大米精度检测装置制造方法及图纸

本申请提供了一种大米精度检测装置，包括上滑道、图像采集装置以及数据处理系统，所述滑道位于图像采集装置的上方，所述图像采集装置至少为三个，且各图像采集装置位于同一平面内，所述图像采集装置的数据输出端与数据处理系统相连。采用本申请的大米精度检测系统，从大米的多个面同时获取大米表皮信息，通过图像仿真和计算，能够准确获得大米背沟留皮情况和表面留皮面积及其占整个大米的面积比例。

Rice precision testing device

The application provides a rice precision detection device, including an upper slideway, an image acquisition device, and a data processing system. The slideway is located above the image acquisition device. The image acquisition device is at least three, and each image acquisition device is located in the same plane. The data output end of the image acquisition device and the image acquisition device are at the end of the data output and the data output end of the image acquisition device. The data processing system is connected. The rice precision detection system is used to obtain rice epidermis information at the same time. Through the image simulation and calculation, the rice back furrow retention and the surface area and the proportion of the whole rice area can be obtained.

【技术实现步骤摘要】
大米精度检测装置
本申请属于大米生产加工系统的检测装置，具体涉及一种大米精度检测装置。
技术介绍
大米精度是判断大米加工等级的一种重要方法，随着大米加工精度的不同，大米中含有的营养成分及其相应的口感都会不同。现有的大米精度判断方法主要有化学法和仪器法。其中化学法指采用IDS试剂染色，通过染色剂使米粒胚乳和胚乳表面残留糠皮呈现颜色不同来判定，该方法操作过程繁琐。仪器法指根据不同加工精度导致大米营养含量不同，采用大米表面提取物进行可见或红外的光谱分析，该方法受到不同米样本身的营养含量影响，其结果难以准确定量。由于大米加工精度的不同会导致大米颜色的不同，也有采用大米颜色值来直接测试大米精度，如现有的大米白度仪，便是利用大米整体颜色值来判断其精度，但这样测量结果精确度低。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种高效率、高精度的大米精度检测装置。为实现上述目的，本申请提供了以下技术方案：一种大米精度检测系统，包括上滑道、图像采集装置以及数据处理系统，所述滑道位于图像采集装置的上方，所述图像采集装置至少为三个，且各图像采集装置位于同一平面内，所述图像采集装置的数据输出端与数据处理系统相连。所述上滑道用于限定大米颗粒按预设路径向下滑落，所述图像采集装置用于采集大米颗粒完整的周面外观图像，图像采集装置的视点位于大米颗粒从滑道抛出后的抛落路径上，所述图像采集装置的采集的图像信息发送至数据处理模块，数据处理模块用于计算大米颗粒表面的留皮程度数据，并将该数据与标准数据进行比较，判断出大米的加工精度。优选的，所述图像采集装置包括视镜、光源和背景板，所述视镜与背景板相对设置，视点位于视镜和背景板之间，所述光源设置于视点偏向视镜的一侧，使视点朝向视镜的一侧能够受到光源的照射。优选的，所属光源设置于视镜的上方或下方。更优选的，所述光源12和视点之间的连线以及视镜和视点之间的连线所形成的角度为30-45°。优选的，所述光源安装在灯箱内，灯箱前端设有遮光部。所述遮光部能够限制光源的照射范围，使光线在照亮视点时光线不会进入其余视镜。优选的，所述上滑道与所述图像采集装置所在的平面垂直，能够限定大米颗粒沿铅垂方向竖直滑落。优选的，视点距离滑槽底端垂直方向的直线距离为3-10cm，以保证滑槽不会影响照明。优选的，各图像采集装置与视点的水平距离为150mm-200mm，以获得大米表面留皮清晰图像。优选的，所述图像采集装置还包括探测器，所述探测器为高分辨率CCD探测器，所述高分辨率CCD探测器的分辨率小于0.05mm，如此也能够有效获得大米表面留皮清晰图像。优选的，所述视点边缘沿周向均匀间隔设置有多根校正条，各视镜的视场两侧边界分别于相邻的两校正条重合，通过校正条的设置可对图像采集装置中各视镜的视野范围进行调整，以免各视镜采集图像视相互干扰。优选的，所述大米精度检测系统，还包括来料装置和出料装置，所述来料装置包括第一输送带，所述出料装置包括第二输送带，所述第一输送带的进料端连接上游大米加工产线，第一输送带的出料端连接所述上滑道的进料端；物料经下滑道引导至第二输送带，第二输送带的出料端与下游大米加工产线或储料仓相连。本申请的技术效果在于：本申请中采用多组检测装置，从大米的多个面同时获取大米表皮信息，通过图像仿真和计算，能够准确获得大米背沟留皮情况和表面留皮面积及占整个大米的面积比例。附图说明图1是本申请的实施例1所提供的大米精度检测装置的立体图；图2是本申请的实施例1所提供的大米精度检测装置的图像采集装置的立体图图3是本申请的实施例1所提供的大米精度检测装置的图像采集装置的俯视图图4是本申请的实施例1所提供的大米精度检测装置的图像采集装置的侧视图；图5是本申请的实施例1所提供的大米精度检测装置的具有校正条的图像采集装置的俯视图；图6是本申请的实施例2所提供的大米精度检测装置的图像采集装置的俯视图；图7是本申请的实施例2所提供的大米精度检测装置的具有校正条的图像采集装置的俯视图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术进行详细的描述。需要特别说明的是，本申请中所述的“视点”应当理解为一个具有一定体积的空间，而并非一个点，该空间位于大米下落路径上，同时位于各视镜的视场交汇处。实施例1首先说明本申请的大米精度检测装置设计原理。大米留皮多分为三种情况，一是背沟有皮成线且表皮有黄色残留皮层，二是背沟有皮成线但表皮无残留皮层，三是背沟有皮不成线。也即该光学系统需要完成背沟线条的识别和大米表面留皮的识别，通常留皮颜色较正常大米颜色深，如留皮可能为黄色，在可见光照射时，该颜色对光的反射率小，可与正常大米区域区分开。而背沟线条多成褐色，其在可见光照射时，反射率与正常大米也有不同。本申请中采用多组图像采集装置，从大米的多个角度同时获取大米表面留皮信息，通过图像仿真和计算，能够准确获得大米背沟留皮面积和表面留皮面积，以及背沟留皮面积和表面留皮面积占整个大米的面积比例。本申请的大米精度检测装置的具体结构，参照图1所示，包括上滑道20、图像采集装置10以及数据处理系统，上滑道20位于图像采集装置10的上方，图像采集装置10与数据处理系统连接，以将采集的图片信息传送到数据处理系统。所述上滑道20用于限定大米颗粒按预设路径向下滑落，所述图像采集装置10用于采集大米颗粒外观图像，图像采集装置10的视点1位于大米颗粒从滑道滑出后的运动路径上。具体的，如图2、图3所示，图像采集装置10设置为3个，沿视点1周向间隔设置，各图像采集装置位于同一平面内，且该平面与大米颗粒的抛落路径垂直；所述图像采集装置10将采集的图像信息发送至数据处理系统，数据处理系统用于计算大米颗粒表面的留皮程度数据，并将该数据与标准数据进行比较，判断出大米的加工精度。如图2所示，图像采集装置10包括视镜11、光源12和背景板13，所述视镜11与背景板13正对设置，所述视点1位于视镜11和背景板13之间，所述光源12设置于视镜11的一侧，使视点1朝向视镜11的一侧能够受到光源12的照射。在一实施例中，所述光源可12位于视镜11的上方或下方。光源12进一步优选为置于视镜11的下方。在一实施例中，所述探测器为高分辨率CCD探测器，因精度检测过程中需要判断背部线条是连续的还是断续的，而背部线条是凹陷的，另外在计算留皮面积时，需要采集到的图片能够有更明确清晰的线条或者轮廓，采用高分辨率的CCD探测器能够将表面留皮以及背部留皮的线条或轮廓显示的更清楚，具体的分辨率应小于0.05mm。在一实施例中，背景板13为亮背景，具体的可为蓝色，背景板13由背景灯131和漫透射板132组成，漫透射板132装于背景灯131前端，可将背景灯131发出的光线变成面光源。在一实施例中，为保证滑槽不会影响视点1照明，视点1距离滑槽底端垂直方向的直线距离控制在3-10cm。在一实施例中，所述光源12位于视镜11的下方，光源12的照射方向为斜向上的朝向视点1所在位置。所述图像采集单元供设有三组，三组图像采集单元中的各视镜11中心点与视点1位于同一平面内，三组图像采集单元的各视镜11和背景板13沿视点1周向交替均匀间隔布置。在一实施例中，所述光源12安装在灯箱121内，灯箱121前端设有遮光部，所述遮光部能够限制光源12的照射范围，使光线在照亮视点1时光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大米精度检测装置，其特征在于：包括上滑道、图像采集装置以及数据处理系统，所述滑道位于图像采集装置的上方，所述图像采集装置至少为三个，且各图像采集装置位于同一平面内，所述图像采集装置的数据输出端与数据处理系统相连。

【技术特征摘要】
1.一种大米精度检测装置，其特征在于：包括上滑道、图像采集装置以及数据处理系统，所述滑道位于图像采集装置的上方，所述图像采集装置至少为三个，且各图像采集装置位于同一平面内，所述图像采集装置的数据输出端与数据处理系统相连。2.根据权利要求1所述的大米精度检测装置，其特征在于：所述图像采集装置包括视镜、光源和背景板，所述视镜与背景板相对设置，视点位于视镜和背景板之间，所述光源设置于视点偏向视镜的一侧。3.根据权利要求2所述的大米精度检测装置，其特征在于，所述光源设置于视镜的上方或下方。4.根据权利要求2所述的大米精度检测装置，其特征在于：光源和视点(1)之间的连线以及视镜和视点之间的连线所形成的角度为30-45°。5.根据权利要求2所述的大米精度检测装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：张夕杰，戚丽，徐春风，井长龙，朱治祥，
申请(专利权)人：合肥美亚光电技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34