The utility model discloses a wafer polishing system for reducing the defects in the manufacture of semiconductor devices. The structure comprises a lifting cylinder seat, an upper grinding disk slow drop driving mechanism, a wafer polishing device, a control support seat, an electronic preset counter, a lower polishing rotating working disk, a polishing table, a controller, a polishing dedusting mechanism, and a reduction and dedusting mechanism. The polishing pad is fixed on the polishing table, the polishing table is perpendicular to the lower polishing rotating working disk, the bottom of the polishing table is welded to the shock absorber pad, the rear end face of the polishing platform is welded with the control support seat, and a supporting column and two support columns are provided on the control support seat. The coordination between the disk slow drop driving mechanism and the wafer polishing device can stabilize the lifting and polishing work, effectively prevent the breakage of the workpiece, and can also control the pressure independently, and can reduce the damage to the semiconductor wafer in the manufacturing.
【技术实现步骤摘要】
一种用于减少制造半导体器件时缺陷的晶片抛光系统
本技术是一种用于减少制造半导体器件时缺陷的晶片抛光系统,属于制造半导体器件时缺陷的晶片抛光
技术介绍
半导体基片的结构厚度已经被降低到0.35微米,但抛光和平展化任然是制备微电子原件的必要准备。因此,抛光半导体基底材料的任务将在集成电路的制造过程中的角度来限定。在半导体晶片的生产中,对半导体晶片的加工精度和表面质量要求越来越苛刻。在半导体晶片经过打磨后,其表面会存留磨屑和砂轮脱落的颗粒等微粒,仅通过去离子水冲洗和干燥空气吹干的方法是无法全部去除的,这就会在后续的抛光工序中微粒处形成复映,严重影响到晶片表面质量。在晶片磨削过程中,多孔陶瓷吸盘利用真空吸附晶片,其上表面作为晶片定位面,表面形状直接影响到晶片磨削后的形状。如果多孔陶瓷吸盘表面存在颗粒,在吸盘负压作用下,颗粒处的晶片会翘曲或碎裂,严重影响晶片表面磨削质量。假如颗粒将多孔陶瓷吸盘上的微孔堵塞,会导致多孔陶瓷吸盘失去真空吸附作用。因此,在晶片磨床中会采取手动清洗或自动清洗方式清除晶片表面微粒、清除多孔陶瓷吸盘表面颗粒和打磨吸盘表面,以保证多孔陶瓷吸盘面型和良好的透气性,提高晶片表面磨削质量。现有技术公开了申请号为:CN01821762.1的一种用于使半导体晶片抛光的系统和方法包括:可变部分片-晶片重叠抛光机,其具有减少的表面面积;固定研磨抛光片;以及抛光机,其具有非研磨抛光片,用于与研磨浆料一起使用。该方法包括:首先使用可变部分片-晶片重叠抛光机和固定研磨抛光片来使晶片抛光,然后在分散研磨处理中使晶片抛光,直到达到期望的晶片厚度。现有的抛光装置 ...
【技术保护点】
1.一种用于减少制造半导体器件时缺陷的晶片抛光系统,其结构包括升降气缸座(1)、上磨盘缓降驱动机构(2)、晶片抛光装置(3)、控制支撑座(4)、电子预置计数器(5)、下抛光旋转工作盘(6)、抛光台(7)、控制器(8)、抛光除尘机构(9)、减震脚垫(10),所述下抛光旋转工作盘(6)固定装设在抛光台(7)上,所述抛光台(7)与下抛光旋转工作盘(6)相互垂直,所述抛光台(7)底部焊接于减震脚垫(10),所述抛光台(7)后方端面与控制支撑座(4)焊接,所述控制支撑座(4)上设有一位支撑柱(41)和二位支撑柱(42),所述控制支撑座(4)左右两端分别套设于一位支撑柱(41)、二位支撑柱(42),所述一位支撑柱(41)、二位支撑柱(42)与控制支撑座(4)过盈配合,所述一位支撑柱(41)、二位支撑柱(42)与抛光台(7)相垂直,所述一位支撑柱(41)上固定设有控制器(8),所述二位支撑柱(42)上固定设有电子预置计数器(5),所述升降气缸座(1)装设在控制支撑座(4)正中心顶端上,所述升降气缸座(1)上设有执行气缸(100),所述升降气缸座(1)与执行气缸(100)相连接,所述执行气缸(100) ...
【技术特征摘要】
1.一种用于减少制造半导体器件时缺陷的晶片抛光系统,其结构包括升降气缸座(1)、上磨盘缓降驱动机构(2)、晶片抛光装置(3)、控制支撑座(4)、电子预置计数器(5)、下抛光旋转工作盘(6)、抛光台(7)、控制器(8)、抛光除尘机构(9)、减震脚垫(10),所述下抛光旋转工作盘(6)固定装设在抛光台(7)上,所述抛光台(7)与下抛光旋转工作盘(6)相互垂直,所述抛光台(7)底部焊接于减震脚垫(10),所述抛光台(7)后方端面与控制支撑座(4)焊接,所述控制支撑座(4)上设有一位支撑柱(41)和二位支撑柱(42),所述控制支撑座(4)左右两端分别套设于一位支撑柱(41)、二位支撑柱(42),所述一位支撑柱(41)、二位支撑柱(42)与控制支撑座(4)过盈配合,所述一位支撑柱(41)、二位支撑柱(42)与抛光台(7)相垂直,所述一位支撑柱(41)上固定设有控制器(8),所述二位支撑柱(42)上固定设有电子预置计数器(5),所述升降气缸座(1)装设在控制支撑座(4)正中心顶端上,所述升降气缸座(1)上设有执行气缸(100),所述升降气缸座(1)与执行气缸(100)相连接,所述执行气缸(100)底部与晶片抛光装置(3)相连接,所述晶片抛光装置(3)与上磨盘缓降驱动机构(2)垂直,所述晶片抛光装置(3)与下抛光旋转工作盘(6)处于同一水平线上,其特征在于:所述抛光台(7)上设有总电源开关(71)、散热窗口(72)、电控座(73),所述总电源开关(71)设于抛光台(7)左侧,所述电控座(73)装设在抛光台(7)内部,所述散热窗口(72)内嵌于电控座(73),所述晶片抛光装置(3)由控制线(31)、传动块(32)、上连接器(33)、抛光剂供给管(34)、上抛光盘(35)和缓冲胶垫(36)组成,所述控制线(31)与控制支撑座(4)连接,所述传动块(32)与执行气缸(100)垂直,所述传动块(32)与上连接器(33)连接,所述抛光剂供给管(34)设于上抛光盘(35)、上连接器(33)之间,所述上抛光盘(35)与缓冲胶垫(36)相互平行,所述缓冲胶垫(36)中心端设有抛光除尘机构(9),所述下抛光旋转工作盘(6)由旋转台(61)、减速器(62)、电机(63)、刻度条(64)、抛光太阳轮(65)、太阳轮垫片(66)和旋转盘(67)组成,所述电机(63)设于旋转台(61)内部,所述电机(63)、减速器(62)连接,所述电机(63)与旋转盘(67)通过电连接,所述旋转盘(67)设于旋转台(61)顶端并垂直,所述抛光太阳轮(65)装设在旋转盘(67)中心,所述抛光太阳轮(65)内嵌于旋转盘(67)并与旋转盘(67)过度配合,所述旋转盘(67)上固定设有刻度条(64),所述太阳轮垫...
【专利技术属性】
技术研发人员:王立飞,王家彬,
申请(专利权)人:南安紫鲸铃工业设计有限公司,
类型:新型
国别省市:福建,35
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