一种阵列基板、显示面板以及显示装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种阵列基板、显示面板以及显示装置，阵列基板包括衬底基板，衬底基板包括显示区域和非显示区域，还包括：形成在显示区域上的m组数据线组，每一组数据线组包括n条数据线，其中，n≥4的偶数；形成在非显示区域上的第一测试线和第二测试线；第一测试线和各数据线位于同层，且第一测试线与各数据线组中的第奇数条数据线均电连接；第二测试线和各数据线位于不同层，且第二测试线与各数据线组中的第偶数条数据线均电连接；第p组数据线组中第n条数据线以及第p+1组数据线组中第2条数据线通过同一个导通孔和第二测试线电连接；使得需要换层的第二测试线不需要设计额外的分支，提高了阵列基板非显示区域的空间利用率。

【技术实现步骤摘要】
一种阵列基板、显示面板以及显示装置
本技术实施例涉及显示面板的布线
，尤其涉及一种阵列基板、显示面板以及显示装置。
技术介绍
随着手机、电视等终端行业的快速发展，对显示面板的要求越来越高，显示面板各厂商出货前需要对每一片显示面板进行功能测试，以确保显示面板的质量可靠性。现有技术中，对显示面板进行测试，方法主要包括：FullyContact和LCDQuicker的测试方法，相比FullyContact的方法，LCDQuicker方法具有可重复检测，测试效率高等优点，因此LCDQuicker方法越来越被广泛应用。参照图1示出的一种现有技术的一种LCDQuicker方法的阵列基板布线设计电路图，以及图2示出的一种现有技术的一种LCDQuicker方法的阵列基板布线设计布局(layout)图，在该阵列基板上设置了测试线SE、测试线SO，其中，SE为与阵列基板上数据线中的偶数列相连的测试线，SO为与阵列基板上数据线中的奇数列相连的测试线，SO分别通过薄膜晶体管T1、T3、T5与第一数据线D1、第三数据线D3、第五数据线D5电连接，SE分别通过薄膜晶体管T2、T4、T6与第二数据线D2、第四数据线D4、第六数据线D6电连接，同时控制薄膜晶体管开关的控制线T与各薄膜晶体管的栅极电连接，为了提高阵列基板上引出测试线SE和测试线SO时的空间利用率，SE和SO位于阵列基板上的不同层。然而，在该方案中，由于现有的线宽线距的设计要求，导致SE线不可避免的需要设计成上下两支，且SE线与每一根数据线连接时都需要通过层间的导通孔来换层，大大降低了布线的空间利用率，挤占了测试线SE和数据线之间的薄膜晶体管T1、T2、T3、T4、T5、T6的设计空间，不利于薄膜晶体管T1、T2、T3、T4、T5、T6的W/L(其中，W为薄膜晶体管源极和漏极的纵向宽度，L为薄膜晶体管的有源层的宽度)参数的提高，当面对阵列基板功能测试时的像素电极的RC负载较大时，上述的W/L参数难以满足设计要求。
技术实现思路
本技术提供一种阵列基板、显示面板以及显示装置，以实现在阵列基板有限的非显示区域设计出空间利用率高的测试电路。第一方面，本专利技术实施例提供了一种阵列基板，所述阵列基板包括衬底基板，所述衬底基板包括显示区域和非显示区域，所述阵列基板还包括：形成在所述衬底基板显示区域上的m组数据线组，所述m组数据线组沿第二方向依次排列，每一组所述数据线组包括n条沿第一方向延伸的数据线，其中，n≥4的偶数；形成在所述衬底基板非显示区域上的第一测试线和第二测试线，所述第一测试线和所述第二测试线沿第二方向延伸，沿第一方向排列；所述第一测试线和各所述数据线位于同层，且所述第一测试线与各所述数据线组中的第奇数条所述数据线均电连接；所述第二测试线和各所述数据线位于不同层，且所述第二测试线与各所述数据线组中的第偶数条所述数据线均电连接；第p组所述数据线组中第n条数据线以及第p+1组所述数据线组中第2条数据线通过同一个导通孔和所述第二测试线电连接；其中，m为大于或等于2的整数，n为大于或等于4的偶数，1≤p＜p+1≤m，p为正整数，所述第一方向与所述第二方向交叉。可选地，第p组所述数据线组中第n-2k、…、第n-2、第n条数据线与第p+1组所述数据线组中第2条数据线通过同一个导通孔和所述第二测试线电连接，其中，k≥0的整数，n-2k＞2。可选地，所述第一测试线通过第一、第三、…、第n-1开关分别与每组数据线的第一、第三、…、第n-1数据线电连接，所述导通孔通过第二、第四、…、第n开关分别与每组数据线的第二、第四、…、第n数据线电连接。所述第一测试线和第二测试线在第二方向上平行，并与所述数据线垂直。可选地，n＝6，第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第六开关均为相同的薄膜晶体管，所述第一开关、第三开关、第五开关的第一端分别与第一数据线、第三数据线、第五数据线电连接，第二端分别引出走线与第一测试线电连接，所述第二开关、第四开关、第六开关的第一端分别与第二数据线、第四数据线、第六数据线电连接，第二端分别引出走线与第二测试线电连接，所述第一开关的第一端与所述第三开关的第二端在阵列基板的第一方向上的延伸重合，所述第五开关的一端与所述第四开关的第二端在阵列基板的第一方向上的延伸重合，所述第六开关的一端与下一组数据线对应的第二开关的第二端在阵列基板的第一方向上的延伸重合，所述第一开关、第五开关、第六开关位于同一行，所述第二开关、第三开关、第四开关位于同一行。可选地，所述阵列基板还包括与所述薄膜晶体管的栅极相连的测试控制线。可选地，所述第一测试线和第二测试线位于所述数据线的输入端。可选地，所述导通孔为通孔，所述通孔孔壁覆盖有ITO薄膜。可选地，所述显示区域还包括与所述数据线垂直设置的扫描线，所述第二测试线与所述扫描线同层设置。第二方面，本专利技术实施例还提供了显示面板，所述显示面板包括上述的阵列基板，以及与所述阵列基板相对设置的彩膜基板。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种显示装置，所述显示装置包括上述的显示面板。本技术通过将阵列基板上的数据线以n(n≥4的偶数)条为一组，并按照一定的顺序进行编号，在对包含该阵列基板的显示面板进行功能测试时，将第一测试线与数据线的奇数列电连接，第二测试线通过导通孔换层与数据线的偶数列电连接，且每一组的第n条数据线与下一组的第2条数据线通过同一个导通孔和第二测试线电连接，使得需要换层的第二测试线不需要设计额外的分支，提高了阵列基板非显示区域的空间利用率，同时利用两条测试线对数据线分别进行奇偶控制，也便于测试信号的输入控制。附图说明图1为现有技术的一种LCDQuicker方法的阵列基板布线设计电路图；图2是现有技术的一种LCDQuicker方法的阵列基板布线设计布局(layout)图；图3是本技术实施例的一种阵列基板的俯视图；图4是本技术实施例的一种阵列基板的部分电路图；图5是本技术实施例与图4的电路图对应的布局图；图6是图5中沿A-A’的剖面结构示意图。具体实施方式为更进一步阐述本技术为达成预定技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本技术提出的一种阵列基板、显示面板以及显示装置的具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。图1为现有技术的一种LCDQuicker方法的阵列基板布线设计电路图；图2是现有技术的一种LCDQuicker方法的阵列基板布线设计布局(layout)图；图3是本技术实施例的一种阵列基板的俯视图；图4是本技术实施例的一种阵列基板的部分电路图；图5是本技术实施例与图4的电路图对应的布局图；图6是图5中沿A-A’的剖面结构示意图。本技术实施例提供的阵列基板应用于显示面板中时，可以提高显示面板的非显示区域的空间利用率，当显示面板需要进行功能测试时，有利于测试线的设计布局，参照图3，该阵列基板具体包括：衬底基板X，衬底基板X包括显示区域Y和非显示区域Z，所述阵列基板还包括：形成在所述衬底基板显示区域上的m组数据线组，所述m组数据线组沿第二方向依次排列，每一组所述数据线组包括n条沿第一方向延伸的数据线，其中，n≥4的偶数；形成在所述衬底基板非显示区域上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板，所述阵列基板包括衬底基板，所述衬底基板包括显示区域和非显示区域，其特征在于，所述阵列基板还包括：形成在所述衬底基板所述显示区域上的m组数据线组，所述m组数据线组沿第二方向依次排列，每一组所述数据线组包括n条沿第一方向延伸的数据线，其中，n≥4的偶数；形成在所述衬底基板所述非显示区域上的第一测试线和第二测试线，所述第一测试线和所述第二测试线沿第二方向延伸，沿第一方向排列；所述第一测试线和各所述数据线位于同层，且所述第一测试线与各所述数据线组中的第奇数条所述数据线均电连接；所述第二测试线和各所述数据线位于不同层，且所述第二测试线与各所述数据线组中的第偶数条所述数据线均电连接；第p组所述数据线组中第n条数据线以及第p+1组所述数据线组中第2条数据线通过同一个导通孔和所述第二测试线电连接；其中，m为大于或等于2的整数，n为大于或等于4的偶数，1≤p＜p+1≤m，p为正整数，所述第一方向与所述第二方向交叉。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，所述阵列基板包括衬底基板，所述衬底基板包括显示区域和非显示区域，其特征在于，所述阵列基板还包括：形成在所述衬底基板所述显示区域上的m组数据线组，所述m组数据线组沿第二方向依次排列，每一组所述数据线组包括n条沿第一方向延伸的数据线，其中，n≥4的偶数；形成在所述衬底基板所述非显示区域上的第一测试线和第二测试线，所述第一测试线和所述第二测试线沿第二方向延伸，沿第一方向排列；所述第一测试线和各所述数据线位于同层，且所述第一测试线与各所述数据线组中的第奇数条所述数据线均电连接；所述第二测试线和各所述数据线位于不同层，且所述第二测试线与各所述数据线组中的第偶数条所述数据线均电连接；第p组所述数据线组中第n条数据线以及第p+1组所述数据线组中第2条数据线通过同一个导通孔和所述第二测试线电连接；其中，m为大于或等于2的整数，n为大于或等于4的偶数，1≤p＜p+1≤m，p为正整数，所述第一方向与所述第二方向交叉。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，第p组所述数据线组中第n-2k、…、第n-2、第n条数据线与第p+1组所述数据线组中第2条数据线通过同一个导通孔和所述第二测试线电连接，其中，k≥0的整数，n-2k＞2。3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述第一测试线通过第一、第三、…、第n-1开关分别与每组数据线的第一、第三、…、第n-1数据线电连接，所述导通孔通过第二、第四、…、第n开关分别与每组数据线的第二、第四、…、第n数据线电连接。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶圆龙，段周雄，井晓静，张鼎，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32