LED测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种LED测试装置，包括；工作盒、导电组件。所述工作盒上用于装设一个或一个以上待测试的LED；所述导电组件为一个以上，且所述导电组件与所述待测试的LED一一相应设置。所述导电组件包括压件与压针，所述压件设置在所述工作盒上，所述压件的一端用于与供电电源电性连接。所述压件的另一端与所述压针电性连接，且所述压针与所述LED电性连接。上述LED测试装置使能够同时对多个LED产品进行老化测试。LED产品通过压针与压件的相互配合实现了LED产品与供电电源的电性连接。供电电源将电流导入LED产品。然后，将LED测试装置携带着待测试LED产品一同放入高温环境中并使LED产品在高温环境下进行通电操作，整个过程LED的安装十分方便。

【技术实现步骤摘要】
LED测试装置
本技术涉及一种测试装置，特别是涉及一种LED测试装置。
技术介绍
LED产品的应用越来越广泛，对其LED产品的质量要求也越来越高。而LED产品对于高温的耐受性往往影响着LED产品的质量。因此，LED产品需要在通电的情况下进行高温老化试验来判断LED产品是否合格。目前，工作人员在对LED产品进行高温老化试验时，LED产品往往需要放置在密闭空间中，由于高温箱的密闭空间有限，所以使得LED产品在高温箱中的安装十分不方便。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种LED测试装置，能够使得LED产品的安装更加方便。其技术方案如下：一种LED测试装置，包括；工作盒、导电组件。所述工作盒上用于装设一个或一个以上待测试的LED；所述导电组件为一个以上，且所述导电组件与所述待测试的LED一一相应设置，所述导电组件包括压件与压针，所述压件设置在所述工作盒上，所述压件的一端用于与供电电源电性连接，所述压件的另一端与所述压针电性连接，且所述压针与所述LED电性连接。上述LED测试装置使能够同时对多个LED产品进行老化测试。LED产品通过压针与压件的相互配合实现了LED产品与供电电源的电性连接。供电电源将电流导入LED产品。然后，将LED测试装置携带着待测试LED产品一同放入高温环境中并使LED产品在高温环境下进行通电操作，整个过程LED的安装十分方便。下面进一步对技术方案进行说明：LED测试装置还包括固定座与夹持件，所述固定座与所述夹持件均为导电件，所述固定座设置在所述工作盒上，所述夹持件设置在所述固定座上，所述夹持件用于夹持所述LED。所述压件还包括导流件，所述导流件与所述压件电性连接，且所述压件上设有用于与所述导流件卡接配合的压帽，所述压帽与所述压件可拆卸连接。所述压件上还设有第一开口，所述压针通过所述第一开口与所述固定座可拆卸连接。且所述压针与所述第一开口的内侧壁相接触。所述压针包括连接件与弯折件。所述弯折件的一端设有活动关节。所述连接件的一端与所述固定座相连，所述连接件的另一端通过所述活动关节与所述弯折件转动连接。所述工作台的侧部设有接线端子，且所述接线端子的一端与所述固定座电性连接。LED测试装置还包括温度传感器，所述温度传感器设置在所述工作盒上。所述温度传感器上设置有导热片，所述导热片的一端与所述固定座相连。LED测试装置还包括散热底座。所述散热底座内部设有多个空腔，所述空腔内部设置有风机，所述散热底座的端部设有盖体，所述盖体上开设有出风口，且所述出风口与所述风机对应设置。所述散热底座上设有用于与所述工作盒卡接的第一卡接件。所述工作盒上设有与所述第一卡接件对应的第二卡接件，且所述工作盒上还开设有与所述风机对应的散热片。所述散热底座还包括温控开关与手动开关。所述温控开关设置在所述散热底座上，且所述温控开关的一端与所述风机电性连接，所述温控开关的另一端与所述温度传感器相连。所述手动开关设置在所述散热底座的外部，且所述手动开关的一端与所述风机电性连接。附图说明图1为一实施例所述的LED测试装置的示意图；图2为图1所述的LED测试装置圈A部分的局部放大图；图3为图1所述的LED测试装置圈B部分的局部放大图；图4为另一实施例所述的LED测试装置的示意图；图5为再一实施例所述的LED测试装置的示意图。附图标记说明：100、工作盒，110、固定座，120、导电组件，121、压件，122、压针，123、压帽，124、第一开口，125、连接件，126、弯折件，127、活动关节，130、夹持件，140、导流件，150、接线端子，160、温度传感器，161、导热片，200、散热底座，210、空腔，220、风机，230、盖体，240、出风口，250、第二卡接件，270散热片，280、温控开关，290、手动开关。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施方式，对本技术进行进一步的详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用以解释本技术，并不限定本技术的保护范围。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。本技术中所述“第一”、“第二”不代表具体的数量及顺序，仅仅是用于名称的区分。如图1所示，一种LED测试装置，包括；工作盒100、导电组件120。所述工作盒100上用于装设一个或一个以上待测试的LED。所述导电组件120为一个以上，且所述导电组件120与所述待测试的LED一一相应设置。所述导电组件120包括压件121与压针122，所述压件121设置在所述工作盒100上。所述压件121的一端用于与供电电源电性连接，所述压件121的另一端与所述压针122电性连接，且所述压针122与所述LED电性连接。上述LED测试装置使能够同时对多个LED产品进行老化测试。LED产品通过压针122与压件121的相互配合实现了LED产品与供电电源的电性连接。供电电源将电流导入LED产品。然后，将LED测试装置携带着待测试LED产品一同放入高温环境中并使LED产品在高温环境下进行通电操作，整个过程LED的安装十分方便。如图1和图2所示，LED测试装置还包括固定座110，所述固定座110内部设有夹持件130，所述夹持件130用于夹持LED。且所述夹持件130与所述固定座110电性连接。在一个实施例中，工作盒100为隔热材料制成的工作盒100，避免了LED在高温环境下进行高温老化试验时由于工作盒100表面温度过高对LED造成额外的损坏。具体地，导电组件可以压板、压片等元件，在本实施例中，导电组件120采用压片和压针122。采用两根压针122分别与LED的正负极电性连接，再通过压片与压针122抵触，压片的另一端与供电电源相连，进而实现了LED在工作盒100上的发光操作。在整个过程中，压片不但实现了对压针122与LED的导流作用，还实现了压针122在LED上的固定，避免了压针122脱离LED的正负极。在另一个实施例中，为了避免LED测试装置在放入高温箱过程中的晃动造成待测试LED从工作盒100上脱落。在工作盒100上加设固定座110与夹持件130，LED放入固定座110上并通过夹紧件锁死，实现了LED的固定。如图1所示，所述压件121还包括导流件140。所述导流件140与所述压件121电性连接，且所述压件121上设有用于与所述导流件140卡接配合的压帽123，所述压帽123与所述压件121可拆卸连接。在一个实施例中，由于高温环境会对供电电源造成严重的影响，甚至有可能直接使供电电源报废。所以，在本实施例中，LED测试装置引入了导流件140，导流件140一端与压片电性连本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED测试装置，其特征在于，包括：工作盒，所述工作盒上用于装设一个以上待测试的LED；导电组件，所述导电组件为一个以上，且所述导电组件与所述待测试的LED一一相应设置，所述导电组件包括压件与压针，所述压件设置在所述工作盒上，所述压件的一端用于与供电电源电性连接，所述压件的另一端与所述压针电性连接，且所述压针与所述LED电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种LED测试装置，其特征在于，包括：工作盒，所述工作盒上用于装设一个以上待测试的LED；导电组件，所述导电组件为一个以上，且所述导电组件与所述待测试的LED一一相应设置，所述导电组件包括压件与压针，所述压件设置在所述工作盒上，所述压件的一端用于与供电电源电性连接，所述压件的另一端与所述压针电性连接，且所述压针与所述LED电性连接。2.根据权利要求1所述的LED测试装置，其特征在于，还包括固定座与夹持件，所述固定座与所述夹持件均为导电件，所述固定座设置在所述工作盒上，所述夹持件设置在所述固定座上，所述夹持件用于夹持所述LED。3.根据权利要求2所述的LED测试装置，其特征在于，还包括导流件，所述导流件与所述压件电性连接，且所述压件上设有用于与所述导流件卡接配合的压帽，所述压帽与所述压件可拆卸连接。4.根据权利要求2所述的LED测试装置，其特征在于，所述压件上还设有第一开口，所述压针穿过所述第一开口与所述固定座可拆卸连接，且所述压针与所述第一开口的内侧壁相接触。5.根据权利要求2至4任意一项所述的LED测试装置，其特征在于，所述压针包括连接件与弯折件，所述弯折件的一端设有活动关节，所述连接件的一端与所述固定座相连，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐华伟，苏萌，黄林轶，彭琦，胡坚耀，陈玉明，刘群兴，杨林，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所，
类型：新型
国别省市：广东,44