一种电路板元件测量检具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电路板元件测量检具，包括表头探针、平台、调节螺丝和定位凸台，所述表头探针设置在千分表一端，所述千分表连接在固定架一侧，所述固定架设在平台支座一端，所述平台支座顶端中心开设有凹槽，所述凹槽内放置有平台，所述平台底部对应有调节孔，所述调节孔设置在平台支座中间，且调节孔内连接有调节螺丝，所述调节螺丝顶端与平台底部活动连接；本实用新型专利技术通过设置的表头探针，电路板元器件在检测时，利用一个千分表的量杆测头做测试的探针，测试平台设置在平台支座的凹槽内，可以上下调节，这样便能测量不同厚度的电路板，适用性强，操作方便，成本低，且使用寿命长，能更好的应用于电路板元件位置尺寸的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板元件测量检具
本技术涉及电路板元器件焊接位置的测量，具体为一种电路板元件测量检具。
技术介绍
随着LED技术的大量应用，汽车上的照明和信号灯LED正在逐步取代传统的汽车卤素灯泡，因此电路板被采用，由于一些特殊位置，对电路板上的元件位置尺寸要求比较高，必须要测量元件的位置尺寸，电路板是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体，其中电路板检测治具是用于检测电路板的仪器。随着科技的发展，电路板检测方面也在不断发展，不断进步，但是现在市场上的电路板检测治具用定位装置仍然存在定位不稳定，而且操作起来很麻烦，结构复杂，价格昂贵，另一方面电路板制造元器件多、联机调试复杂，现有手段只是将电路板总成安装于仪器上进行装调，一旦个别元器件出现问题无法实现理论功能，仍需反复拆卸，工作繁琐而且极易造成仪器或其他元器件损坏。因此我们对此做出改进，提出一种电路板元件测量检具。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种电路板元件测量检具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种电路板元件测量检具，包括表头探针、平台、调节螺丝和定位凸台，所述表头探针设置在千分表一端，所述千分表连接在固定架一侧，所述固定架设在平台支座一端，所述平台支座顶端中心开设有凹槽，所述凹槽内放置有平台，所述平台底部对应有调节孔，所述调节孔设置在平台支座中间，且调节孔内连接有调节螺丝，所述调节螺丝顶端与平台底部活动连接，所述平台一端固定连接有定位凸台，所述定位凸台一侧设置有测量基准面。优选地，所述调节螺丝与调节孔内壁之间螺纹连接。优选地，所述固定架通过螺栓固定在平台支座一端。优选地，所述表头探针水平横置在平台支座正上方。优选地，所述平台两端与凹槽内壁之间活动连接。优选地，所述定位凸台和测量基准面为一体成型结构。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术通过设置的表头探针，电路板元器件在检测时，利用一个千分表的量杆测头做测试的探针，测试平台设置在平台支座的凹槽内，可以上下调节，这样便能测量不同厚度的电路板，适用性强，操作方便，成本低，且使用寿命长，能更好的应用于电路板元件位置尺寸的测量。2、本技术通过设置的千分表，千分表是通过齿轮或杠杆将一般的直线位移即直线运动转换成指针的旋转运动，然后在刻度盘上进行读数的长度测量仪，其精准度非常高，对电路板元器件的形状误差以及焊接位置进行高准度的测量。3、本技术通过设置的调节螺丝，调节螺丝与平台底部活动连接，且与调节孔内壁活动连接，便于对平台的高度进行调整，可以测量不同厚度的电路板。附图说明图1为本技术整体结构示意图；图2为本技术俯视结构示意图；图中：1-千分表；2-固定架；3-表头探针；4-平台；5-调节螺丝；6-调节孔；7-凹槽；8-平台支座；9-定位凸台；10-测量基准面。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-2，本技术提供一种技术方案：一种电路板元件测量检具，包括表头探针3、平台4、调节螺丝5和定位凸台9，所述表头探针3设置在千分表1一端，所述千分表1连接在固定架2一侧，所述固定架2设在平台支座8一端，所述平台支座8顶端中心开设有凹槽7，所述凹槽7内放置有平台4，所述平台4底部对应有调节孔6，所述调节孔6设置在平台支座8中间，且调节孔6内连接有调节螺丝5，所述调节螺丝5顶端与平台4底部活动连接，所述平台4一端固定连接有定位凸台9，所述定位凸台9一侧设置有测量基准面10；定位凸台9便于电路板的固定，防止相对平台支座8发生位置的偏移，测量的同时通过测量基准面10进行视野对比，使得电路板元器件焊接位置的测量更加准确。调节螺丝5与调节孔6内壁之间螺纹连接；通过调节螺丝5便于对平台4的高度进行调整，可以测量不同厚度的电路板；固定架2通过螺栓固定在平台支座8一端；表头探针3水平横置在平台支座8正上方；平台4两端与凹槽7内壁之间活动连接；定位凸台9和测量基准面10为一体成型结构；由千分表1和表头探针3可以通过齿轮或杠杆将一般的直线位移即直线运动转换成指针的旋转运动，然后在刻度盘上进行读数的长度测量仪，其精准度非常高，对电路板元器件的形状误差以及焊接位置进行高准度的测量。工作原理：本技术通过将电路板放置在平台4上，利用千分表1和表头探针3进行测试，测试平台4可以上下调节，旋转调节螺丝5将电路板调至与平台4相适应的位置，就可以测量不同厚度的电路板，千分表1是通过齿轮或杠杆将一般的直线位移即直线运动转换成指针的旋转运动，然后在刻度盘上进行读数的长度测量仪，其精准度非常高，对电路板元器件的形状误差以及焊接位置进行高准度的测量，结构简单，操作方便，使用效果好。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路板元件测量检具，包括表头探针(3)、平台(4)、调节螺丝(5)和定位凸台(9)，其特征在于，所述表头探针(3)设置在千分表(1)一端，所述千分表(1)连接在固定架(2)一侧，所述固定架(2)设在平台支座(8)一端，所述平台支座(8)顶端中心开设有凹槽(7)，所述凹槽(7)内放置有平台(4)，所述平台(4)底部对应有调节孔(6)，所述调节孔(6)设置在平台支座(8)中间，且调节孔(6)内连接有调节螺丝(5)，所述调节螺丝(5)顶端与平台(4)底部活动连接，所述平台(4)一端固定连接有定位凸台(9)，所述定位凸台(9)一侧设置有测量基准面(10)。

【技术特征摘要】
1.一种电路板元件测量检具，包括表头探针(3)、平台(4)、调节螺丝(5)和定位凸台(9)，其特征在于，所述表头探针(3)设置在千分表(1)一端，所述千分表(1)连接在固定架(2)一侧，所述固定架(2)设在平台支座(8)一端，所述平台支座(8)顶端中心开设有凹槽(7)，所述凹槽(7)内放置有平台(4)，所述平台(4)底部对应有调节孔(6)，所述调节孔(6)设置在平台支座(8)中间，且调节孔(6)内连接有调节螺丝(5)，所述调节螺丝(5)顶端与平台(4)底部活动连接，所述平台(4)一端固定连接有定位凸台(9)，所述定位凸台(9)一侧设置有测量基准面(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗永军，
申请(专利权)人：上海晶耀光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31