一种可控制压力的测厚装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种可控制压力的测厚装置，包括底部支脚、装置工作台、厚度测量箱和压力调节器，所述底部支脚上方安装有装置壳体，所述装置工作台上方设置有薄膜压辊，所述压辊固定轴上方安装有角度调节器，所述角度调节器上方连接有所述厚度测量箱，所述厚度测量箱下方安装有测量箱连接轴，所述测量箱连接轴下方安装有压力测厚头，所述压力测厚头下方连通有液晶显示面板，所述厚度测量箱内部安装有所述压力调节器，所述压力调节器下方安装有厚度计算器，所述厚度计算器下方安装有压力感应器，所述液晶显示面板下方安装有控制按钮。有益效果在于：根据压力变化时薄膜的反应对薄膜厚度进行测量，能够对薄膜的面厚度进行测量，工作效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种可控制压力的测厚装置
本技术涉及厚度检测设备
，特别是涉及一种可控制压力的测厚装置。
技术介绍
当今微电子薄膜，光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用，在工业生产的薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。如大规模集成电路的生产工艺中的各种薄膜，由于电路集成程度的不断提高，薄膜厚度的任何微小变化，对集成电路的性能都会产生直接的影响。除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度有着密切的联系。通常情况下，薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离，而实际上，薄膜的表面是不平整，不连续的，且薄膜下方存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等。目前我国使用的薄膜厚度测量装置多为光学，这种测量方法只能够测量薄膜的点厚度，由于薄膜表面并不平整，因此点厚度并不能作为薄膜厚度的依据。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种可控制压力的测厚装置。本技术通过以下技术方案来实现上述目的：一种可控制压力的测厚装置，包括底部支脚、装置工作台、厚度测量箱和压力调节器，所述底部支脚上方安装有装置壳体，所述装置壳体上方安装有侧边散热板，所述侧边散热板上方安装有所述装置工作台，所述装置工作台上方设置有薄膜压辊，所述薄膜压辊上方安装有压辊固定轴，所述压辊固定轴上方安装有角度调节器，所述角度调节器上方连接有所述厚度测量箱，所述厚度测量箱下方安装有测量箱连接轴，所述测量箱连接轴下方安装有压力测厚头，所述压力测厚头下方连通有液晶显示面板，所述厚度测量箱内部安装有所述压力调节器，所述压力调节器下方安装有厚度计算器，所述厚度计算器下方安装有压力感应器，所述液晶显示面板下方安装有控制按钮。为了进一步提高可控制压力的测厚装置的使用功能，所述底部支脚与所述装置壳体连接，所述侧边散热板与所述装置工作台连接。为了进一步提高可控制压力的测厚装置的使用功能，所述薄膜压辊与所述压辊固定轴连接，所述角度调节器与所述厚度测量箱连接。为了进一步提高可控制压力的测厚装置的使用功能，所述测量箱连接轴与所述压力测厚头连接，所述液晶显示面板与所述控制按钮连接。为了进一步提高可控制压力的测厚装置的使用功能，所述厚度计算器与所述压力调节器连接。为了进一步提高可控制压力的测厚装置的使用功能，所述厚度测量箱为合金钢压制而成，表面进行喷塑处理。为了进一步提高可控制压力的测厚装置的使用功能，所述薄膜压辊与所述装置工作台之间间隙为1mm。为了进一步提高可控制压力的测厚装置的使用功能，所述压力感应器与设置在所述厚度测量箱底部。本技术的有益效果在于：根据压力变化时薄膜的反应对薄膜厚度进行测量，能够对薄膜的面厚度进行测量，工作效率高。附图说明图1是本技术一种可控制压力的测厚装置的装置壳体主视图；图2是本技术一种可控制压力的测厚装置的外观图；图3是本技术一种可控制压力的测厚装置的厚度计算器图。附图标记说明如下：1、底部支脚；2、装置壳体；3、侧边散热板；4、装置工作台；5、薄膜压辊；6、压辊固定轴；7、角度调节器；8、厚度测量箱；9、测量箱连接轴；10、压力测厚头；11、液晶显示面板；12、压力调节器；13、厚度计算器；14、压力感应器；15、控制按钮。具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步说明：如图1-图3所示，一种可控制压力的测厚装置，包括底部支脚1、装置工作台4、厚度测量箱8和压力调节器12，底部支脚1上方安装有装置壳体2，装置壳体2上方安装有侧边散热板3，侧边散热板3上方安装有装置工作台4，装置工作台4上方设置有薄膜压辊5，薄膜压辊5上方安装有压辊固定轴6，压辊固定轴6上方安装有角度调节器7，角度调节器7上方连接有厚度测量箱8，厚度测量箱8下方安装有测量箱连接轴9，测量箱连接轴9下方安装有压力测厚头10，压力测厚头10下方连通有液晶显示面板11，厚度测量箱8内部安装有压力调节器12，压力调节器12下方安装有厚度计算器13，厚度计算器13下方安装有压力感应器14，液晶显示面板11下方安装有控制按钮15。底部支脚1用以对装置底部进行支撑减震，防止振动损坏装置下方元器件，装置壳体2用以对装置下方元器件进行阿伯在装置工作时进行三人，装置工作台4用以放置被测量薄膜，薄膜压辊5用以对被测量薄膜进行压紧，防止薄膜在测量时移动，对测量数据造成影响，压辊固定轴6用以对薄膜压辊5进行固定，角度调节器7用以对压辊固定轴6角度进行调节，厚度测量箱8用以对薄膜厚度进行测量，压力调节器12对压力测厚头10的压力进行调节，厚度计算器13根据压力变化时薄膜传输的数据对薄膜厚度进行测算，压力感应器14对压力测厚头10的压力进行感应，所述液晶显示面板显示厚度测量结果。为了进一步提高可控制压力的测厚装置的使用功能，底部支脚1与装置壳体2连接，侧边散热板3与装置工作台4连接，薄膜压辊5与压辊固定轴6连接，角度调节器7与厚度测量箱8连接，测量箱连接轴9与压力测厚头10连接，液晶显示面板11与装置壳体2连接，厚度计算器13与压力调节器12连接，厚度测量箱8为合金钢压制而成，表面进行喷塑处理，薄膜压辊5与装置工作台4之间间隙为1mm，压力感应器14与设置在厚度测量箱8底部。以上显示和描述了本技术的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下，本技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其效物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可控制压力的测厚装置，其特征在于：包括底部支脚(1)、装置工作台(4)、厚度测量箱(8)和压力调节器(12)，所述底部支脚(1)上方安装有装置壳体(2)，所述装置壳体(2)上方安装有侧边散热板(3)，所述侧边散热板(3)上方安装有所述装置工作台(4)，所述装置工作台(4)上方设置有薄膜压辊(5)，所述薄膜压辊(5)上方安装有压辊固定轴(6)，所述压辊固定轴(6)上方安装有角度调节器(7)，所述角度调节器(7)上方连接有所述厚度测量箱(8)，所述厚度测量箱(8)下方安装有测量箱连接轴(9)，所述测量箱连接轴(9)下方安装有压力测厚头(10)，所述压力测厚头(10)下方连通有液晶显示面板(11)，所述厚度测量箱(8)内部安装有所述压力调节器(12)，所述压力调节器(12)下方安装有厚度计算器(13)，所述厚度计算器(13)下方安装有压力感应器(14)，所述液晶显示面板(11)下方安装有控制按钮(15)。

【技术特征摘要】
1.一种可控制压力的测厚装置，其特征在于：包括底部支脚(1)、装置工作台(4)、厚度测量箱(8)和压力调节器(12)，所述底部支脚(1)上方安装有装置壳体(2)，所述装置壳体(2)上方安装有侧边散热板(3)，所述侧边散热板(3)上方安装有所述装置工作台(4)，所述装置工作台(4)上方设置有薄膜压辊(5)，所述薄膜压辊(5)上方安装有压辊固定轴(6)，所述压辊固定轴(6)上方安装有角度调节器(7)，所述角度调节器(7)上方连接有所述厚度测量箱(8)，所述厚度测量箱(8)下方安装有测量箱连接轴(9)，所述测量箱连接轴(9)下方安装有压力测厚头(10)，所述压力测厚头(10)下方连通有液晶显示面板(11)，所述厚度测量箱(8)内部安装有所述压力调节器(12)，所述压力调节器(12)下方安装有厚度计算器(13)，所述厚度计算器(13)下方安装有压力感应器(14)，所述液晶显示面板(11)下方安装有控制按钮(15)。2.根据权利要求1所述的一种可控制压力的测厚装置，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张诚，
申请(专利权)人：中国地质大学北京，
类型：新型
国别省市：北京,11