芯片信号线结构制造技术

本发明专利技术涉及一种芯片信号线结构，包括若干绑定管脚以及若干第二开关元件和若干第一开关元件；绑定管脚包括上管脚和下管脚，第二开关元件分别与上管脚及下管脚连接；各第二开关元件的第二控制端相互连接，用于受控控制各个第二开关元件的导通或关断；第一开关元件与下管脚连接；各第一开关元件的第一控制端相互连接，用于受控控制各个第一开关元件的导通或关断；各第一开关元件的检测端相互连接，用于在各个第一开关元件导通时进行开短路检测。上述芯片信号线结构，通过优化IC设计，提高IC绑定的检出能力和效率，为COF半成品检验绑定效果提供可行性方案，提升产品性能，降低项目失败成本，方便不良产品的分析和改善。

【技术实现步骤摘要】
芯片信号线结构
本专利技术涉及专利技术所涉及的
，特别是涉及一种芯片信号线结构。
技术介绍
目前，液晶面板(LCD)模组生产中有一个工序是COG绑定，即IC通过ACF绑定在LCD玻璃上或者COFLCD中的Film基材，实现功能导通。此工序可能存在假压或不良，即IC和LCD对应的pad不导通或阻抗有异常。目前对该工序的检验方式有常规COG(ICchiponglass)方式以及COF(ICchiponFPC)的全检方式，常规COG方式下用于抽检确认绑定效果，全检方式下用于对生产出来的成品进行功能检验。但是，常规COG方式下显微镜只能抽检确认绑定效果，由于不是全检，存在有漏检的可能，而全检需要生产出成品再进行功能检验，且Incell需要分别检测显示画面好触控功能是否正常，此时也检测检验合格的产品，因为该检验合格的产品也有可能存在假压不良，如压贴效果不好、如压贴粒子过少阻抗较大等情况导致假压不良，虽暂时不影响检验时候的功能，然而其有可能在老化后进行较长时间通电后才会失效，严重影响LCD液晶面板的质量和使用寿命。此外，由于绑定PIN数量较多，通常可达上千个，因此在对生产出来的不良屏成品进行分析时存在有难度，显微镜检查发现较难发现异常，需要做交换验证等，且失败率也很高，给分析改善带来难度。
技术实现思路
基于此，有必要针对如何优化IC设计，提高IC绑定的检出能力和效率，降低成本的技术问题，提供一种芯片信号线结构。一种芯片信号线结构，包括若干绑定管脚及若干第一开关元件，每一所述绑定管脚对应与一所述第一开关元件连接；其中，所述绑定管脚包括绝缘隔断设置的上管脚和下管脚，所述第一开关元件与所述下管脚连接；各所述第一开关元件的第一控制端相互连接，所述第一控制端用于接收第一电信号，所述第一电信号用于控制各个所述第一开关元件导通或关断；各所述第一开关元件的检测端相互连接，所述检测端用于在各个所述第一开关元件导通时配合所述上管脚进行开短路检测。在其中一个实施例中，所述芯片信号线结构还包括若干第二开关元件，所述第二开关元件分别与所述上管脚及所述下管脚连接；各所述第二开关元件的第二控制端相互连接，所述第二控制端用于接收第二电信号，所述第二电信号用于控制各个所述第二开关元件导通或关断。在其中一个实施例中，所述第一开关元件及所述第二开关元件均为薄膜场效应晶体管器件。在其中一个实施例中，所述第二开关元件包括第二控制端、第二连接端及测试端，所述第二控制端对应于薄膜场效应晶体管的栅极，所述第二连接端对应于薄膜场效应晶体管的漏极，所述第一测试端对应于薄膜场效应晶体管的源极，所述第二连接端与所述上管脚连接，所述第一测试端与所述下管脚连接。在其中一个实施例中，所述第一开关元件的第一控制端为薄膜场效应晶体管的栅极，所述第一开关元件的检测端为薄膜场效应晶体管的源极。在其中一个实施例中，若干所述绑定管脚成矩阵分布设置。在其中一个实施例中，所述上管脚和所述下管脚相邻设置。在其中一个实施例中，所述上管脚和所述下管脚位于同一直线上。在其中一个实施例中，每一所述第二开关元件设置于一所述上管脚和一所述下管脚之间。在其中一个实施例中，每一所述第一开关元件邻近设置于所述下管脚。上述芯片信号线结构，通过将绑定管脚一分为二设计成绝缘隔断设置的上管脚和下管脚，第一开关元件控制下管脚与检测端之间的导通和关断，如此在第一控制端加载电压的情况下，上管脚和下管脚之间绝缘隔断不导通，下管脚与检测端之间导通，当将芯片绑定在LCD玻璃上或者COFLCD中的Film基材进行自检绑定效果时，如果绑定效果好，上管脚与检测端之间在LCD玻璃上或者COFLCD中的Film基材中的连接下电阻的阻值是维持在正常水准上的，但是如果上管脚或者下管脚任意一个存在压贴不良情况，那么上管脚与检测端之间的电阻会有异常，比正常压贴阻值大，最坏情况就是阻值无穷大。该芯片信号线结构优化IC设计，提高IC绑定的检出能力和效率，为COF半成品检验绑定效果提供可行性方案，提升产品性能，降低项目失败成本，方便不良产品的分析和改善。附图说明图1为一个实施例中芯片信号线结构的模块示意图；图2为另一个实施例中芯片信号线结构的模块示意图；图3为常规芯片信号线结构的电气结构示意图；图4为本专利技术一个实施例中芯片信号线结构的电气结构示意图；图5为LCD绑定PAD的电气结构示意图；图6为IC绑定在LCD的电气结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。本专利技术提供一种芯片信号线结构，该芯片信号线结构包括若干绑定管脚及若干第一开关元件，每一所述绑定管脚对应与一所述第一开关元件连接；其中，所述绑定管脚包括绝缘隔断设置的上管脚和下管脚，所述第一开关元件与所述下管脚连接；各所述第一开关本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片信号线结构，包括若干绑定管脚，其特征在于，还包括若干第一开关元件，每一所述绑定管脚对应与一所述第一开关元件连接；其中，所述绑定管脚包括绝缘隔断设置的上管脚和下管脚，所述第一开关元件与所述下管脚连接；各所述第一开关元件的第一控制端相互连接，所述第一控制端用于接收第一电信号，所述第一电信号用于控制各个所述第一开关元件导通或关断；各所述第一开关元件的检测端相互连接，所述检测端用于在各个所述第一开关元件导通时配合所述上管脚进行开短路检测。

【技术特征摘要】
1.一种芯片信号线结构，包括若干绑定管脚，其特征在于，还包括若干第一开关元件，每一所述绑定管脚对应与一所述第一开关元件连接；其中，所述绑定管脚包括绝缘隔断设置的上管脚和下管脚，所述第一开关元件与所述下管脚连接；各所述第一开关元件的第一控制端相互连接，所述第一控制端用于接收第一电信号，所述第一电信号用于控制各个所述第一开关元件导通或关断；各所述第一开关元件的检测端相互连接，所述检测端用于在各个所述第一开关元件导通时配合所述上管脚进行开短路检测。2.根据权利要求1所述的芯片信号线结构，其特征在于，所述芯片信号线结构还包括若干第二开关元件，所述第二开关元件分别与所述上管脚及所述下管脚连接；各所述第二开关元件的第二控制端相互连接，所述第二控制端用于接收第二电信号，所述第二电信号用于控制各个所述第二开关元件导通或关断。3.根据权利要求2所述的芯片信号线结构，其特征在于，所述第一开关元件及所述第二开关元件均为薄膜场效应晶体管器件。4.根据权利要求3所述的芯片信号线结构，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：范金智，
申请(专利权)人：华显光电技术惠州有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44