Disclosed are three-dimensional microstructural devices and related manufacturing methods, which have basically perfect alignment and leveling of three-dimensional microstructures relative to substrates with multiple discrete electrodes. The seed layer is deposited on the discrete electrodes of the substrate, and the three-dimensional microstructures are adjacent to the seed layer. Basically uniform sacrificial layers are deposited on exposed surfaces of three-dimensional microstructures. Multiple first gaps exist between the corresponding regions of the seed layer and the sacrificial layer. The conductive layer is deposited to fill the first gap. The sacrificial layer is dissolved to generate multiple second gaps between the conductive layer and the corresponding region of the three-dimensional microstructures. The second clearance is basically uniform.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于三维微结构的组装过程政府支持本专利技术是在由国防高级研究计划局授予的批准号为W31P4Q-11-1-0002的政府支持下作出的。政府对本专利技术享有一定权利。对相关申请的交叉引用本申请要求于2016年2月29日提交的美国临时申请号62/301,049的权益。上述申请的全部公开内容通过引用并入本文。
本公开内容涉及用于三维微结构的组装过程。
技术介绍
微机电系统(“MEMS”)技术的最新进展已经导致在如下的各种应用中的高性能传感器和致动器的成功商业化,包括运动传感、无线通信、能量收集以及医疗保健。微组装过程通常用来生产复杂的微传感器和致动器。然而,微组装过程具有明显的局限性。例如,微组装过程的吞吐量低于批量制造方法的吞吐量。另外,对高性能电容传感器和致动器的生产来说,微组装过程的对准精度较差。此外,优选地,待对准的对象具有对准标记并且在组装期间在显微镜下可观察到。然而,在许多情况下,由于使用了微制造过程,不能将对准标记图案化到对象上。另外,在微制造期间,待对准的对象通常被其他对象覆盖,导致对象在组装期间不可观察。夹具用于对准在显微镜下难以观察到的对象。然而,夹具必须与对象精确地对准,并且使用传统的对准工具难以达到高对准精度。此外,由于各个部件的制造过程的低可靠性,微组装的器件在器件之间的标秤电容方面具有大的差异,以及在单个器件中的电极之间的电容值方面具有较差的均匀性。例如,不准确的对准和低电容均匀性会对微壳速率积分陀螺仪的功能产生负面影响。微壳速率积分陀螺仪包括锚固在具有多个电极的衬底上用于电容性地致动和感测壳谐振器的振动模式的微尺度壳谐振器。理想地,高 ...
【技术保护点】
1.一种制造微结构器件的方法,所述方法包括:在衬底上形成微结构,其中,所述衬底包括多个分立电极,所述微结构与所述分立电极相邻地形成,并且多个第一间隙存在于所述微结构与所述分立电极之间;将基本上均匀的牺牲层沉积到所述微结构的暴露表面上;将多个导电层沉积到所述分立电极上以填充所述第一间隙;以及溶解所述牺牲层以释放所述微结构,其中,所述牺牲层的溶解在所述微结构与所述导电层之间产生多个第二间隙,每个第二间隙的宽度小于对应的第一间隙的宽度,并且所述多个第二间隙中的第二间隙彼此基本上均匀。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.02.29 US 62/301,0491.一种制造微结构器件的方法,所述方法包括:在衬底上形成微结构,其中,所述衬底包括多个分立电极,所述微结构与所述分立电极相邻地形成,并且多个第一间隙存在于所述微结构与所述分立电极之间;将基本上均匀的牺牲层沉积到所述微结构的暴露表面上;将多个导电层沉积到所述分立电极上以填充所述第一间隙;以及溶解所述牺牲层以释放所述微结构,其中,所述牺牲层的溶解在所述微结构与所述导电层之间产生多个第二间隙,每个第二间隙的宽度小于对应的第一间隙的宽度,并且所述多个第二间隙中的第二间隙彼此基本上均匀。2.根据权利要求1所述的方法,还包括:将多个种子层沉积到所述分立电极上,其中,所述微结构与所沉积的种子层相邻地沉积,并且所述第一间隙被限定在所述种子层与所述分立电极之间。3.根据权利要求1所述的方法,其中,使用化学汽相沉积来沉积所述多个导电层。4.根据权利要求1所述的方法,其中,使用电镀技术来沉积所述多个导电层。5.根据权利要求1所述的方法,其中,每个导电层的沉积持续,直到相应的导电层与所述牺牲层的对应区域相接触为止。6.根据权利要求1所述的方法,其中,每个导电层在对应的第一间隙内的沉积持续,直到相应的导电层与所述牺牲层的对应区域相接触为止。7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述导电层选自于包括下列的组:铜、镍、锡、铟、锌、金、银、铂、铑、铅、钯、锌、锌镍、钯镍、钯钴、铁、不锈钢、钯钴、铬、黄铜、镉、铱、镍铬、铁铬镍、钨、钼、锗、铝、钌、锡铅、钛、铝钛、镉钛、碳、氧化锌、砷化硅镓、磷化镓、砷化铟、锑化铟、硫化铟、硫化铅、碲化镉、硒化镉、硒化锌、碲化锌、硒化锌镉、碲化镉锌、硫化镉、硫化铜、硒化铟、硒化铜铟、碲化汞镉、氧化钛、氧化钨、氧化铜、氧化铅和它们的组合。8.根据权利要求1所述的方法,其中,使用选自于包括下列的组的过程来溶解所述牺牲层:干蚀刻、湿蚀刻、燃烧、熔融、研磨、离子轰击和它们的组合。9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述微结构是三维微壳谐振器并且具有中空的半环形状。10.根据权利要求1所述的方法,其中,所述衬底还包括当所述微结构耦接到所述衬底时支承所述微结构的至少一部分的找平层。11.根据权利要求1所述的方...
【专利技术属性】
技术研发人员:哈利勒·纳杰菲,赵在隆,
申请(专利权)人:密执安州立大学董事会,
类型:发明
国别省市:美国,US
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