食材量测装置与煎烤机制造方法及图纸

一种食材量测装置与煎烤机，食材量测装置包含安装于煎烤装置的第二煎烤单元的磁场产生单元、安装于煎烤装置的第一煎烤单元的磁场感应单元，及处理单元，当第二煎烤单元相对于第一煎烤单元转动时，能带动磁场产生单元沿轴线相对于磁场感应单元转动，在第二煎烤单元与第一煎烤单元彼此相对一个相夹角度时，磁场感应单元会感应磁场产生单元所产生的磁场，处理单元会根据磁场感应单元所感应的磁场分析得到对应相夹角度的相夹角度参数，食材量测装置能通过相夹角度参数分析出食材厚度，进而估算出适当的煎烤时间。

Material measuring device and grilling machine

A material measuring device and a grilling machine include a magnetic field generating unit of a second frying unit installed in a roast unit, a magnetic field induction unit installed in the first frying unit of a roast device, and a processing unit. When the second frying unit rotates relative to the first grilling unit, it can drive the magnetic field to produce a single unit. When the element is rotating relative to the magnetic field induction unit along the axis, the magnetic field induction unit induces the magnetic field generated by the magnetic field when the second grilling unit and the first grilling unit are relative to each other. The processing unit will get the angle reference of the clip angle corresponding to the phase clip angle according to the magnetic field induced by the magnetic induction unit. The food thickness measurement device can analyze the thickness of the food through the angle parameter of the clamp, and then estimate the appropriate frying time.

【技术实现步骤摘要】
食材量测装置与煎烤机
本专利技术涉及一种烹调器具，特别是涉及一种食材量测装置与煎烤机。
技术介绍
现有的煎烤机包含一个能供食材摆放的第一煎烤单元，及一个与该第一煎烤单元能枢转地结合的第二煎烤单元，该第一煎烤单元与该第二煎烤单元相配合夹持该食材，以对该食材进行煎烤，而该煎烤机在煎烤前，必须由使用者自行设定所需的煎烤时间，以供该煎烤机根据所设定的时间进行煎烤，然而该煎烤时间必须由使用者根据食材的厚度以及长时间累积的煎烤经验，才能判断出正确的煎烤时间，若使用者对该煎烤机不熟悉或缺乏煎烤经验，就无法设定适当的煎烤时间来进行煎烤，而煎烤出未熟成或过度熟成的食物。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能改善先前技术的至少一个缺点的食材量测装置。本专利技术的食材量测装置，适用于安装在煎烤装置，所述煎烤装置包含用于供食材摆放的第一煎烤单元，及能沿一条轴线与所述第一煎烤单元能枢转地结合的第二煎烤单元。所述食材量测装置包含安装于所述第一煎烤单元与第二煎烤单元的其中一个的磁场产生单元、安装于所述第一煎烤单元与第二煎烤单元的其中另一个且与所述磁场产生单元彼此间隔的磁场感应单元，及讯号连接所述磁场感应单元的处理单元，当所述第二煎烤单元相对于所述第一煎烤单元转动时，能带动所述磁场感应单元与所述磁场产生单元绕所述轴线彼此相对转动，在所述第二煎烤单元与所述第一煎烤单元彼此相对一个相夹角度时，所述磁场感应单元会感应所述磁场产生单元所产生的磁场，所述处理单元会根据所述磁场感应单元所感应的磁场，分析得到对应所述相夹角度的相夹角度参数。本专利技术所述的食材量测装置，所述处理单元包括能根据所述磁场感应单元所感应的磁场分析出所述相夹角度参数的角度分析模块，及能根据所述相夹角度参数分析出对应所述食材厚度的厚度参数的厚度分析模块。本专利技术所述的食材量测装置，所述角度分析模块具有转换子模块，及校正子模块，在所述第二煎烤单元与所述第一煎烤单元彼此相对所述相夹角度时，所述磁场感应单元与所述磁场产生单元相对一个相对角度，所述转换子模块能根据所述磁场感应单元所感应的磁场转换输出对应所述相对角度的相对角度参数，所述校正子模块内建有初始角度参数，所述校正子模块在所述相对角度参数大于等于所述初始角度参数时，将所述相对角度参数减所述初始角度参数而输出所述相夹角度参数；在所述相对角度参数小于所述初始角度参数时，将所述相对角度参数加上360°再减所述初始角度参数而输出所述相夹角度参数。本专利技术所述的食材量测装置，所述处理单元还包括夹持判断模块，所述夹持判断模块会于所述角度分析模块所输出的相夹角度参数在单位时间的变化量小于稳定值时，比较所述相夹角度参数是否大于第一角度阈值，并于所述相夹角度参数大于所述第一角度阈值时输出分析命令，所述厚度分析模块能被所述分析命令触发启动，而分析出所述厚度参数。本专利技术所述的食材量测装置，所述夹持判断模块还会比较所述相夹角度参数是否小于第二角度阈值，并于所述相夹角度参数大于所述第一角度阈值且小于所述第二角度阈值时输出所述分析命令。本专利技术所述的食材量测装置，所述磁场产生单元具有带磁体，所述磁场感应单元具有感磁组件，所述带磁体与所述感磁组件沿所述轴线间隔排列，并绕所述轴线相对转动。本专利技术所述的食材量测装置，所述磁场产生单元具有带磁体，所述磁场感应单元具有数个感磁组件，所述感磁组件绕着所述轴线彼此角度间隔排列并围绕所述带磁体，所述带磁体与所述感磁组件绕所述轴线相对转动。本专利技术所述的食材量测装置，所述磁场产生单元具有数个带磁体，所述磁场感应单元具有感磁组件，所述带磁体绕着所述轴线彼此角度间隔排列，所述感磁组件位于所述带磁体的径向外侧，所述带磁体与所述感磁组件绕所述轴线相对转动。本专利技术所述的食材量测装置，所述磁场产生单元安装于所述第二煎烤单元，所述磁场感应单元安装于所述第一煎烤单元，在所述第二煎烤单元转动时，所述磁场产生单元会被带动而相对于所述磁场感应单元转动。本专利技术的另一目的在于提供一种能改善先前技术的至少一个缺点的煎烤机。本专利技术的煎烤机，包含煎烤装置，所述煎烤装置包含能供食材摆放的第一煎烤单元，及与所述第一煎烤单元能枢转地结合并与所述第一煎烤单元相配合夹持所述食材的第二煎烤单元。所述煎烤机还包含所述的食材量测装置。本专利技术所述的煎烤机，所述第一煎烤单元具有第一烤盘座、连接于所述第一烤盘座后侧的第一枢接座，及沿所述轴线与所述第一枢接座排列设置的安装板，所述第一枢接座具有沿所述轴线贯穿的插孔，所述第二煎烤单元具有用以和所述第一烤盘座上下向夹抵食材的第二烤盘座、设置于所述第一枢接座远离所述安装板的一侧的第二枢接座、穿设于所述插孔并延伸连接所述第二枢接座以使所述第二枢接座能转动地枢接于所述第一枢接座的枢接杆，及枢接于所述第二烤盘座且连接于所述第二枢接座并能经由所述第二枢接座相对所述第一煎烤单元上下摆移的抬架，且所述抬架的上下摆移能带动所述第二烤盘座相对所述第一烤盘座上下位移，所述枢接杆具有远离所述第二枢接座而邻近所述安装板的杆头部，所述磁场产生单元设置于所述枢接杆的杆头部，所述磁场感应单元设置于安装板并与所述磁场产生单元彼此间隔。本专利技术所述的煎烤机，所述第一枢接座具有具有所述插孔的第一基壁，及数个突设所述第一基壁面向所述安装板的一侧的凸块，所述安装板靠抵于所述凸块而与所述第一基壁彼此间隔，所述插孔具有邻近于所述安装板的大孔径部、远离所述安装板且孔径小于所述大孔径部的小孔径部，及介于所述大孔径部与所述小孔径部间的肩部，所述枢接杆的杆头部位于所述大孔径部且抵靠于所述肩部，所述枢接杆还具有由所述杆头部延伸穿过所述小孔径部而连接所述第二枢接座的杆身部。本专利技术的有益效果在于：通过所述煎烤装置与所述食材量测装置的设计，能在所述第二煎烤单元转动时，同步带动所述磁场产生单元与所述磁场感应单元彼此相对转动，并通过所述磁场感应单元感应所述磁场产生单元产生的磁场，而分析出代表所述第二煎烤单元与所述第一煎烤单元间的相夹角度的所述相夹角度参数，所述煎烤机通过所述相夹角度参数能分析出食材厚度，进而估算出适当的煎烤时间以利于煎烤出熟成程度适当的食物。附图说明本专利技术的其他的特征及功效，将于参照图式的实施方式中清楚地呈现，其中：图1是一个立体分解图，说明本专利技术煎烤机的一个第一实施例；图2是一个侧视图，说明该第一实施例的一个第二煎烤单元盖合于一个第一煎烤单元；图3是一个沿着图2中Ⅲ-Ⅲ线所截取的剖面图，说明该第一实施例的内部结构；图4是一个功能方块示意图，说明该第一实施例的一个食材量测装置的系统结构；图5是一个部分示意图，说明该第一实施例的该第二煎烤单元盖合于该第一煎烤单元时，一个带磁体与一个感磁组件的相对位置关系；图6是一个侧视图，说明该第一实施例的该第二煎烤单元与该第一煎烤单元相配合夹持一个食材；图7是一个部分示意图，说明该第一实施例的该第二煎烤单元与该第一煎烤单元相配合夹持该食材时，该带磁体与该感磁组件的相对位置关系；图8是一个部分示意图，说明本专利技术煎烤机的一个第二实施例，一个带磁体与八个感磁组件的相对位置关系；图9是一个部分示意图，说明本专利技术煎烤机的一个第三实施例，两个带磁体与一个感磁组件的相对位置关系。具体实施方式在本专利技术被详细描述前，应当注意在以下的说明内容中，类似的组件是以相同的编号来本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种食材量测装置，适用于安装在煎烤装置，所述煎烤装置包含用于供食材摆放的第一煎烤单元，及能沿一条轴线与所述第一煎烤单元能枢转地结合的第二煎烤单元，其特征在于：所述食材量测装置包含安装于所述第一煎烤单元与第二煎烤单元的其中一个的磁场产生单元、安装于所述第一煎烤单元与第二煎烤单元的其中另一个且与所述磁场产生单元彼此间隔的磁场感应单元，及讯号连接所述磁场感应单元的处理单元，当所述第二煎烤单元相对于所述第一煎烤单元转动时，能带动所述磁场感应单元与所述磁场产生单元绕所述轴线彼此相对转动，在所述第二煎烤单元与所述第一煎烤单元彼此相对一个相夹角度时，所述磁场感应单元会感应所述磁场产生单元所产生的磁场，所述处理单元会根据所述磁场感应单元所感应的磁场，分析得到对应所述相夹角度的相夹角度参数。

【技术特征摘要】
2017.01.25 CN 20171006052621.一种食材量测装置，适用于安装在煎烤装置，所述煎烤装置包含用于供食材摆放的第一煎烤单元，及能沿一条轴线与所述第一煎烤单元能枢转地结合的第二煎烤单元，其特征在于：所述食材量测装置包含安装于所述第一煎烤单元与第二煎烤单元的其中一个的磁场产生单元、安装于所述第一煎烤单元与第二煎烤单元的其中另一个且与所述磁场产生单元彼此间隔的磁场感应单元，及讯号连接所述磁场感应单元的处理单元，当所述第二煎烤单元相对于所述第一煎烤单元转动时，能带动所述磁场感应单元与所述磁场产生单元绕所述轴线彼此相对转动，在所述第二煎烤单元与所述第一煎烤单元彼此相对一个相夹角度时，所述磁场感应单元会感应所述磁场产生单元所产生的磁场，所述处理单元会根据所述磁场感应单元所感应的磁场，分析得到对应所述相夹角度的相夹角度参数。2.如权利要求1所述的食材量测装置，其特征在于：所述处理单元包括能根据所述磁场感应单元所感应的磁场分析出所述相夹角度参数的角度分析模块，及能根据所述相夹角度参数分析出对应所述食材厚度的厚度参数的厚度分析模块。3.如权利要求2所述的食材量测装置，其特征在于：所述角度分析模块具有转换子模块，及校正子模块，在所述第二煎烤单元与所述第一煎烤单元彼此相对所述相夹角度时，所述磁场感应单元与所述磁场产生单元相对一个相对角度，所述转换子模块能根据所述磁场感应单元所感应的磁场转换输出对应所述相对角度的相对角度参数，所述校正子模块内建有初始角度参数，所述校正子模块在所述相对角度参数大于等于所述初始角度参数时，将所述相对角度参数减所述初始角度参数而输出所述相夹角度参数；在所述相对角度参数小于所述初始角度参数时，将所述相对角度参数加上360°再减去所述初始角度参数而输出所述相夹角度参数。4.如权利要求2所述的食材量测装置，其特征在于：所述处理单元还包括夹持判断模块，所述夹持判断模块会于所述角度分析模块所输出的相夹角度参数在单位时间的变化量小于稳定值时，比较所述相夹角度参数是否大于第一角度阈值，并于所述相夹角度参数大于所述第一角度阈值时输出分析命令，所述厚度分析模块能被所述分析命令触发启动，而分析出所述厚度参数。5.如权利要求4所述的食材量测装置，其特征在于：所述夹持判断模块还会比较所述相夹角度参数是否小于第二角度阈值，并于所述相夹角度参数大于所述第一角度阈值且小于所述第二角度阈值时输出所述分析命令。6.如权利要求1所述的食材量测装置，其特征在于：所述磁场产生单元具有带磁体，所述磁场感应单...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙晓森，蔡灿加，王进贵，
申请(专利权)人：漳州灿坤实业有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35