检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光学检测技术领域，所提供的检测装置，包括载台，设置在载台上的至少一个导轨；还包括滑动连接在导轨上的至少一个检测组件，用于沿导轨对待检测物进行检测；导轨的支承面与载台表面平行，导轨的垂直下方设置有收集组件。当检测组件沿着载台上的导轨滑动，对载台上的待检测物进行检测时，检测组件与导轨摩擦所产生的微粒杂质在自身重力作用下，落入设置在导轨垂直下方的收集组件中，避免其掉落到载台以及载台上的待检测物上，对待检测物或者载台造成污染。

【技术实现步骤摘要】
检测装置
本技术涉及光学检测
，具体涉及一种检测装置。
技术介绍
目前许多检测设备为了提高自动化程度，往往需要借助辅助导轨，以进行检测点位的自由切换。例如，现有技术公开了一种电性测试装置，如图1所示，在第一横向支架3.5上，设置有若干个调制器3.1，调制器3.1可移动地设置在第一横向支架3.5上，即第一横向支架3.5作为导轨，使调制器3.1沿该导轨可进行图示的X方向的移动；在第二横向支架3.3上，设置有若干个光学扫描镜头3.2，光学扫描镜头3.2可移动地设置在第二横向支架3.3上，即第二横向支架3.3作为导轨，使光学扫描镜头3.2沿该导轨可进行图示的X方向的移动。使用上述电性测试装置对阵列基板3.7进行电性测试时，控制第二横向支架3.3沿纵向支架3.6进行Y方向滑动，以及控制光学扫描镜头3.2沿第二横向支架3.3进行X方向的移动，利用LED光源3.4和光学扫描镜头3.2对设备平台3.8上的阵列基板3.7进行全方位的纵向和横向扫描；再由第一横向支架3.5沿纵向支架3.6进行Y方向滑动，以及调制器3.1沿第一横向支架3.5进行X方向的移动，实现调制器3.1对阵列基板3.7全方位的纵向和横向测试。当调制器3.1沿第一横向支架3.5进行Y方向滑动、光学扫描镜头3.2沿第二横向支架3.3进行X方向滑动、第一横向支架3.5沿纵向支架3.6进行Y方向滑动、第二横向支架3.3沿纵向支架3.6进行Y方向滑动时，导轨与调制器、导轨与光学扫描镜头以及导轨与导轨之间均会因滑动摩擦而产生微粒杂质，掉落在设备平台以及基板上，对基板造成污染。另外，导轨需要定期进行润滑，倘若润滑油使用过量，经摩擦后同样会产生微粒杂质，对基板造成污染。综上，如何在不影响基板检测的同时，避免检测设备与导轨摩擦生成的微粒杂质污染基板是本领域急需解决的问题之一。
技术实现思路
为此，本技术所要解决的技术问题是如何在不影响基板检测的同时，避免检测设备与导轨摩擦生成的微粒杂质污染基板。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案如下：本技术提供了一种检测装置，包括载台，设置在所述载台上的至少一个导轨；还包括滑动连接在所述导轨上的至少一个检测组件，用于沿所述导轨对待检测物进行检测；所述导轨的支承面与所述载台表面平行，所述导轨的垂直下方设置有收集组件。可选地，所述收集组件为连接设置在所述导轨下部的收集槽。可选地，所述收集槽固定连接在所述导轨上，所述收集槽底部开设有至少一个窗口。可选地，所述收集组件为可拆卸连接在所述导轨下部的集尘袋。可选地，沿所述导轨长度方向两侧壁设置有挡板。可选地，所述挡板与所述支承面夹角大于90°。可选地，所述导轨为相对平行设置的槽体结构，支撑所述检测组件的搭载元件沿所述槽体滑动。可选地，所述导轨为单一或多个平行设置的凸脊结构，支撑所述检测组件的搭载元件沿所述凸脊的外壁滑动。可选地，所述导轨的长度方向平行于第一方向或第二方向。可选地，所述检测组件为光学镜头。本技术的技术方案，具有如下优点：1、本技术提供的检测装置，当检测组件沿着载台上的导轨滑动，对载台上的待检测物进行检测时，检测组件与导轨摩擦所产生的微粒杂质在自身重力作用下，落入设置在导轨垂直下方的收集组件中，避免其掉落到载台以及载台上的待检测物上，对待检测物或者载台造成污染。2、本技术提供的检测装置，收集组件为连接设置在导轨下部的收集槽，收集槽的结构较为简单，易于实施。3、本技术提供的检测装置，收集槽的底部开设有至少一个窗口，收集槽底部开设的窗口用于将收集槽内的杂质排出，便于对收集槽进行清理。4、本技术提供的检测装置，收集组件为可拆卸连接在导轨下部的集尘袋，如此便于收集组件的拆卸，使用方便，且需要清理集尘袋内的杂质或者更换集尘袋时，只需手动拆下再安装新的即可，使用便捷性高。5、本技术提供的检测装置，沿导轨长度方向两侧壁设置有挡板，挡板的设置进一步防止导轨与检测组件摩擦而产生的微粒杂质落到下方的待检测物上对其造成污染。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术的检测装置的结构示意图；图2为本技术实施例提供的检测装置的俯视图；图3为本技术实施例提供的检测装置的侧视图；图4为本技术实施例提供的检测装置的局部立体图；附图标记：1-载台；11-待检测物；2-导轨；21-支承面；3-搭载元件；4-检测组件；5-收集组件；51-窗口；6-挡板。具体实施方式下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。实施例本实施例提供一种检测装置，如图2-4所示，包括载台1，设置在载台1上的至少一个导轨2；还包括滑动连接在导轨2上的至少一个检测组件4，检测组件4用于沿导轨2对待检测物11进行检测；导轨2的支承面21与载台1表面平行，导轨2的垂直下方设置有收集组件5。需要说明的是，本文中提到的导轨2的支承面21以及载台1的表面均指的是图3中所示的水平表面。如图3所示，导轨的垂直下方指的是沿垂直于导轨支承面的方向上的导轨下方位置。当检测组件4沿着载台1上的导轨2滑动，对载台1上的待检测物11进行检测时，检测组件4与导轨2摩擦所产生的微粒杂质在自身重力作用下，落入设置在导轨2垂直下方的收集组件5中，避免其掉落到载台1以及载台1上的待检测物11上，对待检测物11或者载台1造成污染。该检测装置用于对显示面板的检测，也可以用于其他领域的检测。导轨2的数量可以为多个，检测组件4的数量可以为多个，视实际需要而定。本实施例中，收集组件5为连接设置在导轨2下部的收集槽，收集槽的截面形状可以为长方形、梯形、圆弧形等。收集槽的结构较为简单，易于实施。本实施例中，收集槽固定连接在导轨2上，可以与导轨2一体成型，也可以通过焊接或其他方式固定于导轨2上，收集槽底部开设有至少一个窗口51，收集槽底部开设的窗口51用于将收集槽内的杂质排出，便于对收集槽进行清理。可以通过窗口51将收集槽与外界的吸附装置连接，通过负压吸附方式将收集槽内的微粒杂质通过窗口51吸附出去。也可以在收集槽内部设置除尘设备，均可实现本技术的目的。作为可替换实施例，收集组件5为可拆卸连接在导轨2下部的集尘袋，如此便于收集组件5的拆卸，使用方便，且需要清理集尘袋内的杂质或者更换集尘袋时，只需手动拆下再安装新的即可，使用便捷性高。本实施例中，沿导轨2长度方向两侧壁设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，包括载台(1)，设置在所述载台(1)上的至少一个导轨(2)；还包括滑动连接在所述导轨(2)上的至少一个检测组件(4)，用于沿所述导轨(2)对待检测物(11)进行检测；所述导轨(2)的支承面(21)与所述载台(1)表面平行，所述导轨(2)的垂直下方设置有收集组件(5)。

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，包括载台(1)，设置在所述载台(1)上的至少一个导轨(2)；还包括滑动连接在所述导轨(2)上的至少一个检测组件(4)，用于沿所述导轨(2)对待检测物(11)进行检测；所述导轨(2)的支承面(21)与所述载台(1)表面平行，所述导轨(2)的垂直下方设置有收集组件(5)。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述收集组件(5)为连接设置在所述导轨(2)下部的收集槽。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述收集槽固定连接在所述导轨(2)上，所述收集槽底部开设有至少一个窗口(51)。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述收集组件(5)为可拆卸连接在所述导轨(2)下部的集尘袋。5.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭朋利，林昶，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32