存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质，该方法应用于存储设备测试系统中，存储设备测试系统包括测试设备及与测试设备连接的连接器，连接器用于连接待测试的多个存储设备，存储设备测试方法包括以下步骤：测试设备的测试程序向连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向测试程序反馈的测试异常信号；当过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。本发明专利技术实现了提高多存储设备的测试效率的目的。

Storage Equipment Testing Method, Storage Equipment Testing System and Storage Media

The invention discloses a storage device test method, a storage device test system and a storage medium. The method is applied to the storage device test system. The storage device test system includes a test device and a connector connected with the test device. The connector is used to connect a plurality of storage devices to be tested. The storage device test method includes the following steps: a test program of the test device; Send test signal to connector to connect with several storage devices on test board in turn for testing; filter driver monitor connector of test device feedback test abnormal signal to test program; when filter driver monitor test abnormal signal feedback from connector, skip abnormal device handling action of test program to transfer to next storage device. Test. The invention realizes the purpose of improving the test efficiency of multi-storage devices.

【技术实现步骤摘要】
存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质
本专利技术涉及存储设备测试
，尤其涉及一种存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质。
技术介绍
目前U盘及类似设备在工厂贴片或绑线，一般是多个设备连板的，工厂需要通过测试来检测贴片或绑线是否没有问题，一般会利用HUB接上这个连板上的所有设备，再通过PC软件检测出哪些设备有问题。当某一个设备有异常时，操作系统会反复尝试访问设备验证故障，时间很长，导致其它正常设备要在这个异常设备访问结束时才上盘检测，效率相当低下。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种存储设备测试方法，旨在提高多存储设备的测试效率。为实现上述目的，本专利技术提供一种存储设备测试方法，用于存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备，所述存储设备测试方法包括以下步骤：测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。可选地，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：控制所述连接器切断当前测试的存储设备与所述测试程序的测试连接。可选地，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：减少测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数。可选地，所述减少测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数包括：将测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数设定为零次。可选地，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：缩短测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的测试时间。可选地，所述缩短测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的测试时间包括：将测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的的测试时间设定为零。可选地，所述当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试还包括：过滤驱动程序对当前测试的存储设备进行异常标识。为实现上述目的，本专利技术还提供一种存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备；其中，所述测试设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被所述处理器执行时实现如下步骤：测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。为实现上述目的，本专利技术还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有存储设备测试程序，所述存储设备测试程序被处理器执行时实现如下步骤：测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。本申请技术方案中，当需要对测试板上的多个存储设备进行测试时，所述测试设备的测试程序向通过连接器对测试板上的多个存储设备依次发送测试信号，以进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。如此，直接转入对下一存储设备进行测试，即可节省异常设备处理动作带来的时间的等待，提高了测试效率。附图说明图1为本专利技术存储设备测试系统一实施例的功能模块示意图；图2为本专利技术存储设备测试方法一实施例的流程示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术提供一种存储设备测试方法，用于存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备100及与所述测试设备100连接的连接器200，所述连接器200用于连接待测试的多个存储设备300，为了方便生产与测试，一般地，在一块电路板上制造多个存储设备300及测试需要的一些辅助线路，并形成一块整的测试板。其中，测试设备100可以是PC系统(计算机)或者是专用于存储设备300测试的机器。连接器200可为HUB集线器或者其他类型连接器200。需要测试时，通过连接器200可以将测试设备100与测试板上的多个存储设备300连接。请参阅图2，在一实施例中，所述存储设备300测试方法包括以下步骤：步骤S10、测试设备100的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备300依次连接进行测试；步骤S20、测试设备100的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；步骤S30、当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备300进行测试。需要说明的是，测试时，测试设备100与存储设备300之间通过握手协议连接，例如USB协议。具体地，当将待测试的存储设备300与连接器连接后，连接器会向测试设备100发送连接请求，测试设备100通过连接器反馈连接指令给存储设备300，以建立连接，此时测试设备100的测试程序即可向存储设备300发送测试信号，以进行测试。根据USB协议，测试设备100的测试程序对多个存储设备300的测试流程是按照预先设定的次序，对多个存储设备300依次进行测试，即测试完一个测试下一个，如果出现异常故障，则会向测试程序反馈故障信号，测试程序则根据故障信号执行预设的故障处理机制，一般是多次重测以检验故障是否真实存在，并且，在该机制下，测试程序是在存储设备300的测试时间结束才进行一下个测试，造成测试效率不高。为提高测试效率，本实施例中，在测试设备100中配置过滤驱动程序，用以监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号，当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备300进行测试。跳过所述测试程序的异常设备处理动作的方式有很多，例如，可以是控制所述连接器切断当前测试的存储设备300与所述测试程序的测试连接。根据USB协议，测试设备100(PC系统)在设备正常连接的情况下出现故障时，故障重测次数和异常等待时间都是固定的，我们通过过滤驱动程序，快速侦测到异常，向连接器200(HUB)发送控制信号，关闭该连接器200上对应的异常存储设备300的连接点，这时测试设备100发现该存储设备300已经中断，转而测试下一个存储设备300。跳过所述测试程序的异常设备处理动作还是可以是减少测试设备100与当前测试的存储设备300之间握手协议协定的故障重试次数，或者，缩短测试设备100与当前测试的存储设备300之间握手协议协定的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储设备测试方法，用于存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备，其特征在于，所述存储设备测试方法包括以下步骤：测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种存储设备测试方法，用于存储设备测试系统，所述存储设备测试系统包括测试设备及与所述测试设备连接的连接器，所述连接器用于连接待测试的多个存储设备，其特征在于，所述存储设备测试方法包括以下步骤：测试设备的测试程序向所述连接器发送测试信号，以与测试板上的多个存储设备依次连接进行测试；测试设备的过滤驱动程序监控连接器向所述测试程序反馈的测试异常信号；当所述过滤驱动程序监控到连接器反馈的测试异常信号时，跳过所述测试程序的异常设备处理动作，以转入对下一存储设备进行测试。2.如权利要求1所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：控制所述连接器切断当前测试的存储设备与所述测试程序的测试连接。3.如权利要求1所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述跳过所述测试程序的异常设备处理动作包括：减少测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数。4.如权利要求3所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述减少测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数包括：将测试设备与当前测试的存储设备之间握手协议协定的故障重试次数设定为零次。5.如权利要求1所述的存储设备测试方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张辉，
申请(专利权)人：深圳三地一芯电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：广东,44