一种精确度高的石英晶体微天平检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种精确度高的石英晶体微天平检测装置，包括观察计量仪，平台，锥座，滑架，吸盘，转运架，探头，检测窗，样品进出口，记录仪，调整螺母和托板，所述的观察计量仪或者记录仪固定安装在平台的上部；所述的锥座下部设置滑架；所述的吸盘通过滑架安装在检测窗的上部；所述的转运架设置在吸盘的下方；所述的探头安装在检测窗的下侧；所述的样品进出口设置在锥座的中部；所述的调整螺母设置在记录仪的上端面；所述的托板连接在记录仪与平台之间。本实用新型专利技术转运架，探头和检测窗的设置，提高了检测精度，改善了工作效率，便于智能化管理监测信息和检测过程，便于市场推广和应。

A quartz crystal microbalance detector with high accuracy

The utility model provides a quartz crystal microbalance detection device with high accuracy, including an observation meter, a platform, a cone seat, a sliding frame, a sucker, a transporter, a probe, a detection window, a sample inlet and outlet, a recorder, an adjusting nut and a bracket. The observation meter or a recorder is fixed on the upper part of the platform. The lower part of the cone base is provided with a sliding frame, the sucker is arranged on the upper part of the detection window through the sliding frame, the transporting frame is arranged under the sucker, the probe is arranged on the lower side of the detection window, the sample inlet and outlet are arranged in the middle of the cone base, the adjustment nut is arranged on the upper end face of the recorder, and the transporting frame is arranged on the lower side of the sucker The pallet is connected between the recorder and the platform. The setting of the transfer rack, the probe and the detection window of the utility model improves the detection accuracy, improves the working efficiency, facilitates the intelligent management of the monitoring information and the detection process, and facilitates the market promotion and response.

【技术实现步骤摘要】
一种精确度高的石英晶体微天平检测装置
本技术属于石英晶片检测
，尤其涉及一种精确度高的石英晶体微天平检测装置。
技术介绍
目前，石英晶体微天平(QuartzCrystalMicrobalance，QCM)是一种基于晶片表面附着质量变化导致谐振频率的变化而检测微量物质的传感器，具有灵敏度高、结构简单、成本低，特别是不需要样品标记等优点，在生物、化学等领域作为检测、分析的工具得到了广泛的应用。石英晶体微天平是由AT切的石英晶片以及固定在晶片两面的金属激励电极组成的。激励电极一般由两个分别焊接在晶片两面的管座引脚导出，连接到测试仪器或谐振电路上。中国专利公开号为CN103558112A，专利技术创造的名称为石英晶体微天平检测装置，包括中间层、密封垫片、封盖和石英晶片；中间层中心设有中间层凹槽，中间层凹槽底端设有左探头通孔和右探头通口；封盖上设有进样口和出样口；石英晶片位于中间层凹槽内，且在石英晶片底端中心设有一个开口向下的石英晶片凹槽；石英晶片凹槽底端分别设有左电极和右电极；密封垫片位于封盖和中间层之间；左电极由左弹簧针探头穿过左探头通孔引出，右电极由右弹簧针探头穿过右探头通孔引出。但是现有石英晶体微天平检测装置存在着检测精度不高，检测效率低，检测信息不易统计分析的问题。因此，专利技术一种精确度高的石英晶体微天平检测装置显得非常必要。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术提供一种精确度高的石英晶体微天平检测装置，以解决现有石英晶体微天平检测装置存在着检测精度不高，检测效率低，检测信息不易统计分析的问题。一种精确度高的石英晶体微天平检测装置，包括观察计量仪，平台，锥座，滑架，吸盘，转运架，探头，检测窗，样品进出口，记录仪，调整螺母和托板，所述的观察计量仪或者记录仪固定安装在平台的上部；所述的锥座下部设置滑架；所述的吸盘通过滑架安装在检测窗的上部；所述的转运架设置在吸盘的下方；所述的探头安装在检测窗的下侧；所述的样品进出口设置在锥座的中部；所述的调整螺母设置在记录仪的上端面；所述的托板连接在记录仪与平台之间。优选的，所述的转运架包括托盘，连架，旋转座，监控装置和信号线，所述的托盘通过连架与旋转座相连；所述的监控装置通过信号线与记录仪相连。优选的，所述的连架采用金属杆制成的正六边形结构；所述的连架与旋转座固定相连，有利于转运石英晶片平稳安全，提高工作效率。优选的，所述的旋转座连接伺服电机；所述的旋转座与监控装置连接导线，有利于通过监控装置控制旋转座的运动，实现检测监控自动化。优选的，所述的监控装置内部采用51系类单片机芯片；所述的监控装置连接无线信号收发器，有利提高石英晶片检测精度，实现检测和信息管理智能化。优选的，所述的托盘安装在吸盘下方3厘米至5厘米，有利于操作便捷，安全可靠，提高了工作效率。优选的，所述的检测窗采用椭圆状凹槽；所述的检测窗与探头的距离为5毫米至15毫米，有利于改善检测环境，提高检测精度。优选的，所述的观察计量仪与探头通过导线相连；所述的探头采用两个，有利于校对检测基准，确保检测精度，避免检测失误，缩小检测误差。与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：由于本技术的一种精确度高的石英晶体微天平检测装置广泛应用于石英晶片检测
同时，本技术的有益效果为：1.本技术中，所述的转运架包括托盘，连架，旋转座，监控装置和信号线；所述的托盘通过连架与旋转座相连；所述的监控装置通过信号线与记录仪相连，有利于转运石英晶片平稳安全，提高工作效率，有利提高石英晶片检测精度，实现检测和信息管理智能化。2.本技术中，所述的连架采用金属杆制成的正六边形结构；所述的连架与旋转座固定相连，有利于转运石英晶片平稳安全，提高工作效率。3.本技术中，所述的监控装置内部采用51系类单片机芯片；所述的监控装置连接无线信号收发器，有利提高石英晶片检测精度，实现检测和信息管理智能化。4.本技术中，所述的旋转座连接伺服电机；所述的旋转座与监控装置连接导线，有利于通过监控装置控制旋转座的运动，实现检测监控自动化。5.本技术中，所述的观察计量仪与探头通过导线相连；所述的探头采用两个有利于提高振幅，提高分选效率。6.本技术中，所述的检测窗采用椭圆状凹槽，有利于改善检测环境，提高检测精度。附图说明图1是本技术的结构示意图。图2是本技术的转运架结构示意图。图中：1-观察计量仪，2-平台，3-锥座3，4-滑架，6-吸盘，7-转运架，71-托盘，72-连架，73-旋转座，74-监控装置，75-信号线，8-探头，9-检测窗，10-样品进出口，11-记录仪，12-调整螺母，13-托板。具体实施方式以下结合附图对本技术做进一步描述：实施例：如附图1和附图2所示本技术提供一种精确度高的石英晶体微天平检测装置，包括观察计量仪1，平台2，锥座3，滑架4，吸盘6，转运架7，探头8，检测窗9，样品进出口10，记录仪11，调整螺母12和托板13，所述的观察计量仪1或者记录仪11固定安装在平台2的上部；所述的锥座3下部设置滑架4；所述的吸盘6通过滑架4安装在检测窗9的上部；所述的转运架7设置在吸盘6的下方；所述的探头8安装在检测窗9的下侧；所述的样品进出口10设置在锥座3的中部；所述的调整螺母12设置在记录仪11的上端面；所述的托板13连接在记录仪11与平台2之间。上述实施例中，具体的，所述的转运架7包括托盘71，连架72，旋转座73，监控装置74和信号线75，所述的托盘71通过连架72与旋转座73相连；所述的监控装置74通过信号线75与记录仪11相连。上述实施例中，具体的，所述的连架72采用金属杆制成的正六边形结构；所述的连架72与旋转座73固定相连，有利于转运石英晶片平稳安全，提高工作效率。上述实施例中，具体的，所述的旋转座73连接伺服电机；所述的旋转座73与监控装置74连接导线，有利于通过监控装置74控制旋转座73的运动，实现检测监控自动化。上述实施例中，具体的，所述的监控装置74内部采用51系类单片机芯片；所述的监控装置74连接无线信号收发器，有利提高石英晶片检测精度，实现检测和信息管理智能化。上述实施例中，具体的，所述的托盘71安装在吸盘6下方3厘米至5厘米，有利于操作便捷，安全可靠，提高了工作效率。上述实施例中，具体的，所述的检测窗9采用椭圆状凹槽；所述的检测窗9与探头8的距离为5毫米至15毫米，有利于改善检测环境，提高检测精度。上述实施例中，具体的，所述的观察计量仪1与探头8通过导线相连；所述的探头8采用两个，有利于校对检测基准，确保检测精度，避免检测失误，缩小检测误差。利用本技术所述的技术方案，或本领域的技术人员在本技术技术方案的启发下，设计出类似的技术方案，而达到上述技术效果的，均是落入本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种精确度高的石英晶体微天平检测装置，其特征在于，该精确度高的石英晶体微天平检测装置包括观察计量仪(1)，平台(2)，锥座(3)，滑架(4)，吸盘(6)，转运架(7)，探头(8)，检测窗(9)，样品进出口(10)，记录仪(11)，调整螺母(12)和托板(13)，所述的观察计量仪(1)或者记录仪(11)固定安装在平台(2)的上部；所述的锥座(3)下部设置滑架(4)；所述的吸盘(6)通过滑架(4)安装在检测窗(9)的上部；所述的转运架(7)设置在吸盘(6)的下方；所述的探头(8)安装在检测窗(9)的下侧；所述的样品进出口(10)设置在锥座(3)的中部；所述的调整螺母(12)设置在记录仪(11)的上端面；所述的托板(13)连接在记录仪(11)与平台(2)之间。

【技术特征摘要】
1.一种精确度高的石英晶体微天平检测装置，其特征在于，该精确度高的石英晶体微天平检测装置包括观察计量仪(1)，平台(2)，锥座(3)，滑架(4)，吸盘(6)，转运架(7)，探头(8)，检测窗(9)，样品进出口(10)，记录仪(11)，调整螺母(12)和托板(13)，所述的观察计量仪(1)或者记录仪(11)固定安装在平台(2)的上部；所述的锥座(3)下部设置滑架(4)；所述的吸盘(6)通过滑架(4)安装在检测窗(9)的上部；所述的转运架(7)设置在吸盘(6)的下方；所述的探头(8)安装在检测窗(9)的下侧；所述的样品进出口(10)设置在锥座(3)的中部；所述的调整螺母(12)设置在记录仪(11)的上端面；所述的托板(13)连接在记录仪(11)与平台(2)之间。2.如权利要求1所述的精确度高的石英晶体微天平检测装置，其特征在于，所述的转运架(7)包括托盘(71)，连架(72)，旋转座(73)，监控装置(74)和信号线(75)，所述的托盘(71)通过连架(72)与旋转座(73)相连；所述的监控装置(74)通过信号线...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗为晓，
申请(专利权)人：万安县水晶厂，
类型：新型
国别省市：江西,36