一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱制造技术

本实用新型专利技术涉及电气模拟测试技术领域，具体涉及一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，通过在第一接触器模拟回路中串联第二接触器的常闭触点，在第二接触器模拟回路中串联第一接触器的常闭触点，模拟两台断路器的分合闸控制，使用时将检测对象的分闸状态信号接入控制箱的两个检测模拟回路中，将控制箱的两个模拟回路的分闸状态信号接入检测对象对应的操作回路中，模拟两进线一母联开关柜的三选二电气闭锁的工作状态，本实用新型专利技术中两个回路可分别模拟两路进线，实现对进线柜或者母联柜进行逐台试验即可达到验证其全部功能的调试试验目的，集成性高，接线简单，可大幅提高工作效率。

A switch cabinet electrical performance test and debugging test control box

The utility model relates to the technical field of electrical simulation test, in particular to a switchgear electrical performance test and debugging test control box, which simulates two circuit breakers by connecting the normally closed contacts of the second contactor in series in the analog circuit of the first contactor and the normally closed contacts of the first contactor in series in the analog circuit of the second contactor. The switching-on control, when used, connects the switching-off state signal of the detected object into the two detecting analog circuits of the control box, connects the switching-off state signal of the two analog circuits of the control box into the corresponding operating circuit of the detected object, and simulates the working state of the three selecting and two electrical blocking of the two-in-line and one-bus switchgear. The two circuits of the new type can simulate two feeder lines respectively, so that the purpose of debugging and testing can be achieved to verify all the functions of the feeder cabinet or the master cabinet by stage test. The integration is high, the wiring is simple, and the work efficiency can be greatly improved.

【技术实现步骤摘要】
一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱
本技术涉及电气模拟测试
，具体涉及一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱。
技术介绍
目前“两进线一母联”的运行方式，被广泛应用于工厂、酒店、以及重要负荷的供配电项目当中，其中高、低压进线柜、母联柜常用的“三选二”电气闭锁方案是利用两路进线开关和联络开关的辅助触点，时间继电器和中间继电器等控制元件来实现闭锁。开关柜成套厂家对该类设备的进行出厂电气性能试验时，需将两台进线柜和一台母联柜放在一起进行模拟动作试验，由于其闭锁模拟回路接线较为繁琐，该过程往往比较浪费时间，并且出错率较高。
技术实现思路
为了克服现有技术的缺陷，本技术的目的是提供一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，通过两个独立的接触器模拟回路模拟断路器动作输出，只需对进线柜或者母联柜逐台试验即可模拟“三选二”电气闭锁，验证其全部功能，集成性高，接线简单，可大幅度提高工作效率。为了实现以上目的，本技术采用如下技术方案：一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，包括第一测试模拟回路和第二测试模拟回路，所述第一测试模拟回路包括相互并联的第一合闸模拟回路、第一分闸模拟回路和第一接触器模拟回路，第一合闸模拟回路包括第一合闸继电器，第一分闸模拟回路包括第一分闸继电器，第一接触器模拟回路包括依次串联的第一接触器线圈、第一分闸继电器的常闭触点、第一合闸继电器常开触点、第二测试模拟回路中的第二接触器的常闭触点；所述第二测试模拟回路包括相互并联的第二合闸模拟回路、第二分闸模拟回路和第二接触器模拟回路，第二合闸模拟回路包括第二合闸继电器，第二分闸模拟回路包括第二分闸继电器，第二接触器模拟回路包括依次串联的第二接触器线圈、第二分闸继电器的常闭触点、第二分闸继电器的常开触点和第一测试模拟回路中的第一接触器的常闭触点。可选的，所述第二接触器的常闭触点和第一接触器的常闭触点的两端均预留有用于将测试对象接入第一测试模拟回路和第二测试模拟回路的连线端子；所述第一接触器常闭触点和第二接触器常闭触点的两端均预留有用于将第一测试模拟回路和第二测试模拟回路接入测试对象的连线端子。可选的，所述第一合闸模拟回路包括依次串联的第一合闸继电器线圈和第一合闸按钮；第一分闸模拟回路包括依次串联的第一分闸继电器线圈和第一分闸按钮；所述第二合闸模拟回路包括依次串联的第二合闸继电器线圈和第二合闸继电器的常开触点，第二合闸继电器的常开触点两端接入用于控制其闭合的第二合闸按钮；第二分闸模拟回路包括依次串联的第二分闸继电器线圈和第二分闸继电器常开触点，第二分闸继电器的常开触点两端接入用于控制其闭合的第二分闸按钮；第一接触器模拟回路中的第一合闸继电器常开触点的两端并联第一接触器常开触点；第二接触器模拟回路中的第二合闸继电器常开触点的两端并联第二接触器常开触点。可选的，第一合闸按钮、第一分闸按钮、第二合闸按钮和第二分闸按钮的两端均预留有分合闸连线端子用于接入分合闸的自动控制或远程控制。可选的，所述第一测试模拟回路还并联有第一合闸指示模拟回路和第一分闸指示模拟回路，所述第一合闸指示模拟回路包括依次串联的指示灯和第一接触器常开触点，第一分闸指示模拟回路包括依次串联的指示灯和第二接触器常闭触点；所述第二测试模拟回路还并联有第二合闸指示模拟回路和第一分闸指示模拟回路，所述第一合闸指示模拟回路包括依次串联的指示灯和第二接触器常开触点，第二分闸指示模拟回路包括依次串联的指示灯和第二接触器常闭触点。可选的，还包括控制电源、总断路器，所述第一测试模拟回路与第二测试模拟回路并联后再与总断路器串联接入控制电源；还包括第一分支断路器和第二分支断路器；所述第一分支断路器与第一测试模拟回路串联，第二分支断路器与第二测试回路串联。可选的，还包括控制面板，所述控制面板上设置有第一分支断路器的电源指示灯、第二分支断路器的电源指示灯、第一分闸按钮、第一合闸按钮、第二分闸按钮、第二合闸按钮、第一合闸指示灯、第一分闸指示灯、第二合闸指示灯、第二分闸指示灯。可选的，还包括用于固定连接各个线路端子的端子排。本技术开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，通过接触器、继电器将开关柜内的断路器（包括框架断路器、真空断路器）的动作输出用接触器来模拟实现。通过在第一接触器模拟回路中串联第二接触器的常闭触点，在第二接触器模拟回路中串联第一接触器的常闭触点，模拟两台断路器的分合闸控制，使用时将检测对象的分闸状态信号接入控制箱的两个检测模拟回路中，将控制箱的两个检测模拟回路的分闸状态信号接入检测对象对应的操作回路中，模拟两进线一母联开关柜的三选二电气闭锁的工作状态，模拟各个工况的试验，当测试对象为进线柜时，本实验新型中两个回路可分别模拟另一路进线和母联；当测试对象为母联柜时，本技术中两个回路可分别模拟两路进线，实现对进线柜或者母联柜进行逐台试验即可达到验证其全部功能的调试试验目的，集成性高，接线简单，可大幅提高工作效率。附图说明图1是本技术实施例提供的开关柜电气性能测试与调试试验控制箱内部元器件布置结构示意图；图2是本技术实施例提供的开关柜电气性能测试与调试试验控制箱控制面板整体结构示意图；图3是本技术实施例提供的开关柜电气性能测试与调试试验控制箱的整体电路连接原理图；图4是本技术实施例提供的开关柜电气性能测试与调试试验控制箱的第二测试模拟回路和第二测试模拟回路的电路原理图。具体实施方式实施例一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，如图1、图3和图4所示，包括第一测试模拟回路和第二测试模拟回路，第一测试模拟回路包括相互并联的第一合闸模拟回路、第一分闸模拟回路和第一接触器模拟回路；第一合闸模拟回路包括依次串联的第一合闸继电器线圈KA1和第一合闸按钮1SB1；第一分闸模拟回路包括依次串联的第一分闸继电器线圈KA2和第一分闸按钮1SB2；第一接触器模拟回路包括依次串联的第一接触器线圈KM1、第一分闸继电器的常闭触点、第一合闸继电器常开触点、第二测试模拟回路中的第二接触器的常闭触点，第一合闸继电器的常开触点与KM1常开触点并联；第二测试模拟回路包括相互并联的第二合闸模拟回路、第二分闸模拟回路和第二接触器模拟回路，第二合闸模拟回路包括依次串联的第二合闸继电器线圈KA3和第二合闸按钮2SB1；第二分闸模拟回路包括依次串联的第二分闸继电器线圈KA4和第二分闸按钮2SB2；第二接触器模拟回路包括依次串联的第二接触器线圈KM2、第二分闸继电器的常闭触点、第二分闸继电器的常开触点和第一测试模拟回路中的第一接触器的常闭触点，第二合闸继电器的常开触点与KM2常开触点并联。为了将测试对象接入检测回路，将检测回路接入测试对象的操作回路，本实施例中第一接触器的常闭触点的两端预留有用于将测试对象接入第一测试模拟回路的接线端子106、107；第二接触器的常闭触点的两端预留有用于将测试对象接入第二测试模拟回路的连线端子206、207；第一接触器常闭触点的两端均预留有用于将第一测试模拟回路接入测试对象操作回路的连线端子117、119；第二接触器常闭触点的两端均预留有用于将第二测试模拟回路接入测试对象操作回路的连线端子217、219；进一步的，本实施例中第一合闸按钮、第一分闸按钮、第二合闸按钮和第二合闸按钮的两端均预留有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，其特征在于，包括第一测试模拟回路和第二测试模拟回路，所述第一测试模拟回路包括相互并联的第一合闸模拟回路、第一分闸模拟回路和第一接触器模拟回路，第一合闸模拟回路包括第一合闸继电器，第一分闸模拟回路包括第一分闸继电器，第一接触器模拟回路包括依次串联的第一接触器线圈、第一分闸继电器的常闭触点、第一合闸继电器常开触点、第二测试模拟回路中的第二接触器的常闭触点；所述第二测试模拟回路包括相互并联的第二合闸模拟回路、第二分闸模拟回路和第二接触器模拟回路，第二合闸模拟回路包括第二合闸继电器，第二分闸模拟回路包括第二分闸继电器，第二接触器模拟回路包括依次串联的第二接触器线圈、第二分闸继电器的常闭触点、第二分闸继电器的常开触点和第一测试模拟回路中的第一接触器的常闭触点。

【技术特征摘要】
1.一种开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，其特征在于，包括第一测试模拟回路和第二测试模拟回路，所述第一测试模拟回路包括相互并联的第一合闸模拟回路、第一分闸模拟回路和第一接触器模拟回路，第一合闸模拟回路包括第一合闸继电器，第一分闸模拟回路包括第一分闸继电器，第一接触器模拟回路包括依次串联的第一接触器线圈、第一分闸继电器的常闭触点、第一合闸继电器常开触点、第二测试模拟回路中的第二接触器的常闭触点；所述第二测试模拟回路包括相互并联的第二合闸模拟回路、第二分闸模拟回路和第二接触器模拟回路，第二合闸模拟回路包括第二合闸继电器，第二分闸模拟回路包括第二分闸继电器，第二接触器模拟回路包括依次串联的第二接触器线圈、第二分闸继电器的常闭触点、第二分闸继电器的常开触点和第一测试模拟回路中的第一接触器的常闭触点。2.如权利要求1所述的开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，其特征在于，所述第二接触器的常闭触点和第一接触器的常闭触点的两端均预留有用于将测试对象接入第一测试模拟回路和第二测试模拟回路的连线端子；所述第一接触器常闭触点和第二接触器常闭触点的两端均预留有用于将第一测试模拟回路和第二测试模拟回路接入测试对象的连线端子。3.如权利要求1所述的开关柜电气性能测试与调试试验控制箱，其特征在于，所述第一合闸模拟回路包括依次串联的第一合闸继电器线圈和第一合闸按钮；第一分闸模拟回路包括依次串联的第一分闸继电器线圈和第一分闸继电器常开触点，第一分闸继电器的常开触点两端接入用于控制其闭合的第一分闸按钮；所述第二合闸模拟回路包括依次串联的第二合闸继电器线圈和第二合闸按钮；第二分闸模拟回路包括依次串联的第二分闸继电器线圈和第二分闸继电器常开触点，第二分闸继电器的常开触点两端接入用于控制其闭合的第二分闸按钮...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨小飞，李强，时婕，路豪杰，
申请(专利权)人：许昌许继昌龙电能科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：河南,41