一种半导体激光器的温度检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体激光器的温度检测设备，包括待测激光器、驱动电源、温度调节器、光闸、积分球、衰减器、光谱分析仪、侧板、承接板、U型板、弹簧和检测台，所述检测台顶部固定连接有承接板，所述检测台顶部位于承接板一侧固定连接有驱动电源，所述检测台顶部位于承接板另一侧固定连接有温度调节器，所述承接板顶部对称设有U型板，所述承接板顶部设有待测激光器，且待测激光器两侧与相邻的U型板侧壁相接触，所述待测激光器分别与驱动电源和温度调节器电性连接，所述承接板顶部位于U型板远离待测激光器的一侧均对称开设有滑槽，该设备可以准确的检测出温度系数和波长系数，方便半导体激光器的检测。

A Semiconductor Laser Temperature Detection Equipment

The utility model discloses a temperature detection device for a semiconductor laser, which comprises a laser to be measured, a driving power supply, a temperature regulator, a light gate, an integrating ball, an attenuator, a spectral analyzer, a side plate, a bearing plate, a U-shaped plate, a spring and a detection platform. The top of the detection platform is fixed with a bearing plate, and the top part of the detection platform is fixed with a driving power supply on one side of the bearing plate. The top part of the test bench is fixed and connected with a temperature regulator on the other side of the receiving plate. The top part of the receiving plate is symmetrically equipped with a U-shaped plate. The top part of the receiving plate is equipped with a laser to be measured, and the two sides of the laser to be measured are in contact with the side walls of the adjacent U-shaped plate. The laser to be measured is electrically connected with the driving power supply and the temperature regulator respectively. The top part of the receiving plate is far away from the U-shaped plate. Slide grooves are symmetrically arranged on one side of the measuring laser. The device can accurately detect the temperature coefficient and wavelength coefficient, which is convenient for the detection of semiconductor lasers.

【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器的温度检测设备
本技术涉及激光器检测设备
，具体为一种半导体激光器的温度检测设备。
技术介绍
半导体激光器是用半导体材料作为工作物质的激光器，由于物质结构上的差异，不同种类产生激光的具体过程比较特殊，半导体激光器是世界上发展最快、应用最广泛、最早走出实验室实现商用化且产值最大的一类激光器，在半导体激光器生产制备时需要对半导体激光器进行一系列的检测，而波长-温度系数的检测是不可缺少的一个环节，不但要使用多种设备，还要根据不同的数据需求改变检测设备的位置，为此，我们提出一种半导体激光器的温度检测设备。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种半导体激光器的温度检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体激光器的温度检测设备，包括待测激光器、驱动电源、温度调节器、光闸、积分球、衰减器、光谱分析仪、侧板、承接板、U型板、弹簧和检测台，所述检测台顶部固定连接有承接板，所述检测台顶部位于承接板一侧固定连接有驱动电源，所述检测台顶部位于承接板另一侧固定连接有温度调节器，所述承接板顶部对称设有U型板，所述承接板顶部设有待测激光器，且待测激光器两侧与相邻的U型板侧壁相接触，所述待测激光器分别与驱动电源和温度调节器电性连接，所述承接板顶部位于U型板远离待测激光器的一侧均对称开设有滑槽，所述U型板顶部均对称固定连接有滑块，所述滑块与滑槽滑动连接，所述滑槽内均设置有弹簧，所述弹簧两端分别与滑块和滑槽一侧内壁固定连接，所述检测台顶部位于承接板与驱动电源垂直的一侧安装有光闸，所述光闸输入端正对待测激光器设置，所述检测台与承接板垂直的一侧固定连接有侧板，所述侧板顶部固定连接有积分球，所述积分球输入端正对光闸输出端设置，所述积分球远离检测台的一侧设有光谱分析仪，所述光谱分析仪与积分球之间设有衰减器，所述积分球输出端通过光钎与衰减器输出端相连通，所述衰减器输出端通过光纤与光谱分析仪输入端相连通。优选的，所述积分球底部中心处固定连接有连接杆，所述连接杆外侧套有套筒，且连接杆与套筒滑动连接。优选的，所述侧板顶部中心处固定连接有齿轮筒，且齿轮筒顶部与套筒底部相连通，所述齿轮筒内设有螺杆，所述螺杆底部通过轴承与齿轮筒底部内壁转动连接，所述连接杆开设有内螺纹，所述螺杆一端穿过齿轮筒通过螺纹与连接杆啮合连接。优选的，所述螺杆外侧套接固定有蜗轮，所述齿轮筒内设有蜗杆，且蜗杆与螺杆互相垂直，所述蜗杆两端分别通过轴承与齿轮筒对应两侧内壁转动连接，所述蜗杆与蜗轮啮合连接。优选的，所述蜗杆一端穿过齿轮筒固定连接有转把。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术首先待测激光器的光纤穿过光闸,可阻挡进人光谱分析仪的光，光线穿过积分球后通过衰减器,将光衰减到光谱分析仪的正常工作范围内，根据被测待测激光器光输出光谱范围设置光谱分析仪的扫描范围、扫描分辨率和扫描灵敏度，驱动电源给被测待测激光器施加正向电流到规定值，光谱分析仪在所设置的波段内扫描,记录波长λ与该波长对应的相对光谱强度I，测出峰值波长入λp1，并记录对应热沉温度T1；在规定的热沉温度范围内,控制温度调节器改变热沉温度，记录热沉温度T2,记录对应温度下的峰值波长入λp2，再通过算出波长温度漂移系数，用这种方法数据准确，记录方便。2、本技术通过把待测激光器放入承接板顶部两侧的U型板之间，可以固定住待测激光器，U型板底部的滑块在弹簧的限制下，可以固定住待测激光器，防止待测激光器检测使晃动偏移，造成检测结果不准确。附图说明图1为本技术整体结构俯视图；图2为本技术整体结构主视图；图3为本技术承接板结构剖视图；图4为本技术承接板结构俯视图；图5为本技术套筒结构剖视图；图6为本技术温度测试原理图；图7为本技术波长测试原理图；图8为本技术光谱与波长分布曲线图。图中：1、待测激光器；2、驱动电源；3、温度调节器；4、光闸；5、积分球；6、衰减器；7、光谱分析仪；8、侧板；9、承接板；10、U型板；11、弹簧；12、滑块；13、滑槽；14、蜗杆；15、蜗轮；16、齿轮筒；17、套筒；18、连接杆；19、螺杆；20、检测台。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-8，本技术提供一种技术方案：一种半导体激光器的温度检测设备，包括待测激光器1、驱动电源2、温度调节器3、光闸4、积分球5、衰减器6、光谱分析仪7、侧板8、承接板9、U型板10、弹簧11和检测台20，所述检测台20顶部固定连接有承接板9，所述检测台20顶部位于承接板9一侧固定连接有驱动电源2，所述检测台20顶部位于承接板9另一侧固定连接有温度调节器3，所述承接板9顶部对称设有U型板10，所述承接板9顶部设有待测激光器1，且待测激光器1两侧与相邻的U型板10侧壁相接触，所述待测激光器1分别与驱动电源2和温度调节器3电性连接，所述承接板9顶部位于U型板10远离待测激光器1的一侧均对称开设有滑槽13，所述U型板10顶部均对称固定连接有滑块12，所述滑块12与滑槽13滑动连接，所述滑槽13内均设置有弹簧11，所述弹簧11两端分别与滑块12和滑槽13一侧内壁固定连接，所述检测台20顶部位于承接板9与驱动电源2垂直的一侧安装有光闸4，所述光闸4输入端正对待测激光器1设置，所述检测台20与承接板9垂直的一侧固定连接有侧板8，所述侧板8顶部固定连接有积分球5，所述积分球5输入端正对光闸4输出端设置，所述积分球5远离检测台20的一侧设有光谱分析仪7，所述光谱分析仪7与积分球5之间设有衰减器6，所述积分球5输出端通过光钎与衰减器6输出端相连通，所述衰减器6输出端通过光纤与光谱分析仪7输入端相连通。所述积分球5底部中心处固定连接有连接杆18，所述连接杆18外侧套有套筒17，且连接杆18与套筒17滑动连接，滑动连接可以调整连接杆18高度。所述侧板8顶部中心处固定连接有齿轮筒16，且齿轮筒16顶部与套筒17底部相连通，所述齿轮筒16内设有螺杆19，所述螺杆19底部通过轴承与齿轮筒16底部内壁转动连接，所述连接杆18开设有内螺纹，所述螺杆19一端穿过齿轮筒16通过螺纹与连接杆18啮合连接，通过转动螺杆19使连接杆18移动。所述螺杆19外侧套接固定有蜗轮15，所述齿轮筒16内设有蜗杆14，且蜗杆14与螺杆19互相垂直，所述蜗杆14两端分别通过轴承与齿轮筒16对应两侧内壁转动连接，所述蜗杆14与蜗轮15啮合连接，通过蜗杆14转动带动蜗轮15从而使螺杆转动19。所述蜗杆14一端穿过齿轮筒16固定连接有转把21，转把21加长转动直径，使转动蜗杆14时更加省力。工作原理为：首先待测激光器1的光纤穿过光闸4,可阻挡进人光谱分析仪7的光，光线穿过积分球5后通过衰减器6,将光衰减到光谱分析仪7的正常工作范围内，根据被测待测激光器1光输出光谱范围设置光谱分析仪7的扫描范围、扫描分辨率和扫描灵敏度，驱动电源2给被本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体激光器的温度检测设备，包括待测激光器(1)、驱动电源(2)、温度调节器(3)、光闸(4)、积分球(5)、衰减器(6)、光谱分析仪(7)、侧板(8)、承接板(9)、U型板(10)、弹簧(11)和检测台(20)，其特征在于：所述检测台(20)顶部固定连接有承接板(9)，所述检测台(20)顶部位于承接板(9)一侧固定连接有驱动电源(2)，所述检测台(20)顶部位于承接板(9)另一侧固定连接有温度调节器(3)，所述承接板(9)顶部对称设有U型板(10)，所述承接板(9)顶部设有待测激光器(1)，且待测激光器(1)两侧与相邻的U型板(10)侧壁相接触，所述待测激光器(1)分别与驱动电源(2)和温度调节器(3)电性连接，所述承接板(9)顶部位于U型板(10)远离待测激光器(1)的一侧均对称开设有滑槽(13)，所述U型板(10)顶部均对称固定连接有滑块(12)，所述滑块(12)与滑槽(13)滑动连接，所述滑槽(13)内均设置有弹簧(11)，所述弹簧(11)两端分别与滑块(12)和滑槽(13)一侧内壁固定连接，所述检测台(20)顶部位于承接板(9)与驱动电源(2)垂直的一侧安装有光闸(4)，所述光闸(4)输入端正对待测激光器(1)设置，所述检测台(20)与承接板(9)垂直的一侧固定连接有侧板(8)，所述侧板(8)顶部固定连接有积分球(5)，所述积分球(5)输入端正对光闸(4)输出端设置，所述积分球(5)远离检测台(20)的一侧设有光谱分析仪(7)，所述光谱分析仪(7)与积分球(5)之间设有衰减器(6)，所述积分球(5)输出端通过光钎与衰减器(6)输出端相连通，所述衰减器(6)输出端通过光纤与光谱分析仪(7)输入端相连通。...

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器的温度检测设备，包括待测激光器(1)、驱动电源(2)、温度调节器(3)、光闸(4)、积分球(5)、衰减器(6)、光谱分析仪(7)、侧板(8)、承接板(9)、U型板(10)、弹簧(11)和检测台(20)，其特征在于：所述检测台(20)顶部固定连接有承接板(9)，所述检测台(20)顶部位于承接板(9)一侧固定连接有驱动电源(2)，所述检测台(20)顶部位于承接板(9)另一侧固定连接有温度调节器(3)，所述承接板(9)顶部对称设有U型板(10)，所述承接板(9)顶部设有待测激光器(1)，且待测激光器(1)两侧与相邻的U型板(10)侧壁相接触，所述待测激光器(1)分别与驱动电源(2)和温度调节器(3)电性连接，所述承接板(9)顶部位于U型板(10)远离待测激光器(1)的一侧均对称开设有滑槽(13)，所述U型板(10)顶部均对称固定连接有滑块(12)，所述滑块(12)与滑槽(13)滑动连接，所述滑槽(13)内均设置有弹簧(11)，所述弹簧(11)两端分别与滑块(12)和滑槽(13)一侧内壁固定连接，所述检测台(20)顶部位于承接板(9)与驱动电源(2)垂直的一侧安装有光闸(4)，所述光闸(4)输入端正对待测激光器(1)设置，所述检测台(20)与承接板(9)垂直的一侧固定连接有侧板(8)，所述侧板(8)顶部固定连接有积分球(5)，所述积分球(5)输入端正对光闸(4)输出端设置，所述积分球(5...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘增红，常浩，薛良，
申请(专利权)人：拓闻天津电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12