谷类的精磨度评价方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供能够抑制糠部分与胚乳部分之间的误识别，而且没有个人差异的谷类的精磨度评价方法及其装置。谷类的精磨度评价方法具备：染色步骤，使用染色液对谷粒进行染色；照射步骤，对谷粒照射光；图像获取步骤，获取被照射光的谷粒的图像；以及精磨度判别步骤，针对构成由图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应，并在与糠部分对应的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由多个像素构成的图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒。

Evaluation Method and Device of Grain Precision Grinding

The present invention provides a method and device for evaluating the grindability of cereals, which can suppress the misidentification between the bran part and the endosperm part without personal difference. The evaluation methods of grain grinding degree include: dyeing steps, dyeing grains with dye solution; irradiation steps, irradiating grains; image acquisition steps, obtaining the image of the irradiated grains; and grinding degree discrimination steps, aiming at the multiple images that constitute the image of a grain obtained by image acquisition steps. Each element is distinguished from the bran part or the endosperm part based on a pre-determined benchmark. When there are more than a specified number or a specified proportion of the corresponding pixels in the bran part, it is determined that the grain corresponding to the image composed of multiple pixels is a refined bad grain with residual bran.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】谷类的精磨度评价方法及其装置
本专利技术涉及谷类的精磨度评价方法及其装置。
技术介绍
以往，已知若去除谷粒的外皮而制成精白粒则会提高消化吸收、口感。在米粒的情况下，通过将作为原料的糙米供给给精米机进行精磨(精白)来进行除糠，从而加工成精白米。而且，将糙米加工成精白米时的成品率，即精加工精白米相对于糙米的重量比例在产品上有所显示。该成品率也与精白米的白的程度具有关联。即，随着精米逐渐变多，米粒的重量减少(重量减少去除糠层的量。将此时的糠的去除比例称为成品率、或精磨程度、或精白程度。以下，统称为“精磨度”)，另一方面若从糙米去除糠层，则随着接近胚乳部(向白米过渡)，米粒表面的颜色的白(以下，称为“白度”)增加。在将糙米加工成精白米时的精白的程度能够通过这些精磨度和白度来进行评价。然而，根据精米机的种类、性能或精米方法，有时即使是相同的精磨度，白度也会不同，或者即使是白度相同，精磨度也会不同。认为该差异是由碎米率、糠层的剥离程度所引起的。作为评价糙米的糠层的剥离程度的方法，已知作为化学评价的方法的利用新MG试剂(以下，称为“NMG染色液”)的米粒的染色法，已经在研究机构、精米工厂等实施。该试剂将糙米的果皮，将种皮部染成绿色，将糊粉层染成蓝色，并将胚乳部染成粉色。然而，由于该评价方法依赖于人的目视来评价糠层的剥离程度的微妙的差异，所以未必获得准确的评价。因此，开发了专利文献1所记载的米粒的加工精度判定方法。该方法具备：(A)使用NMG染色液对米粒进行染色的染色步骤；(B)将米粒供给给测量部的移送步骤；(C)在测量部对米粒照射光的照射步骤；(D)检测来自被照射的米粒的反射光以及透过光中的至少一个光的光量的光量检测步骤；以及(E)基于在光量检测步骤中检测出的光量来运算米粒的精磨度的运算步骤。该方法具备使用NMG染色液对米粒进行染色的染色步骤和光量检测步骤，从而与米粒表面的性状或米粒个体的颜色无关，总是根据精白加工的程度也就是精磨度使米粒呈现颜色。因此，能够通过单一的光量测量进行准确的米粒的精磨度判定。然而，在上述专利文献1中，通过由分光测量部检测出的红色光量和绿色光量这两个检测光，或者由分光测量部检测出的红色光量和蓝色光量这两个检测光(也就是由两个波长定义的二维的光)来计算精磨程度。因此，有可能进行糠的附着的误识别。具体而言，通过对米粒进行精磨加工来进行除糠，并从米粒表面剥落糠。该糠片若再次附着在胚乳部上，则尽管已通过精磨去除糠，但被除糠的胚乳部的部分有可能被误识别为“果皮部、种皮部或者糊粉层部”。专利文献1：日本特开平4－95756号公报鉴于上述问题，针对通过精磨去除糠的谷粒，期望抑制糠部分与胚乳部分之间的误识别。另外，期望提供没有个人差异的谷类的精磨度评价方法及其装置。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述课题的至少一部分而完成的，例如，可以作为以下方式来实现。根据本专利技术的第一方式，提供谷类的精磨度评价方法。该方法具备：染色步骤，使用染色液对谷粒进行染色；照射步骤，对谷粒照射光；图像获取步骤，获取被照射光的谷粒的图像；以及精磨度判别步骤，针对构成由图像获取步骤获取到的构成谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应，并在与糠部分对应的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由多个像素构成的图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒。根据第一方式，通过对构成谷粒一粒的图像的多个像素的每个进行评价，能够实现准确的精磨度评价。根据本专利技术的第二方式，在第一方式中，图像获取步骤具备针对构成谷粒的图像的多个像素的每个，获取R波长成分、G波长成分、B波长成分的步骤。将R波长成分、G波长成分以及B波长成分包括在内而设定基准。根据第二方式，利用与人的目视接近的RGB表色系统颜色空间来判别精磨度。因此，即使在胚乳部上附着剥落的糠片，也不会被误识别为“果皮、种皮部或者糊粉层部”，能够进行准确的精磨度评价。另外，能够实现没有个人差异的谷类的精磨度评价方法。根据本专利技术的第三方式，在第二方式中，谷类的精磨度评价方法具备：RGB表色系统数据获取步骤，针对对于精磨度已知的谷粒的样本利用与染色步骤、照射步骤以及图像获取步骤相同的方法获取到的图像，按照每个像素获取包括R波长成分、G波长成分和B波长成分的RGB表色系统数据；三维颜色空间创建步骤，在将R、G、B的各表色轴设为正交坐标的三维颜色空间上标绘在该RGB表色系统数据获取步骤中获取到的RGB表色系统数据；以及基准设定步骤，将在三维颜色空间中由判别函数定义的面设定为基准。在精磨度判别步骤中，针对构成由图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，使用判别函数来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应。根据本专利技术的第四方式，在第一～第三任意一个方式中，谷类的精磨度评价方法在精磨度判别步骤的后期阶段还具备按照多等级对精磨不良粒进行分级的等级评价步骤。根据本专利技术的第五方式，提供谷类的精磨度评价装置。该谷类的精磨度评价装置具备：拍摄装置，获取使用染色液进行了染色的谷粒的表面的图像；以及运算装置，根据由该拍摄装置获取到的谷粒的图像来运算谷粒的精磨度。运算装置具备精磨度判别部，精磨度判别部针对构成由拍摄装置获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应。根据本专利技术的第六方式，在第五方式中，精磨度判别部在与糠部分对应的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由多个像素构成的图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒。根据本专利技术的第七方式，在第五或者第六方式中，拍摄装置针对构成谷粒的图像的多个像素的每个，获取R波长成分、G波长成分、B波长成分。将R波长成分、G波长成分以及B波长成分包括在内而设定基准。根据本专利技术的第八方式，在第七方式中，运算装置具备：RGB表色系统数据获取部，针对构成由拍摄装置获取到的一粒谷粒的图像的多个像素的每个，获取包括R波长成分、G波长成分和B波长成分的RGB表色系统数据；三维颜色空间创建部，在将R、G、B的各表色轴设为正交坐标的三维颜色空间上标绘由RGB表色系统数据获取部获取到的RGB表色系统数据；基准设定部，将在三维颜色空间中由判别函数定义的面设定为基准。精磨度判别部针对构成由拍摄装置获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，使用判别函数来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应。根据本专利技术的第九方式，在第五～第八任意一个方式中，运算装置还具备按照多等级对精磨不良粒进行分级的等级评价部。附图说明图1是表示用于实施根据本专利技术的一个实施方式的精磨度评价方法的米粒的判别装置的结构的示意性说明图。图2是用于实施根据本专利技术的一个实施方式的米粒的精磨度评价方法的流程图。图3是用于实施现有的米粒的精磨度评价方法的流程图。图4是用于实施根据本专利技术的一个实施方式的米粒的精磨度评价方法的测量流程图。图5是图像获取以及运算处理所涉及的详细的运算流程图。图6是在三维颜色空间上对按照每个像素获取到的R波长成分、G波长成分以及B波长成分进行标绘的图。图7是米粒的精磨度评价的运算结果的一个例子。图8是将米粒的精磨度评价的运算结果显示在显示部的一个例子。具体实施方式以下，参照附图对用于实施本专利技术的方式进行说明。图1是表示用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种谷类的精磨度评价方法，具备：染色步骤，使用染色液对谷粒进行染色；照射步骤，对所述谷粒照射光；图像获取步骤，获取被照射所述光的谷粒的图像；以及精磨度判别步骤，针对构成由所述图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应，并在与糠部分对应的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由所述多个像素构成的所述图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.03.31 JP 2016-0704311.一种谷类的精磨度评价方法，具备：染色步骤，使用染色液对谷粒进行染色；照射步骤，对所述谷粒照射光；图像获取步骤，获取被照射所述光的谷粒的图像；以及精磨度判别步骤，针对构成由所述图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的多个像素的每个，基于预先决定的基准来区分是与糠部分对应还是与胚乳部分对应，并在与糠部分对应的像素存在规定数以上或者规定比例以上时，判别为与由所述多个像素构成的所述图像对应的谷粒是有残留糠的精磨不良粒。2.根据权利要求1所述的谷类的精磨度评价方法，其中，所述图像获取步骤具备针对构成所述谷粒的图像的多个像素的每个获取R波长成分、G波长成分、B波长成分的步骤，将所述R波长成分、所述G波长成分以及所述B波长成分包括在内而设定所述基准。3.根据权利要求2所述的谷类的精磨度评价方法，具备：RGB表色系统数据获取步骤，针对对于精磨度已知的谷粒的样本利用与所述染色步骤、所述照射步骤以及所述图像获取步骤相同的方法获取到的图像，按照每个像素获取包括R波长成分、G波长成分和B波长成分的RGB表色系统数据；三维颜色空间创建步骤，在将R、G、B的各表色轴设为正交坐标的三维颜色空间上标绘在所述RGB表色系统数据获取步骤中获取到的所述RGB表色系统数据；以及基准设定步骤，将在所述三维颜色空间中由判别函数定义的面设定为所述基准，在所述精磨度判别步骤中，针对构成由所述图像获取步骤获取到的谷粒一粒的图像的所述多个像素的每个，使用所述判别函数来区分是与所述糠部分对应还是与所述胚乳部分对应。4.根据权利要求1～权利要求3中任意一项所述的谷类的精磨度评价方法，其中，在所述精磨度判别步骤的后期阶段还具备按...

【专利技术属性】
技术研发人员：内田和也，
申请(专利权)人：株式会社佐竹，
类型：发明
国别省市：日本,JP