信息提取装置、物品检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种信息提取装置和物品检测装置，其中，该信息提取装置包括：收发单元，其向目标物品交替发送两个发射信号，并接收该发射信号经该目标物品反射后的两个反射信号；第一处理单元，其将该两个反射信号分别与该两个发射信号进行混频处理，获得相应的两个基带信号；第二处理单元，其根据该两个基带信号从该发射信号和接收的反射信号的相位变化量中去除由该收发单元到该目标物品的距离引起的第一相位变化量，确定由该目标物品引起的第二相位变化量F。通过上述信息提取装置，能够提取出不同目标物品表面反射引起的相位变化量，消除了目标物品和收发单元距离的微小变化对该相位变化量值计算的影响，从而得到准确的F值。

【技术实现步骤摘要】
信息提取装置、物品检测装置
本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种信息提取方法和装置、物品检测方法和装置。
技术介绍
近年来，公共场所的安全问题越来越受到人们的重视，如何对诸如管制器具、易燃易爆品等危险品进行检测成为重要的问题。目前，针对危险品的检测装置广泛应用于机场、火车站、地铁站、体育场等各种人员密集场合，危险品检测装置可以分为两个类型：接触式和非接触式。接触式检测装置需要将可疑物品(例如装有液体的瓶子)放置在检测装置上进行检测，而非接触型检测装置能够在可疑物移动到距离检测装置一定范围内即启动检测并分辨可疑物是否属于危险品。应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本专利技术的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本专利技术的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
技术实现思路
目前针对非接触式检测装置，常见的检测方法之一是X射线探测方法，但是该方法成本通常较高，长期使用将会对工作人员的身体健康造成影响。另外还有一些通过向目标物品发射信号，根据反射信号强度来进行物品检测的方法，但在物品的介电常数相似时，该方法无法区分易混淆的物品。本专利技术实施例提出了一种信息提取方法和装置，能够准确地提取出不同目标物品表面反射引起的相位变化量(F值)，消除了检测距离的微小变化对该相位变化量计算的影响。本专利技术实施例提出了一种物品检测方法和装置，根据由目标物品引起的相位变化量来进行物品检测，由此解决了由于介电常数相近而无法准确的进行物品检测的问题，提高检测的准确度，此外，通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。本专利技术实施例的上述目的是通过如下技术方案实现的：根据本专利技术实施例的第一个方面，提供了一种信息提取装置，该装置包括：收发单元，其用于向目标物品交替发送两个发射信号，该两个发射信号是不同频率的连续波，并接收该发射信号经该目标物品反射后的两个反射信号；其中该反射信号与该发射信号的相位变化量包括由该收发单元到该目标物品的距离(D)引起的第一相位变化量、以及由该目标物品引起的第二相位变化量(F)，并且两个发射信号和接收的反射信号的第二相位变化量相同；第一处理单元，其用于将该两个反射信号分别与该两个发射信号进行混频处理，以获得相应的两个基带信号；第二处理单元，其用于根据该两个基带信号从该相位变化量中去除该第一相位变化量，确定该第二相位变化量，以便利用该第二相位变化量进行目标物品检测。根据本专利技术实施例的第二个方面，提供了一种物品检测装置，其中，该装置包括：收发单元，其用于向目标物品交替发送两个发射信号，该两个发射信号是不同频率的连续波，并接收该发射信号经物品反射后的两个反射信号；检测单元，其根据由该目标物品引起的相位变化量(F)进行该目标物品检测，该F是通过对该两个反射信号进行处理后获得的相位变化量。本专利技术实施例的有益效果在于，通过本实施例的信息提取方法和装置，向目标物品交替发送两个不同频率的发射信号，从反射信号与发射信号的相位变化量中去除由收发信号的收发单元到该目标物品的距离引起的第一相位变化量，确定由该目标物品引起的第二相位变化量(F)，由此能够提取出不同目标物品表面反射引起的相位变化量，消除了目标物品和收发单元距离的微小变化对该相位变化量值计算的影响，从而得到准确的F值。本专利技术实施例的有益效果在于，通过本实施例的物品检测方法和装置，根据由目标物品表面反射引起的反射信号与发射信号的相位变化量来进行物品检测，由此解决了由于介电常数相近而无法准确的进行物品检测的问题，提高检测的准确度，此外，通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。参照后文的说明和附图，详细公开了本专利技术的特定实施方式，指明了本专利技术的原理可以被采用的方式。应该理解，本专利技术的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内，本专利技术的实施方式包括许多改变、修改和等同。针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。附图说明参照以下的附图可以更好地理解本专利技术的很多方面。附图中的部件不是成比例绘制的，而只是为了示出本专利技术的原理。为了便于示出和描述本专利技术的一些部分，附图中对应部分可能被放大或缩小。在本专利技术的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。此外，在附图中，类似的标号表示几个附图中对应的部件，并可用于指示多于一种实施方式中使用的对应部件。在附图中：图1是本实施例1中信息提取装置示意图；图2是本实施例1中CW2工作模式示意图；图3是本实施例2中物品检测装置示意图；图4是本实施例2中物品检测装置示意图；图5是本实施例2中检测单元示意图；图6是本实施例3中信息提取装置的硬件构成示意图；图7是本实施例4中物品检测装置的硬件构成示意图；图8是本实施例5中信息提取方法流程图；图9是本实施例6中物品检测方法流程图；图10是本实施例6中物品检测方法流程图；图11是本实施例7中物品检测系统的示意图。具体实施方式参照附图，通过下面的说明书，本专利技术实施例的前述以及其它特征将变得明显。这些实施方式只是示例性的，不是对本专利技术的限制。为了使本领域的技术人员能够容易地理解本专利技术的原理和实施方式，本专利技术实施例以发射微波信号为例进行说明，但可以理解，本专利技术实施例并不限于发射微波信号。下面参照附图对本专利技术的具体实施方式进行说明。实施例1本实施例1提供一种信息提取装置，图1是该信息提取装置构成示意图，如图1所示，装置100包括：收发单元101，其用于向目标物品交替发送两个发射信号，该两个发射信号是不同频率的连续波，并接收该发射信号经该目标物品反射后的两个反射信号；其中反射信号与发射信号的相位变化量包括由该收发单元101到该目标物品的距离引起的第一相位变化量、以及由该目标物品引起的第二相位变化量，并且该两个发射信号和接收的反射信号的第二相位变化量相同；第一处理单元102，其用于将该两个反射信号分别与该两个发射信号进行混频处理，以获得相应的两个基带信号；第二处理单元103，其用于根据该两个基带信号从该相位变化量中去除该第一相位变化量，确定该第二相位变化量，以便利用该第二相位变化量进行目标物品检测。通过本实施例的上述装置，向目标物品交替发送两个不同频率的发射信号，从反射信号与发射信号的相位变化量中去除由收发信号的收发单元到该目标物品的距离(称为检测距离)引起的第一相位变化量，确定由该目标物品引起的第二相位变化量(F)。由此，能够提取出不同目标物品表面反射引起的相位变化量，消除了检测距离的微小变化对该相位变化量值计算的影响，从而得到准确的F值。在本实施例中，收发单元101具有发射信号和接收信号的功能，可由微波传感器实现。例如，收发单元101是使用了多普勒雷达技术的微波传感器。多普勒雷达是一种重要的远距离非接触式感知技术，其利用多普勒效应采集被检测物品目标信息。多本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信息提取装置，其中，所述装置包括：收发单元，其用于向目标物品交替发送两个发射信号，所述两个发射信号是不同频率的连续波，并接收所述发射信号经所述目标物品反射后的两个反射信号；其中所述反射信号与所述发射信号的相位变化量包括由所述收发单元到所述目标物品的距离(D)引起的第一相位变化量、以及由所述目标物品引起的第二相位变化量(F)，并且两个发射信号和接收的反射信号的第二相位变化量相同；第一处理单元，其用于将所述两个反射信号分别与所述两个发射信号进行混频处理，以获得相应的两个基带信号；第二处理单元，其用于根据所述两个基带信号从所述相位变化量中去除所述第一相位变化量，确定所述第二相位变化量，以便利用所述第二相位变化量进行目标物品检测。

【技术特征摘要】
1.一种信息提取装置，其中，所述装置包括：收发单元，其用于向目标物品交替发送两个发射信号，所述两个发射信号是不同频率的连续波，并接收所述发射信号经所述目标物品反射后的两个反射信号；其中所述反射信号与所述发射信号的相位变化量包括由所述收发单元到所述目标物品的距离(D)引起的第一相位变化量、以及由所述目标物品引起的第二相位变化量(F)，并且两个发射信号和接收的反射信号的第二相位变化量相同；第一处理单元，其用于将所述两个反射信号分别与所述两个发射信号进行混频处理，以获得相应的两个基带信号；第二处理单元，其用于根据所述两个基带信号从所述相位变化量中去除所述第一相位变化量，确定所述第二相位变化量，以便利用所述第二相位变化量进行目标物品检测。2.根据权利要求1中所述的装置，其中，所述第二相位变化量表示为：其中，λ1，λ2是两个发射信号的波长，φ1，φ2分别是两个基带信号的相位；k1，k2是待定系数，k1，k2成分段的线性关系。3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述k1与k2之间的关系与所述距离D以及φ1与φ2的关系有关。4.根据权利要求3所述的装置，其中，所述装置还包括：确定单元，其根据所述距离D以及φ1与φ2的关系确定所述k1与k2之间的关系；其中，在φ1-φ2>0时，k1＝k2+m-1，在φ1-φ2<0时，k1＝k2+m；并且所述m为距离的调整系数，根据所述距离D和与距离有关的若干个呈阶梯性变化的区间范围确定。5.根据权利要求4所述的装置，其中，在且φ1-φ2>0时，k1＝k2＝k，k为整数；在且φ1-φ2<0时，k1＝k2+1，或6.一种物品检测装置，其中，所述装置包括：收发单元，其用于向目标物品交替发送两个发射信号，所述两个发射信号是不同频率的连续波，...

【专利技术属性】
技术研发人员：底欣，张兆宇，吴杰，田军，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP