电子元件分选装置制造方法及图纸

本发明专利技术一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：可在一设有多个分配管的分配座上位移的分配头，该分配头与该检测机构的受测元件排出的该管路连结；一遮罩，设于该检测机构与该分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供该检测机构的该管路穿经；藉此使该分选机构避免沾附粉尘。

【技术实现步骤摘要】
电子元件分选装置本申请是中国申请号为201510381623.2、申请日为2015年7月2日、题为“电子元件分选装置”的申请的分案申请。
本专利技术是有关于一种分选装置，尤指一种对电子元件进行检测其物理特性后予以分类的电子元件分选装置。
技术介绍
按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分选的装置必须提供迅速而精确的搬送，该多个被检测、分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管。先前技术在进行检测时，常采用可作间歇旋转的测盘，在测盘周缘环列布设等间距凹设的载槽，借以自震动送料机的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送，历经多个检测站的程序后依其检测出的物理特性，予以排出至不同的管路，以输送至特定的收集盒进行收集；但由测盘进入各不同管路前，需经由一分选机构依受检测元件的检测结果进行分类，此种分选机构常采用一表面开有多数孔道的凹球形分配盘，并以一位于凹球形分配盘中央上方的分配头作对应各孔道的逐一分配。然而，分选机构采用表面开有多数孔道的凹球形分配盘，由于凹球形本身为一三度空间的立体位移空间，其凹球形的真圆度加工精度必须非常高，否则分配头与其表面各孔道间发生余隙，容易使体积极为微细的受检测元件漏出或卡料，同时用以操作分配头的驱动机构要使其在凹球形的三度空间立体表面作位移，其机构的复杂性与精度也相对较高，相对使成本增加；因此，有些分选机采用以平面配置及以弧型排列多数孔道的分配盘，并使分配头在该多个弧型排列的孔道上方作弧形摆移，以进行受测元件的分配。
技术实现思路
然而，由于一般进行检测分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管等，其通常具有相当程度的粉尘，该多个粉尘容易随着大量的检测输送过程而掉落于分选机构中，并嵌塞于分配头与分配盘的凹球形表面间造成卡料。爰是，本专利技术的目的，在于提供一种使分选机构避免沾附粉尘的电子元件分选装置。依据本专利技术另一目的的电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：可在一设有多个分配管的分配座上位移的分配头，该分配头与检测机构的受测元件排出管路连结；一遮罩，设于检测机构与分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供检测机构管路穿经。本专利技术实施例的电子元件分选装置，由于进行检测分选的电子元件粉尘可以被遮罩所阻挡，分选机构中的分配头与分配座的表面间造成卡料机会可以降低。【附图说明】图1是本专利技术实施例中检测机构、分选机构、固定罩件的配置示意图。图2是本专利技术实施例中固定罩件及活动罩件的立体分解示意图。图3是本专利技术实施例中遮罩的罩覆状况示意图。图4是本专利技术实施例中分选机构的立体示意图。图5是本专利技术实施例中分选机构的俯视示意图。图6是本专利技术实施例中分选机构的第一驱动件输出轴构造立体示意图。图7是本专利技术实施例中分配座上分配管构造剖面示意图。【符号说明】1检测机构11测盘12管路2机台3分选机构31模座31操作区间31第一侧座1231第二侧座31第三侧座3432第一驱动件32输出轴132枢座33第一滑轨234第二滑轨35第二驱动件35输出轴35驱动臂1235连动臂36滑座336第一固定座36第二固定座1236第一嵌轮36第二嵌轮3436皮带36第三滑轨5636第三固定座37分配头737排出部38分配座138上表面38嵌孔1239分配管39端口139嵌管39套管2339嵌抵段39枢管段4539锥孔部4遮罩641固定罩件41视窗141镂空区间41遮件2342活动罩件42握扣部位1【具体实施方式】请参阅图1，本专利技术实施例的电子元件分选装置，包括：一检测机构1，包括一可作间歇旋转的测盘11，其受架高于机台2台面上，测盘11周缘环列布设等间距凹设的载槽，可借自震动送料机(图中未示)的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送受测元件；测盘11上方可设置各种物理特性检测仪器以进行对位于测盘11周缘载槽中的受测元件的检测；检测机构1同时设有二个排出管路12，可用以将完成检测的受测元件予以排出分类；一分选机构3，设于机台2台面上，其承接前述检测机构1管路12所传送来受测元件，并进行分类至不同的收集盒进行收集，在本实施例中，分选机构3设有两组，其机构相同仅左、右配置相反；一遮罩4，设于检测机构1与分选机构3之间，其设有透明可窥见分选机构3的视窗411，另在对应检测机构1的方向设有镂空区间412，该镂空区间412可供检测机构1管路12穿经，并于该管路12与镂空区间42间余隙以挠性遮件413予以包覆封罩。请参阅1和2，该遮罩4可以包括常置性固定于机台2台面的固定罩件41，及一可拆卸组合于该固定罩件41的活动罩件42，其中该固定罩件41设置所述视窗411、镂空区间412、挠性遮件413及供管路12穿经，并靠近及对应该检测机构1方向；该活动罩件42设有可供提握将活动罩件42搬卸用的凹设握扣部位421，活动罩件42并设于远离检测机构1的固定罩件41另一侧。请参阅图1和3，该固定罩件41及活动罩件42组合时，将机台2台面上方的分选机构3完全遮罩封闭，仅供管路12可穿经镂空区间412、挠性遮件413而伸入其内。请参阅图4至6，该分选机构3包括一设于机台2上模座31，其设有一操作区间311，并经由该操作区间311将模座31区隔出位于操作区间311一侧的第一侧座312，以及对应第一侧座312并与其平行且位于操作区间311另一侧的第二侧座313，和位于第一侧座312与第二侧座313间，且朝相对远离图1中测盘1的方向的操作区间311另一侧的第三侧座314；该第一侧座312上方设有由马达构成的第一驱动件32，其输出轴321平行第一侧座312表面，并朝在靠近图1中测盘1的方向伸设，输出轴321末端与模座31上一枢座322枢设；第一侧座312同时设有第一滑轨33，该第一滑轨33与输出轴321平行并位于输出轴321与操作区间311间；第二侧座313上设有一第二滑轨34设于第二侧座313上并与第一滑轨33平行；第三侧座314下方设有一由马达构成的第二驱动件35，其输出轴351垂直第二侧座313表面，并凸伸于第二侧座313表面；输出轴351固设一与输出轴351垂直设置的驱动臂352一端，驱动臂352另一端则枢设一连动臂353一端，连动臂353另一端则与一滑座36枢接并与其连动；该第二驱动件35的输出轴351位于第二侧座313一端的外侧朝远离图1中测盘1的方向设置，其并位于第一滑轨33与第二滑轨34间；该滑座36与第一滑轨33、第二滑轨34垂直并设于其上，可受该第二驱动件35的连动臂353一端连动，而受第二驱动件33驱动在第一滑轨33与第二滑轨34上作滑移；滑座36的两端各伸跨该第一侧座312、第二侧座313的上方，且两端对应在近第一滑轨33与第二滑轨34上方处分别各设有第一固定座361、第二固定座362，第一固定座361上设有第一嵌轮363，第二固定座362上设有第二嵌轮364，其中，第一驱动件32的输出轴321枢经第一嵌轮363并借输出轴321上设有轴向嵌沟323而与其嵌设并连动进行转动，但第一嵌轮363则可于输出轴321上随第一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，其特征在于，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：可在一设有多个分配管的分配座上位移的分配头，该分配头与该检测机构的受测元件排出的该管路连结；一遮罩，设于该检测机构与该分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供该检测机构的该管路穿经。

【技术特征摘要】
2014.10.02 TW 1031343341.一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，其特征在于，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：可在一设有多个分配管的分配座上位移的分配头，该分配头与该检测机构的受测元件排出的该管路连结；一遮罩，设于该检测机构与该分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供该检测机构的该管路穿经。2.如权利要求1所述电子元件分选装置，其特征在于，该管路与该镂空区间余隙以挠性遮件予以包覆封罩。3.如权利要求1所述电子元件分选装置，其特征在于，该遮罩在设有透明可窥见该分选机构的视窗。4.如权利要求1所述电子元件分选装置，其特征在于，该遮...

【专利技术属性】
技术研发人员：林芳旭，陈荣宗，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71