一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置，其结构包括底座、电路测试座、测试探针、探针连接板、旋转杆头、连接杆、锁扣、支撑杆、手柄、前顶板、电仪表，测试探针通过螺丝与探针连接板贯穿连接并且水平设有三个，旋转杆头垂直安装于探针连接板上端并且与连接杆相连接，锁扣设有两个并且下端通过螺丝贯穿于连接杆顶部，锁扣上端通过螺丝与支撑杆相连接，本实用新型专利技术一种集成电路测试装置，在结构上设置了测试探针，并且通过装置中的测试电偶对电路进行测试，然后膨胀空间加强了装置内侧软硬程度，以及通过机体进行减小硬度，从而减小装置在使用时对电路的冲击而导致损坏，从而加强了装置的实用性，加快了工作效率。

An integrated circuit testing device

The utility model discloses an integrated circuit testing device, which comprises a base, a circuit testing base, a testing probe, a probe connecting plate, a rotating rod head, a connecting rod, a locking clasp, a supporting rod, a handle, a front roof plate and an electric instrument. The testing probe is connected through a screw and a probe connecting plate, and is horizontally arranged with three rotating rods. The rotating rod head is vertically mounted on the end of the probe connecting plate and connected with the connecting rod. The lock is provided with two locking devices and the lower end is penetrated through the top of the connecting rod through screws. The upper end of the lock is connected with the supporting rod through screws. The utility model relates to an integrated circuit testing device, which is structurally equipped with a testing probe and passes through the device. The test couple tests the circuit, and then expands the space to strengthen the degree of hardness and softness inside the device, and reduces the hardness through the body, thereby reducing the impact of the device on the circuit in use and resulting in damage, thus enhancing the practicability of the device and speeding up the work efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置
本技术是一种集成电路测试装置，属于电路测试

技术介绍
功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备，功能测试治具应用于模拟、数字、存储器、RF和电源电路，针对每一形式需要相对应的功能测试治具。现有技术公开了申请号为：CN201420058509.7的一种集成电路测试装置，其特征在于导电体包括上焊盘、下焊盘和过孔；印制电路板上设置有多个孔，这些孔彼此不连通，印制电路板经蚀刻工艺去除了表层部分的铜，只保留了构成上焊盘和下焊盘的铜，上焊盘和下焊盘呈圆形；过孔位于上焊盘和下焊盘的中心，过孔是通过沉铜填充等工艺表面被填平，连接上焊盘和下焊盘，并贯穿印制电路板；导电体彼此之间不互相接触，并在导电体表面镀金，但是该现有技术在探针进行测试时，下压，容易使电路造成损坏，使装置实用性降低，影响工作质量。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本技术目的是提供一种集成电路测试装置，以解决现有在探针进行测试时，下压，容易使电路造成损坏，使装置实用性降低，影响工作质量的问题。为了实现上述目的，本技术是通过如下的技术方案来实现：一种集成电路测试装置，其结构包括底座、电路测试座、测试探针、探针连接板、旋转杆头、连接杆、锁扣、支撑杆、手柄、前顶板、电仪表，所述底座为长方体结构并且上端设有测试座，所述测试座上端设有测试探针，所述测试探针通过螺丝与探针连接板贯穿连接并且水平设有三个，所述旋转杆头垂直安装于探针连接板上端并且与连接杆相连接，所述锁扣设有两个并且下端通过螺丝贯穿于连接杆顶部，所述锁扣上端通过螺丝与支撑杆相连接，所述手柄设于支撑杆的后侧，所述前顶板为长方体结构并且安装于连接杆的后侧，所述电仪表垂直安装于底座上端，所述测试探针包括轴柄、交换管、屏障管、翅状管、测试喷嘴、膨胀空间、测试电偶、机体，所述测试电偶设于机体内侧下端并且贯穿于翅状管，所述测试喷嘴上端与翅状管下端相连接，所述屏障管设于机体内侧并且为一体化结构，所述交换管设于屏障管内侧，所述轴柄水平设有两个并且与翅状管贯穿连接。进一步地，所述锁扣通过支撑杆与手柄相连接，所述支撑杆设于前顶板的上端。进一步地，所述旋转杆头为圆柱体结构并且与连接杆在同一中心线上。进一步地，所述前顶板设于探针连接板后侧，所述前顶板安装于底座的上端。进一步地，所述机体上端与探针连接板通过螺丝相连接。进一步地，所述连接杆使用不锈钢材质，具有硬度高，耐腐蚀，不易发生锈迹等效果。进一步地，所述测试探针使用软胶材质，具有硬度低，柔软性高，不易对电路造成损坏。有益效果本技术一种集成电路测试装置，在结构上设置了测试探针，并且通过装置中的测试电偶对电路进行测试，然后膨胀空间加强了装置内侧软硬程度，以及通过机体进行减小硬度，从而减小装置在使用时对电路的冲击而导致损坏，从而加强了装置的实用性，加快了工作效率。附图说明通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：图1为本技术一种集成电路测试装置的结构示意图；图2为本技术一种集成电路测试装置的测试探针剖面结构示意图。图中：底座-1、电路测试座-2、测试探针-3、探针连接板-4、旋转杆头-5、连接杆-6、锁扣-7、支撑杆-8、手柄-9、前顶板-10、电仪表-11、轴柄-301、交换管-302、屏障管-303、翅状管-304、测试喷嘴-305、膨胀空间-306、测试电偶-307、机体-308。具体实施方式为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。请参阅图1、图2，本技术提供一种集成电路测试装置技术方案：其结构包括底座1、电路测试座2、测试探针3、探针连接板4、旋转杆头5、连接杆6、锁扣7、支撑杆8、手柄9、前顶板10、电仪表11，所述底座1为长方体结构并且上端设有测试座2，所述测试座2上端设有测试探针3，所述测试探针3通过螺丝与探针连接板4贯穿连接并且水平设有三个，所述旋转杆头5垂直安装于探针连接板4上端并且与连接杆6相连接，所述锁扣7设有两个并且下端通过螺丝贯穿于连接杆6顶部，所述锁扣7上端通过螺丝与支撑杆8相连接，所述手柄9设于支撑杆8的后侧，所述前顶板10为长方体结构并且安装于连接杆6的后侧，所述电仪表11垂直安装于底座1上端，所述测试探针3包括轴柄301、交换管302、屏障管303、翅状管304、测试喷嘴305、膨胀空间306、测试电偶307、机体308，所述测试电偶307设于机体308内侧下端并且贯穿于翅状管304，所述测试喷嘴305上端与翅状管304下端相连接，所述屏障管303设于机体308内侧并且为一体化结构，所述交换管302设于屏障管303内侧，所述轴柄301水平设有两个并且与翅状管304贯穿连接，所述锁扣7通过支撑杆8与手柄9相连接，所述支撑杆8设于前顶板10的上端，所述旋转杆头5为圆柱体结构并且与连接杆6在同一中心线上，所述前顶板10设于探针连接板4后侧，所述前顶板10安装于底座1的上端，所述机体308上端与探针连接板4通过螺丝相连接，所述连接杆6使用不锈钢材质，具有硬度高，耐腐蚀，不易发生锈迹等效果，所述测试探针3使用软胶材质，具有硬度低，柔软性高，不易对电路造成损坏。本专利所说的测试电偶307由两种不同的导体材料构成的接点，在接点处可产生电动势，这个电动势的大小和方向与该接点处两种不同的导体材料的性质和两接点处的温差有关，所述电仪表11为电力参数测量、电能质量监视和分析、电气设备控制提供解决方案的电力测量及控制设备。在进行使用时先将要测试的电路板放入电路测试座2上端，接着通过手柄9推动支撑杆8使连接杆6与旋转杆头5下压，使装置中的测试探针3接触到电路板，然后通过装置中的机体308与膨胀空间306减小对电路板的缓冲，接着通过测试电偶307进行测试，通过测试喷嘴305与翅状管304将数据进行处理通过电仪表11进行显示。本技术解决了在探针进行测试时，下压，容易使电路造成损坏，使装置实用性降低，影响工作质量的问题，本技术通过上述部件的互相组合，在结构上设置了测试探针，并且通过装置中的测试电偶对电路进行测试，然后膨胀空间加强了装置内侧软硬程度，以及通过机体进行减小硬度，从而减小装置在使用时对电路的冲击而导致损坏，从而加强了装置的实用性，加快了工作效率。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点,对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试装置，其特征在于：其结构包括底座(1)、电路测试座(2)、测试探针(3)、探针连接板(4)、旋转杆头(5)、连接杆(6)、锁扣(7)、支撑杆(8)、手柄(9)、前顶板(10)、电仪表(11)，所述底座(1)为长方体结构并且上端设有测试座(2)，所述测试座(2)上端设有测试探针(3)，所述测试探针(3)通过螺丝与探针连接板(4)贯穿连接并且水平设有三个，所述旋转杆头(5)垂直安装于探针连接板(4)上端并且与连接杆(6)相连接，所述锁扣(7)设有两个并且下端通过螺丝贯穿于连接杆(6)顶部，所述锁扣(7)上端通过螺丝与支撑杆(8)相连接，所述手柄(9)设于支撑杆(8)的后侧，所述前顶板(10)为长方体结构并且安装于连接杆(6)的后侧，所述电仪表(11)垂直安装于底座(1)上端，所述测试探针(3)包括轴柄(301)、交换管(302)、屏障管(303)、翅状管(304)、测试喷嘴(305)、膨胀空间(306)、测试电偶(307)、机体(308)，所述测试电偶(307)设于机体(308)内侧下端并且贯穿于翅状管(304)，所述测试喷嘴(305)上端与翅状管(304)下端相连接，所述屏障管(303)设于机体(308)内侧并且为一体化结构，所述交换管(302)设于屏障管(303)内侧，所述轴柄(301)水平设有两个并且与翅状管(304)贯穿连接。...

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，其特征在于：其结构包括底座(1)、电路测试座(2)、测试探针(3)、探针连接板(4)、旋转杆头(5)、连接杆(6)、锁扣(7)、支撑杆(8)、手柄(9)、前顶板(10)、电仪表(11)，所述底座(1)为长方体结构并且上端设有测试座(2)，所述测试座(2)上端设有测试探针(3)，所述测试探针(3)通过螺丝与探针连接板(4)贯穿连接并且水平设有三个，所述旋转杆头(5)垂直安装于探针连接板(4)上端并且与连接杆(6)相连接，所述锁扣(7)设有两个并且下端通过螺丝贯穿于连接杆(6)顶部，所述锁扣(7)上端通过螺丝与支撑杆(8)相连接，所述手柄(9)设于支撑杆(8)的后侧，所述前顶板(10)为长方体结构并且安装于连接杆(6)的后侧，所述电仪表(11)垂直安装于底座(1)上端，所述测试探针(3)包括轴柄(301)、交换管(302)、屏障管(303)、翅状管(304)、测试喷嘴(305)、膨胀空间(306)、测试电偶(307...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘芳婷，
申请(专利权)人：上海宸聪电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31