一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法技术

技术编号:18113063 阅读:33 留言:0更新日期:2018-06-03 07:23
本发明专利技术公开了一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法,通过包括:50欧姆匹配电阻、混响室、接收天线和频谱仪构建的基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统实现。被测设备置于混响室内,调整混响室发射功率,当接收天线接收功率达到稳定时,读取接收天线接收功率PREP与被测设备接收功率PEUT;改变混响室发射电磁波频率,重复进行测量线缆损耗值和测试接收天线与被测设备接收功率步骤,获取全部预设频点的PREP和PEUT后根据测试结果计算小型结构体屏蔽效能。本发明专利技术重复测试准确性高,测量便利,受测量器材的制约小,对结构体更改小,且不受被测屏蔽体尺寸限制。

【技术实现步骤摘要】
一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法
本专利技术涉及一种屏蔽效能测试方法,特别是一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法。
技术介绍
屏蔽效能即SE是衡量电子设备结构体电磁屏蔽效能的重要指标。现有电场辐射发射法测试采用内置天线发射,外置天线接收的方法,由于尺寸、内置传感器的种类和参考位置等问题,电场辐射发射法测试小型结构体屏蔽效能缺乏可重复性和可比性。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法,解决电场辐射发射法测试屏蔽效能缺乏可重复性和可比性的问题。一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法的具体步骤为:第一步搭建基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统,包括:50欧姆匹配电阻、混响室、接收天线和频谱仪。接收天线置于混响室内,频谱仪置于混响室外,接收天线与频谱仪通过同轴电缆连接。第二步测量线缆损耗值调整混响室发射功率,在频谱仪读取参考天线的接收功率,线缆损耗值为混响室发射功率与参考天线接收功率之差。第三步测试接收天线与被测设备接收功率被测设备内置一贯通导线,50欧姆电阻一端接贯通导线,另一端接设备外壳。被测设备通过同轴电缆连接频谱仪另一输入通道。被测设备置于混响室内,调整混响室发射功率,当接收天线接收功率达到稳定时,读取接收天线接收功率PREP与被测设备接收功率PEUT。第四步测试全部预设频点功率数据改变混响室发射电磁波频率,重复进行测量线缆损耗值和测试接收天线与被测设备接收功率步骤,获取全部预设频点的PREP和PEUT后结束测试。第五步确定屏蔽效能利用公式SE=10lgPREP/PEUT确定各个频点屏蔽效能。本方法测试过程不受结构体尺寸的限制,对于任意尺寸的结构体都可准确测试其屏蔽效能,且重复测试准确性高。测量便利,受测量器材的制约小;对结构体更改小,不受被测屏蔽体尺寸限制。具体实施方式一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法的具体步骤为:第一步搭建基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统,包括:50欧姆匹配电阻、混响室、接收天线和频谱仪。接收天线置于混响室内,频谱仪置于混响室外,接收天线与频谱仪通过同轴电缆连接。第二步测量线缆损耗值调整混响室发射功率,在频谱仪读取参考天线的接收功率,线缆损耗值为混响室发射功率与参考天线接收功率之差。第三步测试接收天线与被测设备接收功率被测设备内置一贯通导线,50欧姆电阻一端接贯通导线,另一端接设备外壳。被测设备通过同轴电缆连接频谱仪另一输入通道。被测设备置于混响室内,调整混响室发射功率,当接收天线接收功率达到稳定时,读取接收天线接收功率PREP与被测设备接收功率PEUT。第四步测试全部预设频点功率数据改变混响室发射电磁波频率,重复进行测量线缆损耗值和测试接收天线与被测设备接收功率步骤,获取全部预设频点的PREP和PEUT后结束测试。第五步确定屏蔽效能利用公式SE=10lgPREP/PEUT确定各个频点屏蔽效能。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法,其特征在于具体步骤为:第一步搭建基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统,包括:50欧姆匹配电阻、混响室、接收天线和频谱仪;接收天线置于混响室内,频谱仪置于混响室外,接收天线与频谱仪通过同轴电缆连接;第二步测量线缆损耗值调整混响室发射功率,在频谱仪读取参考天线的接收功率,线缆损耗值为混响室发射功率与参考天线接收功率之差;第三步测试接收天线与被测设备接收功率被测设备内置一贯通导线,50欧姆电阻一端接贯通导线,另一端接设备外壳;被测设备通过同轴电缆连接频谱仪另一输入通道;被测设备置于混响室内,调整混响室发射功率,当接收天线接收功率达到稳定时,读取接收天线接收功率PREP与被测设备接收功率PEUT;第四步测试全部预设频点功率数据改变混响室发射电磁波频率,重复进行测量线缆损耗值和测试接收天线与被测设备接收功率步骤,获取全部预设频点的PREP和PEUT后结束测试;第五步确定屏蔽效能利用公式SE=10lg PREP/PEUT确定各个频点屏蔽效能。

【技术特征摘要】
1.一种基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试方法,其特征在于具体步骤为:第一步搭建基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统基于转移阻抗的小型结构体屏蔽效能测试系统,包括:50欧姆匹配电阻、混响室、接收天线和频谱仪;接收天线置于混响室内,频谱仪置于混响室外,接收天线与频谱仪通过同轴电缆连接;第二步测量线缆损耗值调整混响室发射功率,在频谱仪读取参考天线的接收功率,线缆损耗值为混响室发射功率与参考天线接收功率之差;第三步测试接收天线与被测设备接收功率被测设备内置一贯通...

【专利技术属性】
技术研发人员:董炀奚静妹王金金林厦秦普亮
申请(专利权)人:北京控制与电子技术研究所
类型:发明
国别省市:北京,11

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