一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置，其中方法包括：SS1、获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；SS2、依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；SS3、执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。本发明专利技术解决了解决了当前的硬盘定位测试任务量大且定位低下的问题，具有极高技术价值及普适性。

【技术实现步骤摘要】
一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置
本专利技术涉及测试
，具体涉及一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置。
技术介绍
随着存储服务器内部架构密度的增高，存储服务器上外置硬盘数目也越来越多，而由于外置硬盘数量较多，当需要对硬盘定位时极为不便。现阶段的硬盘定位测试需要先区分硬盘区域，再从具体区域具体到每个硬盘进行定位测试，该种测试方法任务量大且效率低下。为解决上述问题，本专利技术提出一种多硬盘机型自动定位测试方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提出一种多硬盘机型自动定位测试方法及装置，以解决上述技术问题。第一方面，本专利技术提出一种多硬盘机型自动定位测试方法，包括：SS1、获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；SS2、依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；SS3、执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。进一步的，步骤SS3中所述的待测试硬盘执行功能响应具体是指：待测试硬盘包括闪烁单元；当执行并调用待测试硬盘对应的测试进程时，闪烁单元发光。进一步的，步骤SS3中，执行并调用上述待测试硬盘对应的测试进程后，输出待测试硬盘的参数信息。进一步的，所述待测试硬盘的参数信息包括：硬盘传输速率、硬盘健康状态、硬盘温度、硬盘表面扫描存储时间、CPU占用率、硬盘固件版本、序列号、容量、缓存及当前的UltraDMA模式。进一步的，步骤SS3中，当执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程后，待测试硬盘未能执行功能响应时，输出该待测试硬盘对应的硬盘标识符及报错信息。第二方面，本专利技术提出一种多硬盘机型自动定位测试装置，包括：硬盘标识符获取模块，用于获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；测试进程创建模块，用于依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；硬盘定位测试模块，用于执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。进一步的，所述测试硬盘执行功能响应具体是指：待测试硬盘包括闪烁单元；当执行并调用待测试硬盘对应的测试进程时，闪烁单元发光。进一步的，所述硬盘定位测试模块还包括参数信息输出单元；所述参数信息输出单元，用于执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程后，输出待测试硬盘的参数信息。进一步的，所述待测试硬盘的参数信息包括：硬盘传输速率、硬盘健康状态、硬盘温度、硬盘表面扫描存储时间、CPU占用率、硬盘固件版本、序列号、容量、缓存及当前的UltraDMA模式。进一步的，所述硬盘定位测试模块还包括报错信息输出单元；所述报错信息输出单元，用于当执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程后，待测试硬盘未能执行功能响应时，输出该待测试硬盘对应的硬盘标识符及报错信息。上述第一方面提出的一种多硬盘机型自动定位测试方法，通过获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，进而完成硬盘定位测试的方式，解决了当前的硬盘定位测试任务量大且定位低下的问题。同时，本专利技术提出的多硬盘机型自动定位测试方法还可以获取待测试硬盘的参数信息，并且，当待测试硬盘未能执行功能响应时，可以输出该待测试硬盘对应的硬盘标识符及报错信息，便于工作人员及时查看并解决问题。本专利技术提出的多硬盘机型自动定位测试方法具有极高技术价值及普适性。上述第二方面所获得的技术效果与第一方面中对应的技术手段获得的技术效果近似，在这里不再赘述。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例，下面将实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种多硬盘机型自动定位测试方法流程图。图2为本专利技术实施例提供的一种多硬盘机型自动定位测试装置结构图。具体实施方式下面结合本专利技术实施例中的附图，对专利技术实施例中的技术方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅为本专利技术的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护范围。为了使本
的人员更好的理解本专利技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术做进一步的详细说明。本实施例提供一种多硬盘机型自动定位测试方法，如图1所示的，包括：SS1、获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；SS2、依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；SS3、执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。对于图1所示的技术方案，需要说明的是，本专利技术通过提出上述技术方案解决了传统的硬盘定位测试中需要先区分硬盘区域、再从具体区域具体到每个硬盘进行定位测试的测试方式带来的任务量大且效率低下的问题。本专利技术提出的技术方案通过硬盘标识符建立了测试进程与待测试硬盘之间的联系，通过调用并执行硬盘测试进程，使得待测试硬盘执行功能响应，进而完成硬盘定位测试，测试方法便捷且适用性极高。对于图1所示的技术方案，步骤SS3中提及的待测试硬盘执行功能响应具体是指：待测试硬盘包括闪烁单元；当执行并调用待测试硬盘对应的测试进程时，闪烁单元发光。可以理解的，通过待测试硬盘的闪烁单元发光的形式定位待测试硬盘的方式极为直接简便。对于图1所示的技术方案，步骤SS3中，执行并调用上述待测试硬盘对应的测试进程后，输出待测试硬盘的参数信息，其中，待测试硬盘的参数信息包括：硬盘传输速率、硬盘健康状态、硬盘温度、硬盘表面扫描存储时间、CPU占用率、硬盘固件版本、序列号、容量、缓存及当前的UltraDMA模式。可以理解的，本专利技术提出的技术方案还可以获取待测试硬盘的参数信息，进而便于工作人员了解待测试硬盘的硬件信息及工作信息。对于图1所示的技术方案，步骤SS3中，当执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程后，待测试硬盘未能执行功能响应时，输出该待测试硬盘对应的硬盘标识符及报错信息。可以理解的，当待测试硬盘未能执行功能响应时，工作人员可以通过硬盘标识符定位该硬盘，并通过报错信息及时替换该硬盘，避免服务器发生故障，影响服务器工作。基于前述实施例相同的专利技术构思，如图2所示的，本专利技术实施例提出一种多硬盘机型自动定位测试装置，包括：硬盘标识符获取模块，用于获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；测试进程创建模块，用于依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；硬盘定位测试模块，用于执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。在一种可能的实现方式中，上述测试硬盘执行功能响应具体是指：待测试硬盘包括闪烁单元；当执行并调用待测试硬盘对应的测试进程时，闪烁单元发光。在一种可能的实现方式中，上述硬盘定位测试模块还包括参数信息输出单元，用于执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程后，输出待测试硬盘的参数信息。在一种可能的实现方式中，待测试硬盘的参数信息包括：硬盘传输速率、硬盘健康状态、硬盘温度、硬盘表面扫描存储时间本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多硬盘机型自动定位测试方法，其特征在于，包括：SS1、获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；SS2、依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；SS3、执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。

【技术特征摘要】
1.一种多硬盘机型自动定位测试方法，其特征在于，包括：SS1、获取多个待测试硬盘的硬盘标识符；SS2、依据硬盘标识符创建多个测试进程，其中每个测试进程均与硬盘标识符所属的待测试硬盘对应；SS3、执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程，待测试硬盘执行功能响应，完成硬盘定位测试。2.根据权利要求1所述的多硬盘机型自动定位测试方法，其特征在于，步骤SS3中所述的待测试硬盘执行功能响应具体是指：待测试硬盘包括闪烁单元；当执行并调用待测试硬盘对应的测试进程时，闪烁单元发光。3.根据权利要求1所述的多硬盘机型自动定位测试方法，其特征在于，步骤SS3中，执行并调用上述待测试硬盘对应的测试进程后，输出待测试硬盘的参数信息。4.根据权利要求3所述的多硬盘机型自动定位测试方法，其特征在于，所述待测试硬盘的参数信息包括：硬盘传输速率、硬盘健康状态、硬盘温度、硬盘表面扫描存储时间、CPU占用率、硬盘固件版本、序列号、容量、缓存及当前的UltraDMA模式。5.根据权利要求1所述的多硬盘机型自动定位测试方法，其特征在于，步骤SS3中，当执行并调用所述待测试硬盘对应的测试进程后，待测试硬盘未能执行功能响应时，输出该待测试硬盘对应的硬盘标识符及报错信息。6.一种多硬盘机型自动定位测试装置，其特征在于，包括：硬盘标识符获取模...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐栋，刘茂峰，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41