一种金属探测设备的校准工装及金属探测设备制造技术

技术编号:20245293 阅读:33 留言:0更新日期:2019-01-30 00:10
本实用新型专利技术涉及金属探测设备技术领域,公开了一种金属探测设备的校准工装及金属探测设备。金属探测设备的校准工装包括多个支架,所述支架在不同的高度设有多个用于固定金属塑封样品的固定部,相邻两个所述支架之间通过连杆连接,且相邻两个所述支架的间距大于探测设备的探测区域。金属探测设备包括上述的金属探测设备的校准工装。本实用新型专利技术提供的金属探测设备的校准工装及金属探测设备,可以高效连续地实现对不同样品不同高度的金属物进行检测,以确定探测设备的可靠性。

A Calibration Tool for Metal Detection Equipment and Metal Detection Equipment

The utility model relates to the technical field of metal detection equipment, and discloses a calibration tooling and metal detection equipment for metal detection equipment. The calibration tooling of metal detection equipment includes a plurality of brackets. The brackets are equipped with a plurality of fixed parts for fixing metal plastic sealing samples at different heights. The two adjacent brackets are connected by connecting rods, and the spacing between the two adjacent brackets is larger than the detection area of the detection equipment. The metal detection equipment includes the calibration tooling of the above-mentioned metal detection equipment. The calibration tooling and metal detection equipment of the metal detection equipment provided by the utility model can efficiently and continuously detect the metal objects of different sample heights in order to determine the reliability of the detection equipment.

【技术实现步骤摘要】
一种金属探测设备的校准工装及金属探测设备
本技术涉及金属探测设备
,尤其涉及一种金属探测设备的校准工装及金属探测设备。
技术介绍
在玩具等涉及使用安全性的行业,在产品出厂前均需要对产品进行是否内含金属物的检测,以提高产品使用的安全性。目前,一般是使用金属探测设备检测产品是否具有金属物,而在金属探测设备投入使用前,需要先对金属探测设备进行性能检测,检测金属探测设备能否正常工作,具体是将金属长条或者金属小球塑封制成样品,将样品以不同的高度通过探测设备,以模拟不同高度尺寸的玩具等产品通过探测设备,观察探测设备是否报警。现有技术中,为了模拟不同高度尺寸的玩具等产品通过探测设备进行检测,通过叠加若干木片形成不同的高度,在木片上放置金属物,此种方式操作效率低下,且容易出错。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种金属探测设备的校准工装及金属探测设备,可以高效连续地实现对不同样品不同高度的金属物进行检测,以确定探测设备的可靠性。为达此目的,本技术采用以下技术方案:一种金属探测设备的校准工装,包括多个支架,所述支架在不同的高度设有多个用于固定金属塑封样品的固定部,相邻两个所述支架之间通过连杆连接,且相邻两个所述支架的间距大于探测设备的探测区域。作为优选技术方案,所述支架包括圆筒,所述圆筒的外侧壁沿所述圆筒的轴向间隔设置所述固定部。作为优选技术方案,所述固定部包括用于卡接所述金属塑封样品的长条孔,所述长条孔的长度沿所述圆筒的周向延伸。作为优选技术方案,所述圆筒上设置10个所述长条孔,相邻两个所述长条孔间隔1cm。作为优选技术方案,所述圆筒的一端设置有连接轴,所述连杆的两端分别与所述连接轴铰接。作为优选技术方案,所述连杆上设有锁紧件,所述锁紧件用于锁紧所述连杆与所述圆筒,以使所述连杆相对所述圆筒不发生转动。作为优选技术方案,所述连杆为长度可调节的伸缩杆。作为优选技术方案,所述圆筒为非金属材质的圆筒。本技术还提供了一种金属探测设备,包括上述的金属探测设备的校准工装。本技术的有益效果:本技术提供的金属探测设备的校准工装设置多个支架,每个支架上设置不同的高度的固定金属塑封样品的固定部,每个支架上可以固定一个金属塑封样品,且金属塑封样品可以设置在多个高度处,因此可以实现连续检测不同样品和/或不同高度的金属塑封样品,以检测探测设备的可靠性,提高了检测效率,且不容易出错。附图说明图1是本技术实施例所述的金属探测设备的校准工装的主视图;图2是本技术实施例所述的金属探测设备的校准工装的俯视图。图中:1、支架;11、长条孔;2、连杆;3、连接轴。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术,而非对本技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部。如图1和图2所示,本实施例提供了一种金属探测设备的校准工装,用于金属探测设备的校准,检测探测设备的可靠性。所述金属探测设备的校准工装包括多个支架1,所述支架1在不同的高度设有多个用于固定金属塑封样品的固定部,相邻两个所述支架1之间通过连杆2连接,且两个支架1的间距大于探测设备的探测区域。金属探测设备的校准工装设置多个支架1,每个支架1上设置不同的高度的固定金属塑封样品的固定部,每个支架1上只能固定一个金属塑封样品,且金属塑封样品可以设置在多个高度处,因此可以实现连续检测不同样品和/或不同高度的金属塑封样品,以检测探测设备的可靠性,提高了检测效率,且不容易出错。具体地,金属塑封样品是将较小的金属条或者金属球通过塑封制作而成。如图1所示,支架1包括圆筒,圆筒的外侧壁沿圆筒的轴向间隔设置多个固定部,固定部用于固定金属塑封样品。在本实施例中,圆筒为非金属材质的圆筒,优选纸质材质制作而成,在圆筒的侧壁开设多个长条孔11,长条孔11即为固定部,用于卡接金属塑封样品,长条孔11的长度沿圆筒的周向延伸。在圆筒上优选设置10个长条孔11,10个长条孔11沿圆筒的轴向间隔设置,两个长条孔11之间间隔1cm。内含金属条的金属塑封样品或内含金属球的金属塑封样品设置的高度为1cm、5cm或10cm,还可以设置为其它高度,主要是达到模拟玩具等产品的高度的目的,针对不同的高度的产品,检测金属探测设备是否能检测到产品内含有金属物。此外,圆筒上可以根据实际需要设置多于10个或少于10个长条孔11,长条孔11之间的间距也可以根据实际需要进行设置。在本实施例中,包括6个圆筒,一个圆筒上只能设置一个金属塑封样品进行检测,可以设置前三个圆筒均卡接带有金属条的金属塑封样品,剩余三个圆筒均卡接带有金属球的金属塑封样品,三个金属条的金属塑封样品和三个金属球的金属塑封样品可以设置在不同的高度,检测金属探测设备的可靠性,同时检测不同类型的金属物,且检测不同高度的金属物,提高了检测的效率,检测正确率高。在其它实施例中,金属条的金属塑封样品设置的个数和金属球的金属塑封样品设置的数量以及卡接在圆筒上的位置不局限于上述描述的布局方式,还可以是其它布局方式,在此不再叙述。如图2所示,圆筒上设置连接轴3,两个圆筒通过连杆2连接,连杆2的两端分别与两个圆筒的连接轴3铰接。连杆2上设置锁紧件(图中未示出),锁紧件用于锁紧连杆2与圆筒,使连杆2相对圆筒不发生转动。在检测时,需要保证相邻的两个圆筒之间的间距大于金属探测设备的校准工装,保证同一时间处于探测设备的探测区域内的样品只有一个,保证检测金属探测设备的精确性。调整好两个圆筒之间的距离后,使用锁紧件锁紧使连杆相对圆筒不会发生转动,保证相连相邻两个圆筒之间的间距。由于锁紧件可以为卡接件卡接在连接轴3上,还可以是与连杆2连接的销钉,销钉再与连接轴3连接等结构,由于锁紧件采用的结构为现有技术,在此不再详细阐述。在本实施例中,连杆2为长度可调节的伸缩杆,可以根据实际需求调节相邻两个圆筒之间的间距。本实施例还提供了一种金属探测设备,包括上述的金属探测设备的校准工装。通过使用本实施例中的金属探测设备的校准工装,可以模拟内含不同样品不同高度的金属物的产品,实现对金属探测设备的可靠性的连续测试,提高了测试的效率,且不易出错。显然,本技术的上述实施例仅仅是为了清楚说明本技术所作的举例,而并非是对本技术的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本技术权利要求的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种金属探测设备的校准工装,其特征在于,包括多个支架(1),所述支架(1)在不同的高度设有多个用于固定金属塑封样品的固定部,相邻两个所述支架(1)之间通过连杆(2)连接,且相邻两个所述支架(1)的间距大于探测设备的探测区域。

【技术特征摘要】
1.一种金属探测设备的校准工装,其特征在于,包括多个支架(1),所述支架(1)在不同的高度设有多个用于固定金属塑封样品的固定部,相邻两个所述支架(1)之间通过连杆(2)连接,且相邻两个所述支架(1)的间距大于探测设备的探测区域。2.根据权利要求1所述的金属探测设备的校准工装,其特征在于,所述支架(1)包括圆筒,所述圆筒的外侧壁沿所述圆筒的轴向间隔设置所述固定部。3.根据权利要求2所述的金属探测设备的校准工装,其特征在于,所述固定部包括用于卡接所述金属塑封样品的长条孔(11),所述长条孔(11)的长度沿所述圆筒的周向延伸。4.根据权利要求3所述的金属探测设备的校准工装,其特征在于,所述圆筒上设置10个所述长条孔(11),...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯社雄
申请(专利权)人:东莞市世通仪器检测服务有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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