铅粉视比重测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及铅粉视比重测量装置，包括底座、筛盘、测量盘、限位环，所述的筛盘、测量盘、限位环固定在底座上，所述的筛盘设置在测量盘的上部，所述的限位环设置在筛盘的下部、测量盘的上部。本实用新型专利技术由于在底座表面均匀布置有孔，扬起的无用铅粉会通过孔进入到回收装置中，避免了大量铅粉对周围环境的污染；本实用新型专利技术由于在筛盘和测量盘之间设有限位环，能够保证筛盘中的铅粉准确落入测量盘中，避免了铅粉由于位置的偏差落入测量盘的周边，避免了铅粉的浪费。

【技术实现步骤摘要】
铅粉视比重测量装置
本技术涉及铅酸蓄电池测量装备领域，具体为一种铅粉视比重测量装置。
技术介绍
目前，使用的铅酸蓄电池铅粉视比重测量装置大体有以下几种：专利号为CN206208690U，一种铅粉视比重检测设备，该设备只是把部分人工操作步骤简单换成机械力驱动，但采用的筛选装置不理想，又如专利号为CN2014116167U，一种铅粉比重测试机。采用往复摆动时过滤器，效果不理想；专利号为CN206974850U，一种测量铅粉视比重装置，在测量过程中无法解决铅粉泄漏问题，容易对环境造成污染。
技术实现思路
本技术的目的是提供了铅粉视比重测量装置，结构简单、能自动完成铅粉的筛选和测试，且解决了测量过程中铅粉泄漏问题。本技术的技术方案是：铅粉视比重测量装置，其特征在于：包括底座、筛盘、测量盘、限位环，所述的筛盘、测量盘、限位环固定在底座上，所述的筛盘设置在测量盘的上部，所述的限位环设置在筛盘的下部、测量盘的上部，所述的筛盘为漏斗状，底部设有小孔，筛盘外部设有用于固定筛盘的固定环，所述的筛盘穿过固定环，所述的固定环上部设有半圆环状的挡板，所述的挡板与固定环通过两根螺杆连接固定；所述的测量盘上部设有开口，开口上设有开启的盖板。本技术所述的限位环的内径大于小孔的内径，所述的限位环的内径小于测量盘开口的内径。本技术所述的底座表面均匀布置有孔。本技术在使用过程中，筛盘将合格的铅粉通过小孔和限位环进入到测量盘中，测量盘上的盖板开启，铅粉盛满测量盘后进行测量即可。本技术技术的有益效果是：本技术由于在底座表面均匀布置有孔，扬起的无用铅粉会通过孔进入到回收装置中，避免了大量铅粉对周围环境的污染；本技术由于在筛盘和测量盘之间设有限位环，能够保证筛盘中的铅粉准确落入测量盘中，避免了铅粉由于位置的偏差落入测量盘的周边，避免了铅粉的浪费。附图说明图1为本技术整体结构示意图。具体实施方式铅粉视比重测量装置，包括底座1、筛盘2、测量盘3、限位环4，所述的筛盘2、测量盘3、限位环4固定在底座1上，所述的筛盘2设置在测量盘3的上部，所述的限位环4设置在筛盘的2下部、测量盘3的上部，所述的筛盘2为漏斗状，底部设有小孔5，筛盘2外部设有用于固定筛盘的固定环6，所述的筛盘2穿过固定环6，所述的固定环6上部设有半圆环状的挡板7，所述的挡板7与固定环6通过两根螺杆7连接固定；所述的测量盘3上部设有开口，开口上设有开启的盖板8。本技术所述的限位环4的内径大于小孔5的内径，所述的限位环4的内径小于测量盘3开口的内径。本技术所述的底座1表面均匀布置有孔9。本技术在使用过程中，筛盘将合格的铅粉通过小孔和限位环进入到测量盘中，测量盘上的盖板开启，铅粉盛满测量盘后进行测量即可。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.铅粉视比重测量装置，其特征在于：包括底座、筛盘、测量盘、限位环，所述的筛盘、测量盘、限位环固定在底座上，所述的筛盘设置在测量盘的上部，所述的限位环设置在筛盘的下部、测量盘的上部，所述的筛盘为漏斗状，底部设有小孔，筛盘外部设有用于固定筛盘的固定环，所述的筛盘穿过固定环，所述的固定环上部设有半圆环状的挡板，所述的挡板与固定环通过两根螺杆连接固定；所述的测量盘上部设有开口，开口上设有开启的盖板。

【技术特征摘要】
1.铅粉视比重测量装置，其特征在于：包括底座、筛盘、测量盘、限位环，所述的筛盘、测量盘、限位环固定在底座上，所述的筛盘设置在测量盘的上部，所述的限位环设置在筛盘的下部、测量盘的上部，所述的筛盘为漏斗状，底部设有小孔，筛盘外部设有用于固定筛盘的固定环，所述的筛盘穿过固定环，所述的固定环上部设有半圆环状的挡...

【专利技术属性】
技术研发人员：周刚，卢美莲，周强，李福星，
申请(专利权)人：山东超威电源有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37