本发明专利技术描述用于自动RFID质量控制过程的系统和方法。该方法可以包括用质量控制规格配置RFID制造印刷机、制造批次RFID内嵌物、在每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与质量控制规格比较,以及基于性能测试的结果确定该批次RFID标签通过状态或失败状态。该系统可以包括具有至少一条生产线的RFID制造印刷机、至少一个询问器天线和用于RFID制造印刷机的可编程控制逻辑,其中可编程控制逻辑适于在由制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格比较,以及确定该批次RFID内嵌物是否符合规格。
【技术实现步骤摘要】
用于自动RFID质量控制的系统和方法本申请是分案申请,原申请的申请日为2012年4月12日、申请号为2012800202924、专利技术名称为“用于自动RFID质量控制的系统和方法”。相关申请的交叉引用本申请要求于2011年4月26日提交的美国专利申请No.13/093,933的权益,该申请以其整体通过引用并入本文。
技术介绍
射频识别(RFID)标签用来跟踪、识别和定位商品已在近年来显著增长。RFID标签允许制造商、批发商和零售商等利用RFID标签管理产品和存货,迅速确定生产、制造、批发或零售需要以及有效进货和出货。RFID标签自身可以提供任何期望产品数据并可以用各种方式中的任何一种扫描或读取。在制造过程之后,RFID标签可以经历若干封装过程中的一种。例如,某些类型RFID标签可以封装成卷以方便整体运输到客户。然而在运输之前,RFID标签可以经历质量控制过程,其中确定RFID标签的具体卷是否在产率和连续缺陷方面符合客户规格。例如,客户可以要求每卷RFID标签具有98%的工作标签产率,并且不多于5个连续标签有缺陷。为确定一卷RFID标签是否符合客户需求,每卷可以通过经历校订过程来检查。该过程通常在RFID标签卷离开制造印刷机之后发生。通常从生产线取出内嵌物的卷并且视觉检查,并且然后在卷准备好运输之前从片材切除缺陷内嵌物。该过程相对于制造过程的其他步骤可以是耗时的和劳动力密集的,在运输之前导致瓶颈。由于RFID制造技术改善,因此产率百分比提高并且连续缺陷标签的数目减小。在许多情况中,多于90%的RFID卷符合客户需求。因此期望绕过校订过程以使制造过程流水线化、使瓶颈最小化并降低成本。
技术实现思路
根据至少一个示例性实施方式,提供用于自动RFID质量控制的系统和方法。该方法可以包括用质量控制规格配置RFID制造印刷机、制造一批RFID内嵌物、在每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与质量控制规格比较,以及基于性能测试的结果确定该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。该方法可以进一步包括记录性能测试的结果、连续监控记录的结果,以及指示RFID制造印刷机的每条生产线(lane)的该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。系统可以包括具有至少一条生产线的RFID制造印刷机、至少一个询问器天线和用于RFID制造印刷机的可编程控制逻辑,其中可编程控制逻辑适于在由制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格比较,以及确定该批RFID内嵌物是否符合规格。控制逻辑可以进一步适于记录性能测试的结果、连续监控性能测试的结果,以及指示该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。系统可以进一步包括用于输入质量控制规格的界面、用于显示性能测试记录结果的界面,以及用于指示RFID制造印刷机的每条生产线的该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态的界面。附图说明由示例性实施方式的以下详细描述,本专利技术的有利实施方式的优点将是显而易见的。以下详细描述应连同附图考虑,其中:图1示出用于自动RFID质量控制的示例性方法。图2a示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性配置界面。图2b示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性数据显示界面。图2c示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性状态指示器界面。具体实施方式本专利技术的方面在针对本专利技术具体实施方式的以下描述和相关附图中公开。可以在不背离本专利技术的精神或保护范围的情况下设计可选实施方式。另外,本专利技术的示例性实施方式的众所周知的元件将不详细描述或被省略以便不模糊本专利技术的相关细节。进一步地,为促进理解说明,在此使用的若干术语的讨论如下。如在此使用,单词“示例性”意思是“用作例子、实例或说明”。在此描述的实施方式不是限制而仅是示例性。应理解在此描述的实施方式不必解释为比其他实施方式优选或有利。此外,术语“本专利技术的实施方式”、“实施方式”或“专利技术”不需要本专利技术的全部实施方式包括讨论的特征、优点或操作模式。此外,RFID标签可以制造为各种布置或群集,例如卷、张或任何其他布置。应理解“批次”RFID内嵌物如在此使用可以指代RFID内嵌物的任何期望布置或群集。进一步地,在此描述的许多实施方式按照由例如计算装置的元件执行的动作顺序进行描述。本领域技术人员应认识到在此描述的动作的各种顺序可以由专用电路(例如专用集成电路(ASIC))和/或由程序指令进行,该程序指令由至少一个处理器执行。另外,在此描述的动作顺序可以在任何形式的计算机可读存储介质内完全实施,以使执行动作顺序使得处理器能够执行在此描述的功能性。因此,本专利技术的各种方面可以用数个不同形式实施,这些形式中的全部都考虑在所要求主题的保护范围内。另外,对于在此描述实施方式中的每个,任何这样实施方式的对应形式可以描述为例如“经配置执行所描述动作的计算机”。根据至少一个示例性实施方式,公开了用于自动RFID质量控制的系统和方法。自动RFID质量控制系统和方法可以允许操作员结论性地确定哪一批次RFID内嵌物符合客户规格,而不必使每批经受校订过程。自动RFID质量控制系统和方法可以集成到现有RFID制造设备并集成到其操作和控制系统。例如,现有RFID印刷机与任何关联计算机逻辑和软件可以经修改从而结合自动RFID质量控制系统和方法的特征和步骤。由于RFID印刷机可以包括多个RFID制造生产线,因此自动RFID质量控制系统可以经配置同时管理多条RFID制造生产线。图1示出用于RFID质量控制的示例性过程。在步骤102并在开始RFID制造过程之前,RFID印刷机可以由操作员配置以便包括期望规格用于待制造的特别批次RFID内嵌物。本专利技术进一步考虑RFID印刷机可以由操作员配置从而在RFID内嵌物制造之后包括一批内嵌物的规格。在RFID制造印刷机的配置期间,操作员可以进一步输入期望质量规格用于特别批次RFID内嵌物。例如,操作员可以输入RFID内嵌物批次的产率需求和缺陷密度需求。作为进一步的例子,这样的需求可以是98%产率需求和5个连续有缺陷标签的最大缺陷密度;然而可以输入用于这些规格的任何期望值。操作员也可以输入任何其他必要的配置信息并起动RFID制造印刷机。图2a示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性配置界面200。配置界面200可以包括用于在特别RFID印刷机上启用和停用自动RFID质量控制系统的微件(widget)202。配置界面200可以进一步包括用于输入从质量检查点到重绕点的RFID内嵌物总数的字段204。这创造动态移位寄存器,其补偿(offset)检查结果从而确保结果代表已行进越过重绕点并且包含在重绕卷中的内嵌物。可以提供字段204用于RFID印刷机中的每条生产线。配置界面200可以进一步包括将触发失败条件的标准206。失败标准206可以包括可能在连续顺序的内嵌物中出现的有缺陷内嵌物的最大数目。例如,系统可以经配置允许不多于5个连续有缺陷标签,或在一连串10个标签中不多于5个有缺陷标签。这些值可以输入到配置界面200的字段208和210。失败标准206也可以包括可以输入到配置界面200的字段212的产率需求。在一些实施方式中,可以提供失败标准206用于RFID制造印刷机中的每条生产线。此外,本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.用于具有一条或多条生产线的RFID制造印刷机的自动RFID质量控制的方法,包括:用质量控制规格配置所述RFID制造印刷机;制造批次RFID内嵌物;在所述批次RFID内嵌物中的每个RFID内嵌物上执行性能测试;将所述性能测试的结果与所述质量控制规格比较;以及基于所述性能测试的结果确定所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。
【技术特征摘要】
2011.04.26 US 13/093,9331.用于具有一条或多条生产线的RFID制造印刷机的自动RFID质量控制的方法,包括:用质量控制规格配置所述RFID制造印刷机;制造批次RFID内嵌物;在所述批次RFID内嵌物中的每个RFID内嵌物上执行性能测试;将所述性能测试的结果与所述质量控制规格比较;以及基于所述性能测试的结果确定所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括记录所述性能测试的结果。3.根据权利要求2所述的方法,进一步包括连续监控所述记录的结果。4.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:指示所述RFID制造印刷机的每条生产线的所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。5.根据权利要求1所述的方法,进一步包括直接封装具有通过状态的批次RFID内嵌物。...
【专利技术属性】
技术研发人员:C·马库斯,E·A·阿米乔,
申请(专利权)人:艾利丹尼森公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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