The invention discloses an analysis method of heat flux density of collector. According to Monte Carlo ray tracing method, the method calculates the simulation involving the following four random variables: the conicity angle of sunlight ray when incident, the position of light incident on the reflector, the manufacturing error of the reflector at the incident point, and the tracking error of the tracking system. This method considers the position error of the light field foundation, the change of the solar position in the whole year, the shielding effect between adjacent collectors, the mirror error and the tracking error, and so on. All the factors that may influence the actual light field are reflected in the calculation.
【技术实现步骤摘要】
一种集热器热流密度分析方法
本专利技术属于集热器
,尤其是一种集热器热流密度分析方法。
技术介绍
在光场设备的施工过程中,需要借助软件算法分析影响槽式集热器的光学和能量转化效率的各种因素,用以评估最优的光场设备和施工建造成本,为不同形式集热器或集热回路的可行性提供依据。软件算法的依据为蒙特卡洛法,即当所求解问题是某种随机事件出现的概率,或者是某个随机变量的期望值时,通过某种“实验”的方法,以这种事件出现的频率估计这一随机事件的概率,或者得到这个随机变量的某些数字特征,并将其作为问题的解。本分析方法涉及的计算原理为蒙特卡洛光线追踪法,计算光线自入射到反射镜、反射镜反射后射到集热管的过程,认为轴向无变化。计算涉及到四个随机量:第一个随机量是入射时太阳光光线锥度角,N条光线将有N个随机的锥度角,在太阳光锥角-0.26°到0.26°范围内平均分布。第二个随机量是光线入射在反射镜上的位置,认为入射点在水平方向即x方向平均分布。第三个随机量是入射点位置反射镜的制造误差,该误差服从均值为零的正态分布。第四个随机量是跟踪系统跟踪误差,服从均值为零的平均分布。当入射光线数目足够多时,最后的光线反射将接近真实情况。在现有技术中,存在以下几个问题:1、对于漏光光线的求解,目前学术界对反射光照射到集热管上时漏光的求解一般先通过几何推导,确定漏光光线的几何条件,然后排除掉,非常繁琐,而且对于变形后的抛物线式反射镜(安装误差或风力导致),无法使用基于抛物线特征的几何理论。2、缺少对于非标准抛物线方程的求解,目前无任何论文提出变形后非抛物线反射镜的计算。3、对于集热管为椭圆形条件 ...
【技术保护点】
1.一种集热器热流密度分析方法,其特征在于:依据蒙特卡洛光线追踪法,计算涉及以下四个随机量的模拟:入射时太阳光光线锥度角、光线入射在反射镜上的位置、入射点位置反射镜的制造误差,和跟踪系统跟踪误差,步骤一、根据输入的时刻、经纬度、地基误差计算太阳位置,确定入射角;同时计算出排遮阳系数、IAM、ANI、末端损失和跟踪角等;步骤二、确定入射的N条光线的阳光锥角;步骤三、确定入射光在反射镜上位置;步骤四、确定入射点反射镜制造误差;步骤五、联立入射光方程y=kx+b和反射镜方程y=(x+tp)^2/4p+c,求出入射点位置(x0,y0),求导反射镜方程得到该位置的切线的斜率k0,k0+M为考虑反射镜制造误差后的斜率,1/(k0+M)为反射镜在该点的法线斜率。入射光与法线夹角等于反射光与法线夹角,以此计算出反射光斜率。由点线法,可求出反射光的几何方程y=k’x+b’;步骤六、联立反射光方程y=k’x+b’和集热管方程(x+t1)^2/a^2+(y+t2)^2/b^2=1,求出的解为反射光入射到集热管上的位置点坐标;步骤七、统计光线携带能量,计算出集热管上热流分布,将反射光打到集热管上的坐标(x,y ...
【技术特征摘要】
1.一种集热器热流密度分析方法,其特征在于:依据蒙特卡洛光线追踪法,计算涉及以下四个随机量的模拟:入射时太阳光光线锥度角、光线入射在反射镜上的位置、入射点位置反射镜的制造误差,和跟踪系统跟踪误差,步骤一、根据输入的时刻、经纬度、地基误差计算太阳位置,确定入射角;同时计算出排遮阳系数、IAM、ANI、末端损失和跟踪角等;步骤二、确定入射的N条光线的阳光锥角;步骤三、确定入射光在反射镜上位置;步骤四、确定入射点反射镜制造误差;步骤五、联立入射光方程y=kx+b和反射镜方程y=(x+tp)^2/4p+c,求出入射点位置(x0,y0),求导反射镜方程得到该位置的切线的斜率k0,k0+M为考虑反射镜制造误差后的斜率,1/(k0+M)为反射镜在该点的法线斜率。入射光与法线夹角等于反射光与法线夹角,以此计算出反射光斜率。由点线法,可求出反射光的几何方程y=k’x+b’;步骤六、联立反射光方程y=k’x+b’和集热管方程(x+t1)^2/a^2+(y+t2)^2/b^2=1,求出的解为反射光入射到集热管上的位置点坐标;步骤七、统计光...
【专利技术属性】
技术研发人员:官景栋,李翔,
申请(专利权)人:天津滨海光热跟踪技术有限公司,
类型:发明
国别省市:天津,12
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