像素检测与校正电路、像素电路，以及像素检测与校正方法技术

本发明专利技术提供一种像素检测与校正电路，包含比较器、开关单元及第一输入单元。比较器具有第一输入节点、第二输入节点及输出节点，第一输入节点接收像素电压。开关单元与输出节点电性连接。第一输入单元与第二输入节点电性连接。其中，当像素电压小于第一输入单元输入比较器的预设电压时，输出像素电压；当像素电压大于第一输入单元输入比较器的预设电压时，输出相异于像素电压的修正电压。

【技术实现步骤摘要】
像素检测与校正电路、像素电路，以及像素检测与校正方法
本专利技术关于一种像素检测与校正电路、包含其的像素电路，以及像素检测与校正方法；具体而言，特别是一种用于X光射线面板的像素检测与校正电路、包含其的像素电路，以及像素检测与校正方法。
技术介绍
在现今的技术中，X光线设备(例如医疗设备或探测设备等)可使用X光感测面板来感测X光。然而，当像素电路发生短路或其他异常时，从影像上会显示饱和的亮点，除了影响影像的判读之外，亦可能造成测量上的误判。一般而言，目前工厂大多采用雷射修复(Laserrepair)的方式进行修复。举例来说，将X光感测面板送至雷射修复系统中，藉由激光将异常的像素破坏。此时，影像上所呈现的亮点则变为暗点，接着再通过影像软体将此暗点进行影像处理后即可出货。然而，雷射修复的方式可能会在基板表面形成破洞，产品可靠度无法提升。此外，此一方式也需要大量的人力成本。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的一实施例在于提供一种像素检测与校正电路，包含比较器、开关单元及第一输入单元。比较器具有输入节点及输出节点，其输入节点接收像素电压。开关单元与输出节点电性连接。第一输入单元与开关单元相反于比较器的一端电性连接。于本实施例中，当像素电压小于第一输入单元输入比较器的预设电压时，输出像素电压。另一方面，当像素电压大于第一输入单元输入比较器的预设电压时，输出相异于像素电压的修正电压。本专利技术的另一实施例在于提供一种像素电路，包含像素单元及像素检测与校正电路。像素单元用以输出前述实施例的像素电压。其中，输入节点与像素单元电连接以接收像素电压。本专利技术的另一实施例在于提供一种像素检测及校正方法，适用于前述像素检测与校正电路，包含下列步骤：(S1)比较该像素电压与该预设电压；(S2)当该像素电压小于该预设电压时，输出该像素电压；以及(S3)当该像素电压大于该预设电压时，输出该修正电压。相较于现有技术，本专利技术所提的架构及方法能检测像素电路是否异常，并根据其检测结果进行电压修正，无须破坏面板即可修正异常电路所导致的像素异常，除减少误判之外亦能节省人力成本。附图说明图1A及图1B为本专利技术像素检测与校正电路的一实施例示意图。图1C为本专利技术像素检测与校正电路的一时序图。图2为本专利技术像素检测与校正电路的另一实施例示意图。图3为本专利技术像素检测与校正电路的另一实施例示意图。图4为本专利技术像素检测与校正电路的另一实施例示意图。图5为本专利技术像素检测与校正电路的另一实施例示意图。图6为本专利技术像素检测及校正方法的实施例流程图。其中，附图标记：1像素检测及校正电路11比较器12开关单元13第一输入单元14第二输入单元15取样电路2像素检测及校正电路21比较器22开关单元23第一输入单元24第二输入单元25取样电路3像素检测及校正电路31比较器32开关单元33第一输入单元34第二输入单元35取样电路4像素检测及校正电路41比较器42开关单元43第一输入单元44第二输入单元45取样电路5像素检测及校正电路51比较器52开关单元53第一输入单元54第二输入单元55取样电路PX像素电路16第一输入节点17第二输入节点18输出节点26第一输入节点27第二输入节点28输出节点36第一输入节点37第一输入节点38输出节点46第一输入节点47第一输入节点48输出节点56第一输入节点57第一输入节点58输出节点具体实施方式以下将以图式配合文字叙述揭露本专利技术的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本专利技术。此外，为简化图式起见，一些常用的结构与元件在图式中将以简单示意的方式绘出。应当理解，当诸如层、膜、区域或基板的元件被称为在另一元件“上”或“连接到”另一元件时，其可以直接在另一元件上或与另一元件连接，或者中间元件可以也存在。相反，当元件被称为“直接在另一元件上”或“直接连接到”另一元件时，不存在中间元件。如本文所使用的，“连接”可以指物理及/或电性连接。再者，“电性连接”或“耦合”或“耦接”可为二元件间存在其它元件。本文使用的“约”、“近似”、或“实质上”包括所述值和在本领域普通技术人员确定的特定值的可接受的偏差范围内的平均值，考虑到所讨论的测量和与测量相关的误差的特定数量(即，测量系统的限制)。例如，“约”可以表示在所述值的一个或多个标准偏差内，或±30％、±20％、±10％、±5％内。再者，本文使用的“约”、“近似”或“实质上”可依光学性质、蚀刻性质或其它性质，来选择较可接受的偏差范围或标准偏差，而可不用一个标准偏差适用全部性质。除非另有定义，本文使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本专利技术所属领域的普通技术人员通常理解的相同的含义。将进一步理解的是，诸如在通常使用的字典中定义的那些术语应当被解释为具有与它们在相关技术和本专利技术的上下文中的含义一致的含义，并且将不被解释为理想化的或过度正式的意义，除非本文中明确地这样定义。请参阅图1A～图1C，像素检测及校正电路1与多个像素电路PX与取样电路15电性连接。像素电路PX通过栅极线G[n]连接至栅极电路IC。每一像素电路PX均可适用于像素检测及校正电路1，本实施例以单一个像素电路PX为例，但不以此限制。像素检测及校正电路1较佳包含比较器11、开关单元12及第一输入单元13。比较器11具有第一输入节点16与第二输入节点17及输出节点18。第一输入节点16用以接收像素电路PX所传来的像素电压。开关单元12例如是二极管，但不以此为限，与输出节点18电性连接。第一输入单元13与第二输入节点17电性连接。于本实施例中，第一输入单元13为一电压源，但不以此限制。于部份实施例中，比较器11的第一输入节点16与像素电路PX之间更包含第二输入单元14，主要用以接收/读取像素电路PX所传来的像素电压，于读取完毕后将其输出至比较器11的第一输入节点16。第二输入单元14较佳但不限于为积分器。于本实施例中，假设像素电路PX为正常状态，例如：像素电路PX于显示(或感测光线(例如:感测X光))面板上为正常显示。像素电路PX输出像素电压(以约3V为范例，例如：Vdiode约为3V，但不以此为限)至第二输入单元14，第二输入单元14读取完毕后将像素电压输入至比较器11的第一输入节点16，像素检测及校正电路1即开始进行检测/判断。此时，第一输入单元13会输入预先设定的预设电压(以约3.9V为范例，例如：Vreset约为3.9V，但不以此为限)至比较器11的第二输入节点17。本实施例的预设电压主要是用来作为判断像素电路PX的门槛电压。当比较器11判断像素电压小于预设电压时，例如：Vdiode<Vreset，可判定像素电路PX为正常状态。最后，预设电压会逐渐趋近像素电压直至两电压实质上相等(例如：Vdate约为3V)时，例如：比较器11两端的电压实质上相等时，像素检测及校正电路1停止检测/判断，像素电压(3V)被输出至取样电路15。本实施例的取样电路15可以是相关双取样电路(correlationdoublesamplingcircuit,CDScircuit)，藉由取样电路15将Vdate由模拟信号转换为数字信号输出并滤除噪声。如图1C的时序图所示，θ1表示第二输本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种像素检测及校正电路，其特征在于，包含：一比较器，具有一第一输入节点、第二输入节点及一输出节点，其中该第一输入节点接收一像素电压；一开关单元，与该输出节点电性连接；以及一第一输入单元，与该第二输入节点电性连接；其中，当该像素电压小于该第一输入单元输入该比较器的一预设电压时，输出该像素电压；以及当该像素电压大于该第一输入单元输入该比较器的该预设电压时，输出相异于该像素电压的一修正电压。

【技术特征摘要】
2018.02.09 TW 1071048031.一种像素检测及校正电路，其特征在于，包含：一比较器，具有一第一输入节点、第二输入节点及一输出节点，其中该第一输入节点接收一像素电压；一开关单元，与该输出节点电性连接；以及一第一输入单元，与该第二输入节点电性连接；其中，当该像素电压小于该第一输入单元输入该比较器的一预设电压时，输出该像素电压；以及当该像素电压大于该第一输入单元输入该比较器的该预设电压时，输出相异于该像素电压的一修正电压。2.如权利要求1所述的像素检测及校正电路，其特征在于，该第一输入单元为一电压源或一数字模拟转换器。3.如权利要求1所述的像素检测及校正电路，其特征在于，当该开关单元为一二极管时，该二极管的设置方向为顺向或逆向。4.如权利要求1所述的像素检...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄明益，刘育荣，卢文哲，林承德，许清华，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71