用于探测在材料流中的对象的装置制造方法及图纸

用于探测在材料流中的对象的装置，所述装置至少包括：光源，所述光源用于将在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光发射到材料流上；第一探测器，所述第一探测器用于探测对象的由在第一发送波长范围内的光引起的、在第一探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光；第二探测器，所述第二探测器与第一探测器不同，该第二探测器用于探测对象的由在第二发送波长范围内的光引起的、在第二探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光；其中，所述第一探测器与光源连接，以便控制所述第一发送波长范围的光强度，和/或所述第二探测器与光源连接，以便控制所述第二发送波长范围的光强度。由此能够通过光源减少发热。

Device for detecting objects in material flow

A device for detecting an object in a material flow includes at least a light source for transmitting light to the material flow in the first transmission wavelength range and in the second transmission wavelength range, and a first detector for detecting light in the first transmission wavelength range of the object. Reflected light, fluorescence or transmitted light caused in the range of the first detection wavelength; second detector, which is different from the first detector, is used to detect reflected light, fluorescence or transmission of the object caused by light in the range of the second transmission wavelength and in the range of the second detection wavelength. The first detector is connected to the light source to control the light intensity in the first transmitting wavelength range, and/or the second detector is connected to the light source to control the light intensity in the second transmitting wavelength range. Thereby fever can be reduced through light sources.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于探测在材料流中的对象的装置
本专利技术涉及一种用于探测在材料流中的对象的装置，所述装置至少包括：光源，所述光源用于将在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光发射到材料流上，该第二发送波长范围与第一发送波长范围不同，第一探测器，所述第一探测器用于探测对象的由在第一发送波长范围内的光引起的、在第一探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光，第二探测器，该第二探测器用于探测对象的由在第二发送波长范围内的光引起的、在第二探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光。第一发送波长范围和第二发送波长范围在如下意义下不同，即，所述第一发送波长范围和第二发送波长范围不相同，但是原则上可能重叠。第一探测波长范围和第二探测波长范围也在如下意义下不同，即，所述第一探测波长范围和第二探测波长范围不相同，但是通常不重叠。当例如随后应按照颜色分开呈碎玻璃形式的废玻璃时，所述装置例如适用于探测所述废玻璃，和/或，当应将其他干扰材料从废玻璃移除时，所述装置例如适用于探测所述干扰材料、如石头、金属或者塑料。所述装置也适用于探测各种塑料或者塑料物品或者塑料件并且随后将其相互分开。
技术介绍
基于需要两个不同的探测器的必要性，本专利技术不涉及如下装置，在所述装置中由一个或者多个光源发射在两个或者更多个发送波长范围中的光，然而，所有发送波长范围的光共同在一个探测器中被探测。这例如在US7339660B1中是这种情况，在其中在一个共同的探测器400中探测具有不同颜色的发光二极管组204、206的光。EP2589858A1也属于这种类型，在其中来自不同光源10、20、30的不同波长的光组成一个共同的光束，该光束用于照射对象，其中，对象的图像产生在成像装置、亦即唯一的探测器中。为了探测对象通常使用两个不同的光种类，以便能够探测对象的不同的特性、例如颜色和材料类型并且因此能够以较大的可靠性将对象配设给某一类别。在红外光作为第一光种类或者作为第一发送波长范围并且可见光作为第二光种类或者作为第二发送波长范围的情况下通常使用这样的光源，所述光源、比如像卤素手电筒同时发射两个光种类、亦即两个波长的光(可见光和红外光)。因此仅需要一种类型的光源，这例如使储存以备更换的光源变得简单。但是所述光源具有如下缺点，即，总是只能共同改变针对两个发送波长范围的强度。但是，通常仅需针对一个探测波长范围或者配属的探测器的高的强度，而针对其它探测波长范围或者其它探测器来说低的强度就足够了。但是，现在光源必须总是以较高的强度运行，这可能导致在装置内部不希望的高的发热。因此，例如为了在可见的范围内充分的强度和颜色分布，卤素手电筒在其相应的功率极限上运行。由此在分拣器内部(在所述分拣器中设置有光源和探测器)产生高含量的热辐射。这又增加了在分拣器中的火灾危险。通常所述光源必须以直流电压运行，以便防止由于交流电引起强度波动。
技术实现思路
因此，本专利技术的任务在于，提供一种探测装置，所述探测装置的特点在于发热较少，如果针对一个探测波长范围比针对其它探测波长范围来说较小的强度足够的话。该任务利用根据本申请所述的装置来解决。所述用于探测在材料流中的对象的装置至少包括：光源，所述光源用于将在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光发射到材料流上，该第二发送波长范围与第一发送波长范围不同；第一探测器，所述第一探测器用于探测对象的由在第一发送波长范围内的光引起的、在第一探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光；第二探测器，该第二探测器用于探测对象的由在第二发送波长范围内的光引起的、在第二探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光。所述装置的特征在于：第一探测器与光源连接，以便控制所述第一发送波长范围的光强度，和/或第二探测器与光源连接，以便控制所述第二发送波长范围的光强度。因此，光源发射某一确定的第一发送波长范围的光、例如红外光和某一确定的第二发送波长范围的光、例如可见光。第一探测器配设给第一发送波长范围的光并且仅能探测由对象基于第一发送波长范围的光引起的光。如果利用第一探测器探测到对象的反射光或者透射光，则第一探测器的第一探测波长范围是第一发送波长范围的至少一个部分范围。第二发送波长范围的光与第一发送波长范围的光不同。亦即，所述两个波长范围是不相同的，但是波长范围可能重叠。当第二发送波长范围例如应仅包括可见光时，一些光源也发射一些红外光，即使配设的第二探测器根本探测不到所述红外光。第二探测器配设给第二发送波长范围的光并且仅能探测由对象基于第二发送波长范围的光引起的光。如果利用第二探测器探测到对象的反射光或者透射光，则第二探测器的第二探测波长范围是第二发送波长范围的至少一个部分范围。在对象的荧光的情况下，通常不存在发送波长范围(例如紫外光)与探测波长范围(例如可见光)的重叠。光源现在可以包括至少一个超连续谱激光光源，所述超连续谱激光光源构造用于发射在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光，该第二发送波长范围不与所述第一发送波长范围重叠。人们将具有极度拓宽的光谱的激光称作超连续谱亦或白激光。激光通常是相对窄带的，而超连续谱可以包括超过一个倍频程的频率范围。超连续谱可以通过在激光光束在高强度的情况下传输穿过玻璃纤维时利用非线性效应产生，但是对此在空气中的对焦也已经足够。人们通常使用飞秒激光的强光脉冲。但是使用具有大得多的持续时间的脉冲也能够显示出期望的拓宽。在长纤维中甚至连续的激光运行是可能的。然而，超连续谱的涉及的物理学机制和光谱结构根据脉冲持续时间、色散作用和纤维长度等很不同。超连续谱激光光源原则上由现有技术已知，利用所述超连续谱激光光源将分别来自两种不同波长范围的光引入到共同的光路中。在超连续谱激光光源中能够相互独立地调整在不同的波长范围内的光强度。因此，例如能够与针对(第二发送波长范围的)可见光的光强度无关地调整针对(第一发送波长范围的)红外光的光强度。在此，通常同时发射第一发送波长范围和第二发送波长范围的光。按照本专利技术，原则上存在三种可能性：仅第一探测器与光源(例如超连续谱激光光源)连接，以便控制第一发送波长范围的光强度；或者仅第二探测器与光源连接，以便控制第二发送波长范围的光强度；或者不仅第一探测器与光源连接，以便控制第一发送波长范围的光强度，而且第二探测器与光源连接，以便控制第二发送波长范围的光强度。通过光源与一个或者多个探测器连接能够总是这样调整在第一发送波长范围或在第二发送波长范围内的光强度，使得所述光强度对于配设的探测器来说是足够的。因此，能够降低例如在第一发送波长范围内的过大的强度，从而也降低通过所述光源在所述波长范围内引起的发热。因此可设想的是，探测器自身能够确定其在各个发送波长范围内需要哪种强度。但是，所述光源不必如在超连续谱激光光源中那样具有能够分别发射在两个发送波长范围内的光的照射单元。替代于此地也可以规定，光源不仅包括第一光源而且包括第二光源，所述第一光源用于发射仅在第一发送波长范围内的光，所述第二光源用于发射仅在第二发送波长范围内的光，以及第一探测器与所述第一光源连接，以便控制第一光源的光强度，和/或第二探测器与所述第二光源连接，以便控制第二光源的光强度。在此，第一光源和第二光源在所述装置的运行中可能处于对象的材料流的相同侧上，但是也可能处于不同侧上。与此无关地本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于探测在材料流中的对象的装置，所述装置至少包括：光源，所述光源用于将在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光发射到材料流上，该第二发送波长范围与第一发送波长范围不同，第一探测器(1)，所述第一探测器用于探测对象的由在第一发送波长范围内的光引起的、在第一探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光，第二探测器(2)，所述第二探测器与第一探测器(1)不同，该第二探测器用于探测对象的由在第二发送波长范围内的光引起的、在第二探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光，其特征在于，所述第一探测器(1)与光源连接，以便控制所述第一发送波长范围的光强度，和/或所述第二探测器(2)与光源连接，以便控制所述第二发送波长范围的光强度。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.08.30 AT GM50175/20161.用于探测在材料流中的对象的装置，所述装置至少包括：光源，所述光源用于将在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光发射到材料流上，该第二发送波长范围与第一发送波长范围不同，第一探测器(1)，所述第一探测器用于探测对象的由在第一发送波长范围内的光引起的、在第一探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光，第二探测器(2)，所述第二探测器与第一探测器(1)不同，该第二探测器用于探测对象的由在第二发送波长范围内的光引起的、在第二探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光，其特征在于，所述第一探测器(1)与光源连接，以便控制所述第一发送波长范围的光强度，和/或所述第二探测器(2)与光源连接，以便控制所述第二发送波长范围的光强度。2.根据权利要求1所述的用于探测在材料流中的对象的装置，其特征在于，所述光源包括至少一个超连续谱激光光源，该超连续谱激光光源构造用于发射在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光，该第二发送波长范围不与所述第一发送波长范围重叠。3.根据权利要求1所述的用于探测在材料流中的对象的装置，其特征在于，所述光源不仅包括第一光源(4)而且包括第二光源(5)，所述第一光源用于发射仅在第一发送波长范围内的光，所述第二光源用于发射仅在第二发送波长范围内的光，以及所述第一探测器(1)与第一光源(4)连接，以便控制第一光源的光强度，和/或所述第二探测器(2)与第二光源(5)连接，以便控制第二光源的光强度。4.根据权利要求3所述的用于探测在材料流中的对象的装置，其特征在于，第一光源(4)和第二光源(5)在所述装置的运行中处于对象(9)的材料流的相同侧上。5.根据权利要求1所述的用于探测在材料流中的对象的装置，其特征在于，所述第一探测器(1)和/或所述第二探测器(2)通过分析装置(11)与光源...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·胡贝尔，R·埃克塞尔伯格，
申请(专利权)人：宾德股份公司，
类型：新型
国别省市：奥地利,AT