温度检测采样电路及音频放大器芯片制造技术

本实用新型专利技术提供一种温度检测采样电路及音频放大器芯片，所述温度检测采样电路包括电压产生电路、负反馈缓冲电路、比较放大电路和数模转换器。所述电压产生电路产生第一检测电压和第二检测电压，所述负反馈缓冲电路对所述第一检测电压进行缓冲处理，所述第二检测电压和经过缓冲处理后的所述第一检测电压通过所述比较放大电路进行放大处理，最终获得输出电压，所述数模转换器基于所述输出电压与温度的关系，判断芯片当前的温度。基于本实用新型专利技术实施例，所述输出电压能够与温度呈线性关系，保证检测温度的准确性。

【技术实现步骤摘要】
温度检测采样电路及音频放大器芯片
本技术涉及电子电路
，尤其涉及温度检测采样电路及音频放大器芯片。
技术介绍
随着社会的发展，电子产品成为了人们生活工作中不可或缺的一部分。扬声器是电子产品的主要组成部分，因此扬声器的可靠性也在消费电子领域越来越得到重视。在扬声器领域中，D类音频功率放大器为常见的扬声器类型。由于，该D类音频功率放大器的输出电流值会影响其工作的可靠性，而D类音频功率放大器的电流又会随着内部芯片的温度变化而发生变化。为避免温度变化影响D类音频功率放大器的输出电流值，从而导致扬声器工作异常。因此，需要对D类音频功率放大器的芯片进行温度检测。在现有技术中，对温度检测电路中的晶体管的基极-发射极结电压进行检测记录，从而获得温度的变化值。然而，因该晶体管的基极-发射极结电压变化值与温度的变化值呈现非线性关系，从而导致检测的温度出现较大的误差。
技术实现思路
有鉴于此，本技术实施例提供一种温度检测采样电路及音频放大器芯片，以解决现有技术中输出电压与温度变化呈非线性关系的问题，保证检测温度的准确性。为实现上述目的，本技术实施例提供如下技术方案：本技术实施例第一方面公开了一种温度检测采样电路，该温度检测采样电路包括：电压产生电路、负反馈缓冲电路和比较放大电路；所述电压产生电路的第一输出端与所述负反馈缓冲电路的同相输入端相连，第二输出端与所述比较放大电路的同相输入端相连，所述电压产生电路，用于产生第一检测电压和第二检测电压，并将所述第一检测电压作为所述负反馈缓冲电路的同相输入，将所述第二检测电压作为所述比较放大电路的同相输入；所述负反馈缓冲电路的输出端与所述比较放大电路的反相输入端相连，用于对输入的所述第一检测电压进行缓冲处理，并将缓冲处理后的所述第一检测电压作为所述比较放大电路的反相输入；所述比较放大电路，用于对输入的所述第二检测电压和经由所述负反馈缓冲电路输入的所述第一检测电压进行放大处理，获取输出电压；其中，所述输出电压与温度的对应关系为VOUT∝5.17*VT，VOUT为所述输出电压，VT为热电压。优选地，所述电压产生电路包括：第一电流源、第二电流源、第一晶体管和第二晶体管；所述第一电流源的输入端与电源电压相连，输出端与所述第一晶体管的发射极相连，所述第一晶体管的集电极和基极接地，所述第一晶体管的发射极作为所述电压产生电路的第一输出端与所述负反馈缓冲电路的同相输入端相连，所述第一晶体管基于所述第一电流源产生作为所述第一检测电压的基极发射极结电压VBE1，所述第一检测电压通过所述第一输出端输出；所述第二电流源的输入端与电源电压相连，输出端与所述第二晶体管的发射极相连，所述第二晶体管的集电极和基极接地，所述第二晶体管的发射极作为所述电压产生电路的第二输出端与所述比较放大电路的同相输入端相连，所述第二晶体管基于所述第二电流源产生作为所述第二检测电压的基极发射极结电压VBE2，所述第二检测电压通过所述第二输出端输出。优选地，所述第二电流源所产生的电流值是所述第一电流源产生的电流值的10倍。优选地，所述第二晶体管的品质因素与所述第一晶体管的品质因素一致。优选地，所述比较放大电路包括：第二运算放大器、第一电阻和第二电阻；所述第一电阻的一端与所述负反馈缓冲电路的输出端相连，另一端与所述第二运算放大器的反相输入端相连；所述第二运算放大器的同相输入端与所述电压产生电路的所述第二输出端相连；所述第二电阻并联于所述第二运算放大器的反相输入端与输出端之间；所述第二运算放大器对输入的所述第二检测电压和经由所述负反馈缓冲电路输入的所述第一检测电压进行放大处理，获取所述输出电压。优选地，所述第二电阻的阻抗值是所述第一电阻的阻抗值的11倍。优选地，还包括：输入端与所述比较放大电路输出端相连的数模转换器，用于基于所述输出电压与温度的对应关系，判断所述芯片的当前温度。本技术实施例第二方面公开了一种音频放大器芯片，该音频放大器芯片包括：本技术实施例第一方面公开的一种温度检测采样电路。优选地，所述音频放大器芯片为D类音频放大器芯片。基于上述本技术实施例提供的一种温度检测采样电路及音频放大器芯片，所述温度检测采样电路包括电压产生电路、负反馈缓冲电路、比较放大电路和数模转换器。所述电压产生电路产生第一检测电压和第二检测电压，所述负反馈缓冲电路对所述第一检测电压进行缓冲处理，所述第二检测电压和经过缓冲处理后的所述第一检测电压通过所述比较放大电路进行放大处理，最终获得输出电压，所述数模转换器基于所述输出电压与温度的关系，判断芯片当前的温度。基于本技术实施例，所述输出电压能够与温度呈线性关系，保证检测温度的准确性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的一种温度检测采样电路的结构示意图；图2为本技术实施例提供的另一种温度检测采样电路的结构示意图；图3为本技术实施例提供的温度检测采样电路仿真曲线的示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本申请中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。基于上述背景，本技术实施例提供下述适用于D类音频放大器芯片的温度检测采样电路，从而解决现有技术中输出电压与温度变化呈非线性关系的问题，保证检测温度的准确性。如图1所示，为本技术实施例提供的一种温度检测采样电路的结构示意图。所述温度检测采样电路包括：电压产生电路101、负反馈缓冲电路102、比较放大电路103和数模转换器104。其中，所述电压产生电路101分别与负反馈缓冲电路102和比较放大电路103相连。所述电压产生电路101用于产生第一检测电压和第二检测电压，所述第一检测电压和所述第二检测电压经过所述负反馈缓冲电路102和所述比较放大电路103的处理后，能提供与温度呈线性关系的输出电压。具体的，所述电压产生电路101包含两个输出端，分别是第一输出端和第二输出端。其中，所述第一输出端用于输出所述第一检测电压，所述第二输出端用于输出所述第二检测电压。此外，所述第一输出端与所述负反馈缓冲电路102的同相输入端相连，所述第一检测电压则作为所述负反馈缓冲电路102的同相输入。所述第二输出端与所述比较放大电路103的同相输入端相连，所述第二检测电压则作为所述比较放大电路103的同相输入。所述负反馈本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度检测采样电路，其特征在于，适用于音频放大器芯片，所述温度检测采样电路包括：电压产生电路、负反馈缓冲电路和比较放大电路；所述电压产生电路的第一输出端与所述负反馈缓冲电路的同相输入端相连，第二输出端与所述比较放大电路的同相输入端相连，所述电压产生电路，用于产生第一检测电压和第二检测电压，并将所述第一检测电压作为所述负反馈缓冲电路的同相输入，将所述第二检测电压作为所述比较放大电路的同相输入；所述负反馈缓冲电路的输出端与所述比较放大电路的反相输入端相连，用于对输入的所述第一检测电压进行缓冲处理，并将缓冲处理后的所述第一检测电压作为所述比较放大电路的反相输入；所述比较放大电路，用于对输入的所述第二检测电压和经由所述负反馈缓冲电路输入的所述第一检测电压进行放大处理，获取输出电压；其中，所述输出电压与温度的对应关系为VOUT∝5.17*VT，VOUT为所述输出电压，VT为热电压。

【技术特征摘要】
1.一种温度检测采样电路，其特征在于，适用于音频放大器芯片，所述温度检测采样电路包括：电压产生电路、负反馈缓冲电路和比较放大电路；所述电压产生电路的第一输出端与所述负反馈缓冲电路的同相输入端相连，第二输出端与所述比较放大电路的同相输入端相连，所述电压产生电路，用于产生第一检测电压和第二检测电压，并将所述第一检测电压作为所述负反馈缓冲电路的同相输入，将所述第二检测电压作为所述比较放大电路的同相输入；所述负反馈缓冲电路的输出端与所述比较放大电路的反相输入端相连，用于对输入的所述第一检测电压进行缓冲处理，并将缓冲处理后的所述第一检测电压作为所述比较放大电路的反相输入；所述比较放大电路，用于对输入的所述第二检测电压和经由所述负反馈缓冲电路输入的所述第一检测电压进行放大处理，获取输出电压；其中，所述输出电压与温度的对应关系为VOUT∝5.17*VT，VOUT为所述输出电压，VT为热电压。2.根据权利要求1所述的温度检测采样电路，其特征在于，所述电压产生电路包括：第一电流源、第二电流源、第一晶体管和第二晶体管；所述第一电流源的输入端与电源电压相连，输出端与所述第一晶体管的发射极相连，所述第一晶体管的集电极和基极接地，所述第一晶体管的发射极作为所述电压产生电路的第一输出端与所述负反馈缓冲电路的同相输入端相连，所述第一晶体管基于所述第一电流源产生作为所述第一检测电压的基极发射极结电压VBE1，所述第一检测电压通过所述第一输出端输出；所述第二电流源的输入端与电源电压相连，输出端与所述第二晶体管的发射极相连，所述第二晶体管的集电极和基极接地，所述第二晶体管...

【专利技术属性】
技术研发人员：周佳宁，
申请(专利权)人：上海艾为电子技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31