一种耦合去耦网络制造技术

本发明专利技术公开一种耦合去耦网络，包括：绝缘材质的底座、设置于底座上的多个导电元件支架、以及多个耦合元件；其中一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器，另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备，每个耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间，多个耦合元件通过导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。在使用中，通过替换连接在两个支撑架之间的耦合元件或者调整多个耦合元件之间的连接关系，就可以将耦合去耦网络的参数调整至与被测设备的参数相匹配。

【技术实现步骤摘要】
一种耦合去耦网络
本专利技术属于电气测试
，尤其涉及一种耦合去耦网络。
技术介绍
随着电子技术的不断发展，电子设备所处的电磁环境日益复杂，为了检验电子设备在实际运行过程中的抗干扰能力，要对电子设备进行电磁兼容传导抗扰度测试。另外，为了检验电子设备在恶劣环境下的运行性能，需要对电子设备进行防雷测试。在对电子设备进行电磁兼容传导抗扰度测试或者防雷测试的过程中，需要使用耦合去耦网络。耦合去耦网络所起到的作用是：将干扰信号发生器产生的干扰信号耦合到被测设备，同时限制从被测设备注入到干扰信号发生器的电流，以免对干扰信号发生器造成破坏，并且防止被测设备线路上的干扰反馈到电网中，以免对其他电子设备造成影响。目前，通常将耦合去耦网络集成在干扰信号发生器中，并且耦合去耦网络的参数是固定的。而针对不同类型的被测设备进行测试的过程中，需要采用具有匹配参数的耦合去耦网络，如果耦合去耦网络的参数与被测设备的参数不匹配，会产生较大的测试误差。因此，如何提供一种能够调整参数的耦合去耦网络，是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种能够调整参数的耦合去耦网络。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：本专利技术提供一种耦合去耦网络，包括：绝缘材质的底座；设置于所述底座上的多个导电元件支架，每个所述导电元件支架包括：设置于所述底座上的底架、以及与所述底架连接且向所述底座的上方延伸的多个支撑架，其中，一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器，另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备；多个耦合元件，每个所述耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间，所述多个耦合元件通过所述导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。作为一种优选方案，在上述耦合去耦网络中，所述导电元件支架包括底架和两个支撑架。作为一种优选方案，在上述耦合去耦网络中，所述导电元件支架包括底架和三个支撑架。作为一种优选方案，在上述耦合去耦网络中，所述导电元件支架的支撑架包括：与所述底架连接、且向所述底座的上方延伸的支撑架主体；设置于所述支撑架主体的顶部的第一端部和第二端部，所述第一端部和所述第二端部均向斜上方延伸。作为一种优选方案，在上述耦合去耦网络中，通过焊接方式连接所述耦合元件与相应的支撑架。作为一种优选方案，在上述耦合去耦网络中，通过压力焊接方式连接所述耦合元件与相应的支撑架。作为一种优选方案，在上述耦合去耦网络中，通过导电夹持件连接所述耦合元件与相应的支撑架。作为一种优选方案，在上述耦合去耦网络中，所述耦合元件包括电容、放电管和导线中的任意一种或任意多种。由此可见，本专利技术的有益效果为：本专利技术公开的耦合去耦网络包括绝缘材质的底座、设置于底座上的多个导电元件支架、以及多个耦合元件，其中一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器，另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备，每个耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间，多个耦合元件通过导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。在使用中，通过替换连接在两个支撑架之间的耦合元件或者调整多个耦合元件之间的连接关系，就可以将耦合去耦网络的参数调整至与被测设备的参数匹配。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术公开的一种耦合去耦网络的结构示意图；图2为本专利技术公开的另一种耦合去耦网络的结构示意图；图3为本专利技术公开的耦合去耦网络中一种导电元件支架的示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术公开一种能够调整参数的耦合去耦网络。该耦合去耦网络包括：绝缘材质的底座；设置于底座上的多个导电元件支架，每个导电元件支架包括：设置于底座上的底架、以及与底架连接且向底座的上方延伸的多个支撑架，其中，一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器，另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备；多个耦合元件，每个耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间，多个耦合元件通过导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。参见图1，图1为本专利技术公开的一种耦合去耦网络的结构示意图。该耦合去耦网络包括底座10、多个导电元件支架21、22和23、以及多个耦合元件31和32。其中：底座10为绝缘材质。导电元件支架21、22和23设置在底座10上。导电元件支架21包括底架211、支撑架212和支撑架213，底架211设置于底座10上，支撑架212和支撑架213与底架211连接，且向底座10的上方延伸。导电元件支架22包括底架221、支撑架222和支撑架223，底架221设置于底座10上，支撑架222和支撑架223与底架221连接，且向底座10的上方延伸。导电元件支架23包括底架231、支撑架232和支撑架233，底架231设置于底座10上，支撑架232和支撑架233与底架211连接，且向底座10的上方延伸。耦合元件31连接于导电元件支架21的支撑架213和导电元件支架22的支撑架222之间，耦合元件32连接于导电元件支架22的支撑架223和导电元件支架23支撑架232之间。耦合元件31和耦合元件32通过导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。导电元件支架21的支撑架212用于连接干扰信号发生器，导电元件支架23的支撑架233用于连接被测设备。这里需要说明的是，图1仅是一个示例，导电元件支架的数量以及耦合元件的数量并不限定于图1中所示。另外，多个耦合元件通过导电元件支架所构成的耦合电路和去耦合电路可以采用现有的电路结构，本专利技术不对多个耦合元件所构成的耦合电路和去耦合电路的具体电路结构进行限定。在使用中，通过替换连接在支撑架之间的耦合元件，或者调整耦合元件之间的连接关系，就可以调整耦合去耦网络的参数。本专利技术公开的耦合去耦网络包括绝缘材质的底座、设置于底座上的多个导电元件支架、以及多个耦合元件，其中一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器，另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备，每个耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间，多个耦合元件通过导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。在使用中，通过替换连接在两个支撑架之间的耦合元件或者调整多个耦合元件之间的连接关系，就可以将耦合去耦网络的参数调整至与被测设备的参数匹配。实施中，本专利技术公开的耦合去耦网络中的耦合元件包括电容、放电管和导线中的任意一种或任意多种。需要说明的是：连接在分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间的，可以是一个耦合元件，也可以是多个耦合元件构成的耦合元件模组。例如：按照预定方式将多个放电管连接为一个耦合元件模组，将该耦合元件模组连接在分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间。例如：按照预定方式将多个电容连接为一个耦合元件模组，将该耦本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种耦合去耦网络，其特征在于，包括：绝缘材质的底座；设置于所述底座上的多个导电元件支架，每个所述导电元件支架包括：设置于所述底座上的底架、以及与所述底架连接且向所述底座的上方延伸的多个支撑架，其中，一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器，另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备；多个耦合元件，每个所述耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间，所述多个耦合元件通过所述导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。

【技术特征摘要】
1.一种耦合去耦网络，其特征在于，包括：绝缘材质的底座；设置于所述底座上的多个导电元件支架，每个所述导电元件支架包括：设置于所述底座上的底架、以及与所述底架连接且向所述底座的上方延伸的多个支撑架，其中，一个导电元件支架的一个支撑架用于连接干扰信号发生器，另一个导电元件支架的一个支撑架用于连接被测设备；多个耦合元件，每个所述耦合元件连接于分属于不同导电元件支架的两个支撑架之间，所述多个耦合元件通过所述导电元件支架构成耦合电路和去耦合电路。2.根据权利要求1所述的耦合去耦网络，其特征在于，所述导电元件支架包括底架和两个支撑架。3.根据权利要求1所述的耦合去耦网络，其特征在于，所述导电元件支架包括底架和三个支撑架。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：徐叶，周少琼，买华，翟勇，张唯，
申请(专利权)人：北京铁路信号有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11