一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置，包括有用于自动输出待测晶体的震动盘和用于对晶体进行测试的测试机；所述震动盘的输出端设有倾斜向下输送滑道，所述测试机的检测模块设于输送滑道的下端，所述输送滑道的上端设有筛选板，所述筛选板的下端横跨输送滑道、且正对输送滑道的位置设有可供给符合引脚高度的晶体通过的高度限定缺口。这样，通过该测试装置即可在自动完成晶体测试的同时，自动化完成引脚剪切高度的筛选，简化了工序，降低劳动强度，避免漏查和误判，产品质量更佳，测试和筛选效率高，缩短生产周期，降低生产成本，增强产品的市场竞争力，而且结构非常简单，对现有升级改造极为容易，有利于普及推广应用。

A test device for automatically screening crystal pin shear height

The utility model relates to a testing device which can automatically screen the shearing height of crystal pins, including a vibrating disc for automatically outputting the crystal to be measured and a testing machine for testing the crystal; the output end of the vibrating disc is provided with an inclined downward conveying slide, and the testing module of the testing machine is arranged under the conveying slide. The upper end of the conveying slideway is provided with a screening plate, and the lower end of the screening plate spans the conveying slideway, and a height limit notch is provided for the crystal conforming to the pin height to pass through the position of the conveying slideway. In this way, the testing device can automatically complete the crystal testing while the pin shearing height screening, simplify the process, reduce labor intensity, avoid omission and misjudgment, product quality is better, testing and screening efficiency is high, shorten the production cycle, reduce production costs, enhance product competition in the market. Struggle, and the structure is very simple, the existing upgrade and transformation is extremely easy, conducive to popularization and application.

【技术实现步骤摘要】
一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置
本技术属于晶体加工设备
，尤其涉及一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置。
技术介绍
目前，石英晶体的生产加工中包括有对晶体剪切引脚的筛选和检测两道独立的工序，而且现有的工厂都是采用大量人员来人工完成对晶体剪切引脚的筛选，造成生产效率极低，生产成本高，也使产品生产周期大大延长，同时采用人工操作劳动强度极高，容易出现人为漏查和误判的情况，也使产品质量降低。
技术实现思路
为解决现有技术中存在的上述问题，本技术提供了一种可在自动完成晶体测试的同时，自动化完成引脚剪切高度的筛选，简化加工工序，降低劳动强度，避免了人为漏查和误判的问题，产品质量更佳，测试和筛选效率高，缩短生产周期，降低生产成本，且结构非常简单，对现有升级改造极为容易的测试机。为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置，包括有用于自动输出待测晶体的震动盘和用于对晶体进行测试的测试机；其中，所述震动盘的输出端设有倾斜向下输送滑道，所述测试机的检测模块设于输送滑道的下端，所述输送滑道的上端设有筛选板，所述筛选板的下端横跨输送滑道、且正对输送滑道的位置设有可供给符合引脚高度的晶体通过的高度限定缺口。进一步地，所述筛选板的下端左右两侧设有安装脚，所述筛选板通过穿过安装脚的螺丝固定在输送滑道上。进一步地，所述筛选板上设有可上下移动、调节高度限定缺口高度的高度调节片。进一步地，所述筛选板上设有与其表面有间隙的横向夹紧带，所述夹紧带位于高度限定缺口的上方、与筛选板的表面之间形成调节插孔，所述高度调节片可上下移动、调节高度限定缺口高度地插入在调节插孔内、且下端与高度限定缺口部分重叠。进一步地，所述夹紧带通过螺丝固定在筛选板的表面，或者和高度限定缺口与筛选板一体成型。本技术的有益效果是：本技术通过上述技术方案，即可在自动完成晶体测试的同时，自动化完成引脚剪切高度的筛选，简化了晶体的生产加工工序，降低劳动强度，避免了人为漏查和误判的问题，产品质量更佳，同时大大提高测试和筛选效率，缩短生产周期，降低生产成本，增强产品的市场竞争力，使产品更易获得商业成功，而且结构非常简单，对现有升级改造极为容易，有利于普及推广应用。另外，筛选板的高度限定缺口高度可根据不同规格的晶体的引脚高度进行相应调节，使用灵活，操作方便，通用性强，而且结构简单、巧妙，生产加工容易。附图说明图1是本技术所述一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置实施例的结构示意图；图2是图1中A部的放大结构示意图；图中：1—震动盘，2—测试机，21—检测模块，3—输送滑道，4—筛选板，41-高度限定缺口，42-安装脚，43—高度调节片，44—夹紧带，45—调节插孔。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。如图1和图2中所示：本技术实施例所述的一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置，包括有用于自动输出待测晶体的震动盘1和用于对晶体进行测试的测试机2；其中，所述震动盘1的输出端设有倾斜向下输送滑道3，所述测试机2的检测模块21设于输送滑道3的下端，所述输送滑道3的上端设有筛选板4，所述筛选板4的下端横跨输送滑道3(具体可以为：所述筛选板4的下端左右两侧设有安装脚42，所述筛选板4通过穿过安装脚42的螺丝固定在输送滑道3上)、且正对输送滑道3的位置设有可供给符合引脚高度的晶体通过的高度限定缺口41。这样，本技术所述测试装置即可在自动完成晶体测试的同时，自动化完成引脚剪切高度的筛选，简化了晶体的生产加工工序，降低劳动强度，避免了人为漏查和误判的问题，产品质量更佳，同时大大提高测试和筛选效率，缩短生产周期，降低生产成本，增强产品的市场竞争力，使产品更易获得商业成功，而且结构非常简单，对现有升级改造极为容易，有利于普及推广应用。作为本技术一优选方案，所述筛选板4上设有可上下移动、调节高度限定缺口41高度的高度调节片43。具体结构可以为：所述筛选板4上设有与其表面有间隙的横向夹紧带44，所述夹紧带44位于高度限定缺口41的上方、与筛选板4的表面之间形成调节插孔45，而且夹紧带44可以通过螺丝固定在筛选板4的表面，或者和高度限定缺口41与筛选板4一体成型；所述高度调节片43可上下移动、调节高度限定缺口41高度地插入在调节插孔45内、且下端与高度限定缺口41部分重叠。这样，用户即可根据不同规格的晶体的引脚高度相应地对高度调节片43进行上下移动，调节高度限定缺口41的高度，使用灵活，操作方便，通用性强，而且结构简单、巧妙，生产加工容易。以上所述是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也视为本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置，其特征在于：包括有用于自动输出待测晶体的震动盘(1)和用于对晶体进行测试的测试机(2)；其中，所述震动盘(1)的输出端设有倾斜向下输送滑道(3)，所述测试机(2)的检测模块(21)设于输送滑道(3)的下端，所述输送滑道(3)的上端设有筛选板(4)，所述筛选板(4)的下端横跨输送滑道(3)、且正对输送滑道(3)的位置设有可供给符合引脚高度的晶体通过的高度限定缺口(41)。

【技术特征摘要】
1.一种可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置，其特征在于：包括有用于自动输出待测晶体的震动盘(1)和用于对晶体进行测试的测试机(2)；其中，所述震动盘(1)的输出端设有倾斜向下输送滑道(3)，所述测试机(2)的检测模块(21)设于输送滑道(3)的下端，所述输送滑道(3)的上端设有筛选板(4)，所述筛选板(4)的下端横跨输送滑道(3)、且正对输送滑道(3)的位置设有可供给符合引脚高度的晶体通过的高度限定缺口(41)。2.根据权利要求1所述的可对晶体引脚剪切高度自动筛选的测试装置，其特征在于：所述筛选板(4)的下端左右两侧设有安装脚(42)，所述筛选板(4)通过穿过安装脚(42)的螺丝固定在输送滑道(3)上。3.根据权利要求1或2所述的可对晶体引脚剪...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘铭，
申请(专利权)人：珠海鑫汇电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44