一种制备铁电薄膜/厚膜的方法,其特征在于:该方法包括, (1)在衬底上刻出凹槽阵列; (2)将铁电微粉与相应的浓度为0.3~1.2(mol/L)铁电溶胶混合,重量比为(0.8~2)∶1,得到粉末溶胶,粉末粒度为0.5~2μm; (3)将配制好的粉末溶胶涂于衬底上,用流延法制备薄膜/厚膜,流延设备中的刀片与有凹槽一面的衬底紧贴,在流延之后,衬底上有凹槽的地方填有粉末溶胶; (4)将上述得到的薄膜/厚膜进行热处理; (5)去掉非凹槽部分的铁电膜,即得到铁电薄膜/厚膜。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种陶瓷薄膜/厚膜制备方法,特别是涉及一种制备铁电厚膜的方法。
技术介绍
粉末溶胶工艺是一种铁电厚膜制备工艺,它是将铁电微晶分散到溶胶中制备成粉末溶胶,然后将其匀胶或者印刷到衬底上,经过热处理成为厚膜。该方法中,溶胶浸润在铁电微晶的四周及间隙,经过热处理后,其燃烧产物会对铁电微晶间的间隙有填充作用,从而有助于薄膜的致密化。因此是一种很有希望得到大晶粒而又致密的铁电薄膜的方法。但这种方法有如下缺点1、目前,粉末溶胶工艺都在平面衬底上进行,但在平面衬底上,流体状的溶胶难以完全淹没浸润铁电微晶颗粒,这样在热处理后,溶胶燃烧产物就不能完全填满铁电微晶间的间隙,从而起不到致密化的作用;2、在旋转匀胶的过程中,由于离心力的作用,铁电微晶在衬底上的分布将严重不均匀,中间厚,边缘薄;3、因为厚膜的膜较厚,所以用传统的腐蚀办法形成铁电厚膜阵列比较困难;4、难以在同一衬底上制备出不同厚度的厚膜。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的不足之处,提出,使用该方法能够得到单元厚度均匀,致密的铁电薄膜/厚膜阵列,而且阵列单元的膜厚和形状可以不同。为实现上述目的,本专利技术采用的技术方案是该方法包括,(1)在衬底上刻出凹槽阵列;(2)将铁电微粉与相应的浓度为0.3~1.2(mol/L)铁电溶胶混合,重量比为(0.8~2)∶1,得到粉末溶胶,粉末粒度为0.5~2μm;(3)将配制好的粉末溶胶涂于衬底上,用流延法制备薄膜/厚膜,流延设备中的刀片与有凹槽一面的衬底紧贴,在流延之后,衬底上有凹槽的地方填有粉末溶胶; (4)将上述得到的薄膜/厚膜进行热处理;(5)去掉非凹槽部分的铁电膜,即得到铁电薄膜/厚膜。本专利技术的优点在于1、由于凹槽的存在,会有更多的溶胶浸润在铁电微晶四周,从而所制备的铁电薄膜/厚膜会更致密。2、由于在本专利技术中,刀片与衬底紧紧贴近,所以在有凹槽的地方才会有铁电薄膜/厚膜,没有凹槽的地方即使有溶胶粉末存在,也非常薄,很容易通过腐蚀等方法去除,所以,当凹槽为阵列时,所得到的铁电薄膜/厚膜也成为薄膜/厚膜阵列。3、由于凹槽的形状可以多样,因此,通过本专利技术可以得到多种形状的铁电薄膜/厚膜。4、由于每个槽的深度很容易控制,所以每个凹槽里面的薄膜/厚膜厚度很均匀。5、凹槽阵列的每个单元深度可以不同,所以很容易在同一衬底上制备出不同厚度的铁电薄膜/厚膜。附图说明图1(a)为在衬底上刻蚀出的一种凹槽阵列的平面图。图1(b)为图1(a)中的A-A剖面图。图2(a)为在衬底上刻蚀出的另一种凹槽阵列的平面图。图2(b)为图2(a)中的B-B剖面图。图3(a)为在衬底上刻蚀出的又一种凹槽阵列的平面图。图3(b)为图3(a)中的C-C剖面图。具体实施例方式例1制备钛酸锶钡(BST)厚膜的方法,包括(1)用通常的湿化学方法或干法,如反应离子刻蚀或等离子刻蚀,在硅片衬底2上刻蚀出凹槽阵列1,凹槽平面为正方形(500×500微米),槽深分别为10微米和20微米,如图1(a)和图1(b)所示;(2)先配制钛酸锶钡(BST)溶胶,其浓度为0.4(mol/L),其中一部分干燥成凝胶,并经过500℃~700℃的热处理,得到BST铁电微粉,或者通过通常的化学共沉淀法得到BST铁电微粉,然后将BST铁电微粉与BST溶胶相混合,重量比为1∶1,球磨或搅拌1~2小时,得到BST粉末溶胶,粉末粒度为0.5~2μm;(3)将适量的BST粉末溶胶滴在衬底2上,用通常的流延法制备BST厚膜,流延设备中的刀片3与有凹槽一面的衬底2紧贴,在流延之后,衬底2上有凹槽的地方填有BST粉末溶胶;(4)将所得到的厚膜在160℃~300℃下预烘30~60分钟,去掉厚膜中的挥发性有机物,700℃~800℃下烧结30~60分钟,去掉剩下的有机物,使厚膜致密;(5)重复步骤(3)、(4),直至凹槽填满为止,得到的厚膜在750℃~800℃、氧气气氛下烧结1~2小时,使厚膜的晶化过程最终完成;(6)通过湿化学方法,将非凹槽部分的BST腐蚀掉,即得到两种不同厚度的BST铁电厚膜。例2制备锆钛酸铅(PZT)厚膜的方法,包括(1)用湿化学方法在硅片衬底上刻蚀出凹槽阵列4,凹槽平面为正方形(500×500微米)和长方形(500×1000微米),槽深为20微米,如图2(a)和图2(b)所示;(2)先配制锆钛酸铅(PZT)溶胶,其浓度为0.6(mol/L)其中一部分干燥成凝胶,并经过500℃-700℃的热处理,得到PZT铁电微粉,然后将其与PZT溶胶相混合,重量比为1.5∶1,球磨1~2小时,得到PZT粉末溶胶,粉末粒度为0.5~2μm;(3)将适量的PZT粉末溶胶滴在衬底2上,用流延法制备PZT厚膜,流延设备中的刀片3与有凹槽一面的衬底2紧贴,在流延之后,衬底2上有凹槽的地方填有PZT粉末溶胶;(4)将所得到的厚膜在150℃~250℃下预烘30~60分钟,去掉厚膜中的挥发性有机物,650℃~800℃氧气气氛下烧结30~60分钟,去掉剩下的有机物,并使厚膜中的晶化过程最终完成;(5)通过湿化学方法,将非凹槽部分的PZT腐蚀掉,即得到不同平面形状的PZT铁电厚膜。例3制备钛酸锶钡(BST)薄膜的方法,包括(1)用湿化学方法在硅片衬底2上刻蚀出凹槽阵列5,凹槽平面为正方形(500×500微米),剖面C-C成梯形,槽深为2微米,如图3(a)和图3(b)所示; (2)先配制钛酸锶钡(BST)溶胶,浓度为1(mol/L),其中一部分干燥成凝胶,并经过500℃~700℃的热处理,得到BST铁电微粉,或者通过化学共沉淀法得到BST铁电微粉,然后将BST铁电微粉与BST溶胶相混合,重量比为2∶1,球磨1-2小时,得到BST粉末溶胶,粉末粒度为0.5~2μm;(3)将适量的BST粉末溶胶滴在衬底2上,用流延法制备BST薄膜,流延设备中的刀片3与有凹槽一面的衬底2紧贴,在流延之后,衬底2上有凹槽的地方填有BST粉末溶胶;(4)将所得到的薄膜在160℃~300℃下预烘30~60分钟,700℃~800℃下烧结30~60分钟;(5)重复步骤(3)、(4),直至凹槽填满为止,最终得到的薄膜在750℃~800℃,氧气气氛下烧结1~2小时;(6)通过反应离子刻蚀方法,将非凹槽部分的BST腐蚀掉,即得到BST铁电薄膜。权利要求1.,其特征在于该方法包括,(1)在衬底上刻出凹槽阵列;(2)将铁电微粉与相应的浓度为0.3~1.2(mol/L)铁电溶胶混合,重量比为(0.8~2)∶1,得到粉末溶胶,粉末粒度为0.5~2μm;(3)将配制好的粉末溶胶涂于衬底上,用流延法制备薄膜/厚膜,流延设备中的刀片与有凹槽一面的衬底紧贴,在流延之后,衬底上有凹槽的地方填有粉末溶胶;(4)将上述得到的薄膜/厚膜进行热处理;(5)去掉非凹槽部分的铁电膜,即得到铁电薄膜/厚膜。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于在上述步骤(4)之后重复步骤(3)和(4),直至凹槽填满为止。全文摘要本专利技术公开了,该方法包括在衬底上刻出凹槽阵列;配制粉末溶胶,即把铁电微粉与相应的铁电材料溶胶混合,得到粉末溶胶;将配制好的粉末溶胶涂于衬底上,用流延法制备薄膜/厚膜,流延设备中的刀片与有凹槽一面的衬底紧贴,在流延之后,衬底上有凹槽的地方填有粉末溶胶;将上述本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:张五星,王长安,周雪梅,赵伯芳,尹盛,
申请(专利权)人:华中科技大学,
类型:发明
国别省市:
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