测试座单元制造技术

本发明专利技术揭示一种用于电性连接测试目标与测试电路装置的测试座单元。所述测试座单元包括：多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的所述表面上；座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针；浮动板，被配置成包括销引导孔，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离。

Test base unit

The invention discloses a test base unit for electrical connection test target and test circuit device. The test seat unit includes: a plurality of support locking pins configured to be statically mounted on the surface of the test substrate; a seat body configured to support a plurality of probes for signal transmission; a floating plate configured to include a pin guiding hole, the support locking pin inserted in the pin guiding hole; and an elastic structure. The device is configured to be sandwiched between the seat body and the floating plate, and at least one locking member is configured to include a locking portion that engages the locking engagement portion and is prevented from upward separation by the locking stop.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试座单元
本专利技术涉及一种用于电性连接测试目标与测试电路装置的测试座单元。
技术介绍
使用用于测试半导体芯片的测试座来电性连接半导体芯片的端子与用于施加测试信号的测试电路装置的基板上的接触点(垫)。此种测试座包括用于电性连接于半导体芯片的端子与测试电路装置的基板上的接触点之间的内置测试探针。为了稳定地施行所述测试，通过螺栓等紧固方法来将测试座耦合至测试电路装置的基板。偶尔地，可能会因维护等原因而需要将通过此种紧固方法耦合的测试座自基板分离。然而，松开所紧固的螺栓，将测试座自基板分离并使用紧固螺栓来将一新的或现有的测试座耦合至基板非常不便。
技术实现思路
技术问题一或多个示例性实施例提供一种测试座单元，通过所述测试座单元，测试座更容易被锁定至测试电路装置的基板以及自所述测试电路装置的所述基板解锁。技术解决方案根据示例性实施例的方案，提供一种欲被锁定至测试电路装置的测试基板的测试座单元，所述测试座单元包括：多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的所述表面上，并自所述测试基板的所述表面向上突出，并且沿突出方向在端部部分处包括锁定啮合部及锁定止挡件；座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针且包括销贯穿孔，所述支撑锁定销穿过所述销贯穿孔；浮动板，被配置成包括销引导孔，且在浮动于距所述座主体预定高度处的同时耦合至所述座主体的顶表面，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，耦合至所述浮动板，并且能够移动以在所述浮动板被弹性地压抵于所述座主体上的状态下使所述锁定部能够被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离。所述锁定止挡件可包括固持突出部，所述固持突出部较所述锁定啮合部在横向于所述突出方向的方向上延伸更多，所述锁定构件可被支撑于所述浮动板上且沿所述浮动板的表面滑动，且所述锁定部可沿所述浮动板的所述表面被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁。所述支撑锁定销可包括在所述突出方向上形成的凹槽且能够在被锁定至所述锁定部以及自所述锁定部解锁的同时在横向于所述突出方向的方向上弹性地变形。所述至少一个锁定构件可包括在所述浮动板的两个相对的侧上被排列成面对彼此的一对锁定构件。所述锁定构件与所述浮动板可彼此啮合以容许所述锁定构件滑动。所述锁定构件与所述浮动板中的任一者可包括滑槽，且所述锁定构件与所述浮动板中的另一者可包括被插入于所述滑槽中的引导销。专利技术有益效果根据示例性实施例，所述测试座可容易地被锁定至测试电路装置的基板以及自测试电路装置的基板解锁。附图说明图1是根据示例性实施例的测试座单元的立体图。图2是根据示例性实施例的测试座单元的分解立体图。图3是用于解释根据示例性实施例的测试座单元的运作的图。图4是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之前的部分立体图。图5是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之后的部分立体图。图6及图7是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之前的部分平面图及部分剖视图。图8及图9是根据示例性实施例的测试座单元在锁定之后的部分平面图及部分剖视图。具体实施方式以下，将参照附图详细阐述示例性实施例。图1是根据示例性实施例的测试座单元的立体图，且图2是根据示例性实施例的测试座单元的分解立体图。测试座单元1包括基板10及测试座200。测试座200包括座主体210、浮动板220、弹性构件230及锁定构件240。测试座200电性连接测试目标中的欲被测试的接触点(图中未示出)与测试电路装置的基板10上形成的接触点(图中未示出)。在根据示例性实施例的测试座单元1中，测试座200通过与静止地安装于基板10上的支撑锁定销100耦合而被锁定至测试电路装置。基板10经由测试座200将电性测试信号、功率等自测试电路装置(图中未示出)传送至测试目标(图中未示出)。基板10经由测试座200自测试目标接收电性信号。基板10包括多个垫(图中未示出)来与测试座200的探针(图中未示出)的第一端部接触。基板10包括自基板10的表面向上突出且与座200耦合的多个支撑锁定销100。支撑锁定销100包括沿突出方向形成的锁定啮合部110及锁定止挡件120。锁定止挡件120包括固持突出部140，固持突出部140较锁定啮合部110在横向于所述突出方向的方向上延伸更多。举例而言，可通过使锁定啮合部110自锁定止挡件120后退而形成固持突出部140。支撑锁定销100沿突出方向被凹槽130分成两部分。凹槽130能够在横向于所述突出方向的方向上弹性地变形。参照图1及图2，支撑锁定销100被一个凹槽130分成两部分，但并非仅限于此。作为另外一种选择，支撑锁定销100可被分成三部分或更多。支撑锁定销100被锁定至此后将阐述的测试座200的锁定构件240以使得基板10与测试座200能够彼此耦合。测试座200包括座主体210、浮动板220、弹性构件230、锁定构件240、紧固构件250及引导销260。测试座200包括支撑于座主体210内部的多个探针(图中未示出)以电性连接测试目标与基板10。座主体210被塑形成像在其中心处具有像岛屿一样的探针支撑件214的矩形板一样。尽管图2中未说明，然而探针支撑件214支撑所述多个探针(图中未示出)。座主体210包括：销贯穿孔211，位于探针支撑件214外部且容许支撑锁定销100穿过；弹性构件容置凹槽212，用于接纳弹性构件230的第一端部；以及紧固构件耦合孔213，用于与紧固构件250耦合。销贯穿孔211形成于座主体210的每一向外的隅角部分处以被支撑锁定销100穿透。销贯穿孔211的数目被设置成与支撑锁定销100的数目一样多。弹性构件容置凹槽212形成于座主体210的顶表面上且向上开口以接纳弹性构件230的一个侧。因此，弹性构件230的第一端部与弹性构件容置凹槽212的底部接触且支撑于弹性构件容置凹槽212的底部上。弹性构件230的第二端部插入于在浮动板220的底表面上形成的弹性构件容置凹槽(图中未示出)中。通过耦合至紧固构件耦合孔213，紧固构件250使得浮动板220在正在浮动时耦合至座主体210。举例而言，紧固构件250可通过螺栓等结构达成，所述螺栓等结构具有较耦合孔213大的头部、穿过耦合孔213的本体及在本体的端部部分上形成的螺纹。浮动板220被塑形成像其中心被开口的矩形板一样。浮动板220的开口的中心容置有座主体210的矩形探针支撑件214。浮动板220包括：销引导孔221，支撑锁定销100插入于销引导孔221中；紧固构件贯穿孔222，紧固构件250穿过紧固构件贯穿孔222；引导销耦合孔223，引导销260耦合至引导销耦合孔223；以及切割部224，用于容置锁定构件240的控制突出部244。销引导孔221形成于浮动板220的每一隅角部分处并接纳支撑锁定销100的端部部分。销引导孔221的数目与支撑锁定销110的数目对应。紧固构件贯穿孔222容置有用于耦合座主体210与浮动板220的紧固构件250的本体。引导销耦合孔223与此后将阐述的引导销260的第一端部耦合。引导销耦合孔223可在内部形成有螺纹。引导销260在引导销260插入于此后将阐述的锁定构件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种欲被锁定至测试电路装置的测试基板的测试座单元，所述测试座单元包括：多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的所述表面上，并自所述测试基板的所述表面向上突出，并且沿突出方向在端部部分处包括锁定啮合部及锁定止挡件；座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针且包括销贯穿孔，所述支撑锁定销穿过所述销贯穿孔；浮动板，被配置成包括销引导孔，且在浮动于距所述座主体预定高度处的同时耦合至所述座主体的顶表面，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，耦合至所述浮动板，并且能够移动以在所述浮动板被弹性地压抵于所述座主体上的状态下使所述锁定部能够被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻止向上分离。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.03.30 KR 10-2016-00384951.一种欲被锁定至测试电路装置的测试基板的测试座单元，所述测试座单元包括：多个支撑锁定销，被配置成静止地安装于所述测试基板的所述表面上，并自所述测试基板的所述表面向上突出，并且沿突出方向在端部部分处包括锁定啮合部及锁定止挡件；座主体，被配置成支撑多个用于信号传输的探针且包括销贯穿孔，所述支撑锁定销穿过所述销贯穿孔；浮动板，被配置成包括销引导孔，且在浮动于距所述座主体预定高度处的同时耦合至所述座主体的顶表面，所述支撑锁定销插入于所述销引导孔中；弹性构件，被配置成夹置于所述座主体与所述浮动板之间；以及至少一个锁定构件，被配置成包括锁定部，耦合至所述浮动板，并且能够移动以在所述浮动板被弹性地压抵于所述座主体上的状态下使所述锁定部能够被锁定至所述锁定啮合部以及自所述锁定啮合部解锁，所述锁定部啮合所述锁定啮合部且被所述锁定止挡件阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙樟烈，
申请(专利权)人：李诺工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR