一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，包括基座，所述的基座上安装有作业台，所述的作业台上设有初级筛选机构和二级筛选机构，所述的二级筛选机构位于初级筛选机构的左下侧位置，所述的二级筛选机构上设有若干道传动装置，所述的输料管与最右侧的传动装置的输料端相对应，所述的传动装置上均设有传送带，相邻的传动装置之间均设有精筛器，所述的精筛器中设有一对筛板，所述的筛板左右两侧各有一个并且通过锁合齿相嵌合，所述的齿轮的底端安装有转轴，所述的转轴的底端安装有千分尺。本发明专利技术利用千分尺对筛板的间隙进行调节，保证电子晶粒根据尺寸的大小进行分级筛选。

A Screening Device for Photoelectronics or Microelectronics Grain

The invention discloses a screening device for photoelectronics or microelectronics grains, including a base, on which a workbench is installed, a primary screening mechanism and a secondary screening mechanism are arranged on the workbench, the secondary screening mechanism is located at the left lower side of the primary screening mechanism, and the secondary screening mechanism is located at the left lower side of the primary screening mechanism. A number of transmission devices are arranged on the device. The conveyor pipe corresponds to the conveyor end of the right-most transmission device. The transmission device is equipped with conveyor belts, and a fine sieve is arranged between the adjacent transmission devices. A pair of sieve plates are arranged in the fine sieve device. Each side of the sieve plate has one on the left and right sides and through the locking teeth. The bottom end of the gear is mounted with a rotating shaft, and the bottom end of the rotating shaft is mounted with a micrometer. The micrometer is used to adjust the clearance of the sieve plate to ensure that the electronic grains are graded and screened according to the size.

【技术实现步骤摘要】
一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置
本专利技术涉及一种电子仪器，具体是一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置。
技术介绍
电子仪器是指检测、分析、测试电子产品性能、质量、安全的装置。大体可以概括为电子测量仪器、电子分析仪器和应用仪器三大块，有光学电子仪器、电子元件测量仪器、动态分析仪器等分类。电子晶粒其主要功能是:把电能转化为光能，芯片的主要材料为单晶硅。半导体晶片由两部分组成，一部分是P型半导体，在它里面空穴占主导地位，另一端是N型半导体，在这边主要是电子。但这两种半导体连接起来的时候，它们之间就形成一个P-N结；当电流通过导线作用于这个晶片的时候，电子就会被推向P区，在P区里电子跟空穴复合，然后就会以光子的形式发出能量，这就是LED发光的原理。而光的波长也就是光的颜色，是由形成P-N结的材料决定的。现有电子元件技术对于电子筛选主要采用震动过滤筛选或者AOI检测筛选，震动过滤筛选无法精确的区分晶粒的大小，同时易造成晶粒的损伤，AOI检测时采用摄像放大技术，对晶粒的大小进行判断，虽然精确度高，但是效率低下，成本高昂。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，包括基座，所述的基座上安装有作业台，所述的作业台上设有初级筛选机构和二级筛选机构。所述的初级筛选机构的顶端安装有入料斗，入料斗的底端安装有降温管，所述降温管的左右两侧均设有冷却器，所述的入料斗的底端设有筛选腔，所述的入料斗的出料口处连接有去杂腔，去杂腔的底端连接有细导管，所述的细导管伸入筛选腔中，所述的筛选腔的左侧安装有吹分机，所述的筛选腔的右侧安装有静电集料袋，所述的吹分机的吹风口与静电集料袋的入料口相对应，所述的筛选腔的下方设有集料斗，所述的集料斗与筛选腔之间设有精密滤网，所述的集料斗的底端设有输料管。初级筛选机构起到除杂、降尘、粗筛得效果，为后续的精密筛选作准备。作为本专利技术进一步的方案：所述的二级筛选机构位于初级筛选机构的左下侧位置，所述的二级筛选机构上设有若干道传动装置，所述的输料管与最右侧的传动装置的输料端相对应，所述的传动装置上均设有传送带，相邻的传动装置之间均设有精筛器，所述的精筛器中设有一对筛板，所述的筛板左右两侧各有一个，左右两侧的筛板的底端均连接有连接杆，所述的连接杆一端均安装在筛板上，连接杆的一端均连接有齿条，所述的齿条的内平面均设有锁合齿，所述的左右两侧的齿条之间均设有齿轮，所述的左右两侧的齿条均通过锁合齿相嵌合，所述的齿轮的底端安装有转轴，所述的转轴的底端安装有千分尺。利用千分尺对筛板的间隙进行调节，保证电子晶粒根据尺寸的大小进行分级筛选。作为本专利技术进一步的方案：所述的输料管的直径小于两个电子晶体的直径总和，确保电子晶体每次单片通过。作为本专利技术进一步的方案：所述的左右两侧的筛板之间均存在间隙，所述的筛板的底端均设有下料斗，下料斗的底端均设有软管，所述的软管的底端均连接有静电集料盒，对电子晶体进行收集并确保晶体的安全性。作为本专利技术进一步的方案：所述的筛板与传送带位于同一水平面上，确保筛选的精密性。作为本专利技术进一步的方案：所述的传动装置的倾斜角度要求最小不低于10°，最大不超过15°，符合工艺标准需求，保证晶体的重力分力与传送带摩擦力相抵消，以惯性速度进入传动装置。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：对于不同工艺大小的电子晶粒进行区分，使用传统的滤网筛选的方式将粗工艺制作的电子晶粒筛选出，再使用千分尺调节传动齿轮，进而调节精筛器的精度，对于精工艺制作的电子晶粒根据尺寸的大小进行分级筛选，同时整个装置能有效的避免震动、摩擦、静电对电子晶粒造成的损伤。附图说明图1为本专利技术的结构示意图。图2为本专利技术中筛板与传送带的连接示意图。图3为本专利技术中精筛器的结构示意图。图中：1-基座、2-作业台、3-初级筛选机构、4-二级筛选机构、5-入料斗、6-降温管、7-冷却器、8-去杂腔、9-细导管、10-筛选腔、11-吹分机、12-静电集料袋、13-精密滤网、14-集料斗、15-输料管、16-传动装置、17-传送带、18-精筛器、19-筛板、20-间隙、21-下料斗、22-软管、23-静电集料盒、24-导料斜板、25-连接杆、26-齿条、27-锁合齿、28-齿轮、29-转轴、30-千分尺。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1～3，本专利技术实施例中，一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，包括基座1，所述的基座1上安装有作业台2，所述的作业台2上设有初级筛选机构3和二级筛选机构4。请参阅图1，所述的初级筛选机构3的顶端安装有入料斗5，入料斗5的底端安装有降温管6，所述降温管6的左右两侧均设有冷却器7，所述的入料斗5的底端设有筛选腔10，所述的入料斗5的出料口处连接有去杂腔8，去杂腔8的底端连接有细导管9，所述的细导管9伸入筛选腔10中，所述的筛选腔10的左侧安装有吹分机11，所述的筛选腔10的右侧安装有静电集料袋12，所述的吹分机11的吹风口与静电集料袋12的入料口相对应，所述的筛选腔10的下方设有集料斗14，所述的集料斗14与筛选腔10之间设有精密滤网13，所述的集料斗14的底端设有输料管15，初级筛选作业：将工艺制作完毕的电子晶粒使用传输结构从入料斗5内，输送至降温管6内，降温管6的左右两侧均设有冷却器7，对经过注塑等热工艺的电子晶粒进行冷却作用，冷却完毕后，电子晶粒再从降温管6进入去杂腔8，去杂腔8的底端连接有细导管9，对电子晶粒作除杂筛选，排除工艺屑、静电皮等杂物，电子晶粒通过细导管9进入筛选腔10，筛选腔10的底端设有精密滤网13，精密滤网13对电子晶粒初级筛选，将粗工艺制作的尺寸较大的电子晶粒进行拦截，让精细工艺制作的尺寸较小的电子晶粒穿过精密滤网13下落至集料斗14中，筛选腔10的左侧安装有吹分机11，所述的筛选腔10的右侧安装有静电集料袋12，吹分机11将未通过初级筛选的电子晶粒吹入静电集料袋12中收集，静电集料袋12设有静电线，有效的防止摩擦静电造成电子晶粒的损坏，穿过精密滤网13的电子晶粒从集料斗14的底端逐个落入输料管15中，输料管15的直径小于两个电子晶体的直径总和，确保电子晶粒呈单个通过，以保证后续分级精密筛选的准确性，电子晶粒由输料管15滑落至传动装置16。请参阅图2和图3，所述的二级筛选机构4位于初级筛选机构3的左下侧位置，所述的二级筛选机构4上设有若干道传动装置16，所述的输料管15与最右侧的传动装置16（第一级传动装置）的输料端相对应，所述的传动装置16上均设有传送带17，相邻的传动装置16之间均设有精筛器18，所述的精筛器18中设有一对筛板19，所述的筛板19左右两侧各有一个，左右两侧的筛板19的底端均连接有连接杆25，所述的连接杆25一端均安装在筛板19上，连接杆25的一端均连接有齿条26，所述的齿条26的内平面均设有锁合齿27，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，包括基座（1），所述的基座（1）上安装有作业台（2），所述的作业台（2）上设有初级筛选机构（3）和二级筛选机构（4），其特征在于，所述的二级筛选机构（4）上设有若干道传动装置（16），所述的传动装置（16）上均设有传送带（17），相邻的传动装置（16）之间均设有精筛器（18），所述的精筛器（18）中设有一对筛板（19），所述的筛板（19）左右两侧各有一个，左右两侧的筛板（19）的底端均连接有连接杆（25），所述的连接杆（25）一端均安装在筛板（19）上，连接杆（25）的一端均连接有齿条（26），所述的齿条（26）的内平面均设有锁合齿（27），所述的左右两侧的齿条（26）之间均设有齿轮（28），所述的左右两侧的齿条（26）均通过锁合齿（27）相嵌合，所述的齿轮（28）的底端安装有转轴（29），所述的转轴（29）的底端安装有千分尺（30），所述的左右两侧的筛板（19）之间均存在间隙（20），所述的筛板（19）的底端均设有下料斗（21），下料斗（21）的底端均设有软管（22），所述的软管（22）的底端均连接有静电集料盒（23）。

【技术特征摘要】
1.一种用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，包括基座（1），所述的基座（1）上安装有作业台（2），所述的作业台（2）上设有初级筛选机构（3）和二级筛选机构（4），其特征在于，所述的二级筛选机构（4）上设有若干道传动装置（16），所述的传动装置（16）上均设有传送带（17），相邻的传动装置（16）之间均设有精筛器（18），所述的精筛器（18）中设有一对筛板（19），所述的筛板（19）左右两侧各有一个，左右两侧的筛板（19）的底端均连接有连接杆（25），所述的连接杆（25）一端均安装在筛板（19）上，连接杆（25）的一端均连接有齿条（26），所述的齿条（26）的内平面均设有锁合齿（27），所述的左右两侧的齿条（26）之间均设有齿轮（28），所述的左右两侧的齿条（26）均通过锁合齿（27）相嵌合，所述的齿轮（28）的底端安装有转轴（29），所述的转轴（29）的底端安装有千分尺（30），所述的左右两侧的筛板（19）之间均存在间隙（20），所述的筛板（19）的底端均设有下料斗（21），下料斗（21）的底端均设有软管（22），所述的软管（22）的底端均连接有静电集料盒（23）。2.根据权利要求1所述的用于光电子或微电子晶粒的筛选装置，其特征在于，所述的初级筛选机构（3）的顶端安装有入料斗（5），入料斗（5）的底端安装有降温管（6），所述降温管（6）的左右两侧均设有冷却器（7），所述的入料斗...

【专利技术属性】
技术研发人员：程华风，
申请(专利权)人：合肥连森裕腾新材料科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34