一种离心实验夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种离心实验夹具，本实用新型专利技术提供的离心实验夹具配重孔和集成电路安装槽，可根据实际情况装入待测集成电路并调节重量，实验操作比较简单。所述离心实验夹具的表面涂有防静电涂层，可以防止离心机高速旋转时产生的静电损坏待测集成电路。严格依据实验标准要求制作离心夹具，其尺寸和质量的误差均控制在可接受的范围之内，能够满足各种封装形式集成电路离心实验需求，确保器件在离心实验过程中受力比较均匀，缩短实验周期，大大提高实验效率。

A centrifugal experimental fixture

The utility model discloses a centrifugal experimental fixture, which provides a counterweight hole of the centrifugal experimental fixture and an integrated circuit mounting slot, which can be loaded into the tested integrated circuit and adjust the weight according to the actual situation, and the experimental operation is relatively simple. The surface of the centrifugal experimental fixture is coated with an anti-static coating, which can prevent the electrostatic damage of the IC to be tested when the centrifuge rotates at high speed. The centrifugal fixture is manufactured strictly according to the requirements of the experimental standards. The size and quality errors of the fixture can be controlled in an acceptable range. It can meet the requirements of centrifugal experiment for various kinds of IC packaging, ensure that the device is more uniform in the process of centrifugal experiment, shorten the experimental period, and greatly improve the experimental efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种离心实验夹具
本技术涉及集成电路可靠性领域，特别是指一种离心实验夹具。
技术介绍
随着集成电路技术的发展，大规模、超大规模的集成电路不断出现，集成电路的封装形式也带来了技术上的变化。传统的DIP(DualIn-linePackage，双列直插式)封装形式逐渐被BGA(BallGridArrayPackage，球栅阵列封装)、PGA(PinGridArrayPackage，插针网格阵列封装)和PLCC(PlasticLeadedChipCarrier，带引线的塑料芯片载体)等封装形式取代。测试这些特殊封装形式的集成电路的手段比较有限，现有技术一般采用埋沙法实验或离心法实验进行测试。所述埋沙法实验为用石英沙作为与待测集成电路的作用力与反作用力的直接接触面，测试待测集成电路的可靠性。但其受力并不能均匀分布，很容易在施加应力的条件下对待测集成电路造成损坏，如凹陷、断裂、表面擦伤等。如果在埋沙法实验结束之后没有将石英沙清理干净，则有可能对后续实验产生负面影响，这将降低整个实验的效率和可靠性。另外，埋沙法实验的所需的时间周期长且不易确定。可见，埋沙法实验的效率和可靠性都不能满足现阶段对集成电路可靠性测试的需求。另一种测试方法，即所述离心法实验，相比于埋沙法实验具有周期短、效率高且适用范围大等优点。但如果离心实验的夹具不能确保待测集成电路在实验过程中受力均匀，则会导致实验失败。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提出一种离心实验夹具，实现确保待测集成电路在离心实验过程中受力均匀。基于上述目的本技术提供的一种离心实验夹具，包括：夹具盖、配重孔、夹具底座和集成电路安装槽；所述夹具盖上设置有一个以上的配重孔，所述配重孔设置于夹具盖的外表面，沿夹具盖的水平中线一字排开；所述夹具底座上设置有一个以上的集成电路安装槽，所述集成电路安装槽设置于夹具底座的内表面，沿夹具底座的竖直中线一字排开；所述集成电路安装槽4为矩形，中间位置设置有一条竖直凸起的支架；所述集成电路安装槽可以安装数种封装形式的待测集成电路；所述夹具盖和夹具底座扣盖在一起组成离心实验夹具；所述离心实验夹具的尺寸恰能够放置于离心机转子的凹槽中；所述离心实验夹具的表面涂有防静电涂层。作为一个实施例，所述待测集成电路包括但不限于：BGA、PGA和PLCC封装的集成电路。作为一个实施例，所述离心实验夹具的材料为合金材料。作为一个实施例，所述合金材料为牌号为LY12-CZ的铝镁铜合金。作为一个实施例，所述离心实验夹具的尺寸公差小于0.245cm。作为一个实施例，所述离心实验夹具的质量误差小于500mg。从上面所述可以看出，本技术提供的离心实验夹具配重孔和集成电路安装槽，可根据实际情况装入待测集成电路并调节重量，实验操作比较简单。所述离心实验夹具的表面涂有防静电涂层，可以防止离心机高速旋转时产生的静电损坏待测集成电路。严格依据实验标准要求制作离心夹具，其尺寸和质量的误差均控制在可接受的范围之内，能够满足各种封装形式集成电路离心实验需求，确保器件在离心实验过程中受力比较均匀，缩短实验周期，大大提高实验效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例离心实验夹具俯视结构图；图2为本技术实施例夹具盖示意图；图3为本技术实施例夹具底座示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本技术进一步详细说明。如图1所示，为本技术实施例离心实验夹具俯视结构图。包括：夹具盖1，夹具底座3和集成电路安装槽4。图2为本技术实施例夹具盖示意图，图3为本技术实施例夹具底座示意图。所述夹具盖1上设置有一个以上的配重孔2，所述配重孔2设置于夹具盖1的外表面，沿夹具盖1的水平中线一字排开，用于调整所述离心实验夹具总体的质量。因为如果所述离心实验夹具的质量相差过大，会导致离心实验的受力不均匀，影响实验结果。所述夹具底座3上设置有一个以上的集成电路安装槽4。所述集成电路安装槽4设置于夹具底座3的内表面，沿夹具底座3的竖直中线一字排开，用于安置待测集成电路。所述集成电路安装槽4为矩形，方便设置同为矩形的待测集成电路，其中间位置设置有一条竖直凸起的支架，用于支撑和固定待测集成电路，放止待测集成电路因为离心实验的旋转而碰撞其他部件。所述待测集成电路包括但不限于：BGA、PGA和PLCC封装的集成电路。使用时，将待测集成电路安置在所述集成电路安装槽4中，所述夹具盖1和夹具底座3扣盖在一起组成扁平状矩形的离心实验夹具。所述离心实验夹具的尺寸与使用的离心机转子的凹槽吻合。所述离心实验夹具恰能够放置于所述凹槽中，且所述夹具底座3与所述凹槽的内壁接触。作为一个实施例，所述离心实验夹具的尺寸公差控制在0.245cm以内。所述尺寸公差为允许的最大极限尺寸减最小极限尺寸之差的绝对值大小，或允许的上偏差与下偏差之差的大小。在离心机运转时，所述离心实验夹具的质量越轻则越容易到达应力要求，所以所述离心实验夹具的材料质量轻且能达到强度要求。作为一个实施例，所述离心实验夹具的材料为合金材料。优选地，所述合金材料为牌号为LY12-CZ的合金材料。所述LY12-CZ合金为一种铝铜镁硬铝合金。由于离心机的转子中设有数个用以安置夹具的凹槽，所述离心实验夹具的质量若相差过大则会导致离心机旋转时应力不均，影响实验效果。所以所述离心实验夹具的质量误差要控制在合理范围之内。所述配重孔2用以调整所述离心实验夹具的质量，起到缩小误差的作用。作为一个实施例，所述离心实验夹具的质量误差小于500mg。离心机高速旋转时会产生静电，有可能对所述离心实验夹具中安置的所诉待测集成电路造成损害，所以在所述离心实验夹具的表面涂有防静电涂层，用以保护其中的待测集成电路。通过专利技术人的实验证明，所述离心实验夹具可以适用于多种集成电路的离心实验。所述集成电路包括但不限于：BGA、PGA和PLCC封装的集成电路。综上所述，本技术提供的离心实验夹具配重孔和集成电路安装槽，可根据实际情况装入待测集成电路并调节重量，实验操作比较简单。所述离心实验夹具的表面涂有防静电涂层，可以防止离心机高速旋转时产生的静电损坏待测集成电路。严格依据实验标准要求制作离心夹具，其尺寸和质量的误差均控制在可接受的范围之内，能够满足各种封装形式集成电路离心实验需求，确保器件在离心实验过程中受力比较均匀，缩短实验周期，大大提高实验效率。所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本技术的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本技术的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本技术的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种离心实验夹具，其特征在于，包括：夹具盖(1)、配重孔(2)、夹具底座(3)和集成电路安装槽(4)；所述夹具盖(1)上设置有一个以上的配重孔(2)，所述配重孔(2)设置于夹具盖(1)的外表面，沿夹具盖(1)的水平中线一字排开；所述夹具底座(3)上设置有一个以上的集成电路安装槽(4)，所述集成电路安装槽(4)设置于夹具底座(3)的内表面，沿夹具底座(3)的竖直中线一字排开；所述集成电路安装槽4为矩形，中间位置设置有一条竖直凸起的支架；所述集成电路安装槽(4)可以安装数种封装形式的待测集成电路；所述夹具盖(1)和夹具底座(3)扣盖在一起组成离心实验夹具；所述离心实验夹具的尺寸恰能够放置于离心机转子的凹槽中；所述离心实验夹具的表面涂有防静电涂层。

【技术特征摘要】
1.一种离心实验夹具，其特征在于，包括：夹具盖(1)、配重孔(2)、夹具底座(3)和集成电路安装槽(4)；所述夹具盖(1)上设置有一个以上的配重孔(2)，所述配重孔(2)设置于夹具盖(1)的外表面，沿夹具盖(1)的水平中线一字排开；所述夹具底座(3)上设置有一个以上的集成电路安装槽(4)，所述集成电路安装槽(4)设置于夹具底座(3)的内表面，沿夹具底座(3)的竖直中线一字排开；所述集成电路安装槽4为矩形，中间位置设置有一条竖直凸起的支架；所述集成电路安装槽(4)可以安装数种封装形式的待测集成电路；所述夹具盖(1)和夹具底座(3)扣盖在一起组成离心实验夹具；所述离心实...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁宇，谢春艳，张瑞杰，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：新型
国别省市：北京,11