NANDflash存储设备的测试系统技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种NAND flash存储设备的测试系统。所述NAND flash存储设备的测试系统包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接。本发明专利技术实施例通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。

【技术实现步骤摘要】
NANDflash存储设备的测试系统
本专利技术实施例涉及存储器测试技术，尤其涉及一种NANDflash存储设备的测试系统。
技术介绍
NANDFlash是Flash内存的一种，属于非易失性存储设备。基于NANDflash的存储设备的性能需要通过测试得出，在设备研发过程中，为了定位问题，也需要通过测试测出问题并重现问题来定位错误。因此，存储设备的自动化测试和问题重现对于产品的调试具有重要的意义。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种NANDflash存储设备的测试系统，以对存储设备实现自动化测试和问题重现。第一方面，本专利技术实施例提供了一种NANDflash存储设备的测试系统，包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接；所述上位机用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至所述测试板，以及将所述测试命令保存到测试文件中，其中，所述测试文件用于被调用并执行其中的测试命令，以便通过再次测试来复现问题；所述测试板用于解析所述测试命令，将所述测试命令转换为符合待测存储设备协议的前端命令，将所述前端命令发送至待测存储设备执行；待测存储设备用于执行所述前端命令，并将执行结果通过所述测试板反馈至所述上位机。本专利技术实施例通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。。附图说明图1是本专利技术实施例一中的一种NANDflash存储设备的测试系统的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。实施例一图1为本专利技术实施例一提供的一种NANDflash存储设备的测试系统的结构示意图，该NANDflash存储设备的测试系统应用于存储设备产品的调试操作。如图1所示，所述NANDflash存储设备的测试系统具体包括：上位机110、测试板120和待测存储设备130。上位机110通过串口与测试板120连接，测试板120还通过特定接口与待测存储设备130连接；所述上位机包括可以直接发出操控命令的计算机。所述测试板可以是印制电路板(PCB)，所述测试板集成了现场可编程逻辑门阵列(FPGA)。所述串口即串行通信接口，是采用串行通信方式的扩展接口，在本实施例中用于上位机110和测试板120间的信息传送。待测存储设备130可以是Nandflash存储设备。所述特定接口根据不同的待测存储设备130进行选择，可以是存储设备的用户端接口。上位机110用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至测试板120，以及将所述测试命令保存到测试文件中，其中，所述测试文件用于被调用并执行其中的测试命令，以便通过再次测试来复现问题；所述测试命令由上位机110根据测试人员输入的命令格式自动生成，测试命令可以有多种命令格式，其命令格式与所述待存储设备的种类相匹配，不同的存储设备对应不同的命令格式。测试文件用于保存测试命令，这样设置的好处在于，当对同样的问题进行重现时，可以直接调用测试文件中相应的测试命令。测试板120用于解析所述测试命令，将所述测试命令转换为符合待测存储设备协议的前端命令，将所述前端命令发送至待测存储设备130执行。所述前端命令与测试命令相对应。当测试板120接收到测试命令后，会对其解析并转换成符合待测存储设备的协议的前端命令，进而使待测存储设备130正常执行所述前端指令。待测存储设备130用于执行所述前端命令，并将执行结果通过测试板120反馈至上位机110。综上所述，本专利技术实施例的技术方案，通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。。注意，上述仅为本专利技术的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本专利技术不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本专利技术的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本专利技术进行了较为详细的说明，但是本专利技术不仅仅限于以上实施例，在不脱离本专利技术构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本专利技术的范围由所附的权利要求范围决定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种NAND flash存储设备的测试系统，其特征在于，所述系统包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接；所述上位机用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至所述测试板，以及将所述测试命令保存到测试文件中，其中，所述测试文件用于被调用并执行其中的测试命令，以便通过再次测试来复现问题；所述测试板用于解析所述测试命令，将所述测试命令转换为符合待测存储设备协议的前端命令，将所述前端命令发送至待测存储设备执行；待测存储设备用于执行所述前端命令，并将执行结果通过所述测试板反馈至所述上位机。

【技术特征摘要】
1.一种NANDflash存储设备的测试系统，其特征在于，所述系统包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接；所述上位机用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至所述测试板，以及将所述测试命令保存到...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈诚，
申请(专利权)人：北京京存技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11