL两根线将检测数据输送给待测I/O板，以对所述待测I/O板的性能进行检测。进一步地，如图3所示，所述待测I/O板为芯片PCA9575，所述通用测试板通过I2C总线接口与所述待测I/O板的SDA端和SCL端连接。所述通用测试板、所述待测I/O板以及所述显示单元均上电后，所述通用测试板通过I2C总线设置PCA9575工作状态为输出，然后将检测数据发送给PCA9575芯片。所述芯片PCA9575包括2组端口，每组端口有8个I/O口；每个I/O口均通过光继电器连接到显示单元。进一步地，每个I/O口均通过第一电阻、反相器以及第二电阻连接到所述光继电器，所述光继电器为CPC1008N，所述反相器为74AC04。具体的，如图3所示，所述芯片PCA9575有P0和P1两组端口，分别为P0-0至P0-7以及P1-0至P1-7。如果让这16个I/O口输出1，即通过I2C总线分别向P0和P1两组端口写入0XFF。以P0_0口举例，当P0_0输出高电平1时，高电平1经过第一电阻R1_1及反相器74AC04转变为低电平0，低电平0通过第二电阻R1加到光继电器CPC1008N的2脚，即红外发光管的的反向端，而PCA9575的1脚，即红外发光管的的正向端加有3.3V的电压，红外发光二极管将导通，导通后的红外光将使光继电器CPC1008N的二次端的开关闭合。这样就会点亮LED1，同样的道理其余的15个LED灯也会被点亮。当通过I2C总线分别向两个端口写入0X00时，16个LED灯会熄灭。这样根据LED灯的亮灭情况就可以判断待测I/O板16个端口是否正常。由于PCA9575驱动能力较差，不足以同时驱动16个光继电器CPC1008N，它的P0和P1两组端口的每个I/O口只有1ma的拉电流和3ma的灌电流。所以使用反相器74AC04，而反相器74AC04芯片是CMOS芯片，是电压控制芯片，反相器正向输入端对驱动电流要求很低，几乎可以等于0，而反相器输出端的灌电流可达24ma。光继电器CPC1008N的二次端在不导通的情况下，可以耐压100V，二次端在导通的情况下允许通过150ma的电流，可以带较大的负载。进一步地，所述通用测试板、所述待测I/O板以及所述显示单元均通过所述电源模块进行供电。在本技术的另一个实施例中，如图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种I/O板检测系统，其特征在于：所述I/O板检测系统包括：待测I/O板、通用测试板以及显示板，所述待测I/O板的输入端与所述通用测试板上的端口对应连接，所述显示板与所述待测I/O板的I/O端口连接，用于显示所述待测I/O板是否正常。

【技术特征摘要】
1.一种I/O板检测系统，其特征在于：所述I/O板检测系统包括：待测I/O板、通用测试板以及显示板，所述待测I/O板的输入端与所述通用测试板上的端口对应连接，所述显示板与所述待测I/O板的I/O端口连接，用于显示所述待测I/O板是否正常。2.根据权利要求1所述的I/O板检测系统，其特征在于：所述I/O板检测系统还包括电源模块，所述电源模块包括直流供电单元以及DC-DC电压转换单元。3.根据权利要求2所述的I/O板检测系统，其特征在于：所述电源模块采用5V供电，所述DC-DC电压转换单元采用ASM1117芯片，所述ASM1117芯片将5V电压转换成3.3V电压。4.根据权利要求1或2或3所述的I/O板检测系统，其特征在于：所述待测I/O板为芯片PCA9575，所述通用测试板通过I2C总线接口与所述待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：高彤，杨浩，
申请(专利权)人：天津市顺通电子有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12