电源测试系统与测试方法技术方案

技术编号:20043435 阅读:33 留言:0更新日期:2019-01-09 03:39
本发明专利技术涉及一种电源测试系统,包括:主处理器;交流上电模块,连接于主处理器与待测电源之间,用于接收主处理器的控制信号并为待测电源提供预设电压;采样控制模块,连接于主处理器与待测电源输出端之间且受控于主处理器,用于接收主处理器的控制信号并依次接通各待测电源;负载模块,与主处理器连接且用于连接至各待测电源的输出端,用于为各待测电源提供预设负载。该测试系统在一个测试周期内完成对多个电源的测试,提升测试效率。本发明专利技术还涉及一种电源测试方法,包括,为各待测电源提供预设电压;依次接通主处理器与待测电源的输出端的连接并提供预设负载,依次采样待测电源的输出电压;调节预设电压或预设负载,重复上述步骤。

Power supply test system and test method

The invention relates to a power supply test system, which comprises a main processor, an AC power-on module, connected between the main processor and the power to be tested, for receiving the control signal of the main processor and providing the preset voltage for the power to be tested, a sampling control module, connected between the main processor and the output terminal of the power to be tested, and controlled by the main processor for receiving the control signal of the main processor. The load module is connected with the main processor and used to connect to the output of each power supply to provide the preset load for each power supply to be tested. The test system completes the test of multiple power sources in one test cycle to improve the test efficiency. The invention also relates to a power supply test method, which includes providing preset voltage for each power supply to be tested, connecting the main processor to the output terminal of the power supply to be tested in turn and providing preset load, sampling the output voltage of the power supply to be measured in turn, adjusting the preset voltage or preset load, and repeating the above steps.

【技术实现步骤摘要】
电源测试系统与测试方法
本专利技术涉及电源测试领域,特别是涉及一种直流电源测试系统与测试方法。
技术介绍
在电源制造过程中,通常需要对电源的性能进行测试,电源性能指标参数为源调整率和负载调整率,其中,源调整率为电源输出所接负载为满载的情况,输出电压随输入电压变化的波动,负载调整率为输入为额定电压时,输出电压随负载变化的波动。电源测试是电源生产体系中的一个重要的流程,对电源的生产效率和产品质量都有重要的影响。目前,对电源的测试都是电源产品装配好后逐个接入测试系统进行测试,每测试一个电源都需要重新启动一次测试系统,而生产厂家需要对大批量的电源进行测试时,整体测试时间就会增长,降低电源的测试效率,从而影响整体的生产效率。
技术实现思路
基于此,针对电源测试系统测试效率低的问题,提供一种新的电源测试系统和测试方法。一种电源测试系统,用于对M个待测电源进行上电测试,M≥2,所述电源测试系统包括:主处理器,用于输出多路控制信号并依次对各待测电源的输出电压进行采样;交流上电模块,一端与所述主处理器连接,另一端用于与各待测电源的输入端连接,用于接收所述主处理器的第一控制信号并为各待测电源提供预设电压;采样控制模块,包括第一控制端、第一输出端和M个第一输入端,每个第一输入端用于与一个待测电源的输出端连接,所述第一输出端与所述主处理器连接,所述第一控制端与所述主处理器连接,用于接收所述主处理器的第二控制信号并依次接通各第一输入端与所述第一输出端;和负载模块,与所述主处理器连接且用于连接至各所述待测电源的输出端,用于接收所述主处理器的第三控制信号并为各待测电源提供预设负载。上述电源测试系统,启动一次测试系统时,可以对多个电源进行测试,通过采样控制模块,可以使主处理器按照一定的顺序依次与多个电源的输出端连接以依次采样电源的输出电压。同时,测试系统还包括交流上电模块和负载模块,交流上电模块可以向电源输入预设电压,负载模块可以为电源接入预设负载,且交流上电模块和负载模块均可调节,通过调节交流上电模块,可以改变预设电压,即改变电源的输入电压,依次采样各电源的输出电压,可以计算出各电源的源调整率,通过调节负载模块,可以改变电源所接负载,依次采样各电源的输出电压,可以计算出各电源的负载调整率,从而在系统的一次启动周期内完成对多个电源的测试。相比启动一次测试系统只能测试一个电源的方法,该测试系统启动一次可测试多个电源,大大节省了测试时间,提升测试效率。且当需测试M个电源时,利用该系统进行测试,由于改变一次预设电压和预设负载可采样所有电源的相应输出电压,即一次启动周期内改变预设电压和预设负载的次数与所接入的电源的数量无关,设变化次数为N,而测试系统一次启动周期内只能测试一个电源时,预设电压和预设负载的变化次数则为M*N,相关模块的变化次数越多,模块的变化频率越高,模块的工作温度越高,模块的性能越差,从而影响最终的测试精度。在其中一个实施例中,所述交流上电模块包括从处理器、可编程交流电源和交流上电控制模块,所述第一控制信号包括第一电压调节信号和第一开关信号,所述从处理器分别与所述主处理器和所述可编程交流电源通信连接,用于接收所述主处理器的第一电压调节信号并控制所述可编程交流电源生成预设电压,所述交流上电控制模块包括第二输入端、第二控制端和第二输出端,所述第二输入端与所述可编程交流电源输出端连接,所述第二输出端用于与各待测电源的输入端连接,所述第二控制端与所述主处理器连接,用于接收所述主处理器的第一开关信号并控制所述交流上电控制模块的通断。在其中一个实施例中,所述采样控制模块包括:译码器,所述译码器的输入端作为所述采样控制模块的控制端与所述主处理器连接,用于接收所述主处理器的第二控制信号,所述译码器包括M个输出端,所述译码器的各输出端分别用于输出一对应的电平信号;M个第一开关单元,各所述第一开关单元的输入端作为所述采样控制模块的一个第一输入端,用于与一个待测电源的输出端连接,各所述第一开关单元的输出端相连作为所述采样控制模块的第一输出端与所述主处理器连接,各所述第一开关单元的控制端分别与所述译码器的一个输出端连接,用于根据所述译码器输出端的电平信号控制各所述第一开关单元的通断。在其中一个实施例中,所述第一开关单元包括:第一开关管,所述第一开关管的控制端与所述译码器的一个输出端连接,用于接收所述译码器输出的电平信号以控制所述第一开关管的通断;第一继电器,所述第一继电器的输入端作为所述第一开关单元的输入端,用于与一个待测电源的输出端连接,所述第一继电器的输出端作为所述第一开关单元的输出端与所述主处理器连接,所述第一继电器的控制端与所述第一开关管连接,用于根据所述第一开关管的通断控制所述第一继电器的通断。在其中一个实施例中,所述负载模块包括裁决电压生成模块和电流调节模块,所述裁决电压生成模块与所述主处理器连接,用于接收所述主处理器的第三控制信号并输出合适的裁决电压,所述电流调节模块包括第一运放、采样电阻和第二开关管,所述第一运放的正相输入端与所述裁决电压生成模块连接,用于获取所述裁决电压,所述采样电阻的一端通过第二开关管连接至所述采样控制模块的第一输出端,且与所述第一运放的反相输入端连接,所述采样电阻的另一端接地,所述第二开关管的控制端与所述第一运放的输出端连接。在其中一个实施例中,所述裁决电压生成模块包括第二运放、稳压二极管、可调电阻模块和第一至第五电阻,所述第二运放的正相输入端通过第一电阻连接至所述采样控制模块的第一输出端,所述第二运放的反相输入端通过第三电阻接地,且通过第二电阻连接至所述第二运放的输出端,所述稳压二极管的反向端分别连接至所述第二运放的正相输入端、通过第四电阻连接至所述第二运放的输出端以及通过第五电阻连接至可调电阻模块的一端,所述可调电阻模块的另一端接地,所述可调电阻模块的控制端与所述主处理器连接以接收所述主处理器的第三控制信号,所述可调电阻模块用于根据所述第三控制信号生成合适的可调电阻,所述第五电阻与所述可调电阻模块的连接端作为所述裁决电压生成模块的输出端输出裁决电压。在其中一个实施例中,所述电源测试系统还包括纹波处理模块,所述纹波处理模块包括滤波单元和减法单元,所述滤波单元的输入端与所述采样控制模块的第一输出端连接,用于获取并滤除所述待测电源输出电压的纹波,所述减法单元的一输入端与所述滤波单元的输出端连接,另一输入端与所述采样控制模块的第一输出端连接,所述减法单元用于获取所述待测电源输出电压中的纹波,所述减法电路的输出端与所述主处理器连接。在其中一个实施例中,所述电源测试系统还包括上位机,所述上位机与所述主处理器通信连接,用于向所述主处理器下发测试指令并获取所述主处理器的采样数据。一种电源测试方法,用于对M个待测电源进行上电测试,M≥2,所述电源测试方法包括:步骤A:为各所述待测电源提供预设电压;步骤B:依次接通主处理器与所述待测电源的输出端的连接并为接通的待测电源提供预设负载,依次采样所述接通的待测电源的输出电压;步骤C:调节预设电压或预设负载,重复步骤B。上述电源测试方法,在系统的一次启动周期内,能够对多个电源进行测试,相比于系统启动一次只测试一个电源,其测试时间大大降低,测试效率得到提高,且预设电压或预设负载变化本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电源测试系统,用于对M个待测电源进行上电测试,M≥2,其特征在于,所述电源测试系统包括:主处理器,用于输出多路控制信号并依次对各待测电源的输出电压进行采样;交流上电模块,一端与所述主处理器连接,另一端用于与各待测电源的输入端连接,用于接收所述主处理器的第一控制信号并为各待测电源提供预设电压;采样控制模块,包括第一控制端、第一输出端和M个第一输入端,每个第一输入端用于与一个待测电源的输出端连接,所述第一输出端与所述主处理器连接,所述第一控制端与所述主处理器连接,用于接收所述主处理器的第二控制信号并依次接通各第一输入端与所述第一输出端;和负载模块,与所述主处理器连接且用于连接至各所述待测电源的输出端,用于接收所述主处理器的第三控制信号并为各待测电源提供预设负载。

【技术特征摘要】
1.一种电源测试系统,用于对M个待测电源进行上电测试,M≥2,其特征在于,所述电源测试系统包括:主处理器,用于输出多路控制信号并依次对各待测电源的输出电压进行采样;交流上电模块,一端与所述主处理器连接,另一端用于与各待测电源的输入端连接,用于接收所述主处理器的第一控制信号并为各待测电源提供预设电压;采样控制模块,包括第一控制端、第一输出端和M个第一输入端,每个第一输入端用于与一个待测电源的输出端连接,所述第一输出端与所述主处理器连接,所述第一控制端与所述主处理器连接,用于接收所述主处理器的第二控制信号并依次接通各第一输入端与所述第一输出端;和负载模块,与所述主处理器连接且用于连接至各所述待测电源的输出端,用于接收所述主处理器的第三控制信号并为各待测电源提供预设负载。2.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述交流上电模块包括从处理器、可编程交流电源和交流上电控制模块,所述第一控制信号包括第一电压调节信号和第一开关信号,所述从处理器分别与所述主处理器和所述可编程交流电源通信连接,用于接收所述主处理器的第一电压调节信号并控制所述可编程交流电源生成预设电压,所述交流上电控制模块包括第二输入端、第二控制端和第二输出端,所述第二输入端与所述可编程交流电源输出端连接,所述第二输出端用于与各待测电源的输入端连接,所述第二控制端与所述主处理器连接,用于接收所述主处理器的第一开关信号并控制所述交流上电控制模块的通断。3.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述采样控制模块包括:译码器,所述译码器的输入端作为所述采样控制模块的控制端与所述主处理器连接,用于接收所述主处理器的第二控制信号,所述译码器包括M个输出端,所述译码器的各输出端分别用于输出一对应的电平信号;M个第一开关单元,各所述第一开关单元的输入端作为所述采样控制模块的一个第一输入端,用于与一个待测电源的输出端连接,各所述第一开关单元的输出端相连作为所述采样控制模块的第一输出端与所述主处理器连接,各所述第一开关单元的控制端分别与所述译码器的一个输出端连接,用于根据所述译码器输出端的电平信号控制各所述第一开关单元的通断。4.如权利要求3所述的测试系统,其特征在于,所述第一开关单元包括:第一开关管,所述第一开关管的控制端与所述译码器的一个输出端连接,用于接收所述译码器输出的电平信号以控制所述第一开关管的通断;第一继电器,所述第一继电器的输入端作为所述第一开关单元的输入端,用于与一个待测电源的输出端连接,所述第一继电器的输出端作为所述第一开关单元的输出端与所述主处理器连接,所述第一继电器的控制端与所述第一开关管连接,用于根据所述第一开关管的通断控制所述第一继电器的通断。5....

【专利技术属性】
技术研发人员:封雨鑫陈焱高云峰
申请(专利权)人:大族激光科技产业集团股份有限公司深圳市大族智能控制科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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