电流探针以及适用于此电流探针的治具制造技术

技术编号:20175213 阅读:35 留言:0更新日期:2019-01-22 23:51
本发明专利技术公开了一种电流探针包括基体、探针头与至少一端子探针组。基体包括主体部以及至少一定位部,且定位部突出主体部。探针头可拆卸地设置于主体部。探针头远离主体部的一侧具有一装置面。装置面远离主体部轴心的一侧具有一外缘。定位部突出外缘。端子探针组包括多个针脚。端子探针组装设于探针头的装置面。这些针脚于装置面及其延伸面上的投影被装置面的外缘所围绕。

Current probe and its fixture

The invention discloses a current probe comprising a matrix, a probe head and at least one terminal probe group. The matrix comprises a main body part and at least one positioning part, and the positioning part protrudes the main body part. The probe head is detachably arranged in the main body. The side of the probe head away from the main body part has a device surface. The device surface has an outer edge on one side far from the axis center of the main part. The positioning part protrudes the outer edge. The terminal probe group comprises a plurality of pins. The terminal probe is assembled on the device surface of the probe head. The projection of these pins on the device surface and its extension surface is surrounded by the outer edge of the device surface.

【技术实现步骤摘要】
电流探针以及适用于此电流探针的治具
本专利技术关于一种电流探针以及治具,特别是一种用于测量电阻值或电压值等数值的电流探针,以及用于更换此电流探针的治具。
技术介绍
电子产品在贩卖前,业者需进行电性测试以确认产品的良率与可靠度。常见电性测试的进行乃是采用一种能够测量电阻值、电压值等的检查用电流探针。传统电流探针的探针头具有多个探测尖点,检测时即是利用这些探测尖点与被检体的表面接触。但若被检体的表面不平时,这些探测尖点则无法全数与被检体的表面接触,进而将恐影响电性测试的精确度。此外,因电子产品曝露于空气之中可能会氧化而于表面形成氧化膜,或者部分特定产品在制造过程中会进行表面处理而涂布有高电阻涂层。因此,当探针对具有氧化膜或高电阻涂层的表面进行探测时,则恐会因氧化膜或高电阻涂层的电阻过大而无法确保量测结果的正确性。针对上述问题,已有业者改用弹性探测臂取代原本的尖锐顶点。当电流探针进行电性测试时,弹性探测臂因按压被检体而扩张变形并与被检体相接触,由于弹性探测臂能够跟随电极的凹凸、倾斜而变形,因此不受电极表面型态的影响且确保接触的稳定性。另外,通过弹性探测臂顶端按压于电极地进行磨刷,突破并刮除位于被检体表面的高电阻膜而能电性接触待测物的表面,进而确保接触件与待测物之间的低电阻接触。由于电流探针于电性测试的过程中常会因电流流通而造成毁损,因此需要定期地进行更换。然而,目前搭配有弹性探测臂的电流探针在装卸弹性探测臂时,恐需先拆卸电流探针的其余元件,如子探针。如此一来,将增加了弹性探测臂的拆卸复杂度。因此,如何简化弹性探测臂的装卸程序,将会是研发人员所需解决的问题之一。专
技术实现思路
鉴于以上的问题,本专利技术公开一种电流探针以及适用于此电流探针的治具,藉以解决先前技术中弹性探测臂的拆卸程序过于复杂的问题。本专利技术所公开的电流探针包括一基体、一探针头以及至少一端子探针组。基体包括一主体部以及至少一定位部,且定位部突出主体部。探针头可拆卸地设置于主体部。探针头远离主体部的一侧具有一装置面。装置面远离主体部轴心的一侧具有一外缘。定位部突出外缘。端子探针组包括多个针脚。端子探针组装设于探针头的装置面。这些针脚于装置面及其延伸面上的投影被装置面的外缘所围绕。本专利技术另公开适于更换上述电流探针的探针头的治具,包括一定位件与一活动件。定位件具有一容置槽以及一开口,且开口适于套设定位部。活动件可活动地设置于容置槽内并适于更换探针头与端子探针组。活动件具有适于套设探针头的一凹陷。当更换探针头时,活动件沿定位件的轴向方向套设探针头并抵靠于定位部。活动件于靠近定位件轴心具一内壁面,内壁面围绕针脚。根据本专利技术所公开的电流探针以及适用于此电流探针的治具,因端子探针组装设于可拆卸的探针头的装置面上,因此当针脚需要替换时,仅需使用治具更换探针头,组装于探针头的端子探针组即能够一并被拆卸,进而省去拆卸电流探针的其余元件的步骤,简化了拆卸针头的程序。此外,因端子探针组的针脚于装置面以及其延伸面的投影被装置面的外缘所围绕,故当治具在拆卸探针头时,治具的活动件围绕凹陷的内壁面将针脚围绕于内。如此一来,治具在拆换探针头时,针脚将不会干涉治具,进而降低更换的困难度。以上关于本
技术实现思路
的说明及以下实施方式的说明用以示范与解释本专利技术的原理,并且提供本专利技术的权利要求保护范围更进一步的解释。附图说明图1为根据本专利技术第一实施例的电流探针的立体示意图。图2为图1的电流探针的分解示意图。图3为图1的电流探针的仰视示意图。图4为根据本专利技术第一实施例的治具的分解示意图。图5为使用图4的治具更换图1的电流探针的探针头的动作示意图。图6为根据本专利技术第二实施例的电流探针的分解示意图。图7为图6的电流探针的仰视示意图。其中,附图标记:10a、10b电流探针40治具50定位件51容置槽52开口60活动件61凹陷62内壁面100基体110主体部111外侧面120定位部121止挡面200探针头201装置面2011外缘300端子探针组300a第一端子探针组300b第二端子探针组310针脚310a第一针脚310b第二针脚311组装环311a第一组装环311b第二组装环312连接端312a第一连接端312b第二连接端313测试端313a第一测试端313b第二测试端400子探针件a方向A1轴心A2径向方向A3轴心D1槽径D2口径P投影Q投影范围具体实施方式以下在实施方式中详细叙述本专利技术的详细特征以及优点,其内容足以使任何本领域的技术人员了解本专利技术的
技术实现思路
并据以实施,且根据本说明书所公开的内容、权利要求保护范围及附图,任何本领域的技术人员可轻易地理解本专利技术相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本专利技术的观点,但非以任何观点限制本专利技术的范畴。请参阅图1至图3。图1为根据本专利技术第一实施例的电流探针的立体示意图。图2为图1的电流探针的分解示意图。图3为图1的电流探针的仰视示意图。在本实施例中,电流探针10a包括一基体100、一探针头200、至少一端子探针组300以及一子探针件400。基体100包括一主体部110以及一定位部120,且定位部120突出主体部110。探针头200可拆卸地设置于基体100的主体部110。探针头200远离主体部110的一侧具有一装置面201。端子探针组300装设于探针头200的装置面201。子探针件400穿设于基体100的主体部110以及探针头200。本实施例基体100的主体部110具有一外侧面111。外侧面111位于主体部110远离自身的轴心A1的一侧。定位部120围绕外侧面111,且定位部120沿主体部110的径向方向A2延伸。此外,本实施例的定位部120为正六角形,但并不以此为限,定位部120的形状可为部分圆弧状。此外,本实施例的主体部110与定位部120为一体成型,但本专利技术并不以此为限。在其他实施例中,主体部110与定位部120例如是藉由卡合或螺合(螺纹连接)方式相固定。探针头200的装置面201远离主体部110轴心A1的一侧具有一外缘2011。本实施例中,定位部120部分突出外缘2011,但不以此为限,在其他实施例中,定位部120可以全部突出于外缘2011。详细来说,本实施例的探针头200以螺合方式固定于主体部110,且探针头200的形状为正六角形,但探针头200与主体部110的连接方式以及探针头200的形状并不以此为限。在其他实施例中,探针头200可以卡合或紧配方式固定于主体部110,且探针头200的形状可以是矩形或圆形。再者,定位部120面对探针头200的一侧具一止挡面121。探针头200于止挡面121及其延伸面形成一投影P,并且定位部120的侧边将探针头200于止挡面121及其延伸面形成的投影P围绕于内。换句话说,本实施例的止挡面121的面积大于探针头200于止挡面121及其延伸面的投影P的面积。端子探针组300包括一组装环311及多个针脚310。组装环311例如通过冲压成型的方式与探针头200接合。针脚310分别包括一连接端312与一测试端313。这些针脚310的连接端312连接组装环311,且这些针脚310例如呈放射状排列。针脚310于电流探针进行电性测试时按压被检体(未绘示),针脚310会因应被检体电极表面的起伏而扩张变形,如此一来,可确保电流探针与被检本文档来自技高网
...

【技术保护点】
1.一种电流探针,其特征在于,包括:一基体,包括一主体部以及至少一定位部,且该至少一定位部突出该主体部;一探针头,可拆卸地设置于该基体的该主体部,该探针头远离该主体部的一侧具有一装置面,该装置面远离该主体部的轴心的一侧具有一外缘;以及至少一端子探针组,包括多个针脚,该至少一端子探针组装设于该探针头的该装置面;其中,该些针脚于该装置面及其延伸面上的投影被该装置面的该外缘围绕于内。

【技术特征摘要】
1.一种电流探针,其特征在于,包括:一基体,包括一主体部以及至少一定位部,且该至少一定位部突出该主体部;一探针头,可拆卸地设置于该基体的该主体部,该探针头远离该主体部的一侧具有一装置面,该装置面远离该主体部的轴心的一侧具有一外缘;以及至少一端子探针组,包括多个针脚,该至少一端子探针组装设于该探针头的该装置面;其中,该些针脚于该装置面及其延伸面上的投影被该装置面的该外缘围绕于内。2.根据权利要求1所述的电流探针,其特征在于,该至少一端子探针组进一步包括一组装环,该些针脚分别包括一连接端与一测试端,该组装环与该些针脚的该些连接端连接,该至少一端子探针组的该组装环与该探针头冲压成型。3.根据权利要求1所述的电流探针,其特征在于,进一步包括一子探针件,该子探针件穿设该基体的该主体部与该探针头。4.根据权利要求1所述的电流探针,其特征在于,该至少一端子探针组的数量为两个,分别为一第一端子探针组与一第二端子探针组,该第一端子探针组具有多个第一针脚,每一该第一针脚具有一第一组装环、一第一连接端与一第一测试端,该第二端子探针组具有多个第二针脚,每一该第二针脚具有一第二组装环、一第二连接端与一第二测试端,该些第一针脚的该些第一测试端与该些第二针脚的该些第二测试端间具有...

【专利技术属性】
技术研发人员:许旭昌刘铭宗许国彦
申请(专利权)人:致茂电子苏州有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1